几类背景校正的比较
原子吸收三种背景校正方式的性能比较及应用分析
原子吸收三种背景校正方式的性能比较及应用分析
周聪;刘洪升;高丽花;冯信平
【期刊名称】《热带农业工程》
【年(卷),期】2002(000)001
【摘要】对塞曼效应、氘灯校正及自吸校正三种扣背景方式的性能进行分析比较,测定了不同扣背景实验方法的灵敏度、精确度及准确度等技术指标.分析结果表明:不同样品和不同元素受背景干扰的程度不同,用自吸法扣背景会使测定的灵敏度降低,适用于灵敏度较高的元素分析;氘灯法虽能使灵敏度提高,但适用范围较窄(波长＜430 nm);塞曼方式是理想的扣背景方式,测定结果稳定可靠.
【总页数】5页(P9-13)
【作者】周聪;刘洪升;高丽花;冯信平
【作者单位】中国热带农业科学院分析测试中心,海南,儋州,571737;中国热带农业科学院分析测试中心,海南,儋州,571737;中国热带农业科学院分析测试中心,海南,儋州,571737;中国热带农业科学院分析测试中心,海南,儋州,571737
【正文语种】中文
【中图分类】TQ33
【相关文献】
1.高速涂布下三种涂布方式的性能比较 [J], 王淑霞
2.不同背景校正方式对石墨炉原子吸收法测定土壤中铅的影响 [J], 姜欣
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4.原子吸收三种背景校正方式的性能比较及应用分析 [J], 张哲; 张宝生
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物理实验技术中如何使用合适的背景校正方法
物理实验技术中如何使用合适的背景校正方法在物理实验中，背景校正是非常重要的一步，它可以帮助我们准确地测量和分析实验数据。
背景校正的目的是消除实验中各种背景噪音和误差，以保证实验结果的准确性和可靠性。
本文将介绍一些常见的背景校正方法以及在物理实验技术中如何使用合适的方法进行背景校正。
一、背景校正的概念与重要性在物理实验中，背景指的是与所测量物理量无关的信号或干扰。
这些背景信号可能来自仪器本身、环境条件或其他外部因素。
进行背景校正的目的是将这些背景信号排除在外，以保证所测量的物理量是真实有效的。
背景校正的重要性在于，它可以提高实验的准确度和可靠性。
如果不进行背景校正，实验数据可能会受到背景信号的干扰，导致最终结果错误。
通过合适的背景校正方法，我们可以准确地消除背景信号，获得准确的实验数据，从而更好地理解和研究所研究的现象和物理原理。
二、常见的背景校正方法1. 零点校正零点校正是一种常见的背景校正方法，适用于实验仪器本身存在的背景信号。
通过将测量仪器调零，即在没有任何输入信号的情况下进行测量，可以获得零点背景信号。
在实验过程中，我们可以将这个背景信号减去实际测量值，从而得到准确的结果。
2. 空白样品校正空白样品校正是一种针对实验样品的背景校正方法。
在进行实验测量之前，我们可以预先测量一个空白样品，它与实验样品相同，但不含我们要测量的物质。
通过将空白样品的测量结果减去实验样品的测量结果，可以消除与样品无关的背景信号。
3. 对照组校正对照组校正是一种适用于实验中异质性的背景校正方法。
在进行实验时，除了实验组外，我们还可以设置一个对照组。
对照组与实验组在其他条件相同的情况下，不受实验控制变量影响的情况下进行测量。
通过将对照组的测量结果减去实验组的测量结果，可以排除掉非实验因素对实验结果的影响。
三、合适的背景校正方法在物理实验技术中的应用在物理实验技术中，我们需要根据实际情况选择合适的背景校正方法。
下面以一个光学实验为例，介绍合适的背景校正方法的应用。
几类背景校正的比较
几类背景校正的比较当原子化温度不足以将基体中的所有分子分解时就可能产生分子吸收。
分子吸收所产生的信号加上原子所产生的信号，就可能产生一较高的虚假信号。
在火焰法中，背景信号通常在0.05吸光度以下，但对某些类型的样品（特别是在低紫外波段），背景干扰可能较高。
石墨炉分析中，背景信号则可能达2.0吸光度以上，背景校正就显得十分重要了。
实践中，如遇到需测量大背景信号中的较小的原子吸收信号时，我们不提倡直接进行测量（虽然仪器可能具有这种能力），我们可提高加适合的基体改进剂及合理设置石墨炉干燥、灰化程序来降低背景信号，因高背景信号降低光通量，降低了信噪比。
背景校正（或称为扣背景），是一种甄别非特征吸收的方法。
所有厂家度采用相同的扣背景原理：即将背景吸收从总信号中减去。
非特征吸收信号及总信号在数毫秒时间间隔内被分别测出。
然后提高计算得出所要的特征吸收信号值。
在石墨炉分析中，信号的产生及变化速度极快，（每秒可达10个吸光度）。
理想的情况是在同一时间测出背景信号和总信号，但实践中是不可能做到的，但这两个信号的测量在时间上越接近，其准确性就越好。
现在各种仪器的这一时间差在2－10ms之间。
氘灯扣背景最常用的扣背景方法是采用连续光源，如氘灯来测量背景信号。
其波长范围为180到425nm。
因在短波长范围中，背景信号相对较高，该方法覆盖了决大多数高背景发生区。
在元素灯工作周期，元素灯所产生的窄发射谱线被原子及背景物质所共同衰减，所测得的值是总信号；在氘灯工作周期，氘灯的宽谱线所测得的则是背景信号（此时元素灯所产生的窄谱线原子吸收可忽略不计），两次测量的差值，即为我们所需的原子吸收信号。
氘灯扣背景方法的优点灵敏度好动态线性范围好费用低氘灯扣背景方法有以下几方面局限性：灯的强度有时不合适。
空心阴极灯和氘灯的强度匹配要精心调整（一般需要牺牲元素灯光强，增大通带和高压，以弥补氘灯强度弱的缺点，但噪音将增大）同时还要控制两种光源的稳定性，调整两光源的光斑要重合不能准确扣除由窄谱线分子吸收而造成的结构背景；有时背景校正误差很大；Smith Heiftje （自吸）扣背景该方法是1983年首先由Stan Smith 和Gary Heiftje 提出的。
原子吸收光谱背景校正优缺点
原子吸收光谱背景校正优缺点主要有以下优点:1选择性强.这是因为原子吸收带宽很窄的缘故。
因此，测定比较快速简便,并有条件实现自动化操作。
在发射光谱分析中，当共存元素的辐射线或分子辐射线不能和待测元素的辐射线相分离时,会引起表观强度的变化。
而对原子吸收光谱分析来说：谱线干扰的几率小,由于谱线仅发生在主线系，而且谱线很窄，线重叠几率较发射光谱要小得多,所以光谱干扰较小。
即便是和邻近线分离得不完全，由于空心阴极灯不发射那种波长的辐射线,所以辐射线干扰少，容易克服。
在大多数情况下，共存元素不对原子吸收光谱分析产生干扰.在石墨炉原子吸收法中,有时甚至可以用纯标准溶液制作的校正曲线来分析不同试样。
3分析范围广。
发射光谱分析和元素的激发能有关，故对发射谱线处在短波区域的元素难以进行测定。
另外,火焰发射光度分析仅能对元素的一部分加以测定.例如，钠只有1%左右的原子被激发，其余的原子则以非激发态存在。
在原子吸收光谱分析中，只要使化合物离解成原子就行了，不必激发，所以测定的是大部分原子。
目前应用原子吸收光谱法可测定的元素达73种。
就含量而言,既可测定低含量和主量元素，又可测定微量、痕量甚至超痕量元素；就元素的性质而言,既可测定金属元素、类金属元素，又可间接测定某些非金属元素,也可间接测定有机物；就样品的状态而言，既可测定液态样品，也可测定气态样品，甚至可以直接测定某些固态样品，这是其他分析技术所不能及的。
4、抗干扰能力强。
第三组分的存在，等离子体温度的变动，对原子发射谱线强度影响比较严重.而原子吸收谱线的强度受温度影响相对说来要小得多。
和发射光谱法不同，不是测定相对于背景的信号强度，所以背景影响小.在原子吸收光谱分析中，待测元素只需从它的化合物中离解出来，而不必激发,故化学干扰也比发射光谱法少得多。
5、精密度高。
火焰原子吸收法的精密度较好。
在日常的一般低含量测定中，精密度为1～3％。
如果仪器性能好,采用高精度测量方法，精密度为<1%.无火焰原子吸收法较火焰法的精密度低,目前一般可控制在15%之内.若采用自动进样技术,则可改善测定的精密度。
背景差法是 3种
背景差法是3种方法中最直接、最简单的一种方法．这种方法事先把背景图像存储下来，然后将前景图像与背景图像作差．一般情况下，由于运动物体在灰度上与背景灰度存在着很明显的差异，这样作差过后的差值图像只是在运动物体出有较大的灰度值．选取适当的阈值，差值图像的灰度值大于，视为前景物体，灰度值小于，视为背景点．运用背景差法通常会遇到背景的获取背景的更新和背景的扰动1 问: Pluto对波长650纳米的激光校准，即上载一幅灰度值在0-255之间的图，施加的相位调制对应在0-2pi之间。
如果改用波长532纳米的激光，上载灰度值范围为多少时，可以达到0-2pi 之间的相位调制。
