现代材料检测+第五章+多晶体物相分析2011-03-08
多晶体物相分析
粉晶X射线物相的定性分析是根据晶体对X射线的 衍射特征-衍射线的方向和强度来鉴定结晶物质。
当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独 特的衍射花样,它们的特征可以用各个反射面的晶 面间距d(与晶胞的大小和形状)和反射线的相对强 度I/I1(与质点的种类及其在晶胞中的位置有关)来 表征(I是同一结晶物中某一晶面的反射线强度,I1 是该结晶物质最强线的强度,一般把I1定为100。)
25
三 物相定性分析方法及步骤
物相定性分析的基本步骤: (1)制备待分析物质样品; (2)用衍射仪法或照相法获得样品衍射花样; (3)检索PDF卡片; (4)核对PDF卡片与物相判定。
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定性分析的方法
1)如待分析试样为单相:在物相未知的情况下可用 Hanawalt索引或Fink索引进行分析。
用数字索引进行物相鉴定步骤: 1 用照相法或衍射仪法获得试样的衍射谱 2 根据待测相的衍射数据,得出三强线的晶面间距
个字母顺序排列的; 数字索引以衍射线的d值为检索依据,按编排
方式的不同有哈氏索引和芬克索引。
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数值索引(或哈氏索引)
八强线按强度排d1,d2,…,d8,对应I1>I2 >…>I8
用最强三条线进行组合排列,每种物相在索 引中出现3次。
d1d2d3d4-d8
d2d3d1d4-d8 d3d1d2d4-d8
KMnCl3
18-1034 1-97-E12
○ 2.53x 2.88x 2.608 3.364 1.714 1.514 3.013 2.323 CaAl1.9O4C0.4 21-130 1-132-B12
★ 2.53x 2.88x 2.58x 2.777 1.665 1.432 1.952 1.542
第一篇5-物相分析
材料现代测试方法
X射线衍射物相分析
College of MSE, CQU
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材料现代测试方法
X射线衍射物相分析
芬克索引
芬克索引也是按d值的大小分组和排序,也是每行列出一种 物相的八根最强线的d值、卡片号和微缩胶片号。与哈氏索 引不同的是,它不是只按3强线的d值来分组和排序,而是按 8根强线的d值来分组和排序。这8根强线的d值均会排在首位 一次,每一物相可在索引中出现8次。在同一行中,它不是 按衍射线的强度大小排列,而是按d值递减的顺序排列。
X射线衍射物相分析
哈氏索引
I8
八强线按强度排d1,d2,…,d8,对应I1>I2>…>
用最强三条线进行组合排列,每种物相在索引中 出现3次。
d1d2d3d4-d8
d2d3d1d4-d8 d3d1d2d4-d8
哈氏索引按上述组合中的第一个d值分为若干组,
按d值范围从大到小依次排列,d值的数值范围写在 每一组的开头。
验者的经验有关。计算机自动检索可大大提高工作
效率,并且可以排除某些不必要的人为因素。
计算机自动检索的主要由建立数据库文件库和检
索匹配两部分组成。
MDI Jade软件目前在物相分析中得到广泛应用。
College of MSE, CQU
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材料现代测试方法
X射线衍射物相分析
College of MSE, CQU
College of MSE, CQU 12
材料现代测试方法
X射线衍射物相分析
(4) 晶体学数据
Sys.—晶系; S.G—空间群; a0、b0、c0,α、β、γ— 晶胞参数;
利用X射线衍射仪分析多晶体的物质相分析
实验报告课程名称:材料测试技术实验项目:用X-射线衍射仪进行多晶体物质相分析实验班级: 2012310204学号: 201231020414姓名:某某指导教师:某某某实验时间: 2015 年 11月 18日利用X射线衍射仪分析多晶体物质相分析一、实验目的概括了解X射线衍射仪的结构及使用。
二、X射线衍射仪简介传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。
自动化衍射仪是近年才面世的新产品,它采用微计算机进行程序的自动控制。
入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。
衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进入脉冲高度分析器。
操作者在必要时可利用该设备自动画出脉冲高度分布曲线,以便正确选择基线电压与上限电压。
信号脉冲可送至计数率仪,并在记录仪上画出衍射图。
