电子能谱学

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电子能谱学原理

电子能谱学原理
A + hν → A+* + e− (分立能量) •光电离有别于光吸收或发射的共振跃迁。超过电离 的阈值能量的光子能够引起电离过程,过量的能量将 传给电子,以动能的形式出现。 •虽然光电离过程也是一个电子跃迁过程,但它有别 于一般电子的吸收和发射过程,它不需遵守一定的选 择定则,任何轨道上的电子都可以被电离。
l 只要光子能量足够大(hν > EB),就可发生光电离过程 M + hν → M+* + e−
l 由能量守衡: Ei(n) + hν= Ef(n-1,k) + EK
EK = hν − Etoft (n −1, k ) − Etiot (n)

EK = hν − EB
此即爱因斯坦光电发射定律。
其中结合能定义为:EB
或激发。电离过程是电子能谱学和表面分析技术中的主要过程之一。
1.1 光电离光电效应:
•1887年赫芝(Hertz)首先发现了光电效应,1905年爱 因斯坦应用普朗克的能量量子化概念正确解释了此一 现象,给出了这一过程的能量关系方程描述。由此贡 献爱因斯坦获得了1921年的诺贝尔物理奖。 •直接电离是个一步过程。
4f7/2 4f5/2 4d5/2 4d3/2 4p3/2 4p1/2 4s1/2
3d5/2 3d3/2 3p3/2 3p1/2 3s1/2
2p3/2 2p1/2 2s1/2
1s1/2
电子能级符号
N7 N6 N5 N4 N3 N2 N1
M5 M4 M3 M2 M1
L3 L2 L1
K
X射线能级符号
各状态电子数和相应的能级符号
1
0
1/2
K
2
0

电子能谱学第10讲紫外光电子能谱UPS教学课件

电子能谱学第10讲紫外光电子能谱UPS教学课件

综合分析题
题目
讨论UPS在材料科学中的应用。
答案
UPS在材料科学中广泛应用于研究材料的电 子结构和化学状态。通过测量材料的电子跃 迁能量和态密度,可以了解材料的费米能级 、能带结构、化学键合状态等信息,对于理 解材料的物理和化学性质、优化材料性能以 及开发新材料具有重要的意义。
THANKS
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区别
虽然UPS和UPS很相似,但它们的实验条件和应用范围有所不同。UPS通常使用紫外光作为激发源, 而UPS则使用X射线或电子束作为激发源。此外,UPS更常用于研究材料的价带结构和电子激发态, 而UPS则更常用于表面元素分析和化学态分析。
05
UPS技术前沿与展望
UPS技术发展现状
01
02
03
当前UPS技术已广泛应 用于物理、化学、材料 科学等领域,成为研究 物质结构和电子性质的
04
UPS与其他谱学技术的比较
UPS与XPS的比较
探测深度
UPS的探测深度比XPS更深,能够探测到样品表面下 几纳米深度的信息。
分辨率
UPS的分辨率比XPS更高,能够更准确地测量电子的 能量。
应用范围
UPS主要用于研究材料的价带结构,而XPS则更常用 于表面元素分析。
UPS与EELS的比较
能量分辨率
04
03
UPS实验技术与实践
UPS实验设备与操作流程
实验设备
UPS实验需要使用到紫外光源、电子能量 分析器、单色仪、样品台等设备。
VS
操作流程
首先,将样品放置在样品台上,并确保样 品表面平整、干净;然后,调整单色仪和 电子能量分析器的参数,使紫外光源发出 的光束通过单色仪,得到特定波长的光束 ;接着,将光束照射到样品上,激发出光 电子;最后,使用电子能量分析器对光电 子进行能量分析,得到光电子能谱。

电子能谱分析

电子能谱分析
电子能谱分析
第一章 X射线光电子能谱 第二章 俄歇电子能谱
固体表面的化学组成和体内不完全相同,甚至完全不同, 造成这种差别的原因主要有:
★ 表面原子(或离子)化学键部分断裂(悬挂键), 能量状态与体内不同;
★ 外来物在表面的吸附、污染; ★ 表面的氧化、腐蚀和摩擦; ★ 人为加工的表面,如离子注入、钝化和各种涂层。
1.1.2 信息能量
入射光子h与原子的某一内层电子产生非弹性散射时,其h能量将
消耗于以下几部分:
• 克服结合能Eb
• 逸出功s
• 转换为出射动能EK • 电子逸出表面时原子产生的反冲能Er • 可给出以下能量守恒关系:
h = Eb + EK + s + Er
由上述讨论可见:
• 当M>>m时,只要选择合适光束源,使光子能量h不太大,则可
因此,在实际应用中,人们要对材料和器件工作表面的 宏观性能做出正确的评价与理解,首先必须对各种条件下表 面的化学组成和化学状态进行定性和定量的测定和分析。
• 固体表面状态,包括表面成分、结构、配位、化学键性、 能带、电子态等等,对材料的许多物性以及相关的应用和 理论都有非常重要的意义。
• 人们早就十分关注固体表面问题,但一直受到实验手段的 局限,主要是缺乏在原子水平表征、研究材料成分、结构、 状态和性能的直接手段。
• 此时,忽略Er,则试样和谱仪壳材两者分别有以下能量关系:谱仪
逸出功 sp代替试样逸出功s:
试样谱仪未连接
试样谱仪连接
EKsp EK
EK + s = EKsp+ sp
EKsp
仪器的sp 是给定不变的, 可通过实测EKsp来求得试样的结合能Eb.