答: 若改用532nm激光，相位调制范围比650nm会大些。
一般来说,SLM相位调制范围在短波长上会增加。
2 问: LC-R2500等型号对微机系统有什么具体要求？答: 目前的PC配置一般都能满足要求.3 问: 说明书中提到相位校准过程中要加入起偏器和检偏器，请问SLM使用中是否要还要加入起偏器和检偏器？答: 正常使用中也需要加入起偏器和检偏器。
并且，一般要求起偏器的偏振方向与SLM微显示板的长边方向一致，基本不影响入射偏振态，达到只改变相位的目的。
4 问: 入射光束和SLM法线的夹角有何限制，最大夹角大约为多少？答: 入射角度一般控制在6度以内，对相应偏振光的影响较小。
5 问: SLM调制时有时中心光斑仍比较强，导致衍射效果变差，请问何种原因？如何消除？答: 一般来说，衍射效果受填充因子和入射偏振态影响。
使用中，应通过插入起偏器和检偏器来消除非相干光的影响。
6 问: Holoeye空间光调制器使用中应注意哪些问题？答: 一、防静电措施，特别是安装液晶显示面板时，应带防静电手套，防静电手腕；二、液晶显示面板与控制器之间的连线，应避免频繁插拔；三、空间光调制器部件的连接，应在断电状态下进行；四、使用环境，应避免高温、高湿，并保证一定的洁净度。
石墨炉原子吸收分光光度法测定食品中的铅
石墨炉原子吸收分光光度法测定食品中的铅摘要：近年发展起来的石墨炉、火焰原子吸收法、比色法和ICP-MS法测定食品中的铅。
石墨炉原子吸收和ICP-MS方法非常敏感，特别适用于食品中铅的测量。
但是，ICP-MS方法对基体有干扰，而且成本高昂。
为了提高石墨炉原子的重现性，本文研究了该方法的测量和影响，以减少其他方法过程对铅测量的影响，并确定了最佳基本条件。
关键词：石墨炉原子吸收分光光度法；测定；食品；铅Determination of lead in food products by atomic absorption spectrophotometry of graphite furnaceZhang Yanan, Zhang Shunshun, Li ShengpingQingdao spectrum Nepal Testing Co., Ltd. Shandong Qingdao 266000 Abstract: Recent development of graphite furnace, flame atomic absorption method, colorimetric method and ICP-MS method to determine the lead in food. Graphite furnace atomic absorption and ICP-MS methods are very sensitive and especially suitable for lead measurement in food. However, the ICP-MS method interferes with the matrix and is costly. To improve the reproducibility of graphite furnace atoms, we study the measurements and effects of this method to reduce the effect of other method processes on lead measurements andto determine the optimal basic conditions.Key words: graphite furnace atomic absorption spectrophotometric method; determination; food; lead食品中铅的测定常用于原子吸收方法。
原子吸收三种背景校正方式的性能比较及应用分析
可见 ， 些 在 原 子 吸 收 分 析 中本 来 就 不 够 灵 敏 的 元 素 （ Ｃ 、ｂ ， 一 如 ｕ Ｐ ） 不 宜 采 用 自吸 扣 背 景 法 ， 一 些 在 原 子 吸 收 分 析 中 灵 敏 度 较 高 的 而 元 素 （ Ｃ 、 ｎ ， 可 采 用 自吸扣 背 景法 。 如 ｄ Ｚ ）则
原 子 吸 收 三 种 背 景 校 正 方 式 的 性 能 比较 及 应 用 分 析
张 哲 张 宝 生
（ 葫芦 岛 市环 境 保 护 监 测 中心 站 １ ５ ０ 辽 宁 省 环 境保 护 监 测 中心 站 ） ２００
【 摘 要 】 塞 曼 、 灯 及 自吸 收 三 种 扣 背 景 方 式 的 性 能 进 行 分 析 比 较 ， 对 氚 测 定 了三 种 扣 背 景 方 式 的 灵 敏 度 、 确 度 及 准 确 度 。 分 析 结 果 说 明 不 精 同样 品 和 不 同 元 素 受 背 景 干 扰 的 程 度 不 同 ， 自 吸 法 扣 背 景 会 使 测 定 用 的 灵 敏 度 降低 ， 用 于 灵 敏 度 较 高的 元 素 分 析 ； 灯 法 虽 能 使 灵 敏 度 提 适 氘 高 ， 只 适 用 于 波 长 小 于 ４０纳 米 的 元 素 。 塞 曼 方 式 是 理 想 的 扣 背 景 但 ３ 方式 ， 定结 果稳 定可靠 。 测 【 键 词 】 子 吸 收 ； 景 干 扰 关 原 背
１】 仪 器 与 试 剂 ．
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２３ 试 验 方 法 精 确 度 分 析 －
《素问》“新校正”产生的背景
卞海 等通 过 实验 发 现无 患 子皂 苷 具 有 降低 原 发性 高 血压 鼠 的 血压 作用 ， 用 机制 可 能与 抑 制血 浆 Ａ ｇ Ａ ｄ Ｅ 水 平 其作 ｎ Ⅱ、 ｌ 和 Ｔ 有关 。 史 以菊 ， 泉 ， 元 ， 通 过建立 大 鼠 肾动 脉狭 窄性 高血 江新 卢连 等 压模 型 ， 三七 皂苷 （Ｎ ） 肾性 高 血压 大 鼠血 压 及 肾脏 一氧 研究 Ｐ Ｓ对 化 氮 （ Ｏ）超 氧化 物 歧化 酶 （Ｏ ） Ｎ 、 Ｓ Ｄ 含量 的影 响 ，Ｎ 能 明显 降低 ＰＳ 肾动脉狭窄性高血压、 增加 Ｎ Ｏ含量 、 增强抗氧化能力、 保护血管
一
舒张。
仙 人掌 果 多 糖 （ Ｐ Ｐ 是仙 人 掌 植 物果 实 的活 性 成 分 ， 有 ＣＦ） 具 明显的抗衰老、 消炎、 抗癌和降血糖等作用 ， 是仙人掌具有多种功 ２ 生物碱 类 效 的原 因之 一 。 梁秋 云 等又 经实 验证 明 仙人 果多糖 具有 降低 自发 王清从藜芦总生物碱中提取分离出藜芦胺单体， 采用颈动脉 性 高血 压大 鼠血 压 的作 用 ， 机制 可 能与 降低 白发 性高 血压 大 鼠 其 直接测压法和尾动脉间接测压法， 测定其对正常猫血压及高血压 血 浆 中血管 紧 张素 Ⅱ及 内皮 素含 量有 关 。 模 型大 鼠血压 的影 响 。结果 经 十二指 肠或 灌 胃给 药 ， 芦 胺对 正 ５ 三萜 及 其他种 类 藜 常猫 、Ｈ Ｓ Ｒ和 肾性高 血压 大 鼠均 有 明 显 的降 压 和减 慢 心率 作用 ， 灵芝三萜是近年来从灵芝 中分离得到的另一类具有广泛药 且其 降压作 用与 剂量 呈正 相关 ， 出藜 芦胺 具有 明显 的降压 作 理 活 性 的物 质 ，研 究 表 明 灵芝 三萜 具 有 保 肝 护 肝 、抗 肿 瘤 、 可得 抗 用， 其降压作用与藜芦总生物碱相同或相似。 Ｈ Ｖ １ ＨＶ １ 白酶活性、 Ｉ２ 及 Ｉ２ 蛋 抑制胆固醇合成、 镇痛、 降血脂等多 钩藤 长期用 于高 血压 治疗 ， 降压 的主要 成 分是 钩藤 碱 和异 种 药理 作 用 ， 后又 有 研 究发 现 ， 芝 三萜 类 物 质对 原 发性 高血 其 之 灵 钩藤碱 ， 后者的降压作用强于前者 ， 具有钙拮抗剂样作用、 降血压 压大鼠具有明显的降压作用。 并 拮抗 和 逆转 高血压 左室 肥厚 、 缺血保 护 等药 理作用 。 脑 ４ 评 述与 展望 异莲心碱 （ ｏｅ ） Ｉ ｌ ｎ 作为莲子心生物碱 的主要成分之一 ， ｓｉ 它与 中药治 疗 高血压 病 能标 本兼 治且 药 物毒 副作 用较 小 、 效持 疗 莲心碱一样具有降压作用 ， ｏｅ Ｉ ｌ ｎ降压作用主要 与干扰 １ ｓｉ 受体 久 ， 改善症 状 、 高病人 生 活质 量 、 定疗 效 、 在 提 稳 逆转 靶器 官 损害 、 和 阻滞钙 通道 的效应 有关 。 减 少并 发症 等方 面都 具 有独 特 的 优势 ，有待 进 一步 深入 研 究开
