ASME泄漏检测

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ASME锅炉及压力容器规范国际性规范

无损检测
2004版




前言
“ASME 锅炉及压力容器规范”是美国机械工程师协会于1911年成立的锅炉及压力容器委员会所制定的,目的在于提供控制设计、制造和检测等质量的有关规则。

这些规则平衡了用户、制造商和检测师的要求,并为锅炉和压力容器在使用中保留了一定的安全裕度,为防止破损和对生命财产安全提供合理可靠的保证。

一、第Ⅴ卷内容
第Ⅴ卷分为A、B两个分卷。

A分卷无损检测方法
第1章通用要求
第2章射线照相检测
第3章金属铸件的射线照相检测
第4章在役检查的超声检测方法
第5章材料和制造的超声检测方法
第6章液体渗透检测
第7章磁粉检测
第8章管材制品的涡流检测
第9章目视检测
第10章泄漏检测
第11章纤维—增强环氧树脂容器声发射检测
第12章加压试验时金属容器的声发射检测
二、第1章通用要求
注:通用要求即是对第2章~12章都适用的要求。

T—110 适用范围
注:本章所包含的无损检测是其它规范篇章或参照文件特别提到和要求引用的方法和规范要求。

这些无损检测方法是:
(1)射线照相检测
(2)超声波检测
(3)液体渗透检测
(4)磁粉检测
(5)涡流检测
(6)目视检测
(7)泄漏检测
(8)声发射检测
以上这些无损检测方法用于检测的对象是:材料、焊缝和加工零部件的表面和内在的瑕疵(或叫缺陷)。

T—120 总则
注:从10个方面提出了A(或B)分卷的使用原则和有关规定。

T—130 设备
注:规范无损检测单位和无损检测人员应负责保证使用本规范要求的检验设备。

T—150 规程
(a)本规范所涉及的无损检验方法在正常情况下对制造过程中遇到的大部分几何
形状和材料都是适用的。

(b) 当本《规范》的其它篇章要求按本篇章规定进行检验时,制造厂、生产厂或安装厂有责任按规范有关卷的要求制定出无损检验规程及人员资格鉴定规程。

(c)当本规范的有关篇章提出要求时,所有按本篇进行无损检验都必须按照书面的规程执行。

注:《规范》是指“ASME 锅炉及压力容器规范”。

T—160 校验
(a)制造厂、制造商、安装单位应保证所有设备按A分卷和/或B分卷要求进行校验。

(b) 在编制专用规和时,当要求校验时,生产厂、制造商或安装单位要规定什么校验是必须的。

注:设备、计量器具都必须按要求进行校验。

T—170 检验与检查
(a)与容器和受压部件制造有关的检查员应有责任作出充分核实,确证根据《规范》有关篇章的要求进行的全部检验工作已按本篇和《规范》有关篇章的要求执行。

他有权要求见证本规范有关篇章所提出的任一项检验。

在本篇章中检查员一词是指具备本《规范》各有关篇章中所规定资格的授权检验师。

(b) “检查”这个术语用于授权检验师的职责,而“检验”这个术语用于制造厂所雇用的人员进行质量控制的职责。

注:“检验”是无损检测人员的职责,而“检查”是授权检验师的职责,他对无损检测人员和无损检测工作进行监督和见证。

T—180 评定
注:每种无损检测方法必须依据验收标准进行检测结果的评定,因此,规范的各有关篇章中都应有验收标准的内容。

T—190 记录/文件
记录/文件应符合《规范》各有关篇章及本篇规范中A和/或B分卷的有关要求。

规范无损检测单位和无损检测人对记录/文件负责。

三、第10章泄漏试验
本章中包括了正文和10个强制性附录和一个非强制性附录。

正文规定了采用ASME规范进行各种泄漏检测时的总要求。

对各种泄漏检测技术在相应的强制性附录中有详细的规定,而有关检测规程、设备、检定、评定,检测文件等正文中都作了一般性的规定。

T—1010 适用范围
注:当本《规范》的有关卷规定采用第10章的泄漏方法或技术时,应同时采用第1章的一般要求。

即只要采用第10章的泄漏方法或技术时,必须和第1章同时采用。

本章的强制性附录如下:
附录Ⅰ气泡试验——直接加压法
附录Ⅱ气泡试验——真空罩法
附录Ⅲ卤素二极管检漏仪探头试验
附录Ⅳ氦质谱试验——检漏仪探关技术
附录Ⅴ氦质谱试验——示踪探头技术
附录Ⅵ压力变更试验
附录Ⅶ术语汇总
附录Ⅷ热电导检测仪探头试验
附录Ⅸ氦质谱试验——护罩技术
附录Ⅹ超声波泄漏试验公式符号
附录A 增补的泄漏试验公式符号
T—1020 总则
注:规定泄漏检测应按书面检测规程进行。

