半导体分立器件测试仪

SIMI2939半导体分立器件测试仪

一、产品特点：

测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、工作稳定可靠，具有保护系统和被测器件的能力。被测器件可通过图形显示，系统软件功能全、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率低，在实际测试应用中各项技术指标均可达到器件手册技术指标及国标要求。

二、测试参数

1．二极管

VF、IR、BVR

2．稳压（齐纳）二极管

VF、IR、BV Z

3．晶体管 Transistor（NPN型/PNP型）

VBE、ICBO、LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON

4．可控硅整流器（晶闸管）

IGT、VGT、IH、IL 、VTM

5．场效应管

IGESF、IGSSF、IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、BVDGO、BVGSS

6．光电耦合器

VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT

7．三端稳压器

VO、SV、ID、IDV

三、测试参数范围

四、技术指标

1、源的指标

压流源(V A)

电压：

压流源(VB)

电压：

电流：

2、电压表的指标

测漏电流

测试电压

测击穿电压

放大倍数