半导体分立器件测试系统说明书
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２ Logger 使用说明 ３ Opener 使用
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打开已有的测度文件
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保存编辑完成的文件
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另保存
将编辑的文件以其他的名称保存
打开暂存文件 打开暂时保存的文件
保存暂存文件 保存暂时的文件
编辑文件头信息 编辑测试文件信息
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文件保护密码的设定
设置并行测试点 设置双机并行时同一个器件进行分时测试，以提 高测试速度
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QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
1.EDITOR 使用
点击 ＰＥｄｉｔｏｒ 图标 打开 Ｅｄｉｔｏｒ 主界面
1．1 菜单说明:
3
QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
１．１．１ 文件菜单
菜单项
说 明
Байду номын сангаас
键盘快捷键
新建
新建测试文件
１．２．２ 建立新的测试文件夹 ／ 测试文件属性设定
１． 测 试 模 式 ： 选择测试的方式。 ２． 极 性 ： 选择测试器件的极性。 ３． 装 置 ： 选择测试器件的类型。 ４． 描 述 ： 描述测试器件的详细类型。 ５． 信 息： 在测试主机下载测试文件时，显示管脚排列信息。提示操作员及时更
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１．２．４ 测试项目的设定窗口
QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
１．２．４．１ 测量： 测量结果设定 １． 下限／上限： 测试通过值的最小／最大范围设定。（注：（注：为了较为准确测 量器件，下限／上限的选择应尽量接近器件的实际值）。 ２． 测 量 范 围 ： 可以设定量程 （１） 指定测试结果的量程。默认状态是 Ｍａｘ Ｌｉｍｉｔ。如果不设定 Ｍａｘ Ｌｉｍｉｔ 时，必须要选择一个测量的范围。这时一般设为正常数据的最大档位。 （２） 如测试量程设定在 １．０００ 时，数据的显示范围在 ０．０００ 到 ９．９９９。 （３） 测每个测试项目都改变量程不方便，因此通常“测量范围”都设定在 Ｍ ａ ｘ Ｌ ｉ ｍ ｉ ｔ 。 ３． 调整范围： 变动档位测试，测试精度可达 ４ 位。 （１） Ｏｆｆ： 关闭自动变档，用 Ｌｏｇｇｉｎｇ 强制设定例外。 （２） Ｓｔａｎｄａｒｄ： 如果实测值超出量程，则自动将量程升一档。 （３） Ｌｉｍｉｔ Ｒａｇｅ： 在限定的档位内变动。 （４） Ｉｎｖａｌｉｄａｔｉｏｎ： 自动变档禁止，即使用已定的强制设定也不动作。 （５） 使用该项功能时会影响测试时间，通常设定为 Ｏｆｆ。
１．１．２ 测试项目菜单
菜单内容
操作指令含义
新增
增加测试项目
修改
修改测试项目
插入
插入测试项目
删除
删除测试项目
复制块
批量拷贝测试项目
删除块
批量删除测试项目
反转极性
批量测试项目极性反转
替换
替换已有的测试项目
设置跳转
测试项目整体跳转设定
功能设置
各功能的整体设定
１ ． 文 件 ／ 新 建 建立新的测试文件 ２ ． 测 试 项 ／ 新 增 测试项目的输入 ３ ． 分 类 项 ／ 新 增 分类项目的输入 ４ ． 文 件 ／ 保 存 保存编辑好的文件
操作指令含义 增加分类项目 修改分类项目 插入分类项目 删除分类项目
键盘快捷键 Ｃｔｒｌ ＋ Ｗ Ｃｔｒｌ ＋ Ｘ Ｃｔｒｌ ＋ Ｙ Ｃｔｒｌ ＋ Ｚ
鼠标的快捷操作
鼠标左键双击修改处
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QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
１．２． 测试文件的编写 １．２．１ 文件编写的基本顺序：
１．２．５．２．１ 数值中的 Ｍ＃输入测试项目编号，以编号表示测试项目参照结果进行 分类。不再进行测试。（Ｍ ＃ 显示中不用加＃ ）