脉冲亦可送至计数器(以往称为定标器),经微处理机进行寻峰、计算峰积分强度或宽度、扣除背底等处理,并在屏幕上显示或通过打印机将所需的图形或数据输出。
控制衍射仪的专用微机可通过带编码器的步进电机控制试样及探测器进行连续扫描、阶梯扫描,连动或分别动作等等。
目前,衍射仪都配备计算机数据处理系统,使衍射仪的功能进一步扩展,自动化水平更加提高。
衍射仪目前已具有采集衍射资料,处理图形数据,查找管理文件以及自动进行物相定性分析等功能。
物相定性分析是X射线衍射分析中最常用的一项测试,衍射仪可自动完成这一过程;首先,仪器按所给定的条件进行衍射数据自动采集,接着进行寻峰处理并自动启动程序。
当检索开始时,操作者要选择输出级别(扼要输出、标准输出或详细输出),选择所检索的数据库(在计算机硬盘上,存贮着物相数据库,约有物相46000种,并设有无机、有机、合金、矿物等多个分库),指出测试时所使用的靶,扫描范围,实验误差范围估计,并输入试样的元素信息等。
此后,系统将进行自动检索匹配,并将检索结果打印输出。
三、用衍射仪进行物相分析X射线是电磁波,入射晶体时基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉。
第五章 物相分析概论
第五章 物相分析概论
第五章 物相分析概论
1. 材料的相组成及其对性能的影响 2. 2. 物相分析的含义 3. 3. 物相分析的手段
1. 材料的相组成及其对性能的影响
相是指具有特定的结构和性能的物质状态。固 相、液相、气相和等离子相; 纯铁在加热过程 相 (铁素体), 相(奥氏体)和相(铁素体) 材料中原子的排列方式决定了晶体的相结构。 材料的物理、化学性能与材料中相组成有直接 的对应关系。 人们可以改变加工成形工艺及后续热处理来获 得不同的相组成,并实现可控的相变。
3.3 中子衍射 Nhomakorabea
二十世纪初发现中子。 三十年代发现中子散射现象。 二十世纪中期,建立核反应 堆提供稳定的中子源 八十年代散裂脉冲中子源提 供了更强的中子流。 1994年诺贝尔物理学奖授予 中子散射领域的代表人物C. G. Shull和 B. N. Brockhouse
中子衍射的特点
2. 物相分析的含义
物相分析是指利用 衍射分析的方法探 测晶格类型和晶胞 常数,确定物质的 相结构。 物相分析不仅包括 对材料物相的定性 分析,还包括定量 分析,和各种不同 的物相在组织中的 分布情况。
3. 物相分析的手段
3.1 x射线衍 3.2 电子衍射 3.3 中子衍射
3.1 x射线衍射
X射线和电子衍射的散射体是核外电子,散射强度与原子序数成 比例;中子受原子核的散射,与原子序数沒有确定的关系。 各同位素由于核大小和结构不同而具有不同的散射强度。 中子衍射有利于测定材料中轻原子的分布。 中子具有磁矩,是直接探测磁结构的唯一手段 中子穿透力强,
第五章 物相分析
目前已知的晶体物质已有成千上万 种。事先在一定的规范条件下对所 有已知的晶体物质进行X射线衍射, 有已知的晶体物质进行X射线衍射, 获得一套所有晶体物质的标准X 获得一套所有晶体物质的标准X射线 衍射花样图谱,建立成数据库。 衍射花样图谱,建立成数据库。 当对某种材料进行物相分析时, 当对某种材料进行物相分析时,只 要将实验结果与数据库中的标准衍 射花样图谱进行比对, 射花样图谱进行比对,就可以确定 材料的物相。 材料的物相。 X射线衍射物相分析工作就变成了简 单的图谱对照工作 图谱对照工作。 单的图谱对照工作。
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应用字母索引进行物相鉴定的步骤 根据被测物质的衍射数据, 1. 根据被测物质的衍射数据,确定各衍射 线的d值及其相对强度。 线的d值及其相对强度。 2. 根据试样成分和有关工艺条件,或参考 根据试样成分和有关工艺条件, 有关文献,初步确定试样可能含有的物相。 有关文献,初步确定试样可能含有的物相。 按照这些物相的英文名称, 按照这些物相的英文名称,从字母索引中找 出它们的卡片号, 出它们的卡片号,然后从卡片盒中找出相应 的卡片。 的卡片。 将实验测得的面间距和相对强度, 3. 将实验测得的面间距和相对强度,与卡 片上的值一一对比, 片上的值一一对比,如果某张卡片的数据能 与实验数据的某一组数据吻合, 与实验数据的某一组数据吻合,则待分析样 中含有卡片记载的物相。同理, 中含有卡片记载的物相。同理,可将其他物 相一一定出。 相一一定出。
符 合 较 好 的 一 些 物 相
物质 卡片号 实测数据 Cu-Be(2.4%) 9-213 Cu 4-836 Cu-Ni 9-206 Ni3(AlTi)C 19-35 Ni3Al 9-97
2.09 2.10 2.09 2.08 2.08 2.07
现代材料检测第五章多晶体物相分析2011-03-08PPT课件
❖ 每个条目占一横行。物相的英文名称写在最
前面,其后,依次排列着化学式,三强线的d
值和相对强度,卡片编号,最后是参比强度
(I/Ic)。
.
