晶体光学实验(十五)石、十、绿、蓝、硬绿泥石等
单偏光镜下的晶体光学性质
N≈1.60-1.55±的矿物（云母、斜长石类等），约等于20°-10°.
由上可知：不同的矿物，当其折射率值相差较大时，虽具有相同组数 的解理，但因其解理可见临界角不同，在薄片中见到解理缝的机会是不同 的。如辉石解理常见,而斜长石解理就不常见。 同种矿物不同方向的切面，解理缝的可见性、宽度、组数也是不同的。 如角闪石虽具两组解理，但在薄片中，有些切面上只见一组解理缝，另一 些切面上则看不见解理缝，只有垂直Z轴或近于垂直Z轴的切面才可见到两 组解理缝。因此，在镜下观察矿物的解理时，切不可以个别或少数切面判 断矿物解理的有无、完善程度、组数，必须多观察一些切面，进行综合判 断。 此外，薄片中矿物还可能存在一些裂缝，裂缝一般表现为弯曲或不规 则的细缝，有时也可以较细密而平直，但其缝与缝之间的距离往往不等。 观察时应结合所具有的矿物学、结晶学知识来区别它们。
色光的混合一互补原理
矿片对白光中各种色光选择性吸收后所呈 现的颜色，遵循色光的混合-互补原理。如图 42所示：红、绿、蓝三种色光称原色光。 红光＋绿光＋蓝光＝（等比例混合）白光
红光＋绿光＝黄光；
红光＋蓝光＝品红光； 绿光＋蓝光＝青光（以等比例两两混合）。 若改变这三种原色混合的比例，则可产生 其它颜色的光。如红光多于绿光混合成橙光； 蓝光多于红光混合成紫光等。 当两种色光混合后呈现白色，则称这两种 色光为互补色光。红光与青光、绿光与品红光、 蓝光与黄光等都是互补色光。 因此，薄片中矿物呈现的特定颜 色，是透过矿片的色光按上述原则混 合的结果。例如矿物对白光中的黄光 全部吸收，对其它色光吸收程度相近， 矿物就呈现蓝色。
第四节
薄片中矿物的边缘、
贝克线、糙面及突起
一、矿物的边缘与贝克线
1、边缘 在两个折射率不同的物质接触处，可
晶体光学实验报告例文
一、实验目的1. 了解晶体光学的基本原理和实验方法。
2. 掌握晶体光学性质的测量方法，包括折射率、双折射率、光吸收等。
3. 通过实验，加深对晶体光学性质的理解，提高分析问题和解决问题的能力。
二、实验原理晶体光学性质是指晶体对光传播、折射、反射、吸收等现象的影响。
晶体具有各向异性，即在不同方向上的光学性质不同。
本实验主要研究晶体对光的折射、双折射和光吸收等性质。
三、实验仪器与材料1. 实验仪器：折射仪、双折射仪、光吸收仪、光学显微镜、光栅、光源等。
2. 实验材料：各种晶体样品、滤光片、透镜等。
四、实验步骤1. 折射率的测量（1）将晶体样品放在折射仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与折射仪的光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察折射仪的读数，记录晶体的折射率。
2. 双折射率的测量（1）将晶体样品放在双折射仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察双折射仪的读数，记录晶体的双折射率。
3. 光吸收的测量（1）将晶体样品放在光吸收仪的样品台上，调整样品台，使晶体表面与光束垂直。
（2）打开光源，调整光束，使其通过晶体样品。
（3）观察光吸收仪的读数，记录晶体的光吸收系数。
4. 晶体光学性质的观测分析（1）使用光学显微镜观察晶体样品的形态、结构等特征。
（2）根据实验数据，分析晶体的光学性质，如折射率、双折射率、光吸收等。
五、实验结果与分析1. 折射率的测量结果：实验测得晶体样品的折射率为n = 1.532。
2. 双折射率的测量结果：实验测得晶体样品的双折射率为δ = 0.018。
3. 光吸收的测量结果：实验测得晶体样品的光吸收系数为α = 0.002。
4. 晶体光学性质的观测分析：通过光学显微镜观察，发现晶体样品具有明显的双折射现象，说明晶体具有各向异性。
结合实验数据，分析晶体样品的光学性质，得出以下结论：（1）晶体样品的折射率较高，有利于光的聚焦和传播。
晶体光学实验指导书
晶体光学实验指导书赖健清编（地质工程专业A方向适用）中南大学地球科学与信息物理学院目录实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察 (1)一.目的要求 (1)二.实验内容 (1)实验二突起等级和多色性的观察 (3)一.目的要求 (3)二.实验内容 (3)实验一、二报告内容： (3)实验三干涉色级序特征的观察，矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定 (4)一．目的要求 (4)二．实验内容 (4)实验四干涉色级序及双折率的测定和双晶的观察 (5)一．目的要求 (5)二．实验内容 (5)实验三、四实验报告内容 (5)实验五一轴晶干涉图、二轴晶干涉图 (6)一．目的要求 (6)二．锥光镜下观察的操作程序 (6)三．实验内容 (6)实验六斜长石的牌码测定 (6)一、目的要求 (6)二、实验内容 (6)实验五报告内容 (9)实验六斜长石牌号的测定 (9)实验七主要造岩矿物的光性鉴定(一) (10)一．目的要求 (10)二．实验内容 (10)实验八主要造岩矿物的光性鉴定(二) (10)一、目的要求 (10)二、实验内容 (10)实验七、八主要造岩矿物的光性鉴定 (10)附：常见透明矿物光学性质（一） (12)常见透明矿物光学性质（二） (13)实验一偏光显微镜的调节和校正；解理的观察一.目的要求1．了解偏光显微镜的主要构造，装置，使用和保养方法。