物理实验技术中的背景校正与信号增强方法
物理实验技术中的背景校正与信号增强方法在物理实验中，准确测量和分析实验数据对于得出可靠的结论至关重要。
然而，实验中经常会遇到干扰信号和背景噪音，它们会对实验数据产生负面影响。
为了提高测量的准确性和信号的灵敏度，科学家们开发了各种背景校正和信号增强方法。
一、背景校正方法背景噪音是由仪器、环境以及其他干扰源引起的，它会干扰到我们对待测信号的准确测量。
因此，背景校正方法是为了消除或减小这些干扰因素。
下面介绍几种常见的背景校正方法。
1. 黑暗背景校正黑暗背景校正适用于使用光学仪器进行测量的实验，特别是在低光环境下进行的实验。
我们可以关闭光源并记录下仪器的响应，这个响应即是背景噪音。
在实际的测量中，我们可以通过减去这个背景噪音来得到真正的信号强度。
2. 空白校正空白校正通常应用于化学实验，在分析物质的浓度时特别有用。
我们可以取一个不含目标物质的样品，在相同的实验条件下进行测量。
得到的数据即是背景噪音。
通过减去这个背景噪音，我们能够得到目标物质的准确浓度。
3. 重叠区域校正在某些实验中，存在重叠区域的信号往往难以区分。
一种常用的方法是使用窗口平移技术，将不同信号的重叠区域限定在窄的范围内。
然后，我们可以通过建立模型来分析重叠区域中不同信号的影响，从而实现准确的背景校正。
二、信号增强方法除了背景校正，信号增强也是物理实验中常用的技术。
通过提高信号的强度和灵敏度，我们能够更好地捕捉并分析实验中的目标现象。
以下是几种常见的信号增强方法。
1. 噪音滤波噪音滤波是一种常见的信号增强方法，它通过消除或减小背景噪音来提高信号的清晰度和可靠性。
常用的滤波方法包括低通滤波、高通滤波和带通滤波。
选择合适的滤波方法和参数，能够有效地增强信号的质量。
2. 前处理技术前处理技术是在实验数据采集之前对信号进行处理，以提高信号的质量和观测的准确性。
常见的前处理技术包括减噪、基线校正和放大。
通过这些技术，我们能够消除或抑制噪音，使得目标信号更加清晰。
原子吸收中的三磁场塞曼背景校正技术
正 常 塞 曼 效 应 ｒ 如 下列 元素 ：
Ｐａ， ， Ｂｅ， Ｃａ． Ａ ， Ｃ Ｈｇ
Ｉ Ｏ
ｉ
’
反 常 塞 曼 效 应
Ｚ ｌ ｓ ｅｔ ） （
图 ２ 举 例 ：ｕ的 灵 敏 度 随 磁 场 强 度 的 变 化 Ｃ
图 １ 塞 曼 效 应 分 裂 图 案
裂距 最 大 ， 过 光 强 几 乎 不 发 生 变 化 ， 透 吸光 度 为 零 ； 对 应 于 零 磁 场 ， 收 线 不 发 生 分 裂 ， 子 吸 收 灵 敏 度 最 吸 原
析 的校 正 曲线 ， ３磁 场 模 式 可 使 分 析 范 围 明 显 扩 展 。
大 ， 过 光 强 最 小 ； 在 中 等 磁 感 应 强 度 Ｈ１ ， 相 透 而 时 则
这 样 ， 于 可 调 磁 场 强 度 ， 可 以 进 行 磁 场 强 度 对 就 的优化 ， 得最 大的灵敏度 。 取 可 调 磁 场 强 度 的优 点是 ： １ ）优 化 灵 敏 度 ：可 选 择 各 个 元 素 的最 佳 磁 场 强 度 ， 到最佳 灵敏度 。 得
其 具 体 的 背 景扣 除 原 理 ：
３ ）若 对 高 浓 度 样 品 进 行 稀 释 ， 会 带 来 稀 释 误 则
差 ， 且 会 因 为 基 体 变 稀 而 改 变 灵 敏 度 ， 而 带 来 结 并 从
果误差 。
２ ３磁 场 模 式 的 理 论 及 优 势 ．
所 谓 交 变 磁 场 塞 曼 ３磁 场 模 式 ， 在 零 磁 场 、 是 最 大 磁 场 、 及 两 者 之 间 的 某 一 磁 感 应 强 度 时 对 吸 收 信 以
出现 若 干 个 成 分 ， 着 磁 场 的 增 大 ， 些 成 分 继 续 随 这
背景校正方法的比较
Application Notice AA-15 Comparison of Background Correction MethodsThe D2 Background Correction System of the AI 1100/2100:There are three background correction methods currently being used by manufacturers ofatomic absorption spectrometers. They are: Smith-Hieftje (S-H), Deuterium (D2) and Zeeman. Regardless of the method of correction used the same factors contribute to the effectiveness of the measurement.The keys to accurate background correction are:a) The frequency at which the peaks are measuredGFAAS peaks are very narrow, typically with a width at half height of 0.2 to 0.5 seconds.This is especially true for the AI 1100/2100 where temporally isothermal atomizationprovides peak widths that are in the low end of this range. Normally, both analyte and background can exhibit similar rapid transient peaks. Often the change in the absorbanceof these peaks can be as high as 10 absorbance units per second.Extensive studies have shown that for such fast peaks a 10 Hz sampling frequency canresult in significant errors in the measurement of peak height and/or peak area. For a 30Hz sampling frequency this error, although largely reduced compared to 10 Hz, can still be significant. Therefore 10 and 30 Hz sampling frequencies are too slow to accuratelydetermine the peak shape. 60 Hz systems will give acceptable results. The AI 1100/2100 system, however, uses a sampling frequency as high as 120 Hz. This gives excellent peak definition while errors in the peak height and peak area measurements are negligible.b) The interval between the total absorbance and the background absorbancemeasurementsSampling frequency is important, but it is not the only important time factor for achieving accurate background correction.The net analyte signal is determined by subtracting the measured background absorbancefrom the measured total absorbance. The AI 1100/2100 can quickly change between measuring the total absorbance and the background without introducing significant errorinto the calculation of the net absorbance signal. These two measurements can not bemade