用磁性方法测量涂层厚度的标准试验方法：磁性金属上的非磁性涂层ASTM B499-09(R2014) (中文翻译版)

用磁性方法测量涂层厚度的标准试验方法：磁性金属上的非磁性涂层ASTM B499-09(R2014) （中文翻译版）

用磁性方法测量涂层厚度的标准试验方法：磁性金属上的非磁性涂层1

1本试验方法由ASTM金属和无机涂层委员会B08管辖，并由试验方法小组委员会B08.10直接负责。

现行版本于2014年5月1日批准。2014年5月出版。最初批准于1969年。上一版于2009年批准为B499-09。DOI: 10.1520/B0499-09R14。

本标准以固定名称B499发布；紧跟在名称后面的数字表示最初采用的年份，如果是修订，则表示最后修订的年份。括号中的数字表示上次重新批准的年份。上标（ε）表示自上次修订或重新批准以来的编辑性更改。

本标准经美国国防部机构批准使用。

1、范围

1.1本试验方法包括使用磁性仪器对黑色金属或其他磁性基底金属上的非磁性涂层厚度进行无损测量。其目的是补充制造商对仪器操作的说明，而不是替换它们。

注1：磷含量大于8%的自催化沉积镍磷合金无足够磁性，只要在任何热处理之前进行测量，就可通过本试验方法进行测量。

1.2这些仪器测量磁铁和基底金属之间的磁引力，受涂层的影响（归类为“磁拉脱”），或探头内磁通密度的变化（归类为“电子”）。这些仪器无法区分各层的厚度。他们只能测量探针下到基底金属的所有层的累积厚度。

1.3根据本试验方法进行的测量应符合1982年出版的ISO国际标准2178的要求。

1.4以国际单位制表示的数值应视为标准值。括号中给出的值仅供参考。

1.5本标准并非旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践，并确定法规限制的适用性。

2、参考文件

2.1 ASTM标准2

2有关参考的ASTM标准，请访问ASTM网站，或通过Service@ 联系ASTM客户服务。有关ASTM标准年鉴卷信息，请参阅ASTM网站上的标准文件摘要页。B530用磁法测量镀层厚度的试验方法：在磁性和非磁性基底上电沉积镍镀层

2.2国际标准：

ISO 2178磁性基底上的非磁性涂层涂层厚度的测量磁性方法3

3可从美国国家标准协会（ANSI）获得，地址：25 W.43rd St.，4th Floor，New York，NY 10036，。

3、术语

3.1本标准专用术语定义：

3.1.1精度，n—测量结果与被测物品真实厚度之间误差大小的测量。

3.1.2调整，n—将仪器的厚度读数与已知厚度样品的厚度读数对齐（消除偏差）的物理行为，以提高仪器在特定表面或其测量范围特定部分内的精度。调整将影响后续读数的结果。

3.1.3校准，n—在仪器的整个工作范围内获得可追踪校准标准测量值，然后进行必要的仪器调整（如要求）以纠正任何超出公差条件的高级、受控和文件化过程。

3.1.3.1讨论涂层厚度仪器的校准由设备制造商、授权代理或授权的、经过培训的校准实验室在

受控环境下使用记录的过程进行。校准过程的结果是恢复/重新校准仪器，以达到/超过制造商规定的精度。

3.1.4参考标准，n—用于验证涂层厚度测量仪器精度的已知厚度试样。

3.1.5准确度验证，n—在仪器使用前获得参考标准的测量值，以确定涂层厚度仪器产生可靠值的能力，与组合仪器制造商的规定准确度和参考标准的规定准确度相比。

4、试验方法概述

4.1磁力拉拔仪采用吸引原理和恒定磁场。这些机械仪器测量将永磁体从涂层磁性金属基底上拉出所需的力。对涂层下面的基底的吸引力由弹簧或线圈抵消。对弹簧/线圈施加张力，直到克服对磁性基底的磁引力。仪器必须直接放置在涂层表面上才能进行测量。将永磁体固定在磁性底座上的力与磁体和磁性底座之间的涂层厚度成反比。例如，应用于铁基片的薄涂层需要比厚涂层更大的弹簧张力才能将磁铁拉出，因为磁铁更接近具有较薄涂层的铁基片。这种逆关系反映在非线性仪器刻度上。

4.2电子仪器测量探头内磁通密度的变化，以进行涂层厚度测量。必须将仪器探头直接（垂直位置）放置在涂层表面上，以获得测量值。这些仪器确定由于接近基底而对探针产生的磁场的影响。

5、意义和用途

5.1涂层厚度通常对其性能至关重要。对于大多数钢上的有色金属涂层，磁性法是无损测量涂层厚度的可靠方法，适用于规范验收试验和SPC/SQC应用。

5.2本试验方法不应用于测定钢上电沉积镍镀层的厚度。试验方法B530适用于该测定。

6、仪器

6.1涂层厚度仪，基于磁性原理，商用，适用于精确测量涂层厚度。

6.2涂层厚度标准，其指定值可追溯至国家计量机构。它们可以是涂层或电镀钢板，也可以是扁平非金属片（通常是聚酯）的箔或垫片。

7、校准和标准化

7.1涂层厚度仪器的校准由设备制造商、授权代理或授权的、经过培训的校准实验室在受控环境下使用记录的过程进行。可签发显示国家计量机构可追溯性的校准证书。没有重新校准的标准时间间隔，也不是绝对需要的时间间隔，但可以根据经验和工作环境建立校准间隔。一年校准间隔是许多仪器制造商建议的典型频率。

7.2使用前，应按照制造商的说明，采用合适的厚度标准，验证每台仪器的校准精度，如有必要，应纠正发现的任何缺陷。

7.3在使用过程中，应经常验证校准精度，至少每天一次。应注意第8节中列出的因素和第9节中描述的程序。

7.4已知厚度的涂层厚度标准可用作垫片或箔或涂层试样。

7.4.1箔材：

注2：在以下段落中，“箔”一词的使用将意味着非磁性金属或非金属箔或垫片。

7.4.1.1由于难以确保充分接触，通常不建议使用箔材来校准、验证准确度和调整磁性拉脱仪，但在某些情况下，只要采取必要的预防措施，箔材是适用的。它们通常可以与其他类型的仪器一起使用。

7.4.1.2箔材有利于弯曲表面，比涂层标准更容易获得。为了防止测量误差，有必要确保箔材和基板之间建立紧密的接触。应避免弹性箔，以防止压痕误差。厚度小于15μm（0.6 mil）时，只能使用有色金属箔。箔容易磨损和压痕，因此应经常更换。不得使用磨损的箔。