2．学会偏光显微镜的一般调节和校正。
3．认识解理等级，测定解理夹角。
二.实验内容1．打开光源为了延长光源灯泡寿命，打开光源及关闭光源之前，务必确认光源强度调至．．．．．．最小．．．．．．．．．．．。
临时离开不必关闭光源开关，只需将光源．．。
永远不要把光源强度开至最大强度调至最小。
2．偏光显微镜的调节与校正1）调节照明2）调节焦距必须记住：通过下降物台来对焦．．．．．．．．．。
3）校正中心4）下偏光镜振动方向的确定和校正在单偏光镜下，找一具极完全解理的黑云母（12号薄片），置于视域中心。
实验观察晶体的颜色——《放大镜下的晶体》教案
实验观察晶体的颜色——《放大镜下的晶体》教案教案晶体在我们的日常生活中无处不在，比如糖果、盐等都是晶体。
晶体的美丽和神秘，一直吸引着人们的眼球。
那么，在化学实验中，我们如何观察晶体的颜色呢？一、实验背景晶体是分子的有序排列，具有制定的外形和晶面。
由于其分子排列的有序性，使得晶体具有多种颜色。
观察晶体的颜色可以了解晶体的成分和导致颜色的原因。
二、实验目的通过观察晶体的颜色，了解晶体的成分和颜色产生的原因。
三、实验内容1、实验器材：显微镜、玻璃板、滤纸、笔。
2、实验步骤：将晶体放在玻璃板上，用显微镜观察晶体的颜色并记录。
然后用滤纸擦净晶体，再次观察晶体的颜色，并记录。
反复观察多次，记录晶体的颜色变化。
分析颜色变化的原因和晶体的成分。
四、实验结果和分析在实验过程中，我们观察到晶体的颜色在不同的条件下会有所变化。
我们观察到晶体在干燥的情况下，颜色通常会比较深。
这是因为晶体在干燥的情况下会更加透明，从而更能吸收光线。
因此，干燥的晶体颜色会比较深。
我们观察到晶体在潮湿的情况下，颜色通常会比较浅。
这是因为潮湿的晶体表面会受到水分子的包围，使得其中的颜色分子无法充分吸收光线。
因此，潮湿的晶体颜色会比较浅。
接着，我们还发现，晶体的颜色还会因其化学成分而异。
比如，硫酸铜晶体通常呈现出蓝色，这是因为其中的铜离子与水的配合物吸收了红光和黄光，使得蓝色的光线透过。
而氯化钠晶体通常呈现出无色或白色，这是因为其分子吸收的光线与人眼无法感知的光谱一致。
我们还观察到了晶体颜色中的光学现象。
在显微镜下，当光线穿过晶体的表面时，会经历反射、折射、色散等现象，从而呈现出绚丽多彩的光芒。
观察晶体的颜色可以了解晶体的成分和导致颜色的原因，同时还可以欣赏到晶体的美丽和神秘。
五、实验总结通过观察晶体的颜色，我们了解到了晶体在不同条件下的颜色变化以及其中的化学机制。
这不仅帮助我们更好地理解化学知识，还增强了我们对晶体美丽和神秘的认知。
希望在以后的实验中，我们可以更加深入地了解晶体，探索其中的更多奥秘。
矿物晶体光学实训报告单
一、实训目的通过本次实训，掌握晶体光学的基本原理，熟悉偏光显微镜的使用方法，学会运用晶体光学原理鉴定矿物，提高观察和分析矿物晶体光学性质的能力。
二、实训时间2023年X月X日三、实训地点地质实验室四、实训内容1. 晶体光学基本原理（1）晶体的光学性质：透明、半透明、不透明。
（2）晶体的光性符号：正光性、负光性。
（3）晶体的光学各向异性：折射率、双折射率。
2. 偏光显微镜的使用（1）偏光显微镜的结构：光源、载物台、显微镜筒、物镜、目镜、调焦装置、光轴装置等。
（2）偏光显微镜的使用步骤：开启显微镜，调整光源，放置矿物样品，调焦，观察。
3. 矿物晶体光学性质鉴定（1）透明矿物：观察矿物的颜色、透明度、光泽等。
（2）半透明矿物：观察矿物的颜色、透明度、光泽、解理、断口等。
（3）不透明矿物：观察矿物的颜色、硬度、条痕、解理、断口等。
五、实训过程1. 按照实训指导书的要求，预习晶体光学基本原理。
2. 在指导老师的带领下，熟悉偏光显微镜的结构和使用方法。
3. 将矿物样品放置在载物台上，调整光源，观察矿物的晶体光学性质。
4. 对观察到的矿物晶体光学性质进行记录，并与理论知识进行对比分析。
5. 针对观察到的矿物晶体光学性质，分析矿物的成因、分布及用途。
六、实训结果1. 成功掌握了晶体光学的基本原理。
2. 熟练掌握了偏光显微镜的使用方法。
3. 学会运用晶体光学原理鉴定矿物。
4. 对矿物晶体光学性质有了更深入的认识。
5. 对矿物成因、分布及用途有了更全面的了解。
七、实训体会通过本次实训，我深刻认识到晶体光学在矿物学、岩石学等领域的重要性。
在实训过程中，我学会了如何运用晶体光学原理鉴定矿物，提高了观察和分析矿物晶体光学性质的能力。
同时，我也认识到矿物晶体光学性质鉴定在实际工作中的应用价值，为今后的学习和工作打下了坚实的基础。
八、实训建议1. 加强理论知识学习，提高对晶体光学原理的理解。
2. 多参与实训，熟练掌握偏光显微镜的使用方法。
晶体光学实验报告
晶体光学实验报告晶体光学实验报告引言晶体光学是研究晶体对光的传播和相互作用的学科，是光学领域的重要分支之一。
本次实验旨在通过实际操作，观察和研究晶体在光学方面的特性，并探索晶体光学的应用。
实验一：晶体的偏光特性在实验一中，我们使用了一块薄片状的晶体样品，通过调整入射光的偏振方向，观察晶体对光的偏振现象。
实验结果显示，当入射光的偏振方向与晶体的光轴方向垂直时，出射光完全消失，这种现象被称为偏光消光。
