无损检测概论_【PPT课件】
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②可以获得缺陷的投影图像，缺陷定性定量准确各种无损检测方法中，射线照 相对缺陷定性是最准的。在定量方面，对体积型缺陷（气孔、夹渣类）的长
度、宽度尺寸的确定也很准。
③体积型缺陷检出率很高。而面积型缺陷检出率受到多种因素影响。体积型缺 陷是指气孔、夹渣类缺陷。射线照相大致可以检出直径在试件厚度1%以上的 体积型缺陷。面积型缺陷是指裂纹、未熔合类缺陷，其检出率的影响因素包 括缺陷形态尺寸、透照厚度、透照角度、透照几何条件、源和胶片种类、像 质计灵敏度等，所以裂纹检出率相对较低。
• A. 无损检测通用工艺规程
• 无损检测通用工艺规程应根据相关法规、产品标准、有关的技术文件和 JB/T 4730的本部分的要求，并针对检测机构的特点和检测能力进行编制。无 损检测通用工艺规程应涵盖本单位(制造、安装或检测单位)产品的检测范围。
• 无损检测通用工艺规程至少应包括以下内容:
• a) 验适用范围；
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射线探伤法（RT）简介
• 1.5.1 X射线和γ射线产生原理
• ⑴射线的种类很多，工业探伤主要应用的3类射线其中易于穿透物质的 有X射线、γ射线、中子射线三种。这三种射线都被用于无损检测，其中 X射线和γ射线应用于锅炉压力容器压力管道焊缝和其他工业产品、结构 材料的缺陷检测，而中子射线仅用于一些特殊场合。
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（2）射线能量与射线波长之间的关系
• 射线能量越高且波长越短，穿透物质时衰减少且穿透力 强 。 X射线的能量取决于管电压，γ射线的能量取决于放 射性同位素的种类。
（3）射线穿过物质的衰减
• X射线和y射线通过物质时，其强度逐渐减弱。射线强度的 衰减由以下公式表示：
•.
• 式中：I——通过物体后的射线强度；
•
I。——未通过物体前的射线强度；
•
μ——物质的衰减系数；
•
T --- 物体厚度。
• X射线和γ射线的强度减弱，一般认为是由光电效应引起 的吸收、康普顿效应引起的散射和电子对效应引起的吸收 三种原因造成的。
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射线检测特点1
①.检测结果有直接记录——底片。由于底片上记录的信息十分丰富，且可以 长期保存，从而使射线照相法成为各种无损检测方法中记录最真实、最直观、 最全面、可追踪性最好的检测方法。
2
1.2.3无损检测工艺卡
• 实施无损检测的人员应按无损检测工艺卡进行操作。 • 无损检测工艺卡应根据无损检测通用工艺规程、产品标准、有
关的技术文件和JB/T 4730的本部分的要求编制，一般应包括以 下内容: • a) 工艺卡编号； • b) 产品名称，产品编号，制造、安装或检验编号，承压设备 的类别、规格尺寸、材料牌号、材质、热处理状态及表面状态；
• b) 引用标准、法规；
• c) 检测人员资格；
• d) 检测设备、器材和材料；
• e) 检测表面制备；
• f) 检测时机；
• g) 检测工艺和检测技术；
• h) 检测结果的评定和质量等级分类；
• i) 检测记录、报告和资料存档；
• j) 编制(级别)、审核(级别)和批准人；
• k) 制定日期。
• 无损检测通用工艺规程的编制、审核及批准应符合相关法规或标准的规定。
1.2.3 无损检测人员
• 1.2.3 无损检测人员 • 从事承压设备的原材料、零部件和焊接接
头无损检测的人员，应按照《特种设备无损检 测人员考核与监督管理规则》的要求取得相应 无损检测资格。 • 无损检测人员分为Ⅲ(高)级、Ⅱ(中)级和 I(初)级。取得不同无损检测方法各资格级别的 人员，只能从事与该方法和该资格级别相应的 无损检测工作，并负相应的技术责任。
1.1无损检测方法的应用
每种检测方法本身都有局限性，不可能适用于所有工件 和所有缺陷。应根据受检承压设备的材质、结构、制造方法、 工作介质、使用条件和失效模式，预计可能产生的缺陷种类、 形状、部位和方向，选择适宜的无损检测方法。
