烤箱温度精度测试
烤箱温度精度测试
这个测试验证了GC的烤箱温度精度使用两个设定控制量:100 o
C和
230年
o
c .记录所有结果在结果部分。
注意:
虽然这是一个通用的测试,它可以执行之后执行进口泄漏和
压力测试,克服不必要的断开的列。
过程
准备系统
1。
安装结帐列现在条件系统在这个测试。
注意
:指化学评价参数部分来验证和安装
列。
2。
位置温度探头在列吊架这样结束的探针
是符合仪器的烤箱传感器。
3。
安全探测器通过循环的电缆在石柱吊架或固定它列吊架与高温胶带,一个纸夹,或一个春天的纸夹。
过程
选点100
o
C
1。
设置烤箱温度至100
o
c。
2。
打开烤箱和等待至少5分钟后烤箱是准备好了。3。
观察温度对校准温度计的显示,当
温度稳定后,记录阅读。
选点230
o
C
1。
设置烤箱温度至230
o
c。
2。
让炉稳定。
这可能需要几分钟。
3。
观察温度对校准温度计的显示,当它
稳定后,记录阅读。
4。
如果你是调节系统,温度在230年离开o
C直到
调节完成。
5。
重置烤箱到指定的值在化学评价参数
部分。
通道配置特定的测试以下测试是特定于通道合格,被描述在封面页。进口测试概述入口泄漏和压力测试是执行校准压力表连接到进气列配件。当你设置压力计中所描述的一样入口泄漏测试部分,执行下列操作之一。如果系统拥有pressure,完成进气泄漏测试和入口压力测试在这个协议如果系统没有按压规定的time,删除manometer,执行标准泄漏检查过程中所描述的instrument’s manual,和记录结果在这个
OQ/PV.压力计组装应该检查是否泄漏。进口维修清洗包装进口组件,它列出设备清单部分,提供了客户和更换部分的制备(预防性)维修,是之前完成这个资格。本程序描述了最低要求的活动。1。酷的入口环境温度。2。如果一个530 -μm适配器与玻璃衬管是没有安装,拆卸底部组件的入口和取代列适配器与正确的类型。3。重新安装进口底组件和列适配器。4。在进口前,更换玻璃衬管,o形环和隔膜。5。重新安装前组件的入口。进口泄漏试验这个测试演示了压力完整性的GC入口。注意:如果这个测试失败,第二次,修复一个缺陷后,您可以使用泄漏测试套件(P / N
g1545 - 60501)和程序的工具。过程1。零压力计和安装到位的列在入口。压力计功能入口插头。2。限制进口的鼻中隔清洗配件用1/8英寸接头套管帽。3。从GC的键盘/控制器,输入长度(30米),直径(320μm)
的毛细管柱被测试。这个地方的系统在压力控制模式而不是在流量控制模式。4。增压进气25 psi。这可能需要几秒钟。注意:GC的键盘/控制器显示可能不读到底25.00 psi。5。等待10分钟的压力稳定。6。从GC的键盘/控制器,关掉进气压力和记录初始压力在结果部分。7。等待5分钟,然后记录最后的压力读数。8。计算压降差异和记录。9。拆卸隔膜清洗通气帽和验证系统开始减压。
进气压力测试柱流是通过保持恒定压力对一个已知的限制。因为限制是一个函数的列几何、测量压力的入口是最准确的方法来确定流量。这个测试演示了系统的能力,提供准确的压力的负责人列。过程1。用压力计还在的地方,打开入口压力和使系统控制在25 psi。2。允许读数稳定。稳定化过程不到一分钟。3。记录压力读取压力计在结果部分的协议。4。关掉进气压力和消除压力计。
检测器流测试探测器流是通过维持一个恒定的压力对一个已知的和具
有限制。探测器流精度取决于测量流动与校准质量流量计和比较这些测量值显示的GC。先决条件删除列和帽探测器底座一个适当的配件。过程1。关掉所有的探测器流除了一个被测试。2。设置流参数中指定的评估参数剖面。3。准备校准质量流量计(气体选择、清洗、零)。4。连接到探测器退出。流量计5。等待流量计的阅读来稳定。6。记录测量值在结果部分。7。关闭流。8。重复步骤1 - 7为每个剩余探测器流。9。毕竟流测量了,打开盖子从探测器基地。注射器检查检查注射器和记录结果在结果部分。注意:穿的不利影响系统精度。如果必要的话,安装一个新的注射器现在
温度测量实验报告
温度测量实验报告 上海交通大学材料科学与工程学院 实验目的 1.掌握炉温实时控制系统结构图及其电压控制原理； 2.通过数据采集板卡，对温度信号（输入为电压模拟量）采集和滤波； 3.通过数据采集板卡，输出模拟电压量到调节器； 4.通过观测温度曲线，实施手动调节输出电压，使得温度曲线与理想波形尽量接近； 5.用增量式PID控制算法控制炉温曲线。 实验原理 (一)炉温实时控制系统结构图 (二)输出控制电压与工作电压的关系 加热炉加热电压=板卡输出控制电压×220 10 (三)电压控制原理 (四)温度与电压的关系
温度=电压× 700℃ (五)PID控制算法公式 ?u k= Ae k? Be k ? 1+ Ce(k ? 2) 其中：A=K P(1+ T T I + T D T )；B=K P(1+2T D T )；C=K P T D T 。 u k=u k ? 1+ ?u(k) 手动控制炉温参数选择及理由 加热电压：4V 理由：本套实验装置加热速度很快，若加热电压过高（高于5V）则会导致升温过快从而有可能损坏实验装置，而若加热电压过低则会导致升温过慢，浪费时间。综合实际情况以及上述分析，本组成员决定将加热电压设置为4V。 PID炉温控制参数选择及理由 表1 PID炉温控制参数 选取理由 周期：由于温度滞后性较大，因此周期应当大一些。此处本组采用了推荐值0.2s。 K P:由实际经验可知，K P的最佳范围在0.5-1.5之间。此处本组取了中间值1。 T I：实际操作过程中，本组同学发现若T I较小，超调量就会很大。所以这里将T I取得大一些，设置为20s。T D：小组成员发现炉温滞后现象非常严重，因此T D不得不调大一些，取成0.9s。
烤箱能效测试标准