电子能谱学第讲紫外光电子能谱UPS-PPT精品文档

电子能谱学第讲紫外光电子能谱UPS-PPT精品文档

• 这两种技术的原理和仪器基本相同,主要区别在于,前考采用X 射线激发样品,后者采用真空紫外线激发样品. • 由于紫外线的能量比较低,因此它只能研究原子和分子的价电子 及固体的价带,不能深入原子的内层区域. 但是紫外线的单色 性比X射线好得多,因此紫外光电子能谱的分辨率比X射线光电 子能谱要高得多. • 这两方面获得的信息既是类似的,也有不同之处.因此在分析化 学、结构化学和表面研究已经材料研究等应用方面,它们是互相 3 清华大学化学系材料与表面实验室 补充的.
紫外光电子能谱的原理
• 最初紫外光电子能谱主要用来研究气体分子.近年来已越 来越多地用于研究固体表面.这两种测量的对象虽然不同, 测量的条件也略有差异(例如测量固体时要求获得更高的真 空度)。
• 但测量的基本原理都是基于Einstein光电方程,即Ek= hv—Eb.所以它与X射线光电子能谱的原理是相同的,但 是,由于紫外光只能电离结合能不大于紫外光子能量的外 壳层能级,因此对于气体分子而言,还必须考虑它被电离 后生成的离子的状态.
清华大学化学系材料与表面实验室 6
紫外光电子能谱的原理
1. 共有14个峰; 2. 对应于氢分子离子 的各个振动能级; 3. 各个峰之间的距离 与理论计算所得的 结果很一致. 4. 根据振动精细结构 可以得到氢分子离 子的振动频率. 5. 用高分辨的紫外光 电子能谱在个别情 况下已能显示出转 动结构
清华大学化学系材料与表面实验室 9
紫外光电子能谱的原理
1. 从该分子最高已占有的轨道激发出一 个电子以后生成的基态分子离子是AB +(X),从次高轨道激发出一个电子 以后生成的分子离子是AB+(A),AB+ (B)等.它们的相应的电离电位分别是 IP1,IP2, IP3. 这些离子可以有振动 态p=0,p=l,p=2等. 2. 按照Franck-Condon原理,电子跃迁 的过程是一个非常迅速的过程,跃迁 后电子态虽有改变,但核的运动在这 样短的时间内来不及跟上 3. 因此对于双原子分子来说,从基态分 子跃迁到与基态分子具有相同核间距 离的分子离子振动态的跃迁几率最大

电子能谱学笔记

电子能谱学笔记

电子能谱学电子能谱学的定义⏹电子能谱学可以定义为操纵具有必然能量的粒子〔光子,电子,粒子〕轰击特定的样品,研究从样品中释放出来的电子或离子的能量分布和空间分布,从而了解样品的底子特征的方法。

⏹入射粒子与样品中的原子发生彼此作用,经历各种能量转递的物理效应,最后释放出的电子和粒子具有样品中原子的特征信息。

⏹通过对这些信息的解析,可以获得样品中原子的各种信息如含量,化学价态等电子能谱学的应用⏹电子能谱学的应用主要在外表阐发和价态阐发方面。

可以给出外表的化学组成,原子摆列,电子状态等信息。

⏹对于XPS和AES还可以对外表元素做出一次全部定性和定量阐发,还可以操纵其化学位移效应进行元素价态阐发;操纵离子束的溅射效应可以获得元素沿深度的化学成份分布信息。