而当入射光的偏振方向与晶体的光轴方向平行时，出射光则不发生偏振现象。
通过这一实验，我们初步了解到晶体对光的偏振特性。
实验二：晶体的双折射现象在实验二中，我们使用了一块双折射晶体样品，通过观察入射光经过晶体后的出射光的方向和偏振状态，研究晶体的双折射现象。
实验结果显示，当入射光垂直于晶体的光轴方向时，出射光不发生偏振现象；而当入射光平行于晶体的光轴方向时，出射光则发生偏振现象。
这表明晶体对不同方向的光具有不同的折射率，从而导致了双折射现象的产生。
通过这一实验，我们深入了解到晶体的双折射特性。
实验三：晶体的光学轴在实验三中，我们使用了一块具有光学轴的晶体样品，通过观察入射光经过晶体后的出射光的方向和偏振状态，确定晶体的光学轴方向。
实验结果显示，当入射光平行于晶体的光学轴方向时，出射光不发生偏振现象；而当入射光垂直于晶体的光学轴方向时，出射光则发生偏振现象。
通过这一实验，我们成功确定了晶体的光学轴方向，并进一步认识到晶体在光学上的特性。
实验四：晶体的双折射角在实验四中，我们使用了一块双折射晶体样品，通过测量入射光和出射光的角度，计算晶体的双折射角。
实验结果显示，晶体的双折射角与入射光的偏振方向有关，当入射光平行于晶体的光轴方向时，双折射角最小；而当入射光垂直于晶体的光轴方向时，双折射角最大。
通过这一实验，我们进一步认识到晶体的双折射特性，并掌握了计算双折射角的方法。
结论通过本次实验，我们对晶体光学的基本特性有了更深入的了解。
晶体光学实验报告
（各位师弟师妹们，本文档仅供参考，请勿照抄，否则后果自负）【实验现象记录及分析】1.调节仪器：调节物镜，直至旋转载物台时玻片上的黑点对应于十字中心基本不变，这时说明载物台中心与物镜中心重合。
但是由于实验仪器本身的问题，实验过程中很难调节到黑点位置完全不变。
虽然这种情况会影响到观察锥光现象这一实验步骤时的实验现象，但因为不影响实验现象的本质，并且观测样品面积比较大，相对影响不大，故可忽略光路稍微不重合的影响因素。
2.调节偏光镜正交：即将上偏光镜调到0°，下偏光镜调节到90°。
可以观察到目镜内视野全暗。
a.将A4样品置于载物台上，通过目镜观察：视野变为黄绿色。
顺时针转动后出现四明四暗（四次全消光现象）现象，说明为各向异性介质。
暗点为：130.9°、219.5°、310.3°、40.5°。
可知各暗点之间的间距约为90°。
（对于明点，由于用肉眼很难判断视野达到最亮的位置，故无法记录明点的精确位置。
考虑到两个暗点的中点即为明点位置，故只需观察暗点位置即可。
）b. 将C样品置于载物台上，通过目镜观察：视野依然全暗。
转动载物台，视野保持全暗。
说明C样品为各向同性介质。
c. 将B样品置于载物台上，通过目镜观察：视野变为黄色光。
顺时针转动后出现四明四暗（四次全消光现象）现象，说明为各向异性介质。
暗点为：130.9°、219.5°、310.3°、40.5°。
可知各暗点之间的间距约为90°。
以上现象的理论基础是：A4样品和B样品为各向异性介质，因此光线在通过起偏镜后的偏振光在样品中分成o光和e光，并且在检偏镜的分量可以透过检偏镜并产生干涉。
合成光强为I =A2sin22αsin2d(n e−n o)λπ当а=0,π2,π,….时，I=0.视野全暗。
当а=π4,3π4,5π4,….时，I最大，视野全亮。
晶体光学与结晶矿物学实习指导
晶体的本质在于内部质点在三维空间作平移周期重复。空间格子是表示这 种重复规律的几何图形。兹以氯化铯(CsCl)的晶体结构(图 I-2)为例。在图 I-2a 中， 双圈与黑点分别表示 Cl-和 Cs+离子的中心。可以看出，无论 Cl-离子或 Cs+离子 在晶体结构的任一方向上都是每隔一定的距离重复出现一次。由此可见，相当点 的分布可以体现晶体结构中所有质点的平移重复规律。连结三维空间的相当点， 即获得空间格子，其一般形式如图 I-3 所示.
晶体光学与结晶矿物学 实习指导
邵磊 编
同济大学海洋与地球科学学院
2010 年 9 月
目
录
一、 教学大纲 二、 晶体的基本性质
三、偏光显微镜使用守则 实习一 晶体的对称型及晶族、晶系的确定 实习二 光率体与光性方位 实习三 偏光显微镜的调节与校正 实习四 偏光显微镜下晶体光学现象（一） 实习五 偏光显微镜下晶体光学现象（二） 实习六 正交偏光显微镜下晶体光学现象（一） 实习七 正交偏光显微镜下晶体光学现象（二） 实习八 锥光镜下晶体光学现象（一） 实习九 锥光镜下晶体光学现象（二） 实习十 矿物颗粒大小与百分含量测定 实习十一 造岩矿物系统鉴定（一） 实习十二 造岩矿物系统鉴定（二） 实习十三 造岩矿物系统鉴定（三） 实习十四 造岩矿物系统鉴定（四）
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五、斜交光轴切面干涉图 形象特点，干涉图区域的确定，光性正负的测定。 六、光轴角的测量 利用垂直光轴切面干涉图估算光轴角大小; 利用垂直锐角等分线干涉图测 定光轴角 实习九、一轴晶各切面干涉图及光性正负的测定 实习十、二轴晶各切面的干涉图及光性正负的测定 本章重点：1、光率体各方位切面的辩认；2、光性正负和光轴角的测定。
四、 暗色矿物 五、 长石类矿物 六、常见矿物鉴定特征
实验课-正交偏光镜下的晶体光学性质
准备实验器材
正交偏光镜
选择合适的正交偏光镜，确保 其偏振方向相互垂直。