家用电烤箱.能耗测量方法 1．范围 此标准适用家用电烤箱 此标准对下列条件不适用 -微波炉和微波组合炉 -小炉腔烤箱 -没有可调温控器的烤箱 -除定义之外的加热功能 2．目的 3．参考标准 4．定义 标准的定义如下 常规加热功能 食物只由辐射加热和自然对流加热 注：不包括只有顶部加热部件的烤箱（也就是烧烤功能） 强制空气循环功能 热能由强制空气循环功能传导给食物 注：不包括只能使一个烧烤组件工作的空气循环功能 热蒸汽功能 食物在大气压1BAR下，又热蒸汽加热（T》100） 小炉腔烤箱 与可用容积相关，具下例尺寸的烤箱 -宽度和深度都小于250mm -或高度小于120mm 注在此标准中小炉腔烤箱的定义取决于人工负载的尺寸 多腔器具 内部有多个独立腔体的器具，食物放入腔体后，不同腔体的温度可独立控制，但是腔体不能分开安装
5 测量目录 尺寸 -总尺寸（条款7） -可用容积和表面面积的尺寸 能耗和加热倍数 -空烤箱预热（） -加热负载 6测量的一般条件 一般条件 需按照制造商的烤箱安装指导 整机（包括材料和安装）的任何测试首先都需在环境温度下进行。多腔器具的不同腔体温度需分开测量。只有腔体内部的测试是在器具开启后测量 在如描述的有不同功能的烤箱，制造商能选择功能进行测试.需出报告（见条款9） 除非另有说明，不然测量按以下进行： 环境温度 整个测试过程都在在无气流房间，环境温度保持在23℃±2进行。 环境温度测试点位置见图1，（高度同烤箱可用容积的中心部位一致） 环境温度的测量不能被烤箱或其他器具影响 电源 电源电压在加热元件开启后，需同厂家安装指导一致，保持在240V±1%或400V±1%。频率50Hz±1% 测试过程中的电源电压全程记录. 注。。。
技术报告-环境试验设备温度湿度校准装置
计量标准技术报告 计量标准名称环境试验设备温度湿度校准装置计量标准负责人 建标单位名称（公章） 填写日期2013年6 月
目录 一、建立计量标准的目的…………………………………………………… ( 1 ) 二、计量标准的工作原理及其组成……………………………………( 1 ) 三、计量标准器及主要配套设备…………………………………………( 2 ) 四、计量标准的主要技术指标…………………………………………( 3 ) 五、环境条件……………………………………………………………( 3 ) 六、计量标准的量值溯源和传递框图………………………………………( 4 ) 七、计量标准的重复性试验…………………………………………………( 5 ) 八、计量标准的稳定性考核……………………………………………………( 7 ) 九、检定或校准结果的测量不确定度评定…………………………………( 9 ) 十、检定或校准结果的验证…………………………………………………(14 ) 十一、结论……………………………………………………………………(15 ) 十二、附加说明…………………………………………………………………(15 )
一、建立计量标准的目的 建立环境试验设备温度湿度标准的目的：为了保证全市范围内量传的准确性，使其校准工作更加规范化，同时提高了客户对我们能力的认可程度。此标准开展的项目有环境试验设备。测量范围为温度：（-60～300）℃， 湿度：(5～95.0)%RH 。 二、计量标准的工作原理及其组成 1、计量标准工作原理： 通讯电缆 通讯 电缆 图 1 系统程序运行后，由用户来设置环境、用户、被测系统、检定点数、检定温度等检定参数。系统首先进行自检，确认系统各组成部分连接和工作是否正常。系统工作时，计算机在专用软件的控制下通过RS-232与低热电势多路数据采集装置通讯读取被测设备或环境的温度数据。检定结束后，对数据进行分析和处理、存储及生成报表。 2、计量标准的组成： 1 ） 计算机 2 ） 打印机 3 ） 低热电势多路数据采集装置 4 ) 系统专用软件 5 ) 传感器 打印机 计算机 多路低热电势 数据采集装置 温度、湿度设备或环境
温度检测与控制实验报告材料
实验三十二温度传感器温度控制实验 一、实验目的 1.了解温度传感器电路的工作原理 2.了解温度控制的基本原理 3.掌握一线总线接口的使用 二、实验说明 这是一个综合硬件实验，分两大功能：温度的测量和温度的控制。 1.DALLAS最新单线数字温度传感器DS18B20简介 Dallas 半导体公司的数字化温度传感器DS1820是世界上第一片支持“一线总线”接口的温度传感器。现场温度直接以“一线总线”的数字方式传输，大大提高了系统的抗干扰性。适合于恶劣环境的现场温度测量，如：环境控制、设备或过程控制、测温类消费电子产品等。与前一代产品不同，新的产品支持3V～5.5V的电压围，使系统设计更灵活、方便。 DS18B20测量温度围为 -55°C～+125°C，在-10～+85°C围,精度为±0.5°C。DS18B20可以程序设定9～12位的分辨率，及用户设定的报警温度存储在EEPROM中，掉电后依然保存。 DS18B20部结构 DS18B20部结构主要由四部分组成：64位光刻ROM、温度传感器、非挥发的温度报警触发器TH和TL、配置寄存器。DS18B20的管脚排列如下: DQ为数字信号输入/输出端；GND为电源地；VDD为外接供电电源输入端（在寄生电源接线方式时接地）。 光刻ROM中的64位序列号是出厂前被光刻好的，它可以看作是该DS18B20的地址序列码。64位光刻ROM的排列是：开始8位（28H）是产品类型标号，接 着的48位是该DS18B20自身的序列号，最后8位是前面56位的循环冗余校验 码（CRC=X8+X5+X4+1）。光刻ROM的作用是使每一个DS18B20都各不相同，这样 就可以实现一根总线上挂接多个DS18B20的目的。 DS18B20中的温度传感器可完成对温度的测量，以12位转化为例:用16位符号扩展的二进制补码读数形式提供，以0.0625℃/LSB形式表达，其中S为符号位。 Bit7 Bit6 Bit5 Bit4 Bit3 Bit2 Bit1 Bit0 232221202-12-22-32-4 Bit15 Bit14 Bit13 Bit12 Bit11 Bit10 Bit9 Bit8 S S S S S 262524这是12位转化后得到的12位数据，存储在18B20的两个8比特的RAM中，二进制中的