１ ． ２ ． ５ ． ３ 测试延迟（Ｄ Ｅ Ｌ Ａ Ｙ ）。 １ ． ２ ． ５ ． ３ ． １ 时 间 ： 输入需要延迟的时间。
ＡＤＤ
加法
Ｖａｌｕｅ１＋Ｖａｌｕｅ２
ＤＥＬＴＡ
减法 Ｖａｌｕｅ１－Ｖａｌｕｅ２
ＭＵＬＴＩ
乖法
Ｖａｌｕｅ１＊Ｖａｌｕｅ２
ＤＩＶＩＤ
除法
Ｖａｌｕｅ１／Ｖａｌｕｅ２
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QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
１ ． ２ ． ５ ． ２ Ｓ ａ ｍ ｅ ： 测试结果参照项目，用于器件分类。
正负极性。 １．２．５．特殊测试项目的使用
１ ． ２ ． ５ ． １ 计 算 项 目 ： 计算测试结果，在测试项目编号前加“＃ ”。例： ＃ ２ 。 如不加＃ ，系统将编号默认为数值。
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项目名称
项目说明
项目含义
键盘快捷键 Ｃｔｒｌ ＋ Ｒ Ｃｔｒｌ ＋ Ｓ Ｃｔｒｌ ＋ Ｉ Ｃｔｒｌ ＋ Ｕ Ｃｔｒｌ ＋ Ｖ Ｃｔｒｌ ＋ Ｗ Ｃｔｒｌ ＋ Ｘ Ｃｔｒｌ ＋ Ｙ
鼠标的快捷操作
鼠标左键双击修改处
１．１．３ 分类项菜单
菜单内容 新增 修改 插入 删除
试。 １．２．４．２．３．１．３ Ｓａｍｐｌｉｎｇ １．１ｍｓ： 耐压测试时振荡对策，ＢＶ 测试的防止振
荡。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ ． ４ 停 止 时 间 ： 延迟加载电流或电压的时间。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ ． ５ 进 行 时 间 ： 加载电流或电压的时间。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ ． ６ 各机能的详细说明，请参照硬件手册。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． ２ 选 择 ： 设定各项功能。也可以通过“测量／设置”同时设定。 １．２．４．２．３．２．１ Ｏｓｃｉｌｌａｔｉｏｎ Ｉｎｖａｌｉｄａｔｉｏｎ： 器件振荡分类失效（参考“分
１．２．４．２ 测试项目详细设定窗口
１ ． ２ ． ４ ． ２ ． １ 项 目 名 称 ： 用户可以根据需要，修改测试项目的显示名称。 １．２．４．２．２ 分支： 满足分类的条件（测试通过／失败）时，程序直接跳转到指定测
试项目或直接分类，这样可以缩短测试时间。如输入数字，表示程序直 接到此编号的测试项目。如输入“ＳＯＲＴ ”，表示程序跳转到分类项目直接 进行分类操作。“分支”设定也可用“项目／设置／跳转”菜单命令，为所 有的测试项目同时设定。 注： 通常“失败”时中断测试，直接分类。通过跳转，可以做详细的分 支设定。
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QTEC-4000 半导体分立器件测试系统
软件说明书
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目 录
１ EDITOR 使用
拣”设置）。 １．２．４．２．３．２．２ Ｌｏｇｇｉｎｇ Ｄｉｓａｐｐｅａｒ： 显示器件的测试结果时不显示此项
目的测试结果。 １．２．４．２．３．２．３ Ｒｅｓｕｌｔ Ｃｏｌｏｒ Ｂｌｕｅ： 器件测试不通过时，测试结果用蓝色。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． ２ ． ４ Ｋ ｅ ｅ ｐ Ｆ ｏ ｒ ｃ ｉ ｎ ｇ ： 保持加载。 １．２．４．２．３．３ 标记： 修改各设定值（Ｌｉｍｉｔ Ｍｉｎ ／ Ｌｉｍｉｔ Ｍａｘ ／ Ｂｉａｓ）的
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１ ． ２ ． ５ ． ４ Ｓ Ｅ Ｌ Ｐ Ｉ Ｎ ： 用于扫描器时（Ｓ Ｃ Ａ Ｎ Ｎ Ｅ Ｒ ）设定管脚排列（Ｐ ｉ ｎ ）。 １．２．５．４．１ Ｓ，Ｂ，Ｃ（Ｋ），Ｅ（Ａ）输入器件的管脚（Ｐｉｎ）对应编号。如 Ｂ＝２、 Ｃ＝３、 Ｅ＝１，则设定为 ＳＣＡＮＮＥＲ 的 １ 脚为 Ｅ 端，２ 脚为 Ｂ 端，３ 脚 为 Ｃ 端。