Hale Waihona Puke 304. 分析方法定性相分析一般要经过以下步骤: ❖ (1)获得衍射花样:衍射仪法。 ❖ (2)计算南间距d值和测定相对强度I/I1值
方法:
将实验测定的衍射花样与已知标准物质的衍射花样比较,
从而判定未知物相。
.
6
定性相分析的判据
❖ 通常用d(晶面间距 表征衍射线位置)和 I(衍射线相对强度) 的数据代表衍射花样。 用d-I数据组作为定 性相分析的基本判据。
❖ 定性相分析方法是将 由试样测得的d-I数据 组与已知结构物质的 标准d-I数据组(PDF 卡片)进行对比,以 鉴定出试样中存在的 物相。
③ 可能测到的最大面间距
.
15
④ 物相的化学式和英文名称。在化学式之后常 有一个数字和大写英文字母的组合说明。数 字表示单胞中的原子数;英文字母表示布拉 菲点阵类型:C—简单立方;B—体心立方; F—面心立方;T—简单正方;U—体心正方; R—简单菱方;H—简单六方;O简单斜方; Q—底心斜方;S—面心斜方;M—简单单 斜;N—底心单斜;Z—简单三斜。
❖ (3)对I3/I2>0.75和I2/I1≥0.75的相,以d1d2,
d1d3和d2d3的编排顺序出. 现三次。
26
Hanawalt索引说明(四)
❖ 1982年版本又作了进一步改进,它的编排规 则为:
❖ (1)所有的相最少都以的编排顺序出现一次;
❖ (2)对I2/I1>0.75和I3/I1 ≤0.75的相,以d1d2和 d1d3的编排顺序出现二次;
多晶型粉体的物相,各种晶型相对含量和粒度大小分析
现代测试分析技术结课论文材料制备的工艺使材料经常是各种晶体的混合,现要分析多晶型粉体的物相,各种晶型相对含量和粒度大小,请说明应使用什么分析方法及其基本原理,并详细说明分析过程。
材料制备的工艺使材料经常是各种晶体的混合,对于制备的多晶型材料,我们往往要分析其粉体的物相,各种晶型的相对含量和粒度的大小,这就需要应用不同的测试与分析技术来完成。
关键词:X衍射方法,差热分析,SEM, STM目录一、摘要 ....................................................................................................... 错误!未定义书签。
二、关键词 (2)三、多晶型材料的物相分析 (4)X衍射方法 (4)差热分析 (5)(1)、水 (6)(2)气体 (6)(3)变价 (6)(4)重结晶 (6)(5)晶型转变 (6)四、多晶型材料的粒度大小分析 (6)扫描隧道显微镜 (6)透射电子显微镜 (7)材料制备的工艺使材料经常是各种晶体的混合,对于制备的多晶型材料,我们往往要分析其粉体的物相,各种晶型的相对含量和粒度的大小,这就需要应用不同的测试与分析技术来完成。
多晶型材料的物相分析材料研究经常需要知道材料中包含几种结晶物质或某种物质以何种结晶状态存在。
材料中的一种物质称为一个相,试样中由各种元素形成的具有固定结构的化合物,称为物相,对于此类问题的研究此类问题称物相分析。
物相分析是指确定物质(材料)由哪些相组成(即物相定性分析或称物相鉴定)和确定各组成相的含量(常以体积分数或质量分数表示,即物相定量分析)。
对于多晶型材料的物相分析,我们常用的方法有X射线衍射的方法,电子衍射法,透镜观察法和差热分析法等,在这里简单说明一下X衍射方法和差热分析法。
X衍射方法任何一种结晶物质的衍射数据d和I/I1是其晶体结构的必然反映,即使该物质存在于混合物中,它的衍射数据也不会改变,因此可以根据它们来鉴定物质的晶相。
《材料现代分析方法》练习与答案
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B)A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C )A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称(A )A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(D)(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生俄歇电子、透射X射线、散射X 射线、荧光X射线、光电子、热、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是波长极短的电磁波也是光子束,具有波粒二象性性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。
