X射线荧光分析原理讲解学习

早在用电子轰击阳极靶而产生X射线时，人 们就发现，有几个强度很高的X射线，其能量 并没有随加速电子用的高压变化，而且不同元 素的靶材，其特殊的X射线的能量也不一样， 人们把它称为特征X射线，它是每种元素所特 有的
X射ห้องสมุดไป่ตู้对物质的作用
物质特征X射线 X射线 照射在物质上的结果会产生几种作用,
它们分别是物质特征X射线、光电子、散射、 其它作用
光电子效应是我们探测X射线的基础。散射则 会导致本底的出现，而特征X射线则是我们作 为元素分析的基础。
为什么会有特征X射线的出现呢？这可以从玻尔的 原子结构理论找到答案。原子中的电子都在一个 个电子轨道上运行，而每个轨道的能量都是一定 的，叫能级。内层轨道能级较低，外层轨道能级 较高，当内层的电子受到激发（激发源可以是电 子、质子、 粒子、射线、X射线等），有足够 的能量跳出内层轨道，那么，较外层的电子跃迁 到内层的轨道进行补充，由于是从高能级上跳往 低能级上，所以会释放出能量，其能量以光的形 式放出，这就是特征X射线。
X射线荧光
实际上，有很多办法能产生X射线，例如用质子、 射线、射线等打在物质上，都可以产生X射 线，而人们通常把X射线照射在物质上而产生 的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级 X射线。所以X射线荧光仍是X射线。
特征X射线
有人会问，为什么可以用X射线来分析物质的 成分呢？这些都归功于特征X射线。
X射线荧光分析原理
1、基本概念
A.X射线是一种电磁波，其波长在0.1到100∑之间，根据 波粒 二相性原理，X射线也是一种粒子，其每个粒子根 据下列公式可以找到其能量和波长的一一对应关系。
X荧光分析仪器的种类
现在X荧光分析仪器主要分为两大类，一是：波长色散 X荧光光谱分析仪；二是：能量色散X荧光分析仪器。 这两种仪器的测试原理有所区别，在对样品激发其元素 的特征X射线时，两种仪器的设计原理是相同的，在对 特征X射线进行探测时，波长色散X荧光光谱分析仪， 是检测的特征X射线的波长，即，X射线的波长性；而 能量色散X荧光分析仪器，检测的是特征X射线的能量， 即，X射线的粒子性。两种仪器的设计结构，探测方法 有很大的区别。
能量色散X荧光分析仪器结构、特点
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