光源
选择适当的光源，如激光或单 色光源，以提供单一波长的光。
晶体样品
选择透明、无裂纹、无气泡的 晶体样品，以便观察其光学性 质。
显微镜
选择高倍显微镜，以便观察晶 体结构和光学性质。
光屏和记录设备
用于记录观察到的光学现象和 测量数据。
实验结果2
通过观察不同角度下的干涉色变化，可以判断晶 体的对称性和晶系类型。
实验结果3
在特定条件下，晶体可以展现出明显的双折射现 象，证明其光学活性。
结果分析
01
02
03
分析1
实验结果与理论预期一致， 表明晶体具有高度的光学 各向异性。
分析2
通过观察干涉色和消光现 象，可以推断晶体内部的 结构特征和对称性。
晶体在正交偏光镜下的现象解释
当一束自然光通过正交偏光镜 后，变成线偏振光。
将此线偏振光通过晶体时，由 于晶体的双折射效应，会使得 两个振动分量产生不同的相移
。
在离开晶体后，线偏振光的振 动方向会发生旋转，旋转的角 度取决于晶体的类型和入射光 的波长。
通过测量旋转的角度，可以了 解晶体的光学性质。
03 实验步骤
学习正交偏光镜的使用
正交偏光镜是用来检测晶体双折射特 性的重要工具。通过学习如何正确使 用正交偏光镜，学生将掌握其基本原 理和使用技巧。
在实验中，学生将学习如何调整正交 偏光镜，以便观察到晶体的干涉现象 。这一技能对于后续的晶体研究和应 用非常重要。
掌握晶体在正交偏光镜下的现象
01
当光线通过正交偏光镜并照射到晶体上时，学生将观察到一系列有趣的现象， 如光的干涉、消光和增光等。
晶体光学课后习题答案
第一章1、为什么一轴晶光率体所有椭圆切面上都有No？二轴晶光率体任意切面上是否都有Nm？在哪些切面上才有Nm？（P15）答：一轴晶光率体是以Ne轴为旋转轴的旋转椭球体，所有斜交光轴的切面都与圆切面相交，因此，所有斜交光轴的椭圆切面的长、短半径中必有一个是主轴No。
否。
（1）垂直光轴OA切面（2）垂直锐角等分线Bxa切面（3）垂直钝角等分线Bxo切面（4）垂直光轴面NgNp的斜交切面2、怎样定义一轴晶光率体的光性符号？(P14)怎样定义二轴晶光率体的光性符号？(P20)答：一轴晶光率体只要比较出Ne′、No的相对大小即可确定出矿物的光性符号。
因为一轴正晶Ne＞Ne′＞No，一轴负晶Ne＜Ne′＜No，即只要确定出No＜Ne′，则矿物光性符号1、要测定矿物的轴性和光性符号，应该选择在正交偏光下干涉色最高的切面。
（×）2、2、在同一岩石薄片中，同种矿物不同方向的切面上，其干涉色不同。
（√）3、3、对于一轴晶矿物来说，其延性和光性总是一致的。
（√）4、4、两非均质体矿片在正交镜间的45°位重迭，当异名半径平行时，因总光程差为零而使矿片变黑暗的现象，称为消色。
（√）5、5、贝克线的移动规律是下降物台，贝克线总是向折射率大的物质移动。
（√）6、6、二轴晶光率体，当Np＞Nm＞Ng时，为负光性。
（×）7、7、矿物的多色性在垂直光轴的切面上最不明显。
（√）8、8、一轴晶光率体的旋转轴永远是Ne轴。
（√）9、9、某矿物的最高干涉色为Ⅱ级紫红，因此该矿物的某些切面可能出现Ⅰ级紫红。
（√）10、10、一轴晶平行光轴切面的干涉图与二轴晶平行光轴面切面的干涉图特点完全一样，在轴性明确的情况下也不能用作光性正负的测定。
（×）为正，No＞Ne′则矿物光性符号为负。
二轴晶光率体必须确定Bxa方向是Ng轴还是Np轴：若Bxa=Ng（Bxo=Np），则光性符号为正；若Bxa=Np（Bxo=Ng），则光性符号为负。
晶体光学与光性矿物学实习指导
晶体光学与光性矿物学实习指导————————————————————————————————作者：————————————————————————————————日期：晶体光学与光性矿物学实习指导一偏光显微镜的使用及矿物颗粒大小、含量的测定(一）偏光显微镜的使用与调节1 熟悉偏光显微镜的构造、装置、使用和维护保养方法2 调节照明（对光）（1)装上低倍或中倍物镜，打开锁光圈,轻轻推出上偏光镜、勃氏镜及聚光镜（2)转动反光镜至视域最亮为止。
如果总是对不亮，可以轻轻抽出目镜或推入勃氏镜，然后转动反光镜至视域内看到光源为止.此时加上目镜或推出勃氏镜，视域必然最亮。
3 调节焦距(准焦)（1）将一薄片置于载物台上（注意必须使盖玻璃朝上），用弹簧夹夹住。
（2）从侧旁看物镜镜头，转动粗动螺丝，使镜筒下降，至物镜到最低位置（注意切勿压碎薄片)。
（3)从目镜中观察，同时转动粗动螺丝，使镜筒上升,当视域中刚刚出现物象时,改用微动螺丝,使物象清晰为止.（4）换用高倍物镜，用同法调节焦距.在调节焦距时，绝不能眼睛看着目镜下降镜筒，因为这样很容易压碎薄片并损坏物镜。
在调节高倍物镜焦躁时，尤应注意。
因为高倍物镜的焦躁很短，镜头几乎与薄片接触，若薄片盖玻璃朝下时，不但无法准焦，而且常有压碎薄片,割伤镜头的事故发生。
4 校正中心在校正中心前，必须检查接物镜位置是否正确，如物镜没有安装在正确位置上，中心不但不能校正，而且往往容易损坏物镜和校正螺丝。
校正中心时，如发现螺丝旋转费力,或失效时，应立即报告，请求指导，切勿强力扭动。
校正中心的方法，参阅教材的有关部分。
5 视域直径测量(1）测量中、低倍物镜的视域直径将带刻度的透明三角板置载物台上，准焦后，观察视域直径为几毫米，分别记录数值，待日后查用。
（2）高倍物镜视域直径的测量：此时应借助物台测微尺。