⏹此外,操纵其高空间别离率,还可以进行微区选点阐发,线分布扫描阐发以及元素的面分布阐发。

⏹这些技术使得电子能谱学在材料科学,物理学,化学,半导体以及环境等方面具有广泛的应用。

X射线光电子谱(XPS)—特点⏹XPS的主要特点是它能在不太高的真空度下进行外表阐发研究,这是其它方法都做不到的。

当用电子束激发时,如用AES法,必需使用超高真空,以防止样品上形成碳的沉积物而掩盖被测外表。

X射线比较柔和的特性使我们有可能在中等真空程度下对外表不雅察假设干小时而不会影响测试成果。

⏹此外,化学位移效应也是XPS法不同于其它方法的另一特点,即采用直不雅的化学认识即可解释XPS中的化学位移,比拟之下,在AES中解释起来就困难的多。

XPS-光电过程机理⏹光与物质的彼此作用⏹光电离激发过程⏹光电离几率⏹偶极发射和外表发射⏹光电子谱线的特点及暗示光线与物质的彼此作用:1、反射〔能量不损掉〕;2、吸收〔能量转化为热能〕;3、光电离〔转化为电子〕M + hV--M+ +e一般为单电子过程要光子能量足够,可以激发出所有轨道电子。

光电离过程:X射线光电子能谱基于光电离作用,当一束光子辐照到样品外表时,光子可以被样品中某一元素的原子轨道上的电子所吸收,使得该电子脱离原子核的束缚,以必然的动能从原子内部发射出来,变成自由的光电子,而原子本身那么变成一个激发态的离子光电离几率:1、对于每一种物质其光电离几率与很多因素有关:如激发光子能量,原子种类,原子状态等。

X射线光电子能谱学

X射线光电子能谱学
检测人体内的元素组成和分布 ,如骨密度、牙齿元素等。
X射线光电子能谱学的发展历程
1970年代
X射线光电子能谱技术诞生,初期主要用于表面科学 和材料科学领域。
1980年代
技术逐渐成熟,应用领域扩大到环境科学、生物学和 医学等领域。
1990年代至今
技术不断创新和发展,提高测量精度和灵敏度,拓展 应用范围。
公共安全监测
研究X射线光电子能谱学在爆炸物检测、毒品鉴定和食品安全等领域的应用,提高公共 安全监测的效率和准确性。
THANKS
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多元素同时分析的技术突破
总结词
多元素同时分析技术是X射线光电子能谱 学的另一个重要发展方向,对于复杂样 品和多元素体系的研究具有重要意义。
VS

详细描述
传统的X射线光电子能谱学分析通常只能 针对单一元素进行分析,无法满足多元素 同时分析的需求。为了解决这一问题,需 要发展多元素探测技术和谱图解析方法, 提高多元素同时分析的准确性和可靠性。
空间分辨率
优化实验条件,提高空间分辨率,以便更准确地分析样品表面形 貌和元素分布。
数据处理与分析方法
数据预处理
对实验数据进行整理、去噪和校准,以提高 数据的准确性和可靠性。
定量分析
根据光电子的强度和能量分布,计算样品中 各元素的含量和比例。
定性分析
通过对比已知标准谱图,确定样品中的元素 组成。
表面形貌分析
03
CATALOGUE
X射线光电子能谱学的实验技术
样品的制备与处理
01
02
03
样品选择
根据研究目的选择合适的 样品,确保样品具有代表 性。
样品处理
对样品进行适当的预处理 ,如干燥、研磨、纯化等 ,以获得最佳实验效果。

电子能谱学第11讲低能离子散射谱(ISS)

电子能谱学第11讲低能离子散射谱(ISS)
清华大学化学系材料与表面实验室 14
• 基本原理已知质量m1和能 量E0的一次离子入射到样 品表面(靶原子质量m2)后, 在固定散射角处测量弹性 散射后的一次离子的能量 分布(E1)。 • 此过程遵从两体刚性球的 弹性碰撞原理
ISS原理
清华大学化学系材料与表面实验室
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离子散射原理
• 低能离子散射谱上一些突出的峰是由入射离子和单个晶 格原子之间的简单双体碰撞形成的,靶子晶格起的作用 很小或根本不起作用。
• 从此以后,ISS开始成为一种表面分析手段;
清华大学化学系材料与表面实验室 3
ISS概念
• 在离子同固体表面的相互作用下,若检测的粒子是经表面 碰撞后背散射出来的入射离子,测量它们碰撞后损失的动 能,可获得有关表面原子的种类及晶格排列等信息。
• 当入射离子能量较低时(离子动能为100电子伏至几千电子 伏),可以得到低能离子散射增(ISS);
清华大学化学系材料与表面实验室
30
入射离子及其能量的选择
• 入射离子选用惰性气体离子(如He+、Ne+、Ar+等) 时,具有中和化几率高的特点。为了得到合适信号, 必须有较大的束流(1013~1014离子/cm2)。
• 要进行真正的单层检测必须使用能量较低的入射离 子,这还可减弱溅射效应。但是入射离子能量也不能 过低,否则散射效应减弱。
3. 当继续增大灯丝电流和增加中和 低能电子时,溅射二次离子峰和散 射的He+离子峰不再移动,见图1 c
1KeV He+离子在Ag箔上的离子散射谱 a)接地 b)样品不接地c)样品不接地同时使用电子中和枪
清华大学化学系材料与表面实验室 28
表面成分分析
• Smith发现,散射产额和覆盖率之间有线性关系。