1.1.1射线和超声检测主要用于承压设备的内部缺陷的检测；磁 粉检测主要用于铁磁性材料制承压设备的表面和近表面缺陷 的检测；渗透检测主要用于非多孔性金属材料和非金属材料 制承压设备的表面开口缺陷的检测；涡流检测主要用于导电 金属材料制承压设备表面和近表面缺陷的检测。
具有辐射生物效应，能够杀伤生物细胞。
•
X射线是在从X射线管中产生的，X射线管是一个具有阴阳两极的真
空管，阴极是钨制灯丝，阳极是金属制成的靶。灯丝加热后放出大量电
子；在阴阳两极之间加有很高的电压时，电子从阴极高速飞向阳极撞击
金属靶，从阳极金属靶上会产生X射线。
• γ射线是从放射性同位素的原子核中放射出来的。
• X射线和γ射线与无线电波、红外线、可见光、紫外线等属于同一范畴， 都是电磁波。其区别是波长不同及产生方法不同。
• X射线和γ射线具有以下性质：
在真空中以光速直线传播。
本身不带电、不受电场和磁场的影响。
在媒质界面上发生漫反射。
可以发生干涉和衍射。
不可见，能够穿透可见光不能穿透的物体。
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在穿透物质过程中，会与物质发生物理和化学作用。
• c) 检测设备与器材:设备种类、型号、规格尺寸、检测附件和 检测材料；
• d) 检测工艺参数:检测方法、检测比例、检测部位、标准试块 或标准试样(片)；
• e) 检测技术要求:执行标准和验收级别； • f) 检测程序； • g) 检测部位示意图； • h) 编制(级别)和审核(级别)人； • i) 制定日期。 • 无损检测工艺卡的编制、审核应符合相关法规或标准的规定3 。
1.1.2 铁磁性材料表面检测时，宜采用磁粉检测。 1.1.3 当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位
进行检测时，应按各自的方法评定级别。 1.1.4 采用同种检测方法按不同检测工艺进行检测时，如果检测
结果不一致，应以危险度大的评定级别为准。
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1.2.2 无损检测工艺规程
•
无损检测工艺规程包括通用工艺规程和工艺卡。
④.适宜检测较薄的工件而不适宜较厚的工件。检测厚工件需要高能量的射线 探伤设备。300 kV便携式X射线机透照厚度一般小于40 mm，420 kV移动式X 射线机和Irl92γ射线机透照厚度均小于100 mm，对厚度大于100 mm的工件 照相需使用加速器或C060，因此是比较困难的。此外，板厚增大，射线照相 绝对灵敏度是下降的，也就是说对厚工件采用射线照相，小尺寸缺陷以及一 些面积型缺陷漏检的可能性增大。
度、宽度尺寸的确定也很准。
③体积型缺陷检出率很高。而面积型缺陷检出率受到多种因素影响。体积型缺 陷是指气孔、夹渣类缺陷。射线照相大致可以检出直径在试件厚度1%以上的 体积型缺陷。面积型缺陷是指裂纹、未熔合类缺陷，其检出率的影响因素包 括缺陷形态尺寸、透照厚度、透照角度、透照几何条件、源和胶片种类、像 质计灵敏度等，所以裂纹检出率相对较低。
• A. 无损检测通用工艺规程
• 无损检测通用工艺规程应根据相关法规、产品标准、有关的技术文件和 JB/T 4730的本部分的要求，并针对检测机构的特点和检测能力进行编制。无 损检测通用工艺规程应涵盖本单位(制造、安装或检测单位)产品的检测范围。
• 无损检测通用工艺规程至少应包括以下内容:
• a) 验适用范围；
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射线探伤法（RT）简介
• 1.5.1 X射线和γ射线产生原理
• ⑴射线的种类很多，工业探伤主要应用的3类射线其中易于穿透物质的 有X射线、γ射线、中子射线三种。这三种射线都被用于无损检测，其中 X射线和γ射线应用于锅炉压力容器压力管道焊缝和其他工业产品、结构 材料的缺陷检测，而中子射线仅用于一些特殊场合。
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（2）射线能量与射线波长之间的关系
• 射线能量越高且波长越短，穿透物质时衰减少且穿透力 强 。 X射线的能量取决于管电压，γ射线的能量取决于放 射性同位素的种类。
（3）射线穿过物质的衰减
• X射线和y射线通过物质时，其强度逐渐减弱。射线强度的 衰减由以下公式表示：
•.