T—1021 书面规程要求
T—1021.1 要求
书面规程必须详细、实用。

书面检测规程的要求是最低要求,其内容详见相应的强制性附录。

书面规程要求对重要变素和非重要变素应规定单一值或数值范围。

T—1021.2 要求的修改
T—1021.3 规程鉴定
书面规程应予鉴定,如果规程中重要变素有变化,应予重新鉴定。

T—1022 有关规范
注:当有关规范规定对受检的部件采用泄漏检测方法及其技术时,有关规范中的下列要求应在检测及其管理中予以考虑:
(a) 人员的资格/证书;
(b) 技术/校准标准
(c) 检验范围
(d) 可接受的试验灵敏度或泄漏率
(e) 报告要求
(f) 记录的保存
T—1030 设备
注:对设备的一般规定仅仅是对压力计的要求。

T—1031 压力计
压力计要求是:
量程:刻度范围应为检漏所需的最大压力的1倍半至4倍。

位置:无论与检测对象连接较近,还是较远,都应该保证检测人员在对检测部件充压、抽空、或者检测过程中能够全面观察到压力计的变化,以便安全地控制检测全过程。

对于大型容器或者复杂系统等检测对象规范规定需要一个或多个压力计时,规范推荐采用记录式压力计,它可以替代两个或更多个指示式压力计中之一。

T—1040 其他要求
注:规范规定检测部位表面清洁度、检测系统开口处密封材料、检测部位的湿度、检测部件的压力极限等。

T—1041 清洁度
受检部件必须作清洁处理,保持干燥,检测部位表面无油脂、油漆等污染物。

T—1042 开孔
开孔处密封材料要求不含示踪气体,并在检测后易于去除。

T—1043 温度
检测时的最低温度或最高温度应不超过所采用泄漏检测方法或技术所允许的温度。

T—1044 压力/真空(压力极限)
压力/真空(极限压力)要求需作泄漏检测的部件应在不超过设计压力的25%的压力下进行,但规范有关卷另有规定除外。

T—1050 规程
T—1051 预泄漏试验
规范要求在采用高灵敏度检漏之前可先作一次简便的预检,以检出和消除一些大的泄漏,但应注意预检不得封闭漏孔,影响正规检漏。

T—1052 试验顺序
规范推荐泄漏检测应安排在水压试验和液压气动试验之前。

T—1060 校准
注:检漏设备的校准是泄漏检测安全、有效的可靠保证。

这里所谓“校准”应理解为计量检定,表示设备向高一级精度校准。

T—1061 压力/真空计
注:压力/真空计应该计量检定,除非另有规定,每年至少重新检定一次。

检定结果必须符合制造厂商所列的精度。

压力/真空计在使用期间发生差错,必须随时送检。

T—1062 温度测量装置
温度测量装置也应按规定送检。

T—1063 校准泄漏标准
注:规定了标准漏孔的检定和漏率范围
T—1063.1 渗透型泄漏标准
注:渗透型标准漏孔应是氦气经渗透穿过薄膜的漏孔,它应具有:1×10-7Pa•m3/s~1×10-11Pa•m3/s的氦漏率,并应检定合格。