电子能谱学和电子动量谱学

电子能谱学和电子动量谱学

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三、光电子能谱和电子束电子能谱


EELS主要通过测量入射电子散射后的能量损 失——激发态结构 ES(电子能谱electron spectroscopy)主 要通过研究电离过程——探测出射电子—— 电离信息(能量分布、强度、角分布)—— 样品的组成和原子分子的电子结构
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入射粒子可以是光子,也可以是电子。目前应用 最多的是PS(photoelectron spectroscopy)
r处电场强度:
电子通过能:
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一般轨迹方程:
10
当 很小时,同一能量不同入射角(入射半张角和极 角)的电子最终会聚焦在出口同一点,可实现二维的 点对点的聚焦,有较高的传输率
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电子能谱的获得


单点式扫描测量:在出口中心轨道处放置通道电子 倍增器扫描补偿电压 多道能谱测量:在出口狭缝处放置位置灵敏探测器
低能量分辨时,筒镜分析器的灵敏度高 能量分辨率提高后,半球分析器的灵敏度高
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二、电子能量损失谱方法 (Electron Energy Loss Spectroscopy)
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碳原子的1s电子电离能为285eV。如果285eV的 动能损失被探测到,则材料中存在碳元素 EELS也可以用来测量薄膜厚度。
波恩近似下,只与靶粒子本身的性质有关, 与入射粒子的能量无关
43
量子数亏损
44
贝特面
贝 特 脊
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当K很小时,原子分子跃迁类似光学吸收 广义振子强度 光学振子强度
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二、光学振子强度
绝对光学振子强度代表了电子跃迁概率
光谱学的研究重点在于确定跃迁能量


绝对测量的困难(如很难准确获得作用区的原子分子 绝对数目和光子强度) 真空和软X射线范围内光谱定量测量的困难 许多光学方法在技术上十分复杂或受到很多限制

能谱和电子能谱

能谱和电子能谱

提高电子能谱应用范围的建议
优化电子能谱仪器的设计,提高其稳定性和准确性 深入研究电子能谱的理论基础,进一步揭示其内在规律 开发新型电子能谱技术,拓展其在不同领域的应用 结合其他谱学方法,优势互补,提高分析效果
感谢您的观看
汇报人:XX
校正方法:常用的校正方法包括能 量校准、荷电效应校正、背景校正 等,这些方法可以有效提高电子能 谱的精度和可靠性。
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误差来源:误差主要来源于仪器本 身、实验条件以及样品处理等,可 以通过校准和标准化等方法减小误 差。
应用范围:电子能谱广泛应用于材 料科学、环境科学、生物学等领域, 对于研究物质结构和化学性质具有 重要意义。
克服电子能谱局限性的方法
改进实验条件:优化实验参数,提 高实验精度和稳定性
发展新型电子能谱技术:如光电子 能谱、低能电子能谱等,拓展应用 范围和测量深度
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结合其他谱学方法:如质谱、光谱 等,进行综合分析,提高分辨率和 准确性
建立理论模型:结合量子化学计算 方法,模拟和预测电子能谱行为, 为实验提供理论指导
产生原理:利用高能电子与物质相互作用,产生 特征X射线或俄歇电子等信号
产生过程:高能电子撞击物质原子,使其 内层电子跃迁至较高能级,外层电子跃迁 至较低能级,释放出特征X射线或俄歇电 子等信号
产生意义:在材料科学、化学、生物学等领域具 有广泛应用价值
电子能谱的测量方法
电子能谱仪的基 本构成
电子能谱的测量 原理
电子能谱与其他谱学技术的结合
电子能谱与X射线谱学技术结合,实现更准确的元素分析和化学态分析 电子能谱与光电子能谱技术结合,拓展了研究范围并提高了分辨率 电子能谱与质谱技术联用,为复杂样品分析提供了新的解决方案 电子能谱与红外光谱技术结合,实现了对固体材料表面结构的深入探究

电子能谱学第讲低能离子散射谱(ISS)