１．２．６． 分类项目的设定 １ ． ２ ． ６ ． １ 分 拣 名 称 ： 分类项目的命名，客户可以根据需要随意设定。
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QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
１ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ 时 间 ： 设定加载时间。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ 整 个 循 环 ： 设置做积分回路设定。
１ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ ． １ Ｎ ｏ ｎ ｅ ： 不动作。 １．２．４．２．３．１．２ Ｓａｍｐｌｉｎｇ ２２ｍｓ： 切断电流测试结果安定化，稳定漏电流测
打印
打印测试文件
打印预览
预览打印文件
打印机设置
打印机的设定
退出
退出正在运行的 Ｅｄｉｔｏｒ
注： 保存已下载到测试主机中的文件时， 测试主机会自动下载保存后的程序。故在保存此类
文件之前需确认测试程序不在使用的状态。
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QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
换器件管脚与测试盒的连接。 ６． 检 查 汇 总 ， 载 入 测 试 文 件 ： 检查语法，并将测试文件下载到测试主机。 ７． 点击“确定”确认设定项的输入。
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１．２．３ 测试项目的输入
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１． 项目名称： 可以直接用键盘输入要测试项目的名称，或者从项目列表中用鼠标选 取所需的项目。 ２． 种 类： 供使用者选择测试器件的类型。系统默认为所有的类型的测试参数， 如果选取种类为晶体管时 ，那么在项目列表中只出现与三极管测试有关的测试参 数，其它类型器件参数将不再显示。 ３． 项目表： 显示可供选择的器件测试参数。可以用鼠标点取需要的测试参数项目。 ４． 特殊项目表： 在测试中需要用到的特殊项目。包括： 连接测试项、测试项四则运 算、用于参数分类的项目、Ｓｃａｎｅｒ 用管脚连接设定项目、阻抗器件震荡的测试、 三极管击穿电压的项目、器件管脚短接项目等内容。
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４． 条件： 作各 Ｂｉａｓ 的设定，输入电流、输入电压等的条件值。 ５． 时间 ： 设定加载／测试时间。可以使用系统的默认值。用户也可以根据器件
的不同及测试的需要自行设定。（注：若测试项的电流值小于 １００ｕＡ 时，时间 应大于 ８ｍｓ． 若测试项的电流值小于 ２００ｍＡ 时，时间应小于 １ｍｓ） ６． 反转极性： 器件的极性反转（ＮＰＮ 或者 ＰＮＰ）。 ７． 编 辑 明 细 ： 测试项目的详细设定窗口。 ８． 点击“ 确 定 ” 确认测试项目的各条件设定的输入。
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1．1 菜单说明:
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１．１．１ 文件菜单
菜单项
说 明
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新建
新建测试文件
１．２．２ 建立新的测试文件夹 ／ 测试文件属性设定
１． 测 试 模 式 ： 选择测试的方式。 ２． 极 性 ： 选择测试器件的极性。 ３． 装 置 ： 选择测试器件的类型。 ４． 描 述 ： 描述测试器件的详细类型。 ５． 信 息： 在测试主机下载测试文件时，显示管脚排列信息。提示操作员及时更
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１．２．４ 测试项目的设定窗口