simultaneously. Furthermore, because the background signal of a GFAASmeasurement can be changing very rapidly it is essential that the measurements be made as closely to each other as possible.The AI 1100/2100 uses an industry leading D2/HCL modulation frequency of 1000 Hz which results in a time interval between the total absorbance and background absorbance measurements of less than 0.5 ms. The next best system is Varian’s which offers a 400 Hz modulation frequency.c) The function used to calculate the net atomic absorptionBecause the AI 1100/2100 uses such a fast switching speed between the background and total absorption measurement, a simple subtraction of the background signal from the total absorbance is used to determine the net absorbance.Other manufacturers like Varian have to use interpolation to try to approximate the changes in the background that can occur during their 2 ms switching period. This leaves their correction technique open to large errors that the operator may never know exist.d) The presence or absence of spectral or structured backgroundLess than 1% of the samples encountered in the real world exhibit spectral or structured background interferences that can not be overcome by optimizing the furnace heating program and/or using an appropriate chemical modifier.e) The effect of the method on the linear working rangeDue to complex splitting patterns the total absorbance measurement of an instrument equipped with Zeeman background correction can be non-linear. As a result when the background signal is subtracted from the total absorbance a roll over point can occur. i.e. two different concentration values correspond to the same absorbance value. Therefore, the linear dynamic range of the measurement is reduced. Conversely D2 background correction does not suffer from this problem.Background Correction in General:Advantages and disadvantages of the S-H method:The S-H method is based on the source self-reversal, or self-absorption, behavior of the radiation emitted from the hollow cathode lamp. Its advantages include: no extra lamp to align, no need for a costly magnet and functionality for non-demanding background signals. However, it has the following disadvantages including: the requirement of special hollow cathode lamps (lamps are not available for all elements); the requirement that the high and low voltages of the lamp be stabilized before measurements can be made. This results in a typical sensitivity loss of 50%; a short linear dynamic range which can sometimes exhibit a roll over point; the incapability to correct for structured background;the incapability to correct for spectral interferences; limitation to low modulation frequencies (maximum 10Hz) and thus incompatibility with GF-AAS transient signals. Zeeman versus D2:During the past few years the mistaken impression that Zeeman background correction is far superior to other types of background correction has been put forth. For this reason, many people have purchased atomic absorption instrumentation with Zeeman background correction for jobs that did not require it.A critical problem with Zeeman background correction is the cost of the instrumentation. Zeeman background correction requires, a stable electromagnet and a power supply. Many Zeeman instruments also require a polarizer. These components add significantly to the cost of the instrument compared to a conventional deuterium system. Is this extra cost justified for all applications? Will deuterium background correction, properly designed and implemented, give the correct results on the same samples? These are some of the questions one must ask when considering the purchase of background