电子能谱学第讲低能离子散射谱(ISS)
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• 基本原理已知质量m1和能 量E0的一次离子入射到样 品表面(靶原子质量m2)后, 在固定散射角处测量弹性 散射后的一次离子的能量 分布(E1)。
• 此过程遵从两体刚性球的 弹性碰撞原理
ISS原理
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离子散射原理
• 低能离子散射谱上一些突出的峰是由入射离子和单个晶 格原子之间的简单双体碰撞形成的,靶子晶格起的作用 很小或根本不起作用。
• 在低能离子散射中,最常用的惰性气体是氦、氖或氩。离 子源处于正加速电位。离子由一个负偏置电极通过一个小 光阑从离子源取出,再通过透镜系统形成离子束。
• 在表面分析中离子源的重要参数有:(1)能量分散不应大于 几伏;(2)从离子源得到的离子流最少几微安(3)发散角为小 于1度。(4) 气体向离子源的泄漏要能精确控制,供给电 子的灯丝要便于更换,这些因素都很重要。
• • n0是测量期间打到靶上的粒子数,n是散射粒子数,
N是可达深度内的靶原子密度,其它量的定义同前。 在此方法中,N只限于可达到的深度(即一两个原子层)
20
• 通过低能散射进行化学成分分析时,经常使用 从玻尔屏蔽库仑势函数导出的截面。此势函数 表达为:
• 式中r是原子核间的距离,a是电子的屏蔽长度。 a=0.53埃,是氢原于的第一玻尔轨道半径。 由它们可以方便地求出散射截面。
度与表面覆盖率也有线性关系。 • 从这种线性关系得出的结论是,在此范围内,中和效
率与覆盖率无关。据报道,硫和氧吸附于镍上其探测 极限为10-3到10-4单层。
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1. 硫/镍峰值比与硫 的覆盖率的关系
2. 覆盖率与ISS结果 有线性关系
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入射离子及其能量的选择
• 入射离子选用惰性气体离子(如He+、Ne+、Ar+等) 时,具有中和化几率高的特点。为了得到合适信号, 必须有较大的束流(1013~1014离子/cm2)。

X射线光电子能谱学

X射线光电子能谱学
目前发展趋势 可以分析小范围的样品,适合微区分析和
选点分析,线扫描分析; 具有较高的空间分辨率(1mm-25微米) 荷电问题较小,可以测定绝缘体材料; 对样品的损伤小;
成像XPS
给出的是元素分布像 可给出元素化学成份像 可进行显微分析 25微米-10微米
35微米空间分辨率以及2eV的能量分辨率
4 多重劈裂
当价电子壳层内有一个或多个自旋未配对的电子, 而光电离发生在另一壳层时,会发生谱峰的多重劈裂。 这种情况主要发生在过渡族和稀土金属,因为它们具 有未填满的d层和f层。若满壳层发生光致电离产生一 个空穴,对应于无藕合自旋的两个轨道将发生祸合, 导致能级劈裂。当自旋未配对的电子具有同样的主量 子数n时,这种多重劈裂往往最为明显。例如,Fe203 中的Fe 3s线劈裂成为双线,彼此隔开7.3 eV。然而, 在Fe 2p3/2谱峰中劈裂的各次峰的能量太靠近,因而 不能分开。多重劈裂还会引起谱峰的非对称性,并使 周期表上第一排过渡族金属的化合物的2P1/2与2P3/2之 间的距离改变。这一排过渡金属的3s双线的距离依赖 于其化学环境,因此多重劈裂有时可用来鉴别化合物。
此外,当样品的磁性很强时,还有可能使分析器 头及样品架磁化的危险,因此,绝对禁止带有磁 性的样品进入分析室。
一般对于具有弱磁性的样品,可以通过退磁的方 法去掉样品的微弱磁性,然后就可以象正常样品 一样分析。
离子束溅射技术
在X射线光电子能谱分析中,为了清洁被污染的 固体表面,常常利用离子枪发出的离子束对样品 表面进行溅射剥离,清洁表面。
Mg/Al双阳极X射线源
能量范围适中(1253.7和1486.7eV) X射线的能量范围窄(0.7和0.85 eV) 能激发几乎所有的元素产生光电子; 靶材稳定,容易保存以及具有较高的寿

电子能谱学第10讲紫外光电子能谱(UPS)

电子能谱学第10讲紫外光电子能谱(UPS)