T—1063.2 毛细管型泄漏标准
注:毛细管型标准漏孔应是使示踪气体穿过一个毛细管的漏孔。

它应具有与所要求的检测灵敏度和示踪气体的实际百分比浓度的乘积相等或更小的漏率,应检定合格。

T—1070 试验(检测)
注:这里试验就是检测。

规范对检漏技术的具体要求分别在强制性附录中作出了规定。

T—1080 评定
注:规范对检漏技术检测结果评定的依据是验收标准。

T—1081 验收标准
注:各种检漏技术的验收标准在强制性附录中都分别给出,除非另有规定,这些验收标准应予采用。

T—1090 文件
注:文件主要是指试验报告或叫检测报告。

T—1091 试验报告
注:规范规定了检漏试验报告至少应括以下内容:
(a) 检测日期;
(b) 操作者的资格等级和姓名;
(c) 检测规程(编号)和修订号;
(d) 检测方法或技术;
(e) 检测结果;
(f) 部件编号;
(g) 检测仪器、标准漏孔和材料识别号;
(h) 检测工况、检测压力、示踪气体和气体浓度;
(I ) 压力计——制造厂、型号、量程和编号;
(j ) 温度测量装置和编号;
(k) 表示检漏方法和技术布置的草图。

T—1092 记录保存(应按本规范有关卷的要求保存)
四、附录Ⅰ气泡试验——直接加压技术
Ⅰ—1000 引言
Ⅰ—1010 适用范围
注:本附录适用于受检部件采用充压的方法进行气泡检漏的技术。

Ⅰ—1020 总则
Ⅰ—1021 书面规程要求
变素——引起检测条件、检测方法和检测技术变化的因素。

注:规定了书面检测规程的要求,见(表Ⅰ—1021),表中列出了重要变素有:气泡形成溶液、表面温度、表面制备技术、照明强度、检测人员技能鉴定要求等。

非重要变素有:溶液注施器、加压气体、试验后的清洗技术、人员鉴定要求等项。

此外,书面规程还包括下列规定的要求:
(a) 浸泡时间;
(b) 压力表;
(c) 试验压力;
(d) 验收标准。

书面规程的鉴定则按第10章总则的规定处理。

Ⅰ—1030 通用要求
Ⅰ—1031 气体
注:检漏气体为空气,也可用惰性气体。

当用惰性气体时,要注意缺氧时检测人员的安全。

Ⅰ—1032 起泡溶液
注:起泡溶液应采用检漏专用的溶液。

形成起泡的溶液应能适应检测条件下的温度。

Ⅰ—1033 浸泡池
注:采用浸泡池方法检漏时,应采用水或其他适当的溶液。

浸泡池应能适应检测条件下的温度。

Ⅰ—1070 试验
规定了检漏时的具体要求。

Ⅰ—1071 浸泡时间
注:应至少保持压力的时间15min。

因为压力的变化会影响产生气泡的大小、数量和速率,最终影响检测结果。

Ⅰ—1072 表面温度
注:受检部件表面温度应保持在40C~520C范围。

只要在范围内,允许对部件局部加热或冷却。

如果超出范围,必须验证检漏结果,因为表面温度是重要变素。

Ⅰ—1073 施加溶液
注:施加溶液到待检部位应避免操作不当产生气泡,以免与泄漏产生的气泡混淆,造成错判或误判。

Ⅰ—1074 浸入溶池
注:被检表面应低于溶池的液面,并在易于观察的位置。

Ⅰ—1075 照明和目视器材
注:观察泄漏气泡的目视要求同ASME规范第9章目视检验的要求。

观察方式分为两种:第一种,直接目视检验(T—952)要求肉眼观察待检表面距离不超过610mm,视角不小于300。

视角不便观察时也可采用反光镜改善观察角度。

待检部位照明强度至
少1000lx。

光源和光强按规定要验证,验证结果要记录于文件,保存备查。

第二种,远距离目视检验(T—953)可以借助适当的目视器材,如反光镜、望远镜、内窥镜、光导纤维、照相机等。

但应注意目视器材的分辨率与检测要求相当。

Ⅰ—1076 泄漏显示
注:当被检件表面有连续气泡出现就表示受检部位有穿透性针孔泄漏。

Ⅰ—1077 试验后的清洗
注:检漏以后的部件应根据产品性能决定是否清洗。

Ⅰ—1080 评定
Ⅰ—1081 泄漏
注:除非相关产品设计文件或采购技术条件另有规定,若未观察到被检区域有连续的气泡形成,则可验收。

Ⅰ—1082 返修/重新试验
注:当观察到有泄漏时,应标出泄漏位置,然后将被检件降压,按相关产品设计文件或采购技术条件的规定返修泄漏处。

所有经返修的区域,应按要求重新检测。

五、附录Ⅱ气泡试验——真空罩技术
Ⅱ—1000 引言
Ⅱ—1010 适用范围
注:适用于不能直接加压的部件,采用真空罩技术对部件的局部待检部位进行气泡检漏。

Ⅱ—1020 总则
Ⅱ—1021 书面规程要求
注:规定了书面检测规程的要求,见(表Ⅱ—1021),表中列出了重要变素有:气泡形成溶液、表面温度、表面制备技术、照明强度、检测人员技能鉴定要求等。