correction for an atomic absorption instrument.Limitations of Zeeman Correction:In choosing Zeeman background correction one must be aware that certain compromises are made.1. Zeeman background correction suffers from a loss in sensitivity due to the incomplete splitting or complexity of splitting of the absorption profile in the magnetic field. This loss in sensitivity is measured by the magnetic sensitivity ratio or MSR.2. In addition, due to the dependence of the efficiency of splitting on the concentration of the analyte, Zeeman background correction suffers from a loss of dynamic range and increased calibration curvature to the point of roll over.Typical loss in sensitivity for Zeeman:There is some loss in sensitivity with most elements when using Zeeman background correction. Note that with Zeeman background correction sensitivity losses are less than the 50% losses that are typically found with Smith-Hieftje background correction systems.Typical loss in dynamic range for Zeeman:Element Magnetic Sensitivity Ratio (MSR)Li49%Cs58%Tl63%Be64%Hg69%B70%V79%82% of the Elements have MSR’s > 80%Table 3.4b: Typical loss in sensitivity for Zeeman.Figure 3.4j: Typical loss in dynamic range for Zeeman.Table 3.4b lists some typical sensitivity losses for Zeeman background correction.Figure 3.4j represents what happens at a high absorbance with Zeeman background correction; the total absorption curve becomes nonlinear while the background absorbance remains linear. This means that the resulting corrected absorbance curve, obtained by subtracting the background absorbance from the total absorbance, will exhibit a roll over point. Analytical measurement cannot be made above this roll over point because one absorbance value corresponds to two different concentration values. For this reason an the linear range of measurement for an instrument with Zeeman background correction is limited.Advantages of Zeeman over D2:Zeeman background correction does, however, have some advantages over deuterium background correction.1. Zeeman background correction will correct for some structured background.2. Zeeman background correction will correct for some spectral interferences.3. Zeeman background correction does not require a second source.Advantages of D2 over Zeeman:On the other hand, deuterium background correction does have advantages over Zeeman background correction.1. Deuterium background correction does not sacrifice any sensitivity.2. Deuterium background correction does not decrease the dynamic range of the atomic absorption measurement.3. Deuterium background correction is less expensive than Zeeman background correction.4. Deuterium background correction can work under 120 Hz measurement frequencies, which as we have already discussed is necessary for many of the transient signals observed in GFAAS. However, in order for deuterium background correction to be accurate, both the hollow cathode lamp and the deuterium source must follow exactly the same optical path. The AI 1100/2100 is specially designed to allow for fast, simple and accurate alignment. The deuterium lamp is easily adjustable in both horizontal and vertical axis as are the hollow cathode lamps.Compromise and selection:Zeeman background correction would be the method of choice only if the analyst expects structured background or spectral interferences, however, both phenomena are rare in real world samples. Many laboratories choose Zeeman background correction based on the miss-information that deuterium background correction does not work for high, rapidly changing background. Some laboratories choose Zeeman because the matrix is unknown and they want to ensure the best