• 式中：I——通过物体后的射线强度；
•
I。——未通过物体前的射线强度；
•
μ——物质的衰减系数；
•
T --- 物体厚度。
• X射线和γ射线的强度减弱，一般认为是由光电效应引起 的吸收、康普顿效应引起的散射和电子对效应引起的吸收 三种原因造成的。
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射线检测特点1
①.检测结果有直接记录——底片。由于底片上记录的信息十分丰富，且可以 长期保存，从而使射线照相法成为各种无损检测方法中记录最真实、最直观、 最全面、可追踪性最好的检测方法。
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1.2.3无损检测工艺卡
• 实施无损检测的人员应按无损检测工艺卡进行操作。 • 无损检测工艺卡应根据无损检测通用工艺规程、产品标准、有
关的技术文件和JB/T 4730的本部分的要求编制，一般应包括以 下内容: • a) 工艺卡编号； • b) 产品名称，产品编号，制造、安装或检验编号，承压设备 的类别、规格尺寸、材料牌号、材质、热处理状态及表面状态；
• b) 引用标准、法规；
• c) 检测人员资格；
• d) 检测设备、器材和材料；
• e) 检测表面制备；
• f) 检测时机；
• g) 检测工艺和检测技术；
• h) 检测结果的评定和质量等级分类；
• i) 检测记录、报告和资料存档；
• j) 编制(级别)、审核(级别)和批准人；
• k) 制定日期。
• 无损检测通用工艺规程的编制、审核及批准应符合相关法规或标准的规定。
1.2.3 无损检测人员
• 1.2.3 无损检测人员 • 从事承压设备的原材料、零部件和焊接接
头无损检测的人员，应按照《特种设备无损检 测人员考核与监督管理规则》的要求取得相应 无损检测资格。 • 无损检测人员分为Ⅲ(高)级、Ⅱ(中)级和 I(初)级。取得不同无损检测方法各资格级别的 人员，只能从事与该方法和该资格级别相应的 无损检测工作，并负相应的技术责任。
1.1无损检测方法的应用
每种检测方法本身都有局限性，不可能适用于所有工件 和所有缺陷。应根据受检承压设备的材质、结构、制造方法、 工作介质、使用条件和失效模式，预计可能产生的缺陷种类、 形状、部位和方向，选择适宜的无损检测方法。
1.1.1射线和超声检测主要用于承压设备的内部缺陷的检测；磁 粉检测主要用于铁磁性材料制承压设备的表面和近表面缺陷 的检测；渗透检测主要用于非多孔性金属材料和非金属材料 制承压设备的表面开口缺陷的检测；涡流检测主要用于导电 金属材料制承压设备表面和近表面缺陷的检测。
具有辐射生物效应，能够杀伤生物细胞。
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X射线是在从X射线管中产生的，X射线管是一个具有阴阳两极的真
空管，阴极是钨制灯丝，阳极是金属制成的靶。灯丝加热后放出大量电
子；在阴阳两极之间加有很高的电压时，电子从阴极高速飞向阳极撞击
金属靶，从阳极金属靶上会产生X射线。
• γ射线是从放射性同位素的原子核中放射出来的。
• X射线和γ射线与无线电波、红外线、可见光、紫外线等属于同一范畴， 都是电磁波。其区别是波长不同及产生方法不同。
• X射线和γ射线具有以下性质：
在真空中以光速直线传播。
本身不带电、不受电场和磁场的影响。
在媒质界面上发生漫反射。
可以发生干涉和衍射。
不可见，能够穿透可见光不能穿透的物体。
Leabharlann Baidu
在穿透物质过程中，会与物质发生物理和化学作用。
• c) 检测设备与器材:设备种类、型号、规格尺寸、检测附件和 检测材料；
• d) 检测工艺参数:检测方法、检测比例、检测部位、标准试块 或标准试样(片)；
• e) 检测技术要求:执行标准和验收级别； • f) 检测程序； • g) 检测部位示意图； • h) 编制(级别)和审核(级别)人； • i) 制定日期。 • 无损检测工艺卡的编制、审核应符合相关法规或标准的规定3 。
1.1.2 铁磁性材料表面检测时，宜采用磁粉检测。 1.1.3 当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位
进行检测时，应按各自的方法评定级别。 1.1.4 采用同种检测方法按不同检测工艺进行检测时，如果检测
结果不一致，应以危险度大的评定级别为准。
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1.2.2 无损检测工艺规程
•
无损检测工艺规程包括通用工艺规程和工艺卡。
④.适宜检测较薄的工件而不适宜较厚的工件。检测厚工件需要高能量的射线 探伤设备。300 kV便携式X射线机透照厚度一般小于40 mm，420 kV移动式X 射线机和Irl92γ射线机透照厚度均小于100 mm，对厚度大于100 mm的工件 照相需使用加速器或C060，因此是比较困难的。此外，板厚增大，射线照相 绝对灵敏度是下降的，也就是说对厚工件采用射线照相，小尺寸缺陷以及一 些面积型缺陷漏检的可能性增大。