单片机温度测试报告
成绩：《单片机应用实践》报告 专业：通信工程 学号： 姓名： 指导老师： 福州大学阳光学院电子信息工程系
一．设计目的与意义 随着现代信息技术的飞速发展和传统工业改造的逐步实现，能够独立工作的温度检测和显示系统应用于诸多领域。无论是在工业方面，农业方面或者是平民大众的生活当中，我们都能看到温度计的身影。 传统的温度检测以热敏电阻和AD590为温度敏感元件。热敏电阻的成本低，但需后续信号处理电路，而且可靠性相对较差。测温准确度低，检测系统也有一定的误差。因此，利用新型温度传感器取代旧式的温度传感器是必然的趋势，新型的温度传感器的优势越来越得到体现，越来越普及。单片机以其功能强、体积小、可靠性高、造价低和开发周期短等优点，成为自动化和各个测控领域中必不可少且广泛应用的器件，尤其在日常生活中也发挥越来越大的作用。 本设计的温度计与传统的温度计相比，具有读数方便，测温范围广，测温准确，不仅具有控制方便、组态简单和灵活性大等优点，而且可以大幅度提高被控温度的技术指标，从而能够大大提高产品的质量和数量。其输出温度采用数字显示，主要用于对测温比较准确的场所，或科研实验室使用，测温传感器使用 DS18B20，LCD以串口传送数据,实现温度显示,能准确达到以上要求。同时计时器的应用，使得温度计在使用时能够提示运行时间，设置报警时间等。 二．设计的主要功能 （1）功能1，采集一路温度信号，温度范围为0～100℃，温度传感器可采用DS18B20，采集的数据系统自动存储并显示，温度显示精确到小数一位， 温度超限自动报警。 （2）功能2，方波信号输出，输出波形的频率范围为1Hz～1kHz，频率可调，输出波形幅度范围固定5V。 （3）按键操作功能，按键切换功能1和功能2。 （4）采用多位数码管或LCD显示，显示当前温度值或当前方波频率。 三．硬件设计 1、设计系统框图如下图： 图1-1 系统框图
玻璃化温度测试数据及硬度测试报告
FFC用绝缘膜之热融胶玻璃化温度曲线测试报告一、Tg温度测试报告数据： 测试方法与过程： 室温下以ramp=20℃/min的速率升到高温（高于T efm约30度），恒温5min,以ramp= 20℃/min降至Tg以下50℃，恒温5min:再次以20℃/min的速率升温至T efg以上30 度，一般以T1/2，g作为玻璃化转变温度，并报告T1/2.g、T eig和T efg的结果；结果 保留整数。 请参考如下测试数据曲线：
注：Fig.2为在Fig.1基础之上再一次扫描，胶为半固化干胶，因此再次高温后，胶面已 有一定固化，故第二次数据要高于第一次数据；同常情况下以第一次数据为准； 专业词汇解释： T mg=T1/2.g 即测试显示结果的玻璃化实际转变温度，FFC用绝缘膜所使用树脂为非晶型饱和聚酯树脂，胶面软化点约为Tg+110℃； 高聚物由高弹态转变为玻璃态的温度，指无定型聚合物（包括结晶型聚合物中的非结晶部分）由玻璃态向高弹态或者由后者向前者的转变温度，是无定型聚合物大分子链段自由运动的最低温度，通常用Tg表示，随测定的方法和条件有一定的不同。高聚物的一种重要的工艺指标。在此温度以上，高聚物表现出弹性；在此温度以下，高聚物表现出脆性，在用作塑料、橡胶、合成纤维等时必须加以考虑。 FFC用绝缘膜热融胶为非结晶型高弹态高分子材料，按其力学性质区分为玻璃态、高弹态和粘流态三种状态。而玻璃化温度即是指热融胶的高弹态的高分子材料随着温度的降低会发生由高弹态向玻璃态的转变，这个转变称为玻璃化转变。它的转变温度称为玻璃化温度Tg。如果高弹态材料温度升高，高分子将发生由高弹态向粘流态的转变，其转变温度称为粘流温度Tf。因此FFC用绝缘膜热融胶作为材料制作FFC成品线高温压合时，即是由高弹态由粘流态的转变使热融胶转化为粘流态进行压合，粘流态温度需要持续保持胶面软化状态才可制成FFC软性排线，由于压合时间段极短，因此保证贴合效果，FFC压合设定温度需要达到160度以上，确保热融胶的快速软化形成粘流态； FFC热融胶的Tg温度在0℃时，当FFC储藏环境高于0摄氏度时，小于110摄氏度时，FFC胶面呈高弹态即胶面存在一定的硬度弹性，FFC工作温度越接近于110摄氏度，弹性越高，越容易出现受外力作用造成变形；
居里温度测定实验报告 南京大学
南京大学 近代物理实验报告 12.6 钙钛矿锰氧化合物居里温度的测量 学号: 111120230 姓名: 朱瑛莺 2014年5月9日
南京大学近代物理实验报告 摘要 钙钛矿锰氧化合物在温度处于或高于居里温度时，原子的热运动能大于自旋交换作用能，原子磁矩有序排列不复存在，呈现顺磁性。本实验通过测量样品磁化强度随 曲线，得到材料的居里温度。 温度的变化并绘制M T 关键词：居里温度钙钛矿锰氧化物磁化强度补偿线圈
南京大学近代物理实验报告 1 引言 1、磁性材料的自发磁化来自磁性电子间的交换作用。在磁性材料内部，交换作用总是力图使原子磁矩呈有序排列：平行取向或反平行取向。但是随着温度升高，原子热运动能量增大，逐步破坏磁性材料内部的原子磁矩的有序排列，当升高到一定温度时，热运动能和交换作用能量相等，原子磁矩的有序排列不复存在，强磁性消失，材料呈现顺磁性，此即居里温度。 不同材料的居里温度是不同的。材料居里温度的高低反映了材料内部磁性原子之间的直接交换作用、超交换作用、双交换作用。因此，深入研究和测定材料的居里温度有着重要意义。 居里温度的测量方法 （1）通过测定材料的饱和磁化强度和温度依赖性得到Ms —T 曲线，从而得打Ms 降为零时所对应的居里温度。这种方法适用于那些可以用来在变温条件下直接测量样品饱和磁化强度的装置，例如磁天平、振动样品磁强计以及SQUID 等。图1示出了纯Ni 的饱和磁化强度的度依赖性。由图可以确定Ni 的居里温度。 图1 Ni 的Ms —T 曲线 图2 镍锌铁氧体的μi —T 曲线 （2）通过测定材料在弱磁场下的初始磁导率μi 的温度依赖性，利用霍普金森效应，确定居里温度。