物台测微尺长1毫米，刻有100小格的显微尺（嵌在玻璃片上）,每小格相当于0。
01毫米。
测量时将物台测微尺置载物台上，准焦后，观察视域直径等于微尺的几小格.若为20格，则直径等于20×0。
晶体光学实验报告
晶体光学实验报告一、实验目的1.掌握晶体光学的基本理论知识；2.了解晶体光学实验中常用的仪器设备；3.学习使用晶体光学实验装置进行实验和测量。
二、实验原理光学晶体是具有非均匀介质结构的物质，其晶格中的原子或离子排列存在一定的周期性。
由于这种周期性排列的存在，光通过晶体时会发生衍射、偏振和双折射等现象，从而引起光的有色或无色变化。
晶体光学实验是通过研究光的传播和和偏振的相关现象，来研究晶体的结构和性质的一种方法。
本实验主要利用晶体偏振片和波片来观察和测量晶体光学现象。
偏振片是指用于改变光的偏振状态的装置，常用的偏振片有偏光镜、偏振片和相位板等。
波片是指具有调整光的相位差的能力的装置，主要用来调整光的干涉状态。
三、实验仪器和材料1.光源：白炽灯或激光器；2.光源聚焦系统；3.偏振镜、偏光片、偏振片；4.样品：晶体样品；5.精密旋转台；6.放大显微镜；7.光电探测器；8.光学台。
四、实验步骤1.打开光源，将光线通过聚焦系统聚焦到样品上；2.在光路上依次放置偏振镜、偏光片和偏振片，调整偏光片和偏振片的位置，观察光的强度变化；3.将样品放置在精密旋转台上，用放大显微镜观察样品的特征；4.调整旋转台的角度，观察样品的透射光的强度变化，并记录；5.用光电探测器测量不同旋转角度下的光强度，并绘制光强度与旋转角度的关系曲线。
五、实验结果与分析通过实验观察和测量，得出如下结论：1.当光通过偏振镜后，光线的偏振状态发生改变，只有与偏振镜的偏振方向平行的光线能够透过；2.在偏振片和偏振片的相对位置调整时，可以改变通过的光的偏振状态，实现对光的调节和控制；3.在精密旋转台上调整晶体样品的角度时，观察到光的强度发生周期性变化，说明样品具有双折射现象；4.通过绘制光强度与旋转角度的关系曲线，可以得到样品的光学性质参数，如双折射率。
六、实验总结通过本次实验，我深入了解了晶体光学的基本理论知识，并掌握了常见的实验仪器和操作方法。
晶体光学相关资料
实验（一） 解理及多色性的观察1.黑云母（Bi ）：（1） 黑云母具有一组解理切面：解理缝为细、密、长而且贯穿整个晶体（图1）。
（2）当黑云母解理缝与PP 方向垂直时颜色最浅，为浅黄色（图2－a ）；当黑云母解理缝与PP 方向平行时，颜色最深，为棕褐色（图2－b ）。
（3） 黑云母没有解理的切面：无解理缝，呈棕色，转动载物台颜色基本不改变，多色性不明显。
综上所述，黑云母具有一组极完全解理，具有从浅黄色到棕褐色的极明显的多色性。
2.角闪石（Hb ）（1）角闪石有一组解理的切面：解理缝为不完全连续、细、较短、间距较宽，解理缝方向与竖丝成小角度时颜色为1），解理缝与横丝丝成小角度时颜色为 ？色（图2）。
图1. 单偏光，d ＝2mm图2. 单偏光，d ＝2mm偏光，d ＝2mm（2） 角闪石有两组解理的切面：解理缝为不完全连续，细，较短，间距较宽。
两组解理之间的夹角为 ？？°。
当有两组解理的角闪石解理缝锐角平分线平行PP 方向时颜色为 ？？色（图1）；解理缝钝角平分线平行PP 方向时颜色为 ？？色（图2）。
（3） 角闪石没有解理的切面：无解理缝，呈？？色，转动载物台颜色不发生改变，不具有多色性。
综上所述，角闪石为 ？…………？。
单偏光，d ＝2mm实验（二） 突起等级的观察及比较一．比较斜长石（Pl ）、黑云母（Bi ）、普通辉石（Py ）的突起Pl ：表面光滑，边缘不清楚；提升镜筒时，贝壳线向矿物移动，因此Pl 为正低突起。
Bi ：表面略显粗糙，边缘清楚，提升镜筒时，贝壳线向矿物内移动；而且在有Pl 与Bi 接触的薄片中提升镜筒时Pl 移向Bi 。
因此Bi 为正中突起。
Py ：糙面显著，边缘明显而且较粗，提升镜筒，贝壳线向矿物移动；而且在有Pl 与Py 接触的，Bi 与Py 接触的薄片中提升镜筒时Pl 移向Py 、Bi 移向Py 。
因此Py 为正高突起。
所以：Pl →Bi →Py 突起等级是逐渐升高的。
晶体光学实验报告_详解(3篇)
第1篇实验名称：晶体光学性质观测分析实验日期：2023年11月10日实验地点：实验室晶体光学实验室一、实验目的1. 熟悉单轴晶体光学性质，包括晶体的消光现象、干涉色级序等。
2. 了解偏光显微镜原理，并掌握其使用方法。
3. 观察晶体的类别、轴向和光性正负等特征，估计晶片的光程差。
4. 通过实验加深对晶体光学性质的理解，为后续相关研究打下基础。
二、实验原理晶体光学性质是指晶体对光的传播、反射、折射等过程所表现出的特殊性质。
晶体中的原子、离子或分子按照一定的规律排列，形成周期性结构，导致光在晶体中传播时，表现出各向异性。
本实验通过观测和分析晶体光学性质，了解晶体内部结构对光传播的影响。
三、实验仪器与材料1. 仪器：偏光显微镜、光源、起偏器、检偏器、物镜、目镜、载物台、旋转台、光源控制器等。
2. 材料：各种晶体样品（如石英、方解石、云母等）。
四、实验步骤1. 准备工作：将晶体样品放置在载物台上，调整光源和显微镜的焦距，确保能够清晰地观察到样品。
2. 起偏器调节：将起偏器放置在显微镜的光路上，调整起偏器的角度，观察样品在不同偏振方向下的光学现象。
3. 观察消光现象：在起偏器固定位置下，旋转样品，观察消光现象。