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１．２．４．１ 测量： 测量结果设定 １． 下限／上限： 测试通过值的最小／最大范围设定。（注：（注：为了较为准确测 量器件，下限／上限的选择应尽量接近器件的实际值）。 ２． 测 量 范 围 ： 可以设定量程 （１） 指定测试结果的量程。默认状态是 Ｍａｘ Ｌｉｍｉｔ。如果不设定 Ｍａｘ Ｌｉｍｉｔ 时，必须要选择一个测量的范围。这时一般设为正常数据的最大档位。 （２） 如测试量程设定在 １．０００ 时，数据的显示范围在 ０．０００ 到 ９．９９９。 （３） 测每个测试项目都改变量程不方便，因此通常“测量范围”都设定在 Ｍ ａ ｘ Ｌ ｉ ｍ ｉ ｔ 。 ３． 调整范围： 变动档位测试，测试精度可达 ４ 位。 （１） Ｏｆｆ： 关闭自动变档，用 Ｌｏｇｇｉｎｇ 强制设定例外。 （２） Ｓｔａｎｄａｒｄ： 如果实测值超出量程，则自动将量程升一档。 （３） Ｌｉｍｉｔ Ｒａｇｅ： 在限定的档位内变动。 （４） Ｉｎｖａｌｉｄａｔｉｏｎ： 自动变档禁止，即使用已定的强制设定也不动作。 （５） 使用该项功能时会影响测试时间，通常设定为 Ｏｆｆ。
１．１．２ 测试项目菜单
菜单内容
操作指令含义
新增
增加测试项目
修改
修改测试项目
插入
插入测试项目
删除
删除测试项目
复制块
批量拷贝测试项目
删除块
批量删除测试项目
反转极性
批量测试项目极性反转
替换
替换已有的测试项目
设置跳转
测试项目整体跳转设定
功能设置
各功能的整体设定
１ ． 文 件 ／ 新 建 建立新的测试文件 ２ ． 测 试 项 ／ 新 增 测试项目的输入 ３ ． 分 类 项 ／ 新 增 分类项目的输入 ４ ． 文 件 ／ 保 存 保存编辑好的文件
操作指令含义 增加分类项目 修改分类项目 插入分类项目 删除分类项目
键盘快捷键 Ｃｔｒｌ ＋ Ｗ Ｃｔｒｌ ＋ Ｘ Ｃｔｒｌ ＋ Ｙ Ｃｔｒｌ ＋ Ｚ
鼠标的快捷操作
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１．２． 测试文件的编写 １．２．１ 文件编写的基本顺序：
１．２．５．２．１ 数值中的 Ｍ＃输入测试项目编号，以编号表示测试项目参照结果进行 分类。不再进行测试。（Ｍ ＃ 显示中不用加＃ ）
１ ． ２ ． ５ ． ３ 测试延迟（Ｄ Ｅ Ｌ Ａ Ｙ ）。 １ ． ２ ． ５ ． ３ ． １ 时 间 ： 输入需要延迟的时间。
ＡＤＤ
加法
Ｖａｌｕｅ１＋Ｖａｌｕｅ２
ＤＥＬＴＡ
减法 Ｖａｌｕｅ１－Ｖａｌｕｅ２
ＭＵＬＴＩ
乖法
Ｖａｌｕｅ１＊Ｖａｌｕｅ２
ＤＩＶＩＤ
除法
Ｖａｌｕｅ１／Ｖａｌｕｅ２
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１ ． ２ ． ５ ． ２ Ｓ ａ ｍ ｅ ： 测试结果参照项目，用于器件分类。
正负极性。 １．２．５．特殊测试项目的使用
１ ． ２ ． ５ ． １ 计 算 项 目 ： 计算测试结果，在测试项目编号前加“＃ ”。例： ＃ ２ 。 如不加＃ ，系统将编号默认为数值。
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QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
项目名称
项目说明
项目含义
键盘快捷键 Ｃｔｒｌ ＋ Ｒ Ｃｔｒｌ ＋ Ｓ Ｃｔｒｌ ＋ Ｉ Ｃｔｒｌ ＋ Ｕ Ｃｔｒｌ ＋ Ｖ Ｃｔｒｌ ＋ Ｗ Ｃｔｒｌ ＋ Ｘ Ｃｔｒｌ ＋ Ｙ
鼠标的快捷操作
鼠标左键双击修改处
１．１．３ 分类项菜单
菜单内容 新增 修改 插入 删除
试。 １．２．４．２．３．１．３ Ｓａｍｐｌｉｎｇ １．１ｍｓ： 耐压测试时振荡对策，ＢＶ 测试的防止振
荡。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ ． ４ 停 止 时 间 ： 延迟加载电流或电压的时间。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ ． ５ 进 行 时 间 ： 加载电流或电压的时间。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ ． ６ 各机能的详细说明，请参照硬件手册。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． ２ 选 择 ： 设定各项功能。也可以通过“测量／设置”同时设定。 １．２．４．２．３．２．１ Ｏｓｃｉｌｌａｔｉｏｎ Ｉｎｖａｌｉｄａｔｉｏｎ： 器件振荡分类失效（参考“分
１．２．４．２ 测试项目详细设定窗口
１ ． ２ ． ４ ． ２ ． １ 项 目 名 称 ： 用户可以根据需要，修改测试项目的显示名称。 １．２．４．２．２ 分支： 满足分类的条件（测试通过／失败）时，程序直接跳转到指定测