background correction result is achieved for all samples. Some choose Zeeman because they are running some of the few samples that exhibit structured or spectral interferences.Those laboratories that want the maximum sensitivity, maximum dynamic range, the best reporting of transient signals (measurement) and don’t have samples that exhibit spectral or structured background will get superior results from a deuterium background correction system at a fraction of the cost of a Zeeman system.Which ever type of background correction you choose, the most important criteria to remember are those that affect the accuracy of the measurement.1. The frequency at which the peaks are measured.2. The interval between the total absorbance and the background absorbance measurements.3. The function used to calculate the net atomic absorption.4. The presence or absence of structured or spectral background.5. The effect of the method on the linear working range.Based on these criteria, instruments with high speed deuterium or high speed Zeeman background correction systems would be the instruments of choice.Which method should the operator choose?Zeeman IF:-Structured Background Interferences are Expected (i.e. As in a high PO4-3 Matrix).-Spectral Interferences are Expected (i.e. As in High Al Matrix).Deuterium IF:- Don’t Expect Structured Background or Spectral Interferences (95+% of the Existing Applications of AA).- Want Maximum Sensitivity.- Want Maximum Dynamic Range.- Want High Performance while limiting instrument costs.。
原子吸收分光光度计常采用的背景校正方法
原子吸收分光光度计常采用的背景校正方法原子吸收分光光度计是一种常用的分析仪器，广泛应用于化学、生物、环境等领域。
在使用过程中，由于多种原因会引入背景信号，影响了分析结果的准确性。
为了消除背景信号的干扰，需要进行背景校正。
本文将介绍原子吸收分光光度计常用的背景校正方法。
背景校正是通过测量背景信号，然后将其从样品信号中减去，从而消除背景干扰。
常用的背景校正方法有以下几种：1. 空白校正法空白校正法是最常见的背景校正方法之一。
它的原理是在进行样品测量之前，先将溶剂或纯水放入光路中进行测量，得到背景信号。
然后再测量样品信号，将背景信号从样品信号中减去，得到净吸光度。
这样可以消除光源的漂移、底线漂移等引起的背景干扰。
2. 空气校正法空气校正法是一种常用的背景校正方法，适用于原子吸收光度计测量气态样品时。
在使用该方法时，先测量空气的吸光度作为背景信号，然后再测量样品的吸光度。
将样品吸光度减去背景吸光度，得到净吸光度。
这样可以消除空气中的杂质引起的背景干扰。
3. 空间校正法空间校正法是一种高级的背景校正方法，适用于原子吸收光度计测量液态样品时。
该方法利用了光源的几何特性，通过调整焦距和光路长度，使得样品与背景在光路中的位置相同。
然后进行背景测量和样品测量，将背景信号从样品信号中减去，消除了光源的非均匀性、底线漂移等引起的背景干扰。
4. 内标法内标法是一种精确的背景校正方法，适用于原子吸收光度计测量液态样品时。
该方法在样品中加入已知浓度的内标元素，通过测量内标元素的吸光度来进行背景校正。
内标元素应与待测元素的吸收光谱重叠较小，以避免相互干扰。
通过测量内标元素的吸光度，可以准确地消除背景干扰。
以上是原子吸收分光光度计常用的背景校正方法。
根据具体的测量需求和背景干扰的来源，选择合适的背景校正方法可以有效提高测量的准确性。
在进行背景校正时，还应注意控制实验条件的稳定性，如保持光源的稳定性、避免光路污染等，以减小背景干扰。
AAS_ICP-MS_ICP-AMS比较
ICP-MS、ICP-AES 及AAS的比较诱人的ICP-AES的流行使很多的分析家在问购买一台ICP-AES是否是明智之举，还是留在原来可信赖的AAS上。
现在一个新技术ICP-MS已呈现在世上，虽然价格较高，但ICP-MS具有ICP-AES的优点及比石墨炉原子吸收（GFAAS）更低的检出限。
这篇文章简要地论述这三种技术，并指出如何根据你的分析任务来判断其适用性的主要标准。
对于拥有ICP-AES技术背景的人来讲，ICP-MS是一个以质谱仪作为检测器的等离子体（ICP），而质谱学家则认为ICP-MS是一个以ICP为源的质谱仪。
事实上，ICP-AES和ICP-MS 的进样部分及等离子体是及其相似的。
ICP-AES测量的是光学光谱（165-800nm），ICP-MS 测量的是离子质谱，提供在3-250amu范围内每一个原子质量单位（amu）的信息，因此，ICP-MS除了元素含量测定外，还可测量同位素。
检出限ICP-MS的检出限给人极深刻的印象，其溶液的检出限大部份为ppt级（必需记牢，实际的检出限不可能优于你实验室的清洁条件），石墨炉AAS的检出限为亚ppb级，ICP-AES 大部份元素的检出限为1-10ppb，一些元素在洁净的试样中也可得到令人注目的亚ppb级的检出限。
必须指出，ICP-MS的ppt级检出限是针对溶液中溶解物质很少的单纯溶液而言的，若涉及固体中浓度的检出限，由于ICP-MS的耐盐量较差，ICP-MS检出限的优点会变差多达50倍，一些普通的轻元素（如S、Ca、Fe 、K、Se）在ICP-MS中有严重的干扰，也将恶化其检出限。
干扰以上三种技术呈现了不同类型及复杂的干扰问题，为此，我们对每个技术分别予以讨论。
ICP-MS的干扰1．质谱干扰ICP-MS中质谱的干扰（同量异位素干扰）是预知的，而且其数量少于300个，分辩率为0.8amu的质谱仪不能将它们分辩开，例如58Ni 对58Fe、40Ar对40Ca、40Ar16O对56Fe 或40Ar-Ar对80Se的干扰（质谱叠加）。
摄影中的背景处理技巧
摄影中的背景处理技巧摄影是一门艺术，而背景是照片中至关重要的一部分。
合理处理背景可以让照片更加出彩，突出主题，营造出理想的氛围。
本文将介绍几种常用的摄影中的背景处理技巧，帮助您拍摄出更具冲击力和吸引力的照片。
一、景深控制景深是摄影中重要的概念，指的是图像中能够保持清晰的区域范围。
通过控制景深，可以有效地将背景模糊化，使主体更加突出。
1.大光圈拍摄使用大光圈（小F值）可以有效降低景深，使背景显得模糊，突出主体。
例如，当拍摄肖像或花卉时，使用大光圈镜头可以将背景虚化，将观众的注意力集中在主题上。
2.远景景深拍摄风景时，远景的景深往往比近景大。
通过选择合适的位置和角度，将远景作为背景，可以帮助照片传达出广阔和宏伟的感觉。
同时，调整光圈大小和焦距，使得整个景色能够保持清晰。
二、色彩搭配色彩是摄影中一个重要的元素，通过巧妙的背景色彩搭配，可以使照片更加生动和吸引人。
