芯片测试报告范文

Power bank 2000-4000 芯片测试报告

目的：鉴于原power bank2000-4000 芯片的输出电流不能满足不断升级、更新手机的需求，继而寻找高电流出去芯片，代替原有芯片，特针对此芯片芯片进行测试，为今后的更改做好铺垫 。

测试工具：电子负载、稳压电源、万用表、电子温度计、数字电流表。 测试内容：

1、输出电流不断上升，输入电压不断下降的状态下，输出效率变化分布；

2、输入为恒压的状态下，不断的提高输出电流，输出效率的变化；

3、输出电流不断上升时，芯片发热温度 变化；

测试方案：

1 、控制输出电流从0.3A-1.9A 逐一递升变化（每0.1A ）；稳压电源输出为4V ，以实际电路输入电压为准，并读取电子负载上的显示参数（输出电压、电流）；

输入电压

U1

输入电流 I1

错误！未找到引用源。 2、控制输出电流从0.3A-1.9A ，不断调整输入电压，使之为定值错误！未找到引用源。 ，并读取电子负载上的显示参数（输出电压、电流）；

3、控制输出电流从0.3A-1.9A 逐一递升变化（每0.1A）；芯片等周围部件的温度变化；

测试数据：

1、输出电流不断上升，输入电压不断下降的状态下，输出效率变化分布；

2、恒压下的效率变化；

✧输入3V恒压时，随电流的上升，转换效率的变化情况

✧输入3.7V恒压时，随电流的上升，效率的变化情况

输入4V恒压时，随电流的上升，效率的变化情况

3、常温下，输出电流不断上升时，芯片发热温度变化