材料分析题库含答案

材料分析试题库

选择题： 1. M 层电子回迁到K 层后，多余的能量放出的特征 X 射线称（B ）

A. K a ；

B. K 3；

C. K Y ；

D. L a 。

2. 当X 射线发生装置是 Cu 靶, 滤波片应选（ C )

A ． Cu ； B. Fe ； C. Ni ； D . Mo 。

3. 当电子把所有能量都转换为 X 射线时，该 X 射线波长称（A ）

A. 短波限入0；

B.激发限入k: ；

C. 吸收限；

D.特征X 射线 4•当X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后，L 层电子回迁K 层，多余能量将另一个

L 层

电子打出核外，这整个过程将产生（ D ） A. 光电子； B. 二次荧光； C. 俄歇电子； D. （ A+C ）

二、

1. 最常用的X 射线衍射方法是（B ）o

A. 劳厄法；

B. 粉末法；

C. 周转晶体法；

D. 德拜法。

2. 射线衍射方法中，试样为单晶体的是（ D ）

A 、劳埃法

B 、周转晶体法

C 、平面底片照相法

D 、A 和B

3. 晶体属于立方晶系，一晶面截 x 轴于 a/2 、 y 轴于 b/3 、 z 轴于 c/4 ，则该晶面的指标为 （ B ）

A 、 （364）

B 、 （234）

C 、 （213）

D 、 （468）

4. 立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（ B ）

A 、相互平行

B 、相互垂直

C 、成一定角度范围

D 、无必然联系

5. 晶面指数（ 111 ）与晶向指数（ 111 ）的关系是（ C ）。

A. 垂直；

B. 平行；

C. 不一定。

A.X 射线透射学；

B.X 射线衍射学；

C.X 射线光谱学；

D.其它

1、 对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（ A ）

A 、不存在系统消光

B 、h+k 为奇数

C 、h+k+l 为奇数

D 、h 、k 、I 为异性数

2、 立方晶系 {100} 晶面的多重性因子为（ D ）

A 、 2

B 、 3

C 、 4

D 、 6

3、 洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（ A 、晶粒大小对衍射强度的影响 B C 衍射线位置对衍射强度的影响 D

4、 洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（ A 、晶粒大小对衍射强度的影响 B C 衍射线位置对衍射强度的影响 D

5、 洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（ A 、晶粒大小对衍射强度的影响 B C 衍射线位置对衍射强度的影响 D

6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有

A 、 112

B 、 113

C 、 101

D 、 111

6. 在正方晶系中，晶面指数 A. 6 ； B. 4 ； C. 2

7. 用来进行晶体结构分析的 {100} 包括几个晶面（ B ）。

D. 1

；。 X 射线学分支是（ B ）

A ）

、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 、试样形状对衍射强度的影响 B ） 、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 、试样形状对衍射强度的影响 C ） 、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 、试样形状对衍射强度的影响

C ）

7、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（ C ）

A 、200

B 、 220

C 、112

D 、111

8、热振动对 x-ray 衍射的影响中不正确的是（ E ）

A 、温度升高引起晶胞膨胀

B 、使衍射线强度减小

C 、产生热漫散射

D 、改变布拉

格角 E 、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小

9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（ C ）

A 、结构因子

B 、角因子

C 、多重性因子

D 、吸收因子

四、 A. 30 度； B. 60 度； C. 90 度。

2、不利于提高德拜相机的分辨率的是（ D ）。

A. 采用大的相机半径；

B. 采用 X 射线较长的波长；

面间距较大的衍射面。 3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ C ）

A 、正装法

B 、反装法

C 、偏装法

D 、以上均可

4、 样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ B ）

A 1 : 1

B 、2 : 1

C 、1 : 2

D 、没有确定比例

5、 关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（ C ）

A 、相机半径越大，分辨率越高

B 、B 角越大，分辨率越高

C 、 X 射线波长越小，分辨率越高

D 、晶面间距越大，分辨率越低

6、 粉末照相法所用的试样形状为（ C ）

A 、块状

B 、分散

C 、圆柱形

D 、任意形状

7、 低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（ A ）

A 、正装法

B 、反装法

C 、偏装法

D 、任意安装都可

8、 以气体电离为基础制造的计数器是（ D ）

A 、正比计数器

B 、盖革计数器

C 、闪烁计数器

D 、A 和B

9、 利用X 射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与 X 射线强度成正比的特 性而制造的计数器为（ C ）

A 、正比计数器

B 、盖革计数器

C 、闪烁计数器

D 、锂漂移硅检测器

五、

1、 测定钢中的奥氏体含量，若采用定量 X 射线物相分析，常用方法是（ C ）。

A. 外标法；

B. 内标法；

C. 直接比较法；

D. K 值法。

2、 X 射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（ C ）进行核对。

A.哈氏无机数值索引；

B.芬克无机数值索引；

C.戴维无机字母索引；

D. A 或B 。

3、 PDF 卡片中，数据最可靠的用（ B ）表示

A 、i

B 、★

C 、O

D 、C

4、 PDF 卡片中，数据可靠程度最低的用（ C ）表示

A 、i

B 、★

C 、O

D 、C

5、 将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比 较而进行的定量分析方法称为（ A ）

A 、外标法

B 、内标法

C 、直接比较法

D 、K 值法

6、 在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试 样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较， 从而获得待测相含量的定量分析方法称为

（ B ）

A 、外标法

B 、内标法

C 、直接比较法

D 、K 值法

九、 1、 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ B ）。

A.球差；

B.像散；

C.色差。

1、衍射仪的测角仪在工作时， 少度角 ?（ B ）

如试样表面转到与入射线成

30度角时， 计数管与入射线成多 C.选用大的衍射角；D •选用