习题1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
多晶体分析方法(材料分析方法)技术资料
第四章多晶体分析方法为了测得有用的衍射实验数据来进行晶体的组织结构研究,人们在实际工作中发展了许多衍射实验方法,而最基本的衍射实验方法有:粉末法、劳厄法和转晶法三种,表1给出了这三种衍射方法的特点。
由于粉末法在晶体学研究中应用最广泛,而且实验方法和样品制备简单,所以在科学研究和实际生产工作中的应用不可缺少,而劳厄法和转晶法主要应用于单晶体的研究,特别是在晶体结构分析中必不可少,在某些场合下是无法替代的方法。
粉末照相法是将一束近平行德单色X射线投射到多晶样品上,用照相底片记录衍射线束强度和方向的一种实验法。
照相法的实验主要装置为粉末照相机,而粉末照相机根据照相机种类的不同,有多种照相方法,其中最为常用德是德拜照相法,该粉末照相法有称为德拜法或德拜-谢乐法。
一、德拜-谢乐法德拜照相法的原理:(粉末照相法只是粉末衍射法的一种,作为被测试的样品粉末很细,颗粒通常在之间,每个颗粒又可能包含了好几颗晶粒,因此试样中包含了无数个取向不同但结构一样的小晶粒。
当一束单色X射线照射到样品上时,对每一族晶面(HKL),总有某些小晶粒的(hkl)晶面族恰好能够满足布拉格条件而产生衍射。
由于试样中小晶粒数目巨大,所以满足布拉格条件的晶面族(hkl)也较多,与入射线的方位角都是θ,因而颗看作是由一个晶面以入射线为轴旋转而得到的。
从下图中可以看到,小晶粒晶面(hkl)的反射线分布在一个以入射线为轴,以衍射角θ为半顶角的圆锥面上,不同晶面族衍射角不同,衍射线所载的圆锥半顶角不同,从而不同晶面族的衍射就会共同构成一系列以入射线为轴的同顶点圆锥,所以,当用围绕试样的圆筒形底片记录衍射线时,在底片上会得到一系列圆弧线段。
德拜粉末照相法底片实验数据的测量主要是测定底片上衍射线条的相对位置和相对强度,然后根据测量数据再计算出θhkl和晶面间距d hkl。
)图1 粉末衍射的谱线形成和照相法的谱线形成(1)由于粉末柱试样中有上亿个结构相同的小晶粒,同时它们有着一切可能的取向,所以某种面网(d hkl)所产生的衍射线是形成连续的衍射圆锥,对应的圆锥顶角为4θhkl。
现代材料分析方法(5-EBSD)
04
5-EBSD技术与其他分析方法的 比较
与传统EBSD技术的比较
分辨率提高
01
5-EBSD技术采用更先进的探测器,提高了空间分辨率和角度分
辨率,能够更准确地分析材料的晶体结构和取向。
速度更快
02
5-EBSD技术采用了更快的扫描速度和更高效的算法,能够在短
时间内完成大面积的材料分析。
更广泛的应用范围
现代材料分析方法(5-ebsd)
• 引言 • 5-EBSD技术原理及设备 • 5-EBSD在材料分析中的应用 • 5-EBSD技术与其他分析方法的比较
• 5-EBSD技术在材料科学研究中的意 义
• 展望与挑战
01
引言
目的和背景
1 2 3
揭示材料微观结构
5-EBSD技术能够精确测定晶体取向、晶界、相 分布等微观结构信息,为材料性能研究和优化提 供重要依据。
和强化提供重要信息,从而提高材料的综合性能。
为新材料设计和开发提供指导
发掘新材料潜力
通过5-EBSD技术对现有材料进行 深入研究,可以发现新材料的潜 力和优势,为新材料的设计和开 发提供启示。
指导新材料合成和
制备
结合5-EBSD技术和其他分析方法, 可以对新材料的合成和制备过程 进行精确控制,从而实现新材料 的定向设计和制备。
自动化和智能化
机器学习、深度学习等人工智能技术的引入将进一步提高EBSD的 自动化和智能化水平,减少人工干预,提高分析效率。
面临的挑战与问题
数据处理与解析
随着EBSD技术的发展,获取的数据量将不断增加,如何有效处理、 解析这些数据并从中提取有用信息是一个重要挑战。
复杂样品分析
对于复杂样品(如多相材料、非晶材料等),EBSD的分析难度将 增加,需要开发新的算法和技术以应对这些挑战。
材料分析与基础第五章多晶物相分析
5.2物相定量分析
• 1.基本原理
• 物相定量分析的任务:在完成被测物相定性分
析之后,利用试样中待测相衍射强度计算,分 析确定该物相体积百分比/重量百分比.