• 推广的Huckel法可以提供与谱比较一致的结果.从头计算法 的结果可靠,但计算工作量很大,所以主要针对一些简单分
子.近似的自洽分子轨道法的计算比较简单(如CNDO),但所 得的结果与谱的符合程度差一些.
清华大学化学系材料与表面实验室
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简化的方法
• 采用简化的方法通常作下列假定:
(1)认为某些分子轨道定域在分子中的一个原子或原子团 上.例如,在HCl中可以认为谱中的一个峰是由氯3p孤 对电子轨道的电离作用产生的.
• 根据双原子分子的非谐振子 模型,分子离子的振动能等 于
• 其中v为离子态的振动量子数, h为普朗克常数,X是非谐振 常数,ω是振动频率
• k是振动的力常数,u是体系 的折合质量.在这里k是键强 度的量度.
清华大学化学系材料与表面实验室
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紫外光电子能谱的原理
• 假如电离时一非键电子被移去,键强度只改变一点,所 以k和ω以及振动能级之间的能量间距rc都几乎维持不变, 核间距离也将不受影响.
清华大学化学系材料与表面实验室
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谱带的形状和位置
• 如光电子来自非键或弱键轨道,分子离子的核间距离与中性分子的几 乎相同,绝热电离电位和垂直电离电位一致,这时谱图上出现一个尖 锐的对称的峰.在峰的低动能端还会存在一个或两个小峰。它们对应 于v=1,v=2等可能的跃迁,见I;
• 若光电子从成键或反键轨道发射出来,绝热电离电位和垂直电离电位 不一致,垂直电离电位具有最大的跃迁几率,因此谱带中相应的峰最 强,其它的峰较弱,见图5.4中的II和III.
杂的组合带,见谱带V清I.华大学化学系材料与表面实验室
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• 谱带的位置代表谱带的能 量,所以也代表分子轨道 的电离电位.

