可靠性测试报告

可靠性测试报告

Reliability Test Report

样品品名：

1.5H SIM 卡有档 测试项目： 功能测试

测试日期：

2012-10-15

Shenzhen City COTEX Industrial Co., Ltd. Department of Laboratory Quality Assurance Page 1 of 1

样品数量： 5CS 测试设备： 高温烤箱，导通测试仪，寿命测试 送测单位： 品质部 测试流程： 高温烤箱→寿命测试→导通测试仪 送测日期： 2012-10-15

测试标准：

产品规格书

一、测试前样品确认：

外观确认：

测试样品 测试卡

观察产品外观良好，产品结构完整,主体无变形.（见右图）

二、测试方法与步骤：

1. 高温测试：将产品平放于PCB 板上放入烤箱2分钟产品无起泡，

变形。

2 接触电阻测试方法：测试时将接触线分别按住产品相邻端子测

试标准：测试一分钟，仪器显示绿灯则为合格。

3 样品做插卡测试2000次外壳无脱落现象.取测试卡检测导通合

格。

4 依盐雾测试仪操作检验规范打开并调试好测试仪，测试时不要

打开机器上盖；测试条件：（参考CNS 总号：4158 类号：H2040）

三、测试后样品确认：

1、外观确认：样品5PCS 无损伤，判定OK.

插卡前弹片 插卡后弹片

2、功能确认：弹片高度 0.25~0.75mm

寿命测试前弹片高度 0.624 0.634 0.629 0.616 0.628 寿命测试后弹片高度 0.537 0.541 0.537 0.532 0.537 寿命测试后弹片高度变化在公差之内导通测试合格。

3、盐雾测试12H,端子无氧化，发黑现象,接触性能良好，判为OK 。 四、可靠性测试结论：

测试结果：

最终判定：

1.卡座弹卡２000次后外壳无脱落现象，可导通，测试结果在检验规范标准值之内

2. 盐雾12H 后接触点无发黑变色现象，接触性能良好

PASS

核准：

测试员：