1.对比色选择与主体相对的对比色作为背景，可以形成强烈的色彩冲击，让主体更加醒目。
例如，拍摄红色花朵时，选择蓝天或绿叶作为背景，可以使红色花朵更加引人注目。
2.色彩协调背景色彩应与主体的色彩相呼应或形成和谐的配色关系。
例如，拍摄金黄色的沙滩时，选择蓝天和碧海作为背景，可以形成和谐的色彩组合，增强照片的美感。
三、构图技巧合理的构图可以让背景更加有层次感和动感，同时突出主题。
1.运用倒角构图通过将主体放置在画面的一边，并留出空白的区域作为背景，可以使照片更加有层次感。
例如，拍摄一只飞鸟时，将其放置在画面的一角，并留出天空作为背景，可以使照片更具动感和立体感。
2.利用线条引导视线通过利用背景中的线条、形状或纹理，将观众的视线引导到主体上，可以使照片更具吸引力和冲击力。
例如，在拍摄城市街道时，可以利用街道两边的高楼或排列整齐的树木，将观众的视线引导到远处的建筑或街角的主体上。
总结：摄影中的背景处理技巧对于提升照片的质量和吸引力至关重要。
通过控制景深、巧妙搭配色彩和运用构图技巧，可以使背景与主题相得益彰，营造出理想的氛围和效果。
原子吸收光谱仪背景校正方式及性能比较
原子吸收光谱仪背景校正方式及性能比较青岛食品李国栋近年来, 国内原子吸收光谱分析技术发展很快, 已成为各个领域检验工作的重要手段。
如何使用好原子吸收光谱仪器, 使其在检测工作中发挥更大的效能, 这是从事原子吸收光谱分析的广大分析工作者努力探求的目标。
在原子吸收使用过程中, 背景校正技术的应用对分析准确度的提高起着很重要的作用。
背景吸收干扰是原子化过程中,因样品基体物质产生的分子吸收和光散射而产生的。
背景吸收干扰一般采用扣背景的方式加以校正。
目前购买的商品原子吸收光谱仪具有不同方式的扣背景性能,采用最多的是氘灯校正、塞曼效应和自吸收校正三种。
不同扣背景方式的工作原理和适用范围区别较大。
原子吸收光谱法中扣除背景方法通常有三大类：连续光源校正背景，塞曼效应校正背景，空心阴极灯自吸效应校正背景。
(1)连续光源校正背景。
当待测元素波长在紫外波段(180-400nm)，采用氘灯或氘空心阴极灯。
波长在可见光及近红外波段时采用钨或碘钨灯，是现代AAS仪器应用较广泛的一种校正背景方法，最常见的是氘灯连续光源背景校正。
其原理是用待测元素空心阴极灯的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续光光源的辐射作参比光束并视为纯背景吸收，光辐射交替通过原子化器，两次所测吸收值相减因而使背景得到校正，这种方法有时产生背景校正不足或过度。
两种光源光强度要匹配，光斑要重合一致，但近年使用氘空心阴极灯可以克服这类不足之处。
(2)塞曼Zeeman效应校正背景是利用光源在磁场作用下产生谱线分裂的现象校正背景。
这种背景校正可有多种方法：可将磁场施加于空心阴极灯，可将磁场施加于原子化器，可利用横向效应，也可利用其纵向效应，可用恒定磁场，也可用交变磁场，交变磁场可分固定磁场和可变磁场强度。
一般用2磁场Zeeman背景校正，近年也有3磁场Zeeman背景校正。
Zee-man校正背景在GFAAS用得比较多，FAAS用得比较少。
塞曼效应扣背景适合全波段的元素分析,操作简单且扣背景能力强，测定结果稳定可靠。
塞曼背景校正
塞曼效应塞曼效应由来在1896年Pieter Zeeman 发现火焰中钠的原子发射光谱线，当置于强磁场的极间(数千高斯场强)分裂成三条或更多的偏光成分。
知道了塞曼裂变有两种，正常的和异常的。
(见图1)正常塞曼效应在磁场的感应下，原子发射或原子吸收光谱线裂变为三个成分，中间的π成分不偏离和保持在原来的波长，它是平行于磁场的偏振线，两个σ成分，高的（σ+）和低的（σ-）和原波长移位和波长间隔相等，它们是垂直于磁场的偏振线， σ+和σ-成分和π 成分的总强度等于未改变前的谱线的强度。
数个明显正常塞曼效应的有：Be 、 Mg 、 Ca 、 Sr 、Ba 、 Cd 和 Zn ，在图1（a ）中列举了用285.2镁线为例，在10kG 磁场作用下，σ+ 和σ-成分从π 成分分开至0.0038nm 。
(a) 正常塞曼 裂变 (b) 异常塞曼 裂变图 1 原子线塞曼裂变原理 Zero fieldZero fieldMagnetic Field OnMagnetic Field OnS 01P 1/21S 1/21πP 11πσ-σ+σσ-+Mg285.2 nmNa589.0 nm异常塞曼效应异常塞曼效应正确显示同一结构，但大于1条π成分和大于2条σ成分。
用AA测定的大多数元素出现这种效应，图1（b）列举了在589.0 Na线，下面列出从场致裂变的成分波长。
分裂成分在10kG磁场中塞曼分裂σ- 0.0063nmσ- 0.0038nmπ 0.0013nmπ 0.0013nmσ+ 0.0038nmσ+ 0.0063nm塞曼效应扣背景，磁场仅对原子有作用，对大量的分子和固体微粒不作用。
没有（或轻微）位移的平行于磁场的偏振成分用于测量总的吸收（原子吸收+背景），与共振线偏离位移的垂直于磁场的偏振成分用以测量背景吸收。
完成塞曼扣背景的方法。
在实践中，仪器上实施塞曼背景扣除可以采用不同的途径和使用方法。
直接或反向塞曼效应的区别直接塞曼—发射光源置在环绕磁场中，从HCL发射的轮廓线裂变为π和σ偏振成分，需要一个偏振器区分：和磁场平行的偏振成分π以及和磁场垂直的偏振成分σ，π发射信号（与磁场平行）用于测量在分析共振线波长处的吸收总和（AA+背景）。
AAS背景校正技术
AAS中的几种特殊技术1.背景校正技术AAS仪中已有氘灯和碘钨灯连续光源背景校正、塞曼效应背景校正和空心阴极灯强脉冲自吸背景校正等方法。
其中塞曼效应校正背景还衍生出几种不同的磁场调制与排列方式。
以下介绍各种背景方法要点。
1.1连续光源背景校正：这是现代AAS仪中应用最广泛的一种AAS仪器背景校正方法，尤其在FAAS中，它占有相当重要地位。
其原理为：用待测元素HCL的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续光源（多用是氘灯）的辐射作参比光束，在同一波长下测量吸收值。
对连续背景，它对HCL和连续光源辐射有相同的吸收，待测原子对连续光源也有吸收，但由于元素分析线很窄，不到通带宽度的1%，故可以忽略，连续光源所测值可视为纯背景吸收，光辐射交替通过原子化器，两次所测吸光值相减使背景得到校正。
在实际使用时，要求精心调配使氘灯连续光源和HCL锐线光源强度匹配，并尽可能使光斑重合一致。
近年，Jena 公司通过设计氘空心阴极灯的几何形状和成象光学部件，使两种辐射光束穿过完全相同的吸收体积，有效地避免了因双灯源的采用，而带来的光学平衡问题。
由于氘灯在长波范围（大于350.0nm）内能量较低，要与碘钨灯配合适用。
该法应用波段有限制，有时还产生背景校正过度或不足。
如果共存物的原子对通过单色器的连续辐射产生吸收，会出现补偿过度现象。
连续光源背景校对FAAS较好，对GFAAS效应不佳。
1．2自吸效应背景校正：自吸效应背景校正法，又称S-H法，其原理：以低电流脉冲供电。
空心阴极灯发射锐线光谱，测的原子吸收与背景吸收的总吸光度，以短时高电流脉冲供电发射线产生自吸效应，辐射能量由于自吸变宽而几种与原波长的两侧。
不为原子蒸气所吸收，所测为背景吸收值。
将两值相减得到校正后的原子吸收值。
这种方法是简单和成本低，能校正某些结构背景与原子谱线重叠干扰，无光能损失，可以进行全波长校正但许多元素不能产生自吸，两种脉冲电流下HCL谱线宽度有差别，校正不够精确，有些元素如Al、Ca、Sr、Ba、V 等其灵敏度降低，检出限变差，强脉冲电流影响HCL的寿命，该法仅适用于FAAS 法。
3-9-8-塞曼效应背景校正法
塞曼效应背景校正法
《塞曼效应背景校正法那些事儿》
嘿，咱今天来唠唠塞曼效应背景校正法。
记得有一次啊，我在实验室里，那可真是个特别的经历。
当时我正对着一堆仪器发愁呢，就是为了研究这个塞曼效应背景校正法。
我看着那些复杂的线路和仪表，心里直犯嘀咕，这都啥呀！但没办法呀，咱得搞明白不是。
我就一点点地摆弄，一会儿看看这个旋钮，一会儿调调那个开关，感觉自己就像个在探索神秘宝藏的探险家。
我特别仔细地观察着每一个数据的变化，生怕错过了什么重要的细节。
就这么折腾了好久，哎呀，可算有点眉目了。
当我终于看到仪器上显示出一些我期待中的数据时，那心情，就像大热天吃到了一口冰凉的冰淇淋，爽歪歪呀！我一下子就兴奋起来了，原来这塞曼效应背景校正法也没那么难嘛，只要咱有耐心，慢慢研究，总能搞懂的。
从那以后啊，我对塞曼效应背景校正法就有了更深的理解和认识。
我知道了它的重要性，也知道了想要掌握它就得下功夫。