记录消光位置，分析晶体的消光规律。
4. 观察干涉色级序：调整起偏器和检偏器的角度，观察样品在不同干涉级序下的颜色变化，记录干涉色级序。
5. 观察晶体类别、轴向和光性正负：通过偏光显微镜观察样品的晶面、晶轴和光性，记录观察结果。
6. 光程差测量：利用偏光显微镜测量晶片的光程差，计算晶片的光学厚度。
五、实验结果与分析1. 消光现象：在实验过程中，观察到晶体样品在不同偏振方向下呈现出消光现象。
根据消光位置，分析出样品的消光规律，进一步了解晶体内部结构。
2. 干涉色级序：在调整起偏器和检偏器角度的过程中，观察到样品在不同干涉级序下呈现出不同的颜色。
根据干涉色级序，分析出样品的光学性质。
3. 晶体类别、轴向和光性正负：通过偏光显微镜观察，确定了样品的晶体类别、轴向和光性正负。
物理实验技术中如何进行晶体光学实验
物理实验技术中如何进行晶体光学实验晶体光学实验是物理学中的重要实验之一，通过实验可以研究和探索光在晶体中的传播规律以及晶体的结构特性。
在进行晶体光学实验时，我们需要掌握一些实验技术和方法。
首先，进行晶体光学实验需要精确的测量仪器。
常见的光学实验仪器有光源、准直器、单色仪、干涉仪等。
光源的选择应考虑到实验的需要，比如白光源适用于实验中对颜色不敏感的情况，而单色光源则适用于颜色关键的实验。
另外，准直器的作用是将光线进行平行化，提供稳定的光源。
干涉仪则可用于测量晶体的材料常数、折射率等。
其次，实验室中需要一些与晶体相关的辅助设备。
为了能够对晶体进行精确的观察和测量，需要使用显微镜和光学测量仪器。
显微镜可以将晶体的微小结构放大，并通过光学仪器进行测量和记录。
另外，还需要衡量光学性质的设备，如偏振镜和光干涉仪等。
这些设备能够帮助我们分析晶体的光学性质，并进行研究。
在实验操作中，要注意保持实验环境的稳定性。
晶体光学实验对实验环境要求较高，如温度、湿度等参数的控制都会对实验结果产生影响。
为了保持实验环境的稳定，可以使用专门的实验室设备，如恒温箱、湿度计等。
同时，实验过程中需注意操作的谨慎性。
晶体光学实验涉及到一些昂贵而脆弱的设备，因此在操作时要格外小心，避免对设备的损坏。
在操作实验仪器时，应按照操作手册的要求进行，避免错误的操作造成实验结果的误差。
此外，实验设计也是进行晶体光学实验的重要步骤。
在实验设计中，需要考虑实验的目的和预期结果，合理选择实验方法和步骤。
如果是探索光在晶体中的传播规律，可以设计干涉实验；如果是研究晶体的材料常数，可以设计折射率的测量实验。
同时，还需要制定实验步骤和记录方式，以便对实验数据进行分析和总结。
在进行晶体光学实验时，还需注意数据的分析和结果的解读。
在实验中获得的数据需要经过仔细的分析，提取有用的信息，并与理论预期进行对比。
根据实验结果，可以得出结论和进一步的研究方向。
总之，晶体光学实验是一项重要且复杂的实验工作。
晶向观察实验报告
实验名称：晶向观察实验实验日期：2021年10月15日实验地点：材料科学与工程学院晶体学实验室实验人员：张三、李四、王五一、实验目的1. 了解晶体学的基本概念，掌握晶体结构的晶向定义。
2. 通过实验观察晶体的晶向，加深对晶体结构认识。
3. 学会使用晶体学显微镜观察晶体，提高实验技能。
二、实验原理晶体是物质的基本结构单元，具有有序排列的原子、离子或分子。
晶体的结构可以通过晶向来描述，晶向是指晶体中一个特定方向的原子排列。
本实验通过观察晶体学显微镜下的晶体，找出晶体的主要晶向，分析晶体的生长方向。
三、实验仪器与试剂1. 仪器：晶体学显微镜、晶体样品、载物台、显微镜支架、显微镜调节器等。
2. 试剂：无。
四、实验步骤1. 准备工作：将晶体样品放置在载物台上，调整显微镜支架高度，使显微镜对准晶体样品。
2. 观察晶体：打开显微镜电源，调节显微镜光圈和焦距，使晶体图像清晰可见。
3. 检测晶向：根据晶体学知识，找出晶体的主要晶向，如[100]、[110]、[111]等。
4. 记录数据：将观察到的晶向、晶体生长方向等数据记录在实验报告上。
5. 实验结束：关闭显微镜电源，整理实验器材。
五、实验结果与分析1. 实验结果：通过实验观察，我们找到了晶体的主要晶向，如[100]、[110]、[111]等，并记录了晶体生长方向。
2. 分析：a. 晶体的[100]晶向：在显微镜下观察，晶体[100]晶向呈现为平行于显微镜载物台表面的直线，晶体生长方向垂直于该直线。
b. 晶体的[110]晶向：在显微镜下观察，晶体[110]晶向呈现为与显微镜载物台表面成一定角度的直线，晶体生长方向垂直于该直线。
c. 晶体的[111]晶向：在显微镜下观察，晶体[111]晶向呈现为与显微镜载物台表面成一定角度的直线，晶体生长方向垂直于该直线。
六、实验总结本次实验成功观察到了晶体的主要晶向，加深了对晶体结构的认识。
通过实验，我们学会了使用晶体学显微镜观察晶体，提高了实验技能。
20140828《晶体光学与光性矿物学》实验报告册
20140828《晶体光学与光性矿物学》实验报告册学院: 地球科学与工程学院专业班级: 姓名: 学号:山东科技大学地球科学与工程学院实验一偏光显微镜2 页姓名座号实验日期 2014. 独立实验教师评语实验成绩: 指导教师(签名):2014年月日一、实验目的要求1(了解偏光显微镜的构造、装置和用途;2(学会偏光显微镜的调节和校正方法(调节焦距，中心校正及视域直径的测定)。
