第五章反讲义光显微镜
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粉末光片主要用于定量,其优点是代表性 好,尤其是当试样的矿物分布不均时,它能 较准确定量,其缺点是由于颗粒太小,岩相 结构遇到一定程度的破坏。
光薄片可同时用于偏光和反光显微镜观察。
按照成型材料的不同,又可分为硫磺、 电木粉、环氧树脂(或其它树脂)光片。
一.光片的成型 1. 大块试样:
大块试样可直接制成光片,不需要浇铸 成型,把块状试样磨成光片就可以在反光 显微镜下进行鉴定。
§5-1 反光显微镜
反光显微镜的结构与偏光显微镜相似, 都是由机械和光学系统组成。所不同的是在 反光显微镜中装有反射器(或垂直照明器)。
反射器是反光显微镜产生反射光的主要 部件,其作用是把从光源发出的光通过物 镜垂直投射到光片表面,再把光片表面反 射回来的光投射到目镜平面内。
反射器的装置有玻璃片和棱镜两种,见 图5-1。
3. 环氧树脂光片: 制片方法与硫磺片基本相同,是将加有硬
化剂的环氧树脂倒入模内,经硬化后脱模。 环氧树脂光片能耐高温(100~150℃)和
化学侵蚀,由于受热后流动性大,适用于疏 松多孔的试样。缺点是制片时间长,成本高。
4. 电木粉光片:
将试样细粒或粉末与电木粉先混合均匀, 倒入带有模底和模盖的套筒内,然后置于电木 成型机上,加热加压成型,温度190℃±5℃, 压力330 kg/cm2。
磨料的选择要根据试样的硬度。硬度较 大的常采用金刚砂(SiC)、碳化硼、氧化 铝和金刚石粉等。中等硬度的试样用较细的 金刚砂、氧化铝粉和玛瑙粉等。软质材料可 用氧化铬和氧化铁粉等。
2. 抛光: 常用的抛光研磨剂为细度小于3μm的
氧化铝粉、氧化铬粉、氧化铁粉和金刚石 膏等。可根据试样的硬度情况选择不同的 抛光剂。抛光很好的光片在放大300倍左 右时已可以看得出矿物的大致轮廓。
§5-2 光片的制备
在反光显微镜下进行岩相分析用的试 样称为光片。光片可分为大块样,细粒 (<5mm),粉末(<0.5mm)和光薄片四 种。大块样光片主要用于快速分析,其优 点是工序简单,岩相结构完整性好,其缺 点是代表性差。
细粒光片应用比较普遍,因它不仅保持了 原试样结构的完整性,而且有一定的代表性, 并可以用以矿物的定量。
a图为玻璃片的反射情况,从光源发出 的光射到玻璃片后,一半穿过玻璃片为筒 壁所吸收;另一半向下反射的光,经试样 表面再向上反射到玻璃片时,其一半又被 反射掉,只有另一半透过玻片至目镜成像。
因此,光强损失大,为了提高视域亮 度,可在反射玻片上镀一层透明薄膜(如 氧化锌,氧化铋等),以提高玻片的反射 能力;此外由于入射光多次透过玻璃片, 产生大量有害的反射光,进入视域则使试 样影像的反差降低。
但由于玻片占有整个镜筒全部面积,视 域中光照均匀,可以利用物镜的全部孔径, 因此分辨率高,适用于高倍物镜下观察。
b图为棱镜的反光情况,从光源发出的 光可全部被三棱镜反射到试样上,由试样 向上反射的光约有一半被棱镜阻挡掉,另 一半成发散状态射向目镜。
因之,棱镜反射器光线损失少,视域明 亮,有害的杂乱反射光少,视域中反差特 别鲜明,影像清晰。
由灯泡1发出的一束散射光线,经过聚 光镜组2及反光镜7被会聚在孔径光阑8上, 随后进入聚光镜组3 。光线经过孔径光阑8 和视场光阑9时,可以挡去部分有害的漫反 射光,剩下的光线射到玻片反射器上4,通 过反射器的光线经补助透镜5,进入物镜6, 到达光片表面。
再由光片表面反射回来,经物镜和补助 透镜组5,再次射到玻璃反射器4上,由玻璃 反射器反射的光线,折向补助透镜组10,经 转向棱镜11和12 ,射到场镜13上 。出场镜 13进入目镜14,最后射到观察者的眼睛里。
电木粉光片的优点是能耐高温(100℃以 上)和化学侵蚀,材料成本低。缺点是设备复 杂,操作麻烦,因此一般不采用此方法。
5. 光薄片: 取一块试样把它磨成或用切片机切成厚
约3mm的薄片,将一面磨光,并用树胶或 环氧树脂把磨光面粘在载玻片上,再磨至 0.03mm的厚度后,不加盖玻片将其抛光 成光片。
二. 光片的磨平和抛光 在反光显微镜下观察的试样要求具有一
第五章反光显微镜
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第五章 反光显微镜பைடு நூலகம்相分析
反光显微镜早先用于金属材料的研究 (全相显微镜)及金属矿石的研究(矿相 显微镜)。后来亦用于无机非金属材料的 研究中。它是利用试样的光洁表面对光线 反射来研究材料的显微结构特征。
由于这种方法制片简单,光片浸蚀后晶 体轮廓清晰,便于结构观察和镜下的定性 和定量的测定,放大倍数比偏光显微镜高, 所以普遍地被工厂和研究单位采用。
但由于棱镜挡住物镜孔径的一半,造 成视域中亮度不够均匀和分辨率下降,所 以一般用于低倍下观察。反光显微镜根据 其光路特点,又可分为直立式和倒立式两 种,见图5-1 a、b与图5-3。
反光显微镜的式样很多,但它们的构 造和原理基本相同,现以国产XJB-1型反 光显微镜为例,简要说明:
XJB-1型金相显微镜的工作原理如图 5-4。
个光洁如镜的表面,因此需要对块状的试 样或成型的试样进行磨平和抛光处理。
1. 磨平:
切割后或成型后试样的磨制一般经过粗 磨、中磨和细磨三步。对于成型的试样要 磨到试样颗粒均匀地露出表面,然后用水 洗净,依次换用较细的磨料进行中磨和细 磨,以便逐步将前次磨料造成的擦痕磨平, 直到将试样表面磨至平整光滑为止。
2. 硫磺光片:
取样要有代表性,一般将不同试样敲碎 成大小约为2~5 mm 颗粒,选取几颗置于不 锈钢模内活塞上,然后将熔融成液状工业硫 磺注入模内,待硫磺冷却凝固后脱模,取出 光片。若制备粉末硫磺光片,先将试样粉和 硫磺粉混合均匀,加热熔融后倒入模内。
硫磺光片需要的设备非常简单,且制作迅 速,成本低,已被普遍采用。其缺点是不耐 高温,脆性大,制片时有毒气逸出。
§5-3 光片的侵蚀
一. 原理: 光片经过抛光后,矿物表面产生一层非
晶质薄膜(细粉),它掩盖和填充了矿物 的解理纹以及晶粒的边界孔隙,影响鉴别。
用适当的化学试剂进行浸蚀,首先是非晶 质薄膜的溶解,接着是晶粒边界的被腐蚀形 成沟槽(此处原子排列紊乱易被侵蚀),经 侵蚀的试样在显微镜下就显示其显微结构特 征。例如用1%硝酸酒精溶液浸蚀过的水泥 熟料,看晶体颗粒的界线、解理、双晶纹等。