总之呢，塞曼效应背景校正法虽然有点复杂，但只要咱用心去对待，就一定能发现它的奇妙之处。
就像生活中的很多事情一样，只要我们肯花时间和精力，就没有克服不了的困难啦！哈哈！。
显示器色彩校正
几种免费显示器校正软件比较目前市面上显示器校正分为硬件校正和软件校正两种。
硬件校正是采用专用测量仪器（如色度仪、分光光度仪等），配合一些专用软件去测量显示器的亮度、对比度、色度，并按标准调整，最终通过测量一系列色块生成显示器专用icc文件。
此icc文件可以影响显示器及应用软件的颜色显示效果。
采用硬件仪器调整可使显示器不受人为干扰而达到标准化，使目前最佳的显示器校正方式。
但硬件调整需要购买相应测量仪器（价格昂贵，往往比常用显示器还贵），而提供显示器调整的专业服务机构还太少，不能满足需求（提供服务也要收取一定费用，这也是许多非专业个人用户不选择的原因）。
基于以上原因，目前还有一些免费的软件校正方式。
软件校正是采用安装在电脑系统中的软件，用人工眼睛看的方式去调整显示器的亮度、对比度、色彩等指标，个别软件还可以生成包含一些信息的icc文件（注意纯软件生成的icc文件并不是显示器正真的icc文件，只是包含一些经过调整的基本信息的通用icc文件）。
软件校正受人为水平能力和环境光线因素影响很大，而且不适合调整液晶显示器（LCD），但作为免费的校正方式，还是适合非专业使用的人员来调整纯平显示器（CRT）的。
目前最常用，最为大家了解的免费软件是随photoshop一起捆绑销售的adobe gamma软件，adobe gamma软件我们网站有专门的介绍，请点击这里：Adobe Gamma软件，了解详细使用方式。
很多photoshop用户并没有安装Adobe Gamma软件（安装时选择简洁安装、使用photoshopCS －CS2版本、使用一些绿色精简版photoshop，都没有adobe gamma软件），而Adobe Gamma软件并不单独提供下载，同时Adobe Gamma自身也存在一些问题。
另有其他几种软件调整方式也各有各的特点，在这里给大家介绍一下，它们分别是：QuickGamma软件、桐生彩希的调整显示器图卡、Monitor Calibration Wizard软件三种。
假设检验中的多重比较校正方法
假设检验中的多重比较校正方法假设检验是统计学中非常重要的方法之一，用于对样本数据进行推断和判断。
在实际应用中，我们经常会面临多个因素或多组数据的比较，而这种多重比较可能会带来假阳性（即拒绝一个正确的原假设）的风险。
为了减小这种风险，多重比较校正方法被提出并广泛应用于假设检验中。
一、多重比较校正方法的背景在进行多个假设检验时，我们要面临的问题是如何控制整体的错误率，即如何控制拒绝正确原假设的错误概率。
当我们进行多次检验时，每次检验都会有一定的错误率，而这些错误可能会在多次检验中累计，导致整体错误率的增加。
多重比较校正方法的出现就是为了解决这一问题。
二、多重比较校正方法的原理多重比较校正方法的核心思想是对各个假设检验的临界值进行适当的调整，以控制整体错误率。
其中，最经典的多重比较校正方法就是Bonferroni校正方法。
Bonferroni校正方法的基本原理是将整体错误率分配给各个单个假设检验，使每个检验的错误率不超过整体错误率。
具体而言，如果我们进行了m个假设检验，那么整体错误率α需要除以m进行校正，即每个检验的新临界值为α/m。
除了Bonferroni校正方法外，还有Holm校正方法、Tukey校正方法等。
Holm校正方法是一种递进的校正方法，根据p值的大小进行逐步校正；Tukey校正方法适用于多组数据的比较，通过构造新的比较统计量来进行校正。
三、多重比较校正方法的应用多重比较校正方法在各个领域都有广泛的应用。
例如，在医学研究中，研究人员可能需要比较多个治疗方法的效果，而为了控制错误率，他们可以使用多重比较校正方法来调整检验的临界值。
在生物学研究中，研究人员可能需要比较多个基因的表达差异，而多重比较校正方法可以帮助他们筛选出具有显著差异的基因。
此外，在市场调研中，多重比较校正方法也可以用来比较多个产品的销售表现，以便做出正确的决策。
四、多重比较校正方法的优缺点多重比较校正方法的优点是能够有效地控制整体错误率，保证研究结论的可靠性。
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几类背景校正的比较
当原子化温度不足以将基体中的所有分子分解时就可能产生分子吸收。
分子吸收所产生的信号加上原子所产生的信号，就可能产生一较高的虚假信号。
在火焰法中，背景信号通常在0.05吸光度以下，但对某些类型的样品（特别是在低紫外波段），背景干扰可能较高。
石墨炉分析中，背景信号则可能达2.0吸光度以上，背景校正就显得十分重要了。
实践中，如遇到需测量大背景信号中的较小的原子吸收信号时，我们不提倡直接进行测量（虽然仪器可能具有这种能力），我们可提高加适合的基体改进剂及合理设置石墨炉干燥、灰化程序来降低背景信号，因高背景信号降低光通量，降低了信噪比。
背景校正（或称为扣背景），是一种甄别非特征吸收的方法。
所有厂家度采用相同的扣背景原理：即将背景吸收从总信号中减去。
非特征吸收信号及总信号在数毫秒时间间隔内被分别测出。
然后提高计算得出所要的特征吸收信号值。
在石墨炉分析中，信号的产生及变化速度极快，（每秒可达10个吸光度）。
理想的情况是在同一时间测出背景信号和总信号，但实践中是不可能做到的，但这两个信号的测量在时间上越接近，其准确性就越好。
现在各种仪器的这一时间差在2－10ms之间。
氘灯扣背景
最常用的扣背景方法是采用连续光源，如氘灯来测量背景信号。
其波长范围为180到425nm。
因在短波长范围中，背景信号相对较高，该方法覆盖了决大多数高背景发生区。
在元素灯工作周期，元素灯所产生的窄发射谱线被原子及背景物质所共同衰减，所测得的值是总信号；在氘灯工作周期，氘灯的宽谱线所测得的则是背景信号（此时元素灯所产生的窄谱线原子吸收可忽略不计），两次测量的差值，即为我们所需的原子吸收信号。
氘灯扣背景方法的优点
灵敏度好
动态线性范围好
费用低
氘灯扣背景方法有以下几方面局限性：
灯的强度有时不合适。
空心阴极灯和氘灯的强度匹配要精心调整（一般需要牺牲元素灯光强，增大通带和高压，以弥补氘灯强度弱的缺点，但噪音将增大）
同时还要控制两种光源的稳定性，调整两光源的光斑要重合
不能准确扣除由窄谱线分子吸收而造成的结构背景；
有时背景校正误差很大；
Smith Heiftje （自吸）扣背景
该方法是1983年首先由Stan Smith 和Gary Heiftje 提出的。
在其论文中，对这种扣背景方法的工作原理及局限性都有较为详细的论述。
这种方法现在只有TJA和Shimadzu两家公司采用。
同时TJA也提高了氘灯扣背景的选项。
当空芯阴极灯在很强的灯电流条件下工作时，其发射谱线将变宽，谱线向两翼扩展，成为双发射峰。
该效应称为自吸效应。
测量总吸收信号时，空芯阴极灯通以正常灯电流；当需要测量背景信号时，元素灯被通以很强的脉冲电流使灯产生自吸，此时，元素灯相当与一连续光源，特征吸收减到很小，所得信号基本上是背景信号。
但背景值的测量与总吸收的测量不在同一谱线下（背景信号在共振线两侧）。
该方法的好处是在整个测量过程中只需要一个灯源－空芯阴极灯，但其缺点确十分明显。
如灯寿命减短，灵敏度损失较大（16％Hg－87％Cd）。
其它主要问题是：
因速度慢（10Hz），扣背景准确性差；
校正曲线动态范围小；
不能扣除所有谱线或结构背景（因其连续灯源状态时，谱线宽度窄）
Zeeman效应
当原子谱线被置于磁场中时，谱线会发生分裂，这种现象，就是Zeeman效应。
正常塞曼效应或称之为简单塞曼效应发生时，谱线被分裂成两个σ分量和一个π分量，π分量留在原谱线位置，σ分量则对称地出现在原谱线两侧数皮克纳米处。
该分量偏离的程度取决于磁场强度的大小。
π分量与磁场方向平行，σ分量与磁场方向垂直。
磁场关闭时测得总吸收信号，磁场开时，π分量被偏振器滤除，σ分量则因偏离共振谱线而不能检出，分子吸收信号不受磁场影响，因此，此时所得测量值为背景信号。
纵向磁场扣背景
纵向磁场的方向与光路平行，因而所分裂出的π分量因与光路方向垂直而不进入单色器。
那么，在光路中就无需用偏振器了。
因此提高了光通量，可得到较好的检出限。
当然仪器其它方面的设计对仪器整体性能的影响也不可忽视。
横向磁场扣背景:正如前面所述，该方法在光路中加一偏振器将π分量滤除。
塞曼扣背景优点
其最主要的一个优点是背景的扣除准确地在被分析元素的共振谱线处进行，且只需一个光源。
波长覆盖整个波长范围；
可准确扣除结构背景；
可扣除某些谱线干扰；
背景校正速度快，提高了扣背景的准确性。