非重要变素有:真空罩(尺寸和外形)、真空源、溶液注施器、试验后的清洗技术、人员鉴定要求等项。

此外,书面规程还包括下列规定的要求:
(a) 压力表;
(b) 真空试验压力;
(c) 真空保持时间;
(d) 真空罩重叠;
(e) 验收标准。

书面规程的鉴定则按第10章总则的规定处理。

Ⅱ—1030 设备
Ⅱ—1031 起泡溶液
注:起泡溶液应采用检漏专用的溶液。

形成起泡的溶液应能适应检测条件下的温度。

Ⅱ—1032 真空罩
注:应具有适当的尺寸,例如长762mm,宽152mm,该尺寸应与待检的局部区域相适应;应具有顶视窗口,罩口应有垫圈与待检表面密封,并配有连接头、阀门、照明以及测量用的真空计,真空计量程应为0~103Pa或与其相当的压力单位0~760mmHg。

由于真空罩技术压力不高,因而压力计量程限度不受规范正文T1031要求的限制。

Ⅱ—1033 真空源
注:真空罩内所要求的真空可用适当的方法获得,如空气喷吸器、真空泵或电动机带动的抽气装置等。

真空计应能指示出至少大气压以下13.8kPa。

或按规范有关卷的规定。

Ⅱ—1070 试验
Ⅱ—1071 表面温度
注:受检部件表面温度应保持在40C~520C范围。

只要在范围内,允许对部件局部加热或冷却。

如果超出范围,必须验证检漏结果,因为表面温度是重要变素。

Ⅱ—1072 施加溶液
注:在真空罩放置之前,应将起泡溶液施加到被试验的表面上,可用流布、喷涂或刷涂的方法施加到被检表面。

Ⅱ—1073 真空罩的放置
注:真空罩应放置在涂有起泡溶液的被检表面上,然后将罩内抽真空至所要求的真空度。

Ⅱ—1074 保压(真空)
注:在检测中,所要求的真空度(压力差)至少应保持10s。

Ⅱ—1075 真空罩的覆盖
注:每一相邻区域的检测,真空罩的放置应至少有50mm的覆盖。

Ⅱ—1076 照明和目视器材
注:与附录Ⅰ气泡试验——直接加压技术中的(Ⅰ—1075 照明和目视器材)相同。

Ⅱ—1077 泄漏显示
注:当被检件表面有连续气泡出现就表示受检部位有穿透性针孔泄漏。

Ⅱ—1078 试验后的清洗
注:检测后为了达到产品的使用性能,可能要进行清洗。

Ⅱ—1080 评定
Ⅱ—1081 泄漏
注:除非相关产品设计文件或采购技术条件另有规定,若未观察到被检区域有连续的气泡形成,则可验收。

Ⅱ—1082 返修/重新试验
注:当观察到有泄漏时,应标出泄漏位置,然后将被检件降压,按相关产品设计文件或采购技术条件的规定返修泄漏处。

所有经返修的区域,应按要求重新检测。

六、附录Ⅳ氦质谱仪试验——探测器探头技术
注:所谓“探测器探头技术”也就是国内常指的氦质谱吸氦法或嗅吸探头法,“探测器探头”也就是吸枪。

Ⅳ—1000 引言
Ⅳ—1010 适用范围
注:适用于氦质谱法用探测器探头对充氦的部件进行检漏的技术。

探测器探头技术是一种半定量技术,因此只能适用于定位而不能用作定量。

Ⅳ—1020 总则
Ⅳ—1021 书面规程要求
注:规定了探测器探头技术书面规程要求和规程鉴定要求。

书面规程要求见T—1021.1和表Ⅳ—1021。

表中列出了:五项重要变素,氦质谱检漏仪和探测器探头的制造厂和型式、表面制备技术、受检部件金属温度、人员技能鉴定;六项非重要变素,加压气体(空气或惰性气体)、扫查速率、信号发生装置、扫查方向、试验后的清理技术和人员鉴定要求。