• 1)物相定量分析基本公式
• 根据衍射强度理论证明(复习)
•
衍R(射θ)=强I0度λ/3:2πIr=I.(0e.4A/m.2/cF4/)2..
简单立方:1:2 : 3 : 4 : 5 : 6 : 8 : ……..
体心立方:1 : 2 : 3 : 4 : 5 : 6 : 7 : 8 : ……
面心立方3 : 4 : 8 : 11 : 12 : 16 : 19 :20..
(2)非立方晶系:
例:四方晶系:l=0时,特征比:1 : 2 : 4 : 5 : 8 : 9 : 10其中2 : 4 : 5是关键整数值
• 物相:材料中由各种元素组成的具有一定结 构的化合物,包括单质和固溶体.
• 当晶体中成分不同,晶体结构不同,因而其 大小形貌以及物理性质不同的不同部分,称 为不同相,由多相物组成多相试样
5.1物相定性分析
• 1.理论基础(分析准备) • 1)每一种物质有它的 特定衍射的花样,多相物质
衍射花样是由各相物质衍射花样的迭加 • 2)X射线的衍射谱 ,是衍射强度I;入射角θ,晶面
• (2)利用8强线校对 • 5)确认:全部基本相符,确认 • 6)定性相分析流程图(见P43,图4—3)
• 5.分析实例 1)获得衍射谱 (P43,图4—4) 2)求出相应的d值,
依次排序
3)测量相对的强度 (I/I1)并列 出数据 表(见P44,表4—2)
• 4)检索PDF卡片(见P43)
• (1)先利用3强线的d __ I/I1关系检索 • (2)用8强线校对
材料方法-第五章
位。
三强线:能准确反映物质特
征,受试验条件影响较小。
最大面间距(jiān jù)
③最大面间距:为可能测到的最大面间距。
三强线栏
精品文档
24
④ 物相化学式及英文名称: 化学式后数字及大写字母,以表示不同相。 其中:数字-单胞原子数,英文字母-点阵类型(lèixíng)
; I / Icor--最强衍射峰强度与刚玉最强峰的比强度。
试验(shìyàn)条件栏
精品文档
26
⑥ 晶体学数据:其中 Sys.--晶系;如:Cubic:立方晶系。 S.G.--空间群符号; a0、b0、c0--单胞点阵常数; A=a0 / b0,C= c0 / b0 --轴比; α、β、γ:--晶胞轴间夹角; Z:单胞中的原子数;化合物是指单胞中的分子数目。 Dx --根据(gēnjù)X射线测量的密度
精品文档
➢ 1941年,由美国材料试验(shìyàn)协会(ASTM)接管此工作,并 由粉末衍射标准联合委员会 (JCPDS)着手出版化合物的卡片 ,称为ASTM卡片。
➢ 后来,由美、英一些机构组成“粉末衍射法化学分析联合委员会” 主
持编辑,称为X射线衍射数据卡片及卡片索引。 ➢ 1957年,从第七组卡片始,改称X射线粉末数据文件及文件索引,并
➢ 金属材料:碳钢:为Fe-C合金,
更要了解在各种条件下,究竟是由哪些(nǎxiē)物相组成。 如:铁素体、渗碳体、奥氏体或其他物相?