霍普金森效应指的是一些软磁材料的初始磁导率在居里点附近，由于磁晶各向异性常数K1 随温度升高而趋于零的速度远快于饱和磁化强度随温度的变化，而初始磁导率μi∝Ms2/K1，因此在局里温度附近，μi 会显示一最大值，随后快速趋于零的现象。 图2示出了不同成分的镍锌铁氧体的初始磁导率随温度的变化，这些材料的霍普金森效应十分明显。由图也可以确定各样品的居里温度。 （3）通过测量其他磁学量（如磁致伸缩系数等）的温度依赖性求得居里温度。 （4）通过测定一些非磁学量如比热、电阻温度系数、热电势等随温度的变化，随后根据这些非磁学量在居里温度附近的反常转折点来确定居里温度。 2、钙钛矿锰氧化物 钙钛矿锰氧化物指的是成分为31MnO A R x x (R 是二价稀土金属离子，A 为一价碱土金属离子)的一大类具有ABO 3型钙钛矿结构的锰氧化物。理想的ABO 3型(A 为稀土或 碱土金属离子，B 为Mn 离子。钙钛矿具有空间群为立方结构，如以稀土离子A 作为立方晶格的顶点，则Mn 离子和离B 子分别处在体心和面心的位置，同时，Mn 离子又
EUROVENT热泵测试及能效标准
2.1 Liquid Chilling Package A factory assembled unit, designed to cool liquid, using a compressor, an evaporator and an integral and appropriate controls. Definitions in red are in accordance with EN14511-1 (2011) 2.2 Cooling capacity Heat given off from the heat transfer medium to the unit per unit time (kW). 2.3 Power Input Average electrical power input of the liquid chilling package within the defined interval of time obtained from: a) the power input for operation of the compressor(s) and any power input for defrosting; b) the power input of all control and safety devices of the unit; c) proportional power input of the conveying devices (e.g. fans, pumps) for ensuring the transport of the heat transfer media inside the unit. 2.4 Energy efficiency Ratio (EER) Ratio of the cooling capacity to the power input of the unit. 2.5 Part load Operation at partial capacity 2.6 Load rate (noted LR only for the cooling mode of air conditioning chillers) The ratio of the cooling capacity at partial capacity and reduced condenser inlet water or air temperature to the cooling capacity at the standard rating conditions with the following rating conditions: - For air cooled chillers: 1. The leaving water temperature is set at 7°C 2. The evaporator water-flow rate is equal to the standard rating water-flow rate. 3. The air-flow rate is controlled by the chiller - For water cooled chillers: 1. The leaving water temperature is set at 7°C 2. The evaporator and condenser water-flow rate is equal to the standard rating water-flow rates 3. The condenser water flow rate is controlled by the chiller. If the chiller doesn’t control it, the condenser water flow rate will be equal to the standard rating water flow rate. 2.7 ESEER (only for the cooling mode of air conditioning chillers) The European Seasonal Energy Efficiency Ratio is a weighed formula enabling to take into account the variation of EER with the load rate and the variation of air or water inlet condenser temperature. 2.8 Heating capacity Heat given off by the unit to the heat transfer medium per unit of time (kW). 