此外还规定了下列规程要求:
(a) 设备泄漏标准(检漏仪标准漏孔漏率);
(b) 系统泄漏标准(检测系统标准漏孔漏率);
(c) 示踪气体;
(d) 示踪气体浓度;
(e) 试验压力(充氦压力);
(f) 浸泡时间(保压时间);
(g) 扫查距离;
(h) 压力表;
(i) 灵敏度验证核查;
(j) 验收标准。

上述规程鉴定的要求应按第10章总则的规定处理。

Ⅳ—1030 设备
Ⅳ—1031 仪器
注:应采用灵敏度比较高的氦质谱检漏仪,并采用下述一种或几种信号装置来指示泄漏现象:仪表、音响装置、指示灯。

Ⅳ—1032 辅助设备
注:——稳压器。

当电源电压有波动时,应在仪器上接一个稳压器;
——探测器探头。

所有被检部位都应用探测器探头扫查。

探头用一段软管与仪器相连接,为了缩短响应时间和净化时间,软管的长度一般应不超过4570mm 。

Ⅳ—1033 校准泄漏标准
注:校准泄漏标准(校准漏孔)应采用符合T —1063.1或T —1063.2的渗透型标准或毛细管型标准漏孔。

采用校准漏孔的类型应根据检漏仪、检测灵敏度的要求或按本规范有关卷的规定。

Ⅳ—1060 校准
Ⅳ—1061 仪器校准
注:在用已经检定的标准漏孔对检漏仪校准之前仪器应通电预热,预热的最少时间应按照检漏仪制造厂的规定。

校准检漏仪时用T —1033.1所述的渗透型标准漏孔,使仪器处于最佳或最合适的灵敏度下,检漏仪对氦的最小灵敏度为1×10-10Pa •m 3/s 。

Ⅳ—1062 系统校准
注:
(1)标准漏孔大小 被检系统校准时应采用毛细管型标准漏孔作为校准漏孔,由于毛细管型标准漏孔漏率用的是100%氦浓度,因此要换算成检测系统检漏时所用的氦浓度,则检测系统毛细管型标准漏孔的最大漏率Q 应按下式计算:
100
00TG Q Q s 式中Q s 为毛细管型标准漏孔漏率,%TG 为检漏所用的氦浓度。

(2)扫描(查)速率 将探测器探头与检漏仪连接后,在进行检测前的被检系统校准时,应将探测器探头嘴在校准漏孔上扫查,扫查时,探测器探头嘴与校准漏孔应保持在3.2mm 以内,以测得泄漏率为Q 时扫查速率为准。