精品文档
如:Al -Ti复合材料:有高温强度高、比重小、耐热等性能; 化学分析:Ti和Al元素; X射线(shèxiàn)衍射分析:可知TiAl,Ti3A1,TiAl3等中哪一化合物。 物质同素异构体:其他方法不能区分; 如:Al203各种结构已测定出就有14种以上。 可见:材料成分相同,在不同条件下,可由不同 “相” 组成,呈现出
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&2 物相的定性分析
1. 基本原理 2. PDF卡片 3. PDF卡片索引 4. 分析方法 5.计算机自动检索
1. 基本原理
目的:
判定物质中的物相组成
粉末晶体X射线物相定性分析是根据晶体对X射线的衍射特征即衍射线 的位置及强度来达到鉴定结晶物质的目的
原理:
1)结晶物质有自己独特的衍射花样(d 和θ和 I),特定 晶体结构与衍射花样一一对应; 2)多种结晶状物质混合或共生的衍射花样也只是简单叠加, 互不干扰,相互独立。
Hanawalt索引说明(一)
每个条目中,衍射线的相对强度分为10个等级,最 强线为100用×表示,其余者均以小10倍的数字表 示,写在面间距d值的右下角处。 参比强度I/I是被测相与刚玉按11重量配比时,被测 相最强线峰高与刚玉最强线峰高之比。
Hanawalt索引说明(二)
整个手册将面间距d值,从大于10.00到1.0A分成 45组(1982年版本)。 每组的d值连同它的误差标写在每页的顶部。每 个条目由第一处面间距d1值决定它应属于哪一组。 每组内按d2值递减顺序编排条目,对d2值相同的 条目,则按d1值递减顺序编排。 不同的d值对应误差:
Hanawalt索引说明(三)
1980年版本编排规则为: (1)对I3/I2≤0.75的相,以d1d2的编排顺序出 现一次; (2)对I3/I2>0.75和I2/I1<0.75的相,以d1d2和 d1d3的编排顺序出现二次; (3)对I3/I2>0.75和I2/I1≥0.75的相,以d1d2, d1d3和d2d3的编排顺序出现三次。
右上角的符号标记表示:*—数据高度可靠; i—已指标化和估计强度,但可靠性不如前者; O—可靠性较差;C—衍射数据来自理论计算。
⑤
试验条件 Rad.—辐射种类(如Cu Kα);λ—波长;Filter—滤 波片;Dia.—相机直径;Cut off—相机或测角仪能测得的 最大面间距;Coll—光阑尺寸;I/I1—衍射强度的测量方法; d corr.abs.?—所测值是否经过吸收校正;Ref—参考资料
Filter Coll. d corr.abs.?
3
S.G. c0 γ Z A C
4
nωβ D mp eγ Color Sign
9
9
5 6
NaCl衍射图谱
PDF NaCl
05-0628
2). PDF卡片结构图
3). PDF组成
①
卡片序号
组号-卡片在组内的序号
②
衍射花样中三条最强衍射线对应的面间距, 各衍射线的相对强度,其中最强线的强度 为100.
多晶体的物相分析
& 1 概 述
定性分析:确定物相 定量分析:确定物相的含量(衍射线条的位 置和强度)
X射线物相分析
利用X射线衍射的方法对试样中由各种元 素形成的具有确定结构的化合物(物相), 进行定性和定量分析。 X射线物相分析给出的结果,不是试样的 化学成分,而是由各种元素组成 的具有固 定结构的物相。
两 类: 以物质的名称为索引(字母) 以d值为索引
Hanawalt无机相数值索引
数值d索引卡片的样式如下:
Hanawalt无机相数值索引
索引的编排方法是:每个相作为一个条目, 在索引中占一横行。每个条目中的内容包括: 衍射花样中八条强线的面间距和相对强度, 按相对强度递减顺序列在前面,随后,依次 排列着,化学式,卡片编号,参比强度 (I/Ic)。 索引说明:
⑥
晶体学数据 Sys.—晶系;S.G—空间群;a0、b0、c0,α、β、 γ—晶胞参数;A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原子或分 子的数目; Ref—参考资料。
⑦
物相的物理性质(光学性质)εα、nωβ、εγ—折射 率;Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D—密度; mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料。
无机相字母索引
字母索引卡样式:
无机相字母索引