电子能谱学笔记

电子能谱学笔记

电子能谱学笔记电子能谱学是一种分析化学方法,用于表征原子、分子和固体材料中的电子结构。

本文将介绍电子能谱学的基本原理、仪器和应用。

一、电子能谱学的基本原理电子能谱学是通过测量电子的能量和角度分布来分析样品的化学组成和结构。

在这种分析中,样品通常被照射以产生束缚电子或自由电子,然后使用能谱仪来测量这些电子的能量和角度。

束缚电子是指原子或分子中由于化学键形成而束缚在原子核周围的电子。

自由电子是指没有被原子或分子束缚的电子,例如金属中的自由电子。

束缚电子和自由电子可以分别通过不同的电子能谱学技术来测量。

在电子能谱学中,常用的测量技术包括X射线光电子能谱(XPS)、紫外光电子能谱(UPS)和交换能电子能谱(ESCA)。

XPS技术利用X射线照射样品,使得样品中的束缚电子被激发到价带,然后用一个能谱仪测量其能量分布。

由于不同元素的束缚电子的能级不同,因此通过测量其能量分布,可以确定样品中元素的种类和相对含量。

此外,XPS还可以通过测量电子的波长分布来确定样品的化学状态。

UPS技术则是利用紫外光照射样品,使得样品中的价带电子被激发到导带。

测量激发电子的能量和角度分布可以确定样品中价带的能级结构和电子的壳层结构。

ESCA技术则是将样品置于真空中,并用一个电子枪向其表面发射高能电子,在电子碰撞表面原子或分子时,产生的光电子可以用能谱仪测量其能量分布。

相比于XPS和UPS,ESCA 可以测量更低的电子能级,因此对于金属和导体等样品的表面分析更加适用。

二、电子能谱学的仪器电子能谱学的仪器主要由以下组成部分:1. 光源:产生激发样品的电磁波,如X射线或紫外光。

2. 样品台:支撑待测样品,并能够控制样品的位置和角度。

3. 光电子能谱仪:通过收集光电子并测量其能量和角度分布来分析样品的电子结构。

4. 数据处理系统:对测量得到的数据进行分析和处理。

电子能谱学的仪器通常需要极高的真空度,以防止在测量过程中的气体干扰。

此外,为了提高测量的准确性和精度,电子能谱学仪器还需要具备高分辨率、高稳定性和高重复性等特性。

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Excitation source
Signal Detector Energy Selector Sample
图3 表面分析技术原理图
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e—电子,I—离子,γ —光子,n—中性粒子,AW—声波
7
e—电子,I—离子,γ—光子,n—中性粒子,AW—声波
8
e—电子,I—离子,γ—光子,n—中性粒子,AW—声波
图1 表面原子层示意图
4
定义二:广义地说,表面科学研究表面和与表面有关的过程,包括宏观的和微观的。然而,近二 十几年来,表面科学从原子水平来认识和说明表面原子的化学、几何排列、运动状态、电子态等 性质及其与表面宏观性质的联系,推动了基础研究和新技术的发展。 要研究表面就必须依靠实际测量来获取表面信息(见图2),表面分析技术就是研究表面的形貌、 化学组分、原子结构(即原子排列)、原子态(即原子运动和价态)、电子态(又称电子结构) 等信息的一种实验技术。它利用电子束、粒子束、光子束、中性粒子束作为探测束(或激发 源)—有时加上电场、磁场、热和机械的作用—来探测处于真空或超高真空中的样品,故又称真 空表面分析技术。
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(2)光电效应 原子中的电子被束缚在不同的量子化能级上。 原子吸收一个能量为hν的光子后可引起有n个电子的系统的激发,从初态-能量Ei(n)跃迁到终态离 子-能量Ef(n-1,k),再发射出一动能为EK的自由光电子,k 标志电子发射的能级。 只要光子能量足 够大(hν > EB),就可发生光电离过程:
图2 表面分析、薄膜分析和块体分析的研究区域
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表面分析方法的共同特征可以概括如下: 用一束“粒子”或某种手段作为探针来探测样品表面,这探针可以是电子、离子、光 子、中性粒子、电场、磁场、热或声波(机械力),在探针的作用下,从样品表面发射或 散射粒子或波,它们可以是电子、离子、中性粒子、光子、或声波,检测这些粒子的能量、 动量、荷质比、束流强度等特征,或波的频率、方向、强度、偏振等情况,就可以得到有 关表面的信息。一般,各种分析手段的目的和灵敏度不同,常把几种分析手段配合使用。 表面分析方法可按探测“粒子”或发射“粒子”来分类。 e—电子,I—离子,γ—光子,n—中性粒子,AW—声波
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2、弛豫过程 弛豫过程——二次过程(secondary process) 由电离过程产生的终态离子(A+*)是不稳定的,处于高激发态,它会自发发生弛豫(退激发)而 变为稳定状态。这一弛豫过程分辐射弛豫和非辐射弛豫两种,前者发射X荧光,后者发射 出俄歇电子。 (i) X荧光过程(辐射弛豫):处于高能级上的电子向电离产生的内层电子空穴跃迁,将多余 能量以光子形式放出。 A+*⎯→A+ + hν′ (特征X射线) (ii) 俄歇过程(非辐射弛豫): A+*⎯→ A++* + e−(Auger电子) 俄歇电子能量并不依赖于激发源的能量和类型。
这两方面获得的信息既是类似的,也有不同之处.因此在分析化学、结构化学和表面 研究以及材料研究等应用方面,它们是互相补充的。
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电子能谱分析理论基础
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一、原子能级及其表 示
1、原子壳层和电子能级轨道 物质是由原子、分子组成的,而 原子又是由原子核和围绕原子核作轨道运动 的电子组成的。电子在轨道中运动的能量是 不连续的、量子化的。电子在原子中的状态常 用量子数来进行描述。 主量子数 n =1, 2, 3, 4, …… 可用字母符 号K, L, M, N 等表示,以标记原子的主壳层, 它是能量的主要因素。角量子数 l =0, 1, 2, 3, …, (n-1),通常用 s, p, d, f 等符号表示,象 征电子云或电子轨道的形状,例如 s 为球形,p为哑铃形等,它决定能量的次要因素。总 角量子数 j,j=|l±s|,s为电子自旋量子数,s =1/2。一个电子所处原子中的能级可以用 n, l, j 三个量子数来标记(nlj)。 L-S耦合:较轻原子,电子间库仑作用大于L和S间相互作用。 J-J耦合:重原子,L和S间耦合作用大于电子间库仑作用。
电子能谱学