对被检系统的扫查应不超过能检出校准漏孔泄漏率为Q 的速率。

(3)探测时间(响应时间) 在被检系统校准时,应记录检漏仪输出信号达到稳定所需要的时间,即响应时间。

这是对部件检漏确定漏孔的定位时间,应该越短越好,以减少确定泄漏位置所需的时间。

(4)校准频度和灵敏度 指被检系统灵敏度的校准次数,规定在检测前和检测后应该校准,检测中间应每隔2小时校准一次。

若不能检出Ⅳ—1062 .2 所述的泄漏Q ,则仪器要重新校准,并且从上一次合格的校准核查以及所有检测部位均应重作检测。

Ⅳ—1070 试验(检测)
Ⅳ—1071 试验场所
注:检测场所应注意避免过分通风,以免使检测所需的灵敏度降低。

Ⅳ—1072 示踪气体浓度
注:除非本规范有关卷另有规定,氦示踪气体的浓度在检测压力下,应至少为10%体积浓度。

Ⅳ—1073 保压时间
注:检测之前,检测压力应至少先保持30min,保压的目的是被检件内氦气浓度均匀。

当出现下述情况时,氦气会迅速扩散,这时允许保压时间少于30min。

(a) 采用特殊的临时性密封装置(例如抽气罩)检测开口部件。

(b) 充氦加压前已部分抽空的部件。

Ⅳ—1074 扫描(查)距离
注:在达到要求的保压时间后,探测器探头嘴应在被检件表面上方通过。

扫查时探头嘴与被检表面的距离应保持在3.2mm以内。

若被检系统校准时采用更小的距离,则扫查时的距离不应超过该距离。

Ⅳ—1075 扫描(查)速率
注:最大的扫查速率应按Ⅳ—1062 .2确定。

Ⅳ—1076 扫描(查)方向
注:检测时,扫查应从被检件最下部开始,然后渐次向上,因为氦气比空气轻。

Ⅳ—1077 泄漏检出
注:采用检漏仪的(仪表、音响装置、指示灯)中一种或几种信号装置来指示泄漏检出。

Ⅳ—1078 应用(略)
Ⅳ—1080 评定
Ⅳ—1081 泄漏
注:除本规范有关卷另有规定之外,若检出的泄漏率不超过1×10-5Pa•m3/s的允许漏率,则该被检测的区域应可验收。

Ⅳ—1082 返修/复检
注:当检测出不能验收的泄漏时,应标出泄漏位置,然后将被检件降压,按相关产品设计文件或采购技术条件的规定返修泄漏处。

所有经返修的区域,应按要求重新检测。

七、附录Ⅴ氦质谱仪试验——示踪探头技术
注:所谓“示踪探头技术”也就是国内常指的氦质谱喷氦法,“示踪探头”也就是喷枪。

Ⅴ—1010 适用范围
注:适用于氦质谱法用示踪探头对抽空部件进行检漏的技术。

示踪探头技术是一种半定量技术,因此只能适用于定位而不能用作定量。

Ⅴ—1020 总则
Ⅴ—1021 书面规程要求
注:规定了示踪探头技术书面规程要求和规程鉴定要求。

书面规程要求见T—1021.1和表Ⅳ—1021。

表中列出了:五项重要变素,氦质谱检漏仪和示踪探头的制造厂和型式、表面制备技术、受检部件金属温度、人员技能鉴定;七项非重要变素,示踪探头流量率、扫查速率、信号发生装置、扫查方向、真空泵系统、试验后的清理技术和人员鉴定要求。

此外还规定了下列规程要求:
(a) 设备泄漏标准(检漏仪标准漏孔漏率);
(b) 系统泄漏标准(检测系统标准漏孔漏率);
(c) 示踪气体;
(d) 真空试验压力;
(e) 真空计量;
(f) 浸泡时间;
(g) 扫查距离;
(h) 灵敏度验证核查;
(i) 验收标准。

上述规程鉴定的要求应按第10章总则的规定处理。

Ⅴ—1030 设备
Ⅴ—1031 仪器
注:应采用灵敏度比较高的氦质谱检漏仪,并采用下述一种或几种信号装置来指示泄漏现象:仪表、音响装置、指示灯。

Ⅴ—1032 辅助设备
注:(a) 稳压器。

当电源电压有波动时,应在仪器上接一个稳压器;
(b) 辅助泵系统。

当测试设备的大小需求使用辅助真空泵系统,真空泵系统的绝对压力和泵速应能使检测灵敏度和响应量时间达到要求。

(c) 集流腔。

就是用作正确连接仪器真空计、辅助泵、标准漏孔和检测部件的管道和阀门系统。

(d) 示踪探头。

用一根输送氦气的导管,一端连接100%氦气源,另一端为带有调节阀的细小开口,如同喷枪。

(e)护罩。

一种适用的罩子或容器,带有通孔以便连接接头。

(f) 真空计。

真空计的量程应能测量检漏系统的绝对压力,真空计的位置应在检测系统中远离泵系统的抽气口。

Ⅴ—1033 校准泄漏标准
注:校准泄漏标准(校准漏孔)应采用符合T—1063.1或T—1063.2的渗透型标准或毛细管型标准漏孔。

采用校准漏孔的类型应根据检漏仪、检测灵敏度的要求或按本规范有关卷的规定。

Ⅴ—1060 校准
Ⅴ—1061 仪器校准
注:在用已经检定的标准漏孔对检漏仪校准之前仪器应通电预热,预热的最少时间应按照检漏仪制造厂的规定。

校准检漏仪时用T—1033.1所述的渗透型标准漏孔,使仪器处于最佳或最合适的灵敏度下,检漏仪对氦的最小灵敏度为1×10-10Pa•m3/s。

Ⅴ—1062 系统校准
注:
(1)标准漏孔大小Ⅴ—1033所述的已校准的标准漏孔(毛细管型标准漏孔)应附接在待检部件上,并尽可能远离检漏仪与部件的连接处,这样才能真实反应实际漏孔的漏率。