试项目或直接分类，这样可以缩短测试时间。如输入数字，表示程序直 接到此编号的测试项目。如输入“ＳＯＲＴ ”，表示程序跳转到分类项目直接 进行分类操作。“分支”设定也可用“项目／设置／跳转”菜单命令，为所 有的测试项目同时设定。 注： 通常“失败”时中断测试，直接分类。通过跳转，可以做详细的分 支设定。
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１ EDITOR 使用
拣”设置）。 １．２．４．２．３．２．２ Ｌｏｇｇｉｎｇ Ｄｉｓａｐｐｅａｒ： 显示器件的测试结果时不显示此项
目的测试结果。 １．２．４．２．３．２．３ Ｒｅｓｕｌｔ Ｃｏｌｏｒ Ｂｌｕｅ： 器件测试不通过时，测试结果用蓝色。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． ２ ． ４ Ｋ ｅ ｅ ｐ Ｆ ｏ ｒ ｃ ｉ ｎ ｇ ： 保持加载。 １．２．４．２．３．３ 标记： 修改各设定值（Ｌｉｍｉｔ Ｍｉｎ ／ Ｌｉｍｉｔ Ｍａｘ ／ Ｂｉａｓ）的
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１ ． ２ ． ５ ． ４ Ｓ Ｅ Ｌ Ｐ Ｉ Ｎ ： 用于扫描器时（Ｓ Ｃ Ａ Ｎ Ｎ Ｅ Ｒ ）设定管脚排列（Ｐ ｉ ｎ ）。 １．２．５．４．１ Ｓ，Ｂ，Ｃ（Ｋ），Ｅ（Ａ）输入器件的管脚（Ｐｉｎ）对应编号。如 Ｂ＝２、 Ｃ＝３、 Ｅ＝１，则设定为 ＳＣＡＮＮＥＲ 的 １ 脚为 Ｅ 端，２ 脚为 Ｂ 端，３ 脚 为 Ｃ 端。
１．２．６． 分类项目的设定 １ ． ２ ． ６ ． １ 分 拣 名 称 ： 分类项目的命名，客户可以根据需要随意设定。
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１ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ 时 间 ： 设定加载时间。 １ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ 整 个 循 环 ： 设置做积分回路设定。
１ ． ２ ． ４ ． ２ ． ３ ． １ ． １ Ｎ ｏ ｎ ｅ ： 不动作。 １．２．４．２．３．１．２ Ｓａｍｐｌｉｎｇ ２２ｍｓ： 切断电流测试结果安定化，稳定漏电流测
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文件之前需确认测试程序不在使用的状态。
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换器件管脚与测试盒的连接。 ６． 检 查 汇 总 ， 载 入 测 试 文 件 ： 检查语法，并将测试文件下载到测试主机。 ７． 点击“确定”确认设定项的输入。
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１．２．３ 测试项目的输入
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１． 项目名称： 可以直接用键盘输入要测试项目的名称，或者从项目列表中用鼠标选 取所需的项目。 ２． 种 类： 供使用者选择测试器件的类型。系统默认为所有的类型的测试参数， 如果选取种类为晶体管时 ，那么在项目列表中只出现与三极管测试有关的测试参 数，其它类型器件参数将不再显示。 ３． 项目表： 显示可供选择的器件测试参数。可以用鼠标点取需要的测试参数项目。 ４． 特殊项目表： 在测试中需要用到的特殊项目。包括： 连接测试项、测试项四则运 算、用于参数分类的项目、Ｓｃａｎｅｒ 用管脚连接设定项目、阻抗器件震荡的测试、 三极管击穿电压的项目、器件管脚短接项目等内容。
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４． 条件： 作各 Ｂｉａｓ 的设定，输入电流、输入电压等的条件值。 ５． 时间 ： 设定加载／测试时间。可以使用系统的默认值。用户也可以根据器件
的不同及测试的需要自行设定。（注：若测试项的电流值小于 １００ｕＡ 时，时间 应大于 ８ｍｓ． 若测试项的电流值小于 ２００ｍＡ 时，时间应小于 １ｍｓ） ６． 反转极性： 器件的极性反转（ＮＰＮ 或者 ＰＮＰ）。 ７． 编 辑 明 细 ： 测试项目的详细设定窗口。 ８． 点击“ 确 定 ” 确认测试项目的各条件设定的输入。