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目录
一、绪论 二、电子能谱分析理论基础 三、紫外光电子能谱
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绪论
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表面与表面分析
表面科学是一门近十几年迅速发展起来的边缘学科。它横跨传统的物理学、化学、材料科 学和生物学等领域。 定义一:物体和真空或气体的界面称表面。我们着重研究固体表面。固体表面一般指表面 的第一原子层或者几个原子层。固体表面的物理化学性质常常和体内不同,这是因为表面 是固体的终端。在热力学平衡的条件下,表面的化学组成、原子排列、原子振动状态等都 和体内不同。由于表面向外的一侧没有近邻原子,表面原子有一部分化学键伸向空间(形 成“悬挂键”),因此表面具有很活跃的化学性质(见图1)。固体内部三维周期势场在表 面中断,因此表面原子的电子状态也和体内不同。这些不同使表面具有某种特殊的力学、 光学、电磁、电子和化学性质。
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(4)电子电离
电子(几千电子伏以下)与物质的相互作用 电子和固体表面作用后,可从固体表面发射出:中性粒子、离子、光子和电子。 (1)从固体表面发射出的中性粒子主要是吸附在固体表面的原子和分子被电子脱附的结果, 如果这些中性粒子在脱附的同时又产生电离,就得到离子。 (2)光子的发射是固体原子内壳层的受激电子退激发的结果。 (3)从固体表面发射出来的电子则由背散射电子和二次电子组成。 (4)电子与固体表面作用后除了可从固体表面发射上述粒子外,还可能在固体表面产生等 离子激元(plasmon)、声子(phonon)、激子(exciton)等元激发过程。
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常用电子能谱符号表示方法 电子能谱测量的是材料表面出射的电子能量,所以必需要有一些规范来描述所涉及到的每 一个轨道跃迁电子。XPS中所用的符号表示与AES中的不同,XPS用所谓的光谱学符号标记, 而AES中俄歇电子则用X射线符号标记。 2、光谱学符号 在XPS中光电子是用其量子数来描述的,电子跃迁通常以nlj的方案来标记。在XPS谱图中 可观察到它们对应双重分裂峰,如2p1/2和2p3/2、3d5/2和3d3/2、4f5/2和4f7/2等等。对于 s电子,能级通常不会分裂,只能观察到单一谱峰,如1s1/2、 2s1/2等。
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光电子能谱学科的发展
一方面是Siegbahn等人所创立的X射线光电子能谱,主要用于测量内壳层电子结合能。 另一方面是Tunner等人所发展的紫外光电子能谱,主要用于研究价电子的电离电能。 这两种技术的原理和仪器基本相同,XPS采用X射线激发样品,UPS采用真空紫外线激 发样品.由于紫外线的能量比较低,因此它只能研究原子和分子的价电子及固体的价带, 不能深入原子的内层区域。但是紫外线的单色性比X射线好得多,因此紫外光电子能谱的 分辨率比X射线光电子能谱要高得多。此外,紫外光电子谱测定的实验数据,经过谱图的 理论分析,可以直接和分子轨道的能级、类型以及态密度等对照。因此,在量子力学、固 体物理、表面科学与材料科学等领域有着广泛地应用。
入射电子与物质的相互作用分弹性散射(Ep<500eV)和非弹性散射(Ep>1 keV)两种。 (1)电子与固体中的原子发生弹性散射时,原子内能不变,即原子不被激发,电子和原子 的总动能和总动量在散射前后保持守恒。 (2)在非弹性散射中,入射电子和表面原子相互作用后损失了部分能量,它将转化为等离 子激元激发、单电子激发、声子及表面振动的激发和连续X光激发等能量形式。
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电子能谱学的概念
电子能谱是多种表面分析技术集合的总称。电子能谱是通过分析各种轰击粒子(单能光子、电 子、离子、原子等)与原子、分子或固体间碰撞后所发射出的电子的能量来测定原子或分子中 电子结合能的分析技术。 现在最常用的电子能谱有以下几种: A.俄歇电子谱—Auger Electron Spectra,简写成AES; B.低能电子衍射—Low Energy Electron Diffraction,简写为LEED。若在常规的低能衍射中 用自旋极化电子束代替一般的低能电子束,则实现自旋极化低能电子衍射—Spin Polarized Low Energy Electron Diffraction,简写为SPLEED; C.光电子能谱——Photo-Electron Spectron,简写为PES。光电子谱中又分为X射线光电子 谱——X-ray Photoelectron spctra,简写为XPS。由于历史原因,该光电子谱常用于化学分析, 又称为化学分析电子谱——Electron Spectra for Chemical Analyses,简写为ESCA;真空紫 外光电子谱— Vacuum Ultraviolet Photoelectron Spectra,简写为UPS;同步辐射光电子谱— Synchrotron Radiation Photoelectron Spectra,简写为SRPES;激光光电子谱—Laser Photoelectron Spectra,简称为LPS。 D.离子散射谱—Ion Scattering Spectra,简称为ISS; E.电子能量损失谱———E1ectron Energy Loss Spectra,简称为EELS。
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三、结合能与化学位移
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(1)光电离 直接电离是一步过程。 A + hν ⎯→ A+*+ e−(分立能量) Ek = hν − EB 其中:A为原子或分子,hν是光子能量。 光子与物质原子(分子)碰撞后,将全部能量传给原子中的电子,而自身湮没,它是一个 共振吸收过程,满足条件hν=ΔE。 电离过程中产生的光电子强度与整个过程发生的几率有关,后者常称为电离截面ζ。一个 原子亚壳层的总截面ζnl与电子的主量子数n和角量子数l有关。
式中:−εn,l为(n,l)壳层电子的结合能,ε为光子动能,Rε,l±1是取决于束缚态和自由电子态波 函数的矩阵元。由此当n一定时,随l值增大,ζn,l也增大;当l一定时,随n值增大,ζn,l值变 小。
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