二、实验内容1(教师利用课件和实物介绍偏光显微镜的主要构造、使用和保养方法;2(练习调节照明(对光)、转换镜头、调节焦距(准焦);3(校正显微镜视域中心;4(检查、校正目镜十字丝和上、下偏光显微镜振动方向;5(测定视域直径大小和目镜微尺格值。
三、实验报告要求1(详细说明确定下偏光振动方向的方法步骤。
2(在表格中记录不同放大倍数视域直径和目镜微尺格值的测定结果。
1四、实验报告1. 根据实际操作，描述确定下偏光振动方向的操作步骤。
薄片号:2. 测量偏光显微镜的视域直径与目镜微尺格值视域直径目镜微尺格值序号目镜倍数物镜倍数总放大倍数 (mm) (mm)1 10X X2 10X 10X3 10X X4 10X X2实验二解理、多色性和吸收性的测定2 页姓名座号实验日期 2014. 独立实验教师评语实验成绩: 指导教师(签名):2014年月日一、实验目的要求1(认识解理等级，了解同一矿物不同方向切面上解理缝的表现情况不同。
学会解理夹角的测定方法;2(认识多色性现象及其明显程度,了解同一矿物，不同方向切面上多色性表现情况不同。
二、实验内容1(观察普通角闪石的完全解理和不同方向切面上解理缝的表现情况，测定其解理夹角;2(观察普通角闪石明显的多色性现象和不同方向切面的多色性表现情况。
三、实验报告要求1(用表格方式描述普通角闪石不同方向切面的形态特征、解理缝的表现情况、两组解理的夹角大小、颜色及多色性明显程度;2(绘图说明各切面颜色最深时，解理缝与下偏光振动方向的关系;3(详细说明测定普通角闪石解理夹角的方法步骤。
晶体光学实验报告数据
一、实验目的通过本实验，掌握晶体光学的基本原理和方法，学习使用偏光显微镜观察晶体的光学性质，并测量晶体的折射率和光轴方向。
二、实验原理晶体光学实验主要研究晶体对光线的传播、折射和反射等性质。
晶体具有各向异性，即不同方向的光学性质不同。
本实验通过观察晶体在不同偏光下的干涉现象，可以确定晶体的光学性质。
三、实验仪器1. 偏光显微镜2. 晶体样品（方解石、石英等）3. 聚光镜4. 偏光镜5. 目镜6. 透镜7. 滤光片8. 秒表四、实验步骤1. 将晶体样品放置在偏光显微镜的载物台上，调整显微镜的焦距，使样品清晰可见。
2. 将聚光镜和偏光镜对准，使光线通过样品。
3. 调整滤光片，观察样品在不同偏光下的干涉现象。
4. 通过调整透镜和目镜，观察晶体的光学性质，如双折射、干涉条纹等。
5. 测量晶体的折射率和光轴方向。
五、实验数据1. 样品名称：方解石2. 折射率：- 光轴方向：1.658- 折射率方向：1.4863. 光轴方向：- 与光轴方向夹角：45°4. 干涉条纹：- 干涉条纹间距：0.5mm5. 实验时间：30分钟六、实验结果分析1. 方解石具有双折射性质，光轴方向为1.658，折射率方向为1.486。
2. 通过调整透镜和目镜，观察到干涉条纹，进一步验证了方解石的双折射性质。
3. 测量结果与理论值基本一致，说明实验结果可靠。
七、实验总结本实验通过观察晶体在不同偏光下的干涉现象，掌握了晶体光学的基本原理和方法。
实验结果表明，方解石具有双折射性质，其折射率和光轴方向符合理论预期。
在实验过程中，应注意调整显微镜的焦距，使样品清晰可见，以及调整透镜和目镜，观察晶体的光学性质。
同时，要掌握干涉条纹的观察方法，以便准确测量晶体的折射率和光轴方向。
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透长石的卡式双晶
微斜长石的格子双晶
复习题： 复习题： 一轴晶负光性光率体的椭圆切面有多少个？ 1.一轴晶负光性光率体的椭圆切面有多少个？ 一轴晶负光性光率体的椭圆切面有多少个 2.为什么一轴晶光率体是绕 轴旋转的椭球体 ， 从结 为什么一轴晶光率体是绕Z轴旋转的椭球体 为什么一轴晶光率体是绕 轴旋转的椭球体， 晶特点说明。 晶特点说明。 3.光波射入非均质体时， 传播特点是什么 ， 振动特点 光波射入非均质体时， 光波射入非均质体时 传播特点是什么， 生变化？ 及方向是否发 生变化？ 4.为什么说非均质体的折光率值随光波在晶体中振动 为什么说非均质体的折光率值随光波在晶体中振动 方向不同而改变？ 光率体根据什么原理而构成， 光率体根据什么原理而构成 光率体？ 光率体？ 6.对二轴晶光率体来说，无论是光性 （+）、 （-）， 对二轴晶光率体来说， 对二轴晶光率体来说 无论是光性（ ） ） 切面的双折率值， ⊥ Bxo切面的双折率值 ， 总是大于 ⊥ Bxa切面的双 切面的双折率值 总是大于⊥ 切面的双 折率值，为什么？ 折率值，为什么？
晶体光学实验（十四）石榴石、十字石、 晶体光学实验（十四）石榴石、十字石、 绿泥石、蓝闪石、 绿泥石、蓝闪石、硬绿泥石
目的： 石榴石、十字石、绿泥石、蓝闪石、 目的：1. 掌握石榴石、十字石、绿泥石、蓝闪石、 的鉴定特征。 硬绿泥石的鉴定特征。 内容： 内容：1. 观察石榴石(变5# )，掌握其主要光性特征。 变 ，掌握其主要光性特征。 2. 观察十字石 变5#)，掌握其主要 光性特征。 十字石( 光性特征。 ， 3. 观察绿泥石(变4#)，掌握其主要光性特征。 变 ，掌握其主要光性特征。 4. 观察蓝闪石(变9#)，掌握其主要光性特征。 变 ，掌握其主要光性特征。 5. 观察硬绿泥石(变3#)，掌握其主要光性特征。 变 ，掌握其主要光性特征。 要求：详细鉴定、描述上述矿物的主要光性特征， 要求：详细鉴定、描述上述矿物的主要光性特征，并 绘出代表性的晶粒。 绘出代表性的晶粒。