2.9 Coefficient of Performance (COP) Ratio of the heating capacity to the power input of the unit. 2.10 Liquid pressure drop on evaporator Chilled liquid internal pressure difference between inlet and outlet of evaporator. 2.11 Liquid pressure drop on condenser Condenser liquid internal pressure difference between inlet and outlet of condenser. 2.12 Available pressure Available liquid pressure for units with integrated pump. 2.13 Air pressure drop on condenser Condenser air internal pressure difference between inlet and outlet. 2.14 A-weighted sound power level Sound power level radiated by the air cooled chiller.
DM9051 芯片温度测试报告
DM9051NP IC Test Report Part Number: DM9051NP Marking on Chip: DAVICOM First Line: DM9051NP Second Line: 1431NS Third Line: D86G0.1T2 Number of TP ports: 1TP Number of MII/Reverse MII ports: NA Number of Reduced MII (RMII) ports: NA Number of USB ports: NA Processor Interface: 1, SPI Operating Temperature: MIN= 0℃, MAX= 70 ℃ Test Temperature: 25℃±5% FT tested: NO Bench test program: Ver. 0616 , 0826
Temperature Characterization IC Surface Temperature Measurement Test chip at full wire speed for ALL TP ports and CPU port (if software enabled) for at least one hour above and measure IC surface temperature at center of chip. -- Use PC (if CPU port is enabled) and Smartbit for traffic generation and measurement -- Connect DUT's TP ports to Smartbit using long (>80M) cables -- Start Smartbit traffic generator set to random data, random packet size and 100% utilization rate and display counter. Thermal condition
温湿度测试实验报告
简易环境参数测试仪设计总结报告 目录： 1.系统方案……………………………………………………………… 1.1方案论证…………………………………………………………… 1.2方案选定 1.3系统设计……………………………………………………………… 1.4结构框图……………………………………………………………… 2.理论分析与计算……………………………………………… 2.1测量与控制方法………………………………………………………… 2.2理论计算…………………………………………………………………… 3.电路与程序设计…………………………………………………………………3.1硬件电路各模块或单元电路的设计 3.2检测与驱动电路设计………………………………………………………… 3.3总体电路设计………………………………………………………………… 3.4软件设计与流程图…………………………………………………………… 4.结果分析………………………………………………………………………… 4.1与设计指标进行比较，分析产生偏差的原因，并提出改进方法………………
1.系统方案 1.1方案论证 方案1：温湿度传感器采用传统的模拟式器件，使用光敏电阻测光照，利用单片机进行显示与按键。 方案2：温湿度采用集成式器件，使用光敏电阻测光照，利用单片机进行显示与按键。 方案3：温湿度传感器采用数字式器件，使用光敏传感器，再通过单片机进行显示与按键。方案论证：比较三种方案，在传感器的选择上，模拟传感器的模拟信号要先经过采样、放大和模数转换电路处理，再将转换得到的表示温度值的数字信号交由微处理器或DSP处理。被测量信号从敏感元件接收的非物理量开始到转换微处理器可处理的数字信号之间。而且模拟信号在传输的过程中容易受到干扰而产生误差。而且魔术转换的精度不可能很高，存在一定的非线性，互换性较差。直接采用数字数传感器就可以避免以上的问题。数字传感器可以直接将被测模拟量直接换成数字量输出，具有很强的抗干扰能力，且具有高的精度和分辨率，稳定性好，信号易处理。其次在光照方面光敏电阻达不到要求故选择光敏传感器。 1.2方案选定：选择方案三 1.3系统设计:以A T89S52 为核心的单片机。系统整体硬件电路包括，电源电路，传感器电路，温度显示电路，上下限报警电路等。温湿度控制的基本原理为:当DSl8B20 采集到温度信号后，将温度信号送至AT89S52 中处理，同时将温度送到LCD 液晶屏显示，单片机根据初始化设置的温度上下限进行判断处理，即如果温度大于所设的最高温度就启动风扇降温;如果温度小于所设定的最低温度就启动报警装置。同时通过按键对温湿度进行调整与确认。检测光照。 1.4结构框图