这种索引是按照物相英文名称的第一个字母 为顺序编排条目。 每个条目占一横行。物相的英文名称写在最 前面,其后,依次排列着化学式,三强线的d 值和相对强度,卡片编号,最后是参比强度 (I/Ic)。
4. 分析方法
定性相分析一般要经过以下步骤: (1)获得衍射花样:衍射仪法。 (2)计算南间距d值和测定相对强度I/I1值 ( I1为最强线的强度):定性相分析以2 θ <90°的衍射线为主要依据。 (3)检索PDF卡片:人工检索或计算机检索 (三强线)。 (4)最后判定:判定唯一准确的PDF卡片。
5. 计算机自动检索
计算机自动检索主要由建立数据文件库和检索匹配 两部分组成。 1. 建立检索匹配 2. 数据文件库
定性相分析流程图
CuSO4·nH2O at 50 °C and varying humidity
定性分析方法举例(-)
定性分析方法举例(二)
物相定性分析所应注意问题
(1)一般在对试样分析前,应尽可能详细地了解样品的来源、化学成分、 工艺状况,仔细观察其外形、颜色等性质,为其物相分析的检索工作提供 线索。 (2)尽可能地根据试样的各种性能,在许可的条件下将其分离成单一物 相后进行衍射分析。 (3)由于试样为多物相化合物,为尽可能地避免衍射线的重叠,应提高 粉末照相或衍射仪的分辨率。 (4)对于数据d值,由于检索主要利用该数据,因此处理时精度要求高, 而且在检索时,只允许小数点后第二位才能出现偏差。 (5)特别要重视低角度区域的衍射实验数据,因为在低角度区域,衍射 所对应d值较大的晶面,不同晶体差别较大,衍射线相互重叠机会较小。 (6)在进行多物相混合试样检验时,应耐心细致地进行检索,力求全部 数据能合理解释,但有时也会出现少数衍射线不能解释的情况。 (7)在物相定性分析过程中,尽可能地与其它的相分析结合起来,互相 配合,互相印证。
2. PDF卡片
1). PDF卡片简介; 2). PDF卡片结构图; 3). PDF卡片组成
1). PDF卡片简介
1938年,J.D.Hanawalt开始制备衍射数据卡片 1942年,ASTM卡片 1969年,“粉末衍射标准联合委员会”,编辑 和出版粉末衍射卡片,称为PDF卡片(The PowderLeabharlann Hanawalt索引说明(四)
1982年版本又作了进一步改进,它的编排规 则为: (1)所有的相最少都以的编排顺序出现一次; (2)对I2/I1>0.75和I3/I1 ≤0.75的相,以d1d2和 d1d3的编排顺序出现二次; (3)对I3/I1 >0.75和I4 /I1 ≤0.75的相,以d1d2, d2d1 和d3 d1的编排顺序出现三次; (4)对I4/I1 >0.75的相,以d1d2,d2d1 , d3 d1和 d4 d1的编排顺序出现四次;
方法:
将实验测定的衍射花样与已知标准物质的衍射花样比较, 从而判定未知物相。
定性相分析的判据
通常用d(晶面间距 表征衍射线位置)和 I(衍射线相对强度) 的数据代表衍射花样。 用d-I数据组作为定 性相分析的基本判据。 定性相分析方法是将 由试样测得的d-I数据 组与已知结构物质的 标准d-I数据组(PDF ( 卡片) 卡片)进行对比,以 鉴定出试样中存在的 物相。
⑧
试样来源、制备方式及化学分析数据有时亦注明 升华点(S.P.),分解温度(D.T.),转变点 (T.P.),摄照温度等。
⑨
d值序列。(衍射位置的先后顺序)
3. PDF卡片的索引
PDF卡片索引 PDF卡片索引 PDF卡片索引是一种能帮助实验者从数万张卡 片中迅速查到所需要的PDF卡片的工具书。由 JCPDS JCPDS编辑出版手册有: Hanawalt无机物检索手册; 有机相检索手册; 无机相字母索引; Fink无机索引; 矿物检索手册等品种。
③
可能测到的最大面间距
④
物相的化学式和英文名称。在化学式之后常 有一个数字和大写英文字母的组合说明。数 字表示单胞中的原子数;英文字母表示布拉 菲点阵类型:C—简单立方;B—体心立方; F—面心立方;T—简单正方;U—体心正方; R—简单菱方;H—简单六方;O简单斜方; Q—底心斜方;S—面心斜方;M—简单单 斜;N—底心单斜;Z—简单三斜。
Diffraction File)。
PDF卡片 卡片
10
PDF卡片形式 卡片形式
d I/I1
Rad. Dia. I/I1 Ref. Sys. a0 b0 Α β Ref. εα 2V Ref.
1a 2a
1b 2b
λ Cut off
1c 2c
1d 2d
7 dÅ
8 I/I1 hkl dÅ I/I1 hkl