德国Mahr 薄膜测厚仪C1208M标准配置

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

Mahr薄膜测厚仪C1208M(P2004M)

一、Mahr Millimar薄膜测厚仪配置

Mahr Millimar薄膜测厚仪C1208M包含:

1.显示器Millimar C1208M(分辨率:0.1um)

2.电感测头P2004MA

3.脚踏提升器1340/1F

4.小型比较仪座820N

5.大球面测帽

6.Mahr Millimar薄膜测厚仪专用统计分析软件

二、Mahr Millimar C1208M薄膜测厚仪应用范围

Mahr Millimar C1208M薄膜测厚仪主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片等各种材料的厚度精确测量。广泛应用于薄膜生产企业、质检机构、研究院校等对薄膜厚度有严格要求的领域。

Mahr Millimar C1208M薄膜测厚仪可实现4000μm量程范围内的测量,测量分辨率可达0.1μm。

电感测头P2004MA可根据需要更换测量弹簧,有0.25N、0.5N、1N、1.25N、1.5N的测力弹簧可供选择,实现不同软硬材料薄膜的准确测量。

Mahr Millimar C1208M薄膜测厚仪可连接计算机,通过在计算机中安装Mahr Millimar薄膜测厚仪专用统计分析软件,可实现测量数据手动·自动采集,曲线图形统计分析,最大值,最小值,平均值,偏差值的统计分析等,可满足高频率测量,便于在计算机中保存及打印测量数据。

•可通过SELECT键直接调用最常用的设置项目

•静态测量±A、±B及其所有组合

•动态测量:Max,Min,Max-Min,Max+Min,均值

•自动侦测模式,可连接两个测量仪(电感测头)

•可由按键或通过RS232连接至基于MS-Windows的设置软件来对仪器进行设置

显示

•带背光的LCD显示屏,带有一模拟显示和两行数字显示

•五个三色状态灯用于报警和公差指示

•最多可同时显示两个特性

连接

•2个电感测头

•RS232接口

•3个数字输入针脚,用于测量启动,标准测量,测量数据传输...

•3个数字输出针脚,用于GO,NOGO,返工,测量时间...

•标准配置:操作说明书和电源适配器

型号Millimar(马尔)C1208M

显示屏带背景灯LCD,115mm x70mm

模拟刻度指针式,61格

量程和文本显示7位数显示LCD,5×7点矩阵,字母-数字

测量数据显示7位数字显示LCD,7段

公差显示5个LEDs,3色

量程显示±3,10,30,100,300,1000,3000,10000μm

响应时间测量范围(mm)分辨率(μm)测量结果存储0.010s4000(±2000)0.1

数值显示0.100s400(±200)0.01

模拟显示0.100s温度系数0.005%/°C 输出0.020s操作温度0°C to45°C 接口

电脑,打印机RS232,9阵,针插座(与PC兼容)

-控制输出3个开关信号输出24V,100mA

-控制输入3个开关信号输入24V,10mA

极限误差

-10x模拟显示 2.5%

-数字显示0.3%(最小.0.2μm)

耗电量10VA

通过主电源供电100V至240V,47Hz至63Hz

防护等级IP54,在有传导灰尘下IP43

外壳尺寸(H x W x D)约205mm x160mm x165mm

重量约 2.1kg/4.6lbs

五、电感测头Millimar P2004MA技术参数

型号Millimar(马尔)P2004MA电感测头测量范围±2mm提升/回退真空提升

上限位-2.2~0mm重复性误差f w0.1μm

下限位﹢2.2~4.4mm滞后性误差f u0.5μm

电子零点处的测

0.75N±0.15N灵敏度经过修正后的线性误差

灵敏度误差0.3%在±0.1量程内—

测力增量0.2N/mm在±0.5量程内0.4μm

防护等级IP64在±1.0量程内 1.5μm

缆线长度 2.5m在±2.0量程内 3.0μm

防护等级DIN VDE0470IP64

六、Mahr Millimar薄膜测厚仪专用统计分析软件

软件运行显示界面如下:

Mahr Millimar薄膜测厚仪专用统计分析软件是特别为薄膜行业开发的统计分析软件,可实现测量数据手动·自动采集,曲线图形统计分析,最大值,最小值,平均值,偏差值的统计分析等,便于在计算机中保存及打印测量数据,是薄膜测量过程中不可或缺的统计分析工具。

相关文档
最新文档