烤箱能效测试标准
家用电烤箱.能耗测量方法 1．围 此标准适用家用电烤箱 此标准对下列条件不适用 -微波炉和微波组合炉 -小炉腔烤箱 -没有可调温控器的烤箱 -除定义4.1-4.3之外的加热功能 2．目的 3．参考标准 4．定义 标准的定义如下 4.1 常规加热功能 食物只由辐射加热和自然对流加热 注：不包括只有顶部加热部件的烤箱（也就是烧烤功能） 4.2 强制空气循环功能 热能由强制空气循环功能传导给食物 注：不包括只能使一个烧烤组件工作的空气循环功能 4.3 热蒸汽功能 食物在大气压1BAR下，又热蒸汽加热（T》100） 4.4 小炉腔烤箱 与可用容积相关，具下例尺寸的烤箱 -宽度和深度都小于250mm -或高度小于120mm 注在此标准中小炉腔烤箱的定义取决于人工负载的尺寸 4.5 多腔器具 部有多个独立腔体的器具，食物放入腔体后，不同腔体的温度可独立控制，但是腔体不能分开安装
5.1 尺寸 -总尺寸（条款7） -可用容积和表面面积的尺寸 5.2 能耗和加热倍数 -空烤箱预热（8.2） -加热负载 6测量的一般条件 6.1 一般条件 需按照制造商的烤箱安装指导 整机（包括材料和安装）的任何测试首先都需在环境温度下进行。多腔器具的不同腔体温度需分开测量。只有腔体部的测试是在器具开启后测量 在如4.1-4.3描述的有不同功能的烤箱，制造商能选择功能进行测试.需出报告（见条款9） 除非另有说明，不然测量按以下进行： 6.2环境温度 整个测试过程都在在无气流房间，环境温度保持在23℃±2进行。 环境温度测试点位置见图1，（高度同烤箱可用容积的中心部位一致） 环境温度的测量不能被烤箱或其他器具影响 6.3 电源 电源电压在加热元件开启后，需同厂家安装指导一致，保持在240V±1%或400V±1%。频率50Hz ±1% 测试过程中的电源电压全程记录. 注。。。
温度测量及显示报告
温度测量及显示报告 目录一、题目分析................................................................. .......................... 2 二、硬件设计................................................................. .......................... 5 三、软件设计................................................................. .......................... 7 四、调试及运行............................................................... ..................... 21 五、心得体会................................................................. ........................ 22 一、题目分析1、直流电机正反转及调速直流电机正反转控制现在主要是利用分立元件和芯片驱动，分立元件主要是利用H桥驱动电路，芯片驱动主要是利用L298，采用分立元件和芯片原理是大致相同的。集成芯片L298内部有两个H桥，可以同时控制两个直流电机，图1中所示为一个典型的直流电机控制
电路。电路得名于“H桥驱动电路”是因为它的形状酷似字母H。4个三极管组成H的4条垂直腿，而电机就是H中的横杠，如图所示，H桥式电机驱动电路包括4个三极管和一个电机。要使电机运转，必须导通对角线上的一对三极管。根据不同三极管对的导通情况，电流可能会从左至右或从右至左流过电机，从而控制电机的转向。图 1 要使电机运转，必须使对角线上的一对三极管导通。例如，如图2所示，当Q1管和Q4管导通时，电流就从电源正极经Q1从左至右穿过电机，然后再经Q4回到电源负极。按图中电流箭头所示，该流向的电流将驱动电机顺时针转动。当三极管Q1和Q4导通时，电流将从左至右流过电机，从而驱动电机按特定方向转动。图 2 顺时针旋转图3所示为另一对三极管Q2和Q3导通的情况，电流将从右至左流过电机。当三极管Q2和Q3导通时，电流将从右至左流过电机，从而驱动电机沿另一方向
温度测量仪报告
电子电路课程设计——温度测量仪 摘要：本课程设计中通过数模混合电路实现了测量温度的功能，设计的流程为：首先用温度传感器LM35实现温度采集并输出一定大小的电压，然后利用A/D转换器ADC0809把模拟信号转换成数字信号后送入28C64存储器中，再利用显示电路把转换后的数字信号显示出来，同时设计中还包括了利用比较器来实现温度警报功能的电路。关键字：温度测量 28C64 ADC转换 目录 第一章技术指标-------------------- 1.1 系统功能要求-------------------- 1.2 系统结构要求-------------------- 1.3 技术指标------------------------ 1.4 设计条件------------------------ 第二章整体方案设计 ---------------- 2.1 数据处理流程分析--------------- 2.2 整体方案----------------------- 第三章单元电路设计-------------------- 3.1 温度传感器及其放大电路的设计 ------ 3.2 A/D转换电路及数字显示电路的设计 --