标准漏孔在校准检测系统时应保持开放(打开)。

(2)扫描(查)速率抽空后的被检件达到足够的真空度时,将氦质谱仪连接到被检系统。

把示踪探头嘴横过校准漏孔(探头嘴应离校准漏孔6mm以内)对被检系统进行校准。

在实际检测中,对于示踪探头中纯氦(100%)的已知流速,被检系统的扫查速率不应超过能检出校准漏孔泄漏率的速度。

(3)检测时间在被检系统校准时,应记录检漏仪标准漏孔输出信号达到稳定所
需要的时间叫检测时间(即响应时间)。

这是对部件检漏确定漏孔的定位时间,应该越短越好,以减少确定泄漏位置所需的时间。

(4)校准频度和灵敏度指被检系统灵敏度的校准次数,规定在检测前和检测后应该校准,检测中间应每隔4小时校准一次。

若不能检出Ⅳ—1062 .2 所述的泄漏Q,则仪器要重新校准,并且从上一次合格的校准核查以及所有检测部位均应重作检测。

Ⅴ—1070 试验(检测)
Ⅴ—1071 扫描(查)速率
注:最大的扫查速率应Ⅴ—1062 .2确定。

Ⅴ—1072 扫描(查)方向
注:检测时,扫查应从被检件最上部开始,然后渐次向下扫查,因为氦气比空气轻。

Ⅴ—1073 扫描(查)距离
注:示踪探头应在被检件表面上扫过,扫查时探头嘴与被检件表面距离应保持在6mm以内。

若被检系统校准时采用更小的距离,则扫查时的距离不应超过该距离。

Ⅴ—1074 泄漏探测(检出)
注:采用检漏仪的(仪表、音响装置、指示灯)中一种或几种信号装置来指示泄漏检出。

Ⅴ—1075 流率(氦流量)
注:最小流率(可由示踪探头阀门调节)应如Ⅴ—1062 .2设置。

Ⅴ—1080 评定
Ⅴ—1081 泄漏
注:除本规范有关卷另有规定之外,若检出的泄漏率不超过1×10-6Pa•m3/s的允许漏率,则该被检测的区域应可验收。

Ⅴ—1082 返修/复检
注:当检测出不能验收的泄漏时,应标出泄漏位置,然后将被检件降压,按相关产品设计文件或采购技术条件的规定返修泄漏处。

所有经返修的区域,应按要求重新检测。

八、附录Ⅸ氦质谱仪试验——护罩技术
Ⅸ—1010 适用范围
注:适用于氦质谱法用充氦护罩对抽空部件进行检漏的技术。

护罩技术是一种定量测量技术。

Ⅸ—1020 总则
注:书面规程要求
规定了护罩技术书面规程要求和规程鉴定要求。

书面规程要求见T—1021.1和表Ⅸ—1021。

表中列出了:五项重要变素,设备制造和型号、表面制备技术、受检部件金属温度、确定护罩中示踪气体最小浓度的技术、人员技能鉴定;四项非重要变素,护罩材料、真空泵系统、试验后的清理技术和人员鉴定要求。

此外还规定了下列规程要求:
(a) 设备泄漏标准(检漏仪标准漏孔漏率);
(b) 系统泄漏标准(检测系统标准漏孔漏率);
(c) 真空计量;
(d) 验收标准。

上述规程鉴定的要求应按第10章总则的规定处理。

Ⅸ—1030 设备
注:关于氦质谱检漏仪的要求与上述附录Ⅳ或附录Ⅴ一样。

关于辅助设备同样有对
(a) 稳压器;(b) 辅助泵系统;(c) 集流腔;(d) 护罩;(e)真空计等项要求。

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