4.蓝闪石的主要鉴定特征: 4.蓝闪石的主要鉴定特征 蓝闪石的主要鉴定特征:
单斜晶系， 轴延伸的长柱状, 单斜晶系，沿c轴延伸的长柱状, 纤维状或放 射状集合体，蓝或蓝紫色,中正突起, 射状集合体，蓝或蓝紫色,中正突起,发育角闪石 110｝完全解理, 级干涉色，斜消光， 式｛110｝完全解理,一级干涉色，斜消光，二轴 晶负光性，正延性。 晶负光性，正延性。
2.十字石的主要鉴定特征 2.十字石的主要鉴定特征: 十字石的主要鉴定特征:
斜方晶系，短柱状，金黄色，高正突起，干涉色一 斜方晶系，短柱状，金黄色，高正突起， 级黄- 一级红，柱面平行消光，横截面对称消光角， 级黄- 一级红，柱面平行消光，横截面对称消光角，二 轴晶正光性，正延性。横切面常为⊥Bxa的切面 的切面。 轴晶正光性，正延性。横切面常为⊥Bxa的切面。
5.硬绿泥石的主要鉴定特征 5.硬绿泥石的主要鉴定特征: 硬绿泥石的主要鉴定特征:
单斜晶系，常见束状、片状、放射状集合体， 单斜晶系，常见束状、片状、放射状集合体， 多色性显著，靛蓝色—无色或浅黄色，高正突起， 多色性显著，靛蓝色—无色或浅黄色，高正突起， 一级橙红干涉色，三连晶或聚片双晶常见， 一级橙红干涉色，三连晶或聚片双晶常见，二轴 晶正光性，负延性。 晶正光性，负延性。
1.石榴石的主要鉴定特征: 1.石榴石的主要鉴定特征 石榴石的主要鉴定特征:
等轴晶系，粒状, 无色或浅粉红、浅褐、 等轴晶系，粒状, 无色或浅粉红、浅褐、褐等高 极高正突起，全消光。变质岩中常见有筛状结构、 正—极高正突起，全消光。变质岩中常见有筛状结构、 旋转雪球构造，残缕结构等。 旋转雪球构造，残缕结构等。
思考题（1）
单偏光和正交偏光下所观察到的晶体“颜色”有何 区别？ 2. 普通辉石为正光性晶体，在正交偏光下其最高 干涉色为二级黄（R＝880nm），⊥Bxa 切面具 有一级亮灰干涉色（R＝210nm），设 NgNm=0.019，求薄片厚度。 3. 斜长石的Ng=1.563, Nm=1.555, Np=1.511, 薄片 厚度为0.03mm，问它在正交偏光镜下应有的干 涉色（光程差）如何？
15.用楔形边法测定干涉色级序的前提是什么 ？ 用楔形边法测定干涉色级序的前提是什么？ 用楔形边法测定干涉色级序的前提是什么 为什么？ 为什么？ 16.测定最大双折率时 ， 一轴晶矿物和二轴晶 测定最大双折率时， 测定最大双折率时 矿物应选择什么样的切面， 矿物应选择什么样的切面，这样的切面有何 特点？ 特点？ 17. 17. 正交偏光镜间主要观察与测定矿物的光学 性质有哪些？ 性质有哪些？ 18.单偏光镜下 主要观察与测定矿物的光学性 单偏光镜下主要观察与测定矿物的光学性 单偏光镜下 质有哪些？ 质有哪些？ 19.锥光镜下一轴晶 、 二轴晶各切面干涉图的 锥光镜下一轴晶、 锥光镜下一轴晶 图像特点及其应用。 图像特点及其应用。
3.绿泥石的主要鉴定特征 3.绿泥石的主要鉴定特征: 绿泥石的主要鉴定特征:
单斜晶系，多数为鳞片状集合体，浅绿色或浅黄色， 单斜晶系，多数为鳞片状集合体，浅绿色或浅黄色， 具弱多色性，当含铁高时颜色变深，低正-中正突起， 具弱多色性，当含铁高时颜色变深，低正-中正突起， 干涉色一级灰，个别具异常干涉色， 干涉色一级灰，个别具异常干涉色，平行或近于平行消 光。
7. 二轴晶光率体的要素和主要切面的内容有哪些？ 二轴晶光率体的要素和主要切面的内容有哪些？ 8.当所测角闪石解理夹角是 ° 时 ， 是什么原因造成 当所测角闪石解理夹角是51° 当所测角闪石解理夹角是 的？ 9.一轴晶矿物测定多色性时 ， 应选择什么样的切面 ， 一轴晶矿物测定多色性时， 应选择什么样的切面， 一轴晶矿物测定多色性时 特点如何？ 特点如何？ 10.二轴晶矿物测定多色性时，应选择什么样的切面， 二轴晶矿物测定多色性时，应选择什么样的切面， 二轴晶矿物测定多色性时 特点如何？ 特点如何？ 11.没有多色性的切面是何切面，测什么？ 没有多色性的切面是何切面，测什么？ 没有多色性的切面是何切面 12.在正交镜间，矿片干涉色是如何形成的： 在正交镜间，矿片干涉色是如何形成的： 在正交镜间 13.应用石膏试板和云母试板需要注意哪些问题？ 应用石膏试板和云母试板需要注意哪些问题？ 应用石膏试板和云母试板需要注意哪些问题 14.补色法则的具体内容是什么？应用补色法则可以测 补色法则的具体内容是什么？ 补色法则的具体内容是什么 定什么？ 定什么？
1.
4. 设橄榄石晶体薄片厚度0.03mm，Ng=1.689,
Nm=1.670, Np=1.654，其垂直Bxa切面和垂直Bxo切 面上能见到什么样的干涉色（光程差）？平行光 轴面的切面又具有什么样的干涉色（光程差）？ 5. 普通辉石（单斜晶系α=γ=90 º ，β= 87º ） Ng=1.723, Np=1.698, Nm=1.703, //(010)面切片在正 交镜下可见到最高干涉色为二级黄（880 nm）， 首先使晶体的解理//十字丝竖丝，然后晶体顺时 针转50°而达到消光，从消光位再顺时针转45°， 插入石膏试板（长边//Np）即可见三级黄色。问a. 在正交镜下从消光位逆时针旋转45°，然后插入 1/4λ试板则有何干涉色？b. 写出它的光性方位。