3.2.1 设计思路----------------------- 3.2.2 数模转换及显示电路-------------- 3.3 71KHz方波信号发生器的设计 ------ 3.4 超限比较报警电路的设计------------ 3.5 整体电路图------------------------ 第四章测试与调试---------------------- 4.1 数字显示电路的调试---------------- 4.2 存储器和数字显示电路的调试-------- 4.3 信号发生器电路的测试------------- 4.4 A/D转换电路及数字显示电路的调试--- 4.5 超限比较报警电路的调试-------------- 第五章设计小结 --------------------------- 5.1 设计任务完成情况 ------------------ -- 5.2 问题与改进 --------------------------- 5.3 心得体会 ----------------------------- 参考书目bibliography------------------------------------27 附录一 (28) 附录二 (29) 附录三 (30)
新宝电烤箱测试标准
1. 主题内容与适用范围： 本标准规定了本公司电烤箱的有关技术要求、试验方法、包装、运输和贮存。 本标准适用于由加热箱及其门组成的电器，包括机械式和电子式电烤炉。不适用于带马达的烤箱。 本标准不适用于其他烘烤器具。 本标准主要参照2.1引用标准，如本标准的某些内容与该标准有冲突，则以引用标准为准。 2.引用和参考标准： 2.1引用标准 EN60335-1：1995 家电产品设计及结构的安全通则 EN60335-2-9：1996 +A1:1998 家电产品设计及结构的安全烤面包器、烤炉、烘烤器及类似器具的特殊要求 2.2参考标准 GB4706.1-1998：家用和类似用途电器的安全通用要求 GB4706.30-92：家用各类似用途电器的安全烤面包器、烤炉、烘烤器及类似器具的特殊要求 GB1019：家用电器包装通则 3.型号、型式和主要电参数: 3.1型号命名： XBO 9368 A 派生产品代码 产品型号代码 系列产品代码 3.2产品型式: ---结构: I类电器结构 ---防水等级： IPXO ---电源软线连接：Y型连接。 3.3主要电参数: ---额定电压:220VAC ~ 240VAC. ---额定频率:50HZ ---额定功率：1000W，1200W，1400W…。 4.技术要求和实验方法: 电烤炉应符合本标准及EN60335-1：1995、EN60335-2-9：1995的要求，并遵照本公司规定程序。 批准的图纸，样板及相关的技术文件制造； 同时也可参考GB4706.1-1998、GB4706.30-92的一些技术要求和试验方法。 4.1.1器具应处在正常使用中可能出现的最不利位置上进行试验。( EN60335-1: 4.5) 4.1.2环境温度:( EN60335-1: 4.7)
电烤箱测试标准宏威精编版
电烤箱测试标准宏威集团企业公司编码：（LL3698-KKI1269-TM2483-LUI12689-ITT289-
前言 本标准版权为美国宏威有限公司所有，适用于电烤箱类别。 本标准只用作安规申请前检查之用，非生产之检查标准。本文件附有不同版本表格，予测试人员检测之用。 本标准参考之安规： 1）UL； 2）EN60335-1 本标准附测试表格： 1）电烤箱（UL）测试记录； 2）电烤箱（CE）测试记录； 3）电烤箱（SAA）测试记录。
测试内容：输入功率和电流版本：A 适用规格： 方法： 通过观察施加额定电压下的功率偏差来检查。 表内电压值允许误差为1%。 标准： 1.在额定电压和正常工作温度下，额定功率偏差不应大于下表的规定： 注：如果器具标有一个或多个额定电压范围，以上测试均应以该范围的上限和下
限电压进行；额定输入功率标志是以该有关电压范围的平均值标出的，该试验电压应取该范围的平均值。 方法： 将电烤箱的所有电热元 件都接入电路中，在非充分放热条件下进行试验，电源电压应为使输入功率等于在充分放热条件下，达到稳定状态时的0.85倍额定输入功率，整个试验期间应保持此电压。试验持续时间等于额定工作时间.当器具达到稳定状态时关断电源，冷却至室温后再进行下列试验。 电烤箱冷却至室温后，将电源电压调至使输入功率等于在充分放热条件下，达到稳定状态时的1.24倍额定输入功率，整个试验期间应保持此电压。 标准： 试验后，器具不得有安全方面的损害、机械损伤。 测试项目：TO-003 发行日期： 测试内容：耐高压测试 版本：A 适用规格： 方法： 将高压测试机调至如下数据： 将待测度机插头插入高压测试机输出插座,打开待测机开关,高压测试棒 在待测试机外壳短接. 标准： 测试项目：TO-002 发行日期： 测试内容：非正常测试 版本：A 适用规格：
烤箱能效测试标准
家用电烤箱.能耗测量方法1．范围 此标准适用家用电烤箱 此标准对下列条件不适用 -微波炉和微波组合炉 -小炉腔烤箱 -没有可调温控器的烤箱 -除定义4.1-4.3之外的加热功能 2．目的 3．参考标准 4．定义 标准的定义如下 4.1 常规加热功能 食物只由辐射加热和自然对流加热 注：不包括只有顶部加热部件的烤箱（也就是烧烤功能） 4.2
强制空气循环功能 热能由强制空气循环功能传导给食物 注：不包括只能使一个烧烤组件工作的空气循环功能 4.3 热蒸汽功能 食物在大气压1BAR下，又热蒸汽加热（T》100） 4.4 小炉腔烤箱 与可用容积相关，具下例尺寸的烤箱 -宽度和深度都小于250mm -或高度小于120mm 注在此标准中小炉腔烤箱的定义取决于人工负载的尺寸 4.5 多腔器具 内部有多个独立腔体的器具，食物放入腔体后，不同腔体的温度可独立控制，但是腔体不能分开安装 5 测量目录
-总尺寸（条款7） -可用容积和表面面积的尺寸 5.2 能耗和加热倍数 -空烤箱预热（8.2） -加热负载 6测量的一般条件 6.1 一般条件 需按照制造商的烤箱安装指导 整机（包括材料和安装）的任何测试首先都需在环境温度下进行。多腔器具的不同腔体温度需分开测量。只有腔体内部的测试是在器具开启后测量 在如4.1-4.3描述的有不同功能的烤箱，制造商能选择功能进行测试.需出报告（见条款9）除非另有说明，不然测量按以下进行： 6.2环境温度 整个测试过程都在在无气流房间，环境温度保持在23℃±2进行。 环境温度测试点位置见图1，（高度同烤箱可用容积的中心部位一致） 环境温度的测量不能被烤箱或其他器具影响
玩具安全检测标准及测试项目
玩具安全检测标准及测试项目 EUROPEAN UNION 欧共体 1. EN71 欧洲玩具安全标准 a) EN71 Part 1－Mechanical ﹠ Physical test EN71第一部分－机械物理测试 b) EN71 Part 2－Flammability Test EN71第二部分－易燃性测试 ⅰ)Finished product 成品 ⅱ)Pile fabric 毛绒材料 c) EN71 Part 3－Migration of Certain Elements Test (8 Heavy Metal Elements Test) EN71第三部分－某些元素的转移的测试 (8种重金属元素测试) 2. EN50088－Safety of Electrical Toys EN50088电动玩具安全测试 3.EMC Directive 89/336/EEC 欧共体电磁兼容测试 a)电子类 b)电动类 4.EN1273 婴儿学步车安全要求 5.EN1888 儿童车辆安全要求 6.EN716 家用儿童床和折叠床安全要求 7.EN61558-2-7 玩具用变压器安全要求 8.EN60598-2-10 儿童用灯具安全要求 USA美国
1.ASTM F963－96a 美国玩具安全标准 a) Physical ﹠ Mechanical Test 机械物理测试 b) Flammability Test 阻燃测试 ⅰ)Doll’s clothing∕Textile material (16 CFR 1610) 玩具服装∕纺织物材料阻燃测试 ⅱ)Stuffed toys，plastic toys，etc．(16 CFR 1500.44) 填充、塑料玩具等整体阻燃测试 c) 9 Heavy Metal Elements Test 9种重金属元素测试 2.CPSC Regulations 美国联邦法规 a) Physical ﹠ Mechanical Test 机械物理测试 b) Flammability Test 阻燃测试 ⅰ)Doll’s clothing∕Textile material (16 CFR 1610) 玩具服装∕纺织物材料阻燃测试 ⅱ)Stuffed toys，plastic toys，etc．(16 CFR 1500.44) 填充、塑料玩具等整体阻燃测试 c) Lead Content Test (16 CFR 1303) 铅含量测试 GERMANY 德国 1.Germany Regulation on the Prohibition of the Use of Certain AZO dyes 德国禁用的某些偶氮染料 2.Testing of Colored Toys for Resistance To Saliva and Perspiration(DIN
烤箱温度精度测试
烤箱温度精度测试 这个测试验证了GC的烤箱温度精度使用两个设定控制量:100 o C和 230年 o c .记录所有结果在结果部分。 注意: 虽然这是一个通用的测试,它可以执行之后执行进口泄漏和 压力测试,克服不必要的断开的列。 过程 准备系统 1。 安装结帐列现在条件系统在这个测试。 注意 :指化学评价参数部分来验证和安装 列。 2。
位置温度探头在列吊架这样结束的探针 是符合仪器的烤箱传感器。 3。 安全探测器通过循环的电缆在石柱吊架或固定它列吊架与高温胶带,一个纸夹,或一个春天的纸夹。 过程 选点100 o C 1。 设置烤箱温度至100 o c。 2。 打开烤箱和等待至少5分钟后烤箱是准备好了。3。 观察温度对校准温度计的显示,当
温度稳定后,记录阅读。 选点230 o C 1。 设置烤箱温度至230 o c。 2。 让炉稳定。 这可能需要几分钟。 3。 观察温度对校准温度计的显示,当它 稳定后,记录阅读。 4。 如果你是调节系统,温度在230年离开o C直到
调节完成。 5。 重置烤箱到指定的值在化学评价参数 部分。 通道配置特定的测试以下测试是特定于通道合格,被描述在封面页。进口测试概述入口泄漏和压力测试是执行校准压力表连接到进气列配件。当你设置压力计中所描述的一样入口泄漏测试部分,执行下列操作之一。如果系统拥有pressure,完成进气泄漏测试和入口压力测试在这个协议如果系统没有按压规定的time,删除manometer,执行标准泄漏检查过程中所描述的instrument’s manual,和记录结果在这个 OQ/PV.压力计组装应该检查是否泄漏。进口维修清洗包装进口组件,它列出设备清单部分,提供了客户和更换部分的制备(预防性)维修,是之前完成这个资格。本程序描述了最低要求的活动。1。酷的入口环境温度。2。如果一个530 -μm适配器与玻璃衬管是没有安装,拆卸底部组件的入口和取代列适配器与正确的类型。3。重新安装进口底组件和列适配器。4。在进口前,更换玻璃衬管,o形环和隔膜。5。重新安装前组件的入口。进口泄漏试验这个测试演示了压力完整性的GC入口。注意:如果这个测试失败,第二次,修复一个缺陷后,您可以使用泄漏测试套件(P / N g1545 - 60501)和程序的工具。过程1。零压力计和安装到位的列在入口。压力计功能入口插头。2。限制进口的鼻中隔清洗配件用1/8英寸接头套管帽。3。从GC的键盘/控制器,输入长度(30米),直径(320μm)