材料分析测试技术试题1
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材料科学：材料分析测试技术测考试题 考试时间：120分钟 考试总分：100分遵守考场纪律，维护知识尊严，杜绝违纪行为，确保考试结果公正。
1、名词解释 溅射 本题答案： 2、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？ 本题答案： 3、单项选择题 透射电镜中电中间镜的作用是（ ）A 、电子源 B 、会聚电子束 C 、形成第一副高分辨率电子显微图像 D 、进一步放大物镜像 本题答案： 4、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？ 本题答案： 5、单项选择题 样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ ）A 、1﹕1 B 、2﹕1 C 、1﹕2 D 、没有确定比例姓名：________________ 班级：________________ 学号：________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案：6、名词解释质厚衬度本题答案：7、名词解释伸缩振动本题答案：8、单项选择题菊池线可以帮助（）。
A.估计样品的厚度；B.确定180不唯一性；C.鉴别有序固溶体；D.精确测定晶体取向。
本题答案：9、问答题什么是消光距离？影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么？本题答案：10、问答题制备复型的材料应具备什么条件？本题答案：11、名词解释Hanawalt索引本题答案：12、问答题简述X射线产生的基本条件。
本题答案：13、单项选择题波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（）。
A.快速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格便宜。
本题答案：14、问答题如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？本题答案：15、单项选择题当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限0；B.激发限k；C.吸收限；D.特征X射线本题答案：16、单项选择题晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（）A、（364）B、（234）C、（213）D、（468）本题答案：17、单项选择题透射电镜成形貌像时是将（）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜本题答案：18、问答题试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。
材料类专业试题及答案
材料类专业试题及答案试题一：材料的分类和特性问题1：请列举三种常见的金属材料，并简述它们的特性。
答案：金属材料主要包括铁、铜和铝。
铁具有较高的强度和硬度，常用于制造机械零件和建筑结构。
铜具有良好的导电性和导热性，常用于电气设备和热交换器。
铝则因其轻质和良好的耐腐蚀性而被广泛应用于航空航天和交通运输领域。
问题2：请解释什么是复合材料，并给出一个应用实例。
答案：复合材料是由两种或两种以上不同性质的材料组合而成，这些材料在宏观上保持各自的特性，通过复合作用，使复合材料具有优于单一材料的综合性功能。
例如，碳纤维增强塑料（CFRP）就是一种复合材料，它结合了碳纤维的高强度和轻质特性以及塑料的可塑性和耐腐蚀性，广泛应用于航空航天、汽车制造和体育器材等领域。
试题二：材料的力学性能测试问题1：简述拉伸试验的目的和主要测试参数。
答案：拉伸试验的目的是评估材料的力学性能，包括其弹性、塑性、断裂等特性。
主要测试参数包括屈服强度、抗拉强度、延伸率和断面收缩率。
问题2：简述硬度测试的重要性及其常用的测试方法。
答案：硬度测试是评估材料表面硬度的一种方法，对于预测材料的耐磨性、抗划伤性和加工性能具有重要意义。
常用的硬度测试方法有布氏硬度测试、洛氏硬度测试和维氏硬度测试。
试题三：材料的热处理工艺问题1：解释什么是退火，并说明其对金属材料性能的影响。
答案：退火是一种热处理工艺，通过将金属材料加热到一定温度并保持一段时间，然后缓慢冷却，以消除材料内部的应力，改善其塑性和韧性。
退火可以降低材料的硬度，提高其延展性，从而改善加工性能。
问题2：简述淬火和回火工艺的区别及其对材料性能的影响。
答案：淬火是将金属材料加热到其临界温度以上，然后迅速冷却，以获得马氏体等硬而脆的微观结构，从而提高材料的硬度和强度。
回火则是在淬火之后，将材料加热到较低的温度并保持一段时间，然后冷却，以减少淬火引起的内应力，改善材料的韧性和塑性。
淬火和回火通常结合使用，以获得所需的材料性能。
现代材料分析测试技术材料分析测试技术-1
据说日本电子已经制造了带球差校正器的透射电 镜，但一个球差校正器跟一台场发射透射电镜的 价格差不多。
TEM Cs Corrector
Un-corrected
Corrected
No Fringe
什么原因导致这样的结果呢？原来电磁透镜也和光学透 镜一样，除了衍射效应对分辨率的影响外，还有像差对 分辨率的影响。由于像差的存在，使得电磁透镜的分辨 率低于理论值。电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。
一、球差
球差是因为电磁透镜的中心区域磁场和边缘区域磁场对 入射电子束的折射能力不同而产生的。离开透镜主轴较 远的电子（远轴电子）比主轴附近的电子（近轴电子） 被折射程度大。
原来的物点是一个几何点，由于球差的影响现在变成了
半径为ΔrS的漫散圆斑。我们用ΔrS表示球差大小，计
算公式为：
rS
1 4
C
s
3
（1-10）
式中 Cs表示球差系数。 通常，物镜的球差系数值相当于它的焦距大小，
约为1-3mm,α为孔径半角。从式（1-10）中可以 看出，减小球差可以通过减小球差系数和孔径半 角来实现。
引起电子能量波动的原因有两个， 一是电子加速电压不稳，致使入射 电子能量不同；二是电子束照射试 样时和试样相互作用，部分电子产 生非弹性散射，致使能量变化。
最小的散焦斑RC。同 样将RC折算到物平面
上，得到半径为ΔrC 的圆斑。色差ΔrC由 下式来确定：
rC
Cc
E E
（1-12）
更短的波长是X射线。但是，迄今为止还没有找到能使X 射线改变方向、发生折射和聚焦成象的物质，也就是说 还没有X射线的透镜存在。因此X射线也不能作为显微镜 的照明光源。
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案材料分析测试技术试题及答案(一)1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。
A、14dB、7dC、35dD、28d2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。
A、抗拉强度B、抗剪强度C、扭矩系数D、承载力量3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。
A、建立单位B、施工单位C、监理单位D、设计单位4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。
在工程竣工验收前，应对工程档案进展( C )，验收合格后，须出具工程档案认可文件。
A、检查B、验收C、预验收D、指导5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。
A、文字材料排前，图纸排后B、图纸排前，文字材料排后C、文字材料、图纸按时间挨次排列D、文字材料，图纸材料交叉排列6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。
A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部C、地基与根底、主体、装饰装修分部D、地基与根底、主体分部7、在原材料肯定的状况下，打算混凝土强度的最主要因素是( B )。
A、水泥用量B、水灰比C、水含量D、砂率8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。
A、软件和硬件B、软盘和硬盘C、数据和数字D、技术和治理9、混凝土同条件试件养护：构造部位由监理和施工各方共同选定，同一强度等级不宜少于10组，且不应少于( A )组。
A、3B、10C、14D、2010、不属于统计分析特点的是( D )。
A、数据性B、目的性C、时效性D、准时性11、施工资料治理应建立岗位责任制，进展( C )。
A、全面治理B、全方位掌握C、过程掌握D、全范围掌握12、目前工程文件、资料用得最多的载体形式有( A )。
A、纸质载体B、磁性载体C、光盘载体D、缩微品载体13、施工资料应当根据先后挨次分类，对同一类型的资料应根据其( A )进展排序。
安徽工业大学材料分析测试技术复习题及答案
复习的重点及思考题以下蓝色的部分作为了解第一章X射线的性质X射线产生的基本原理。
●X射线的本质―――电磁波、高能粒子、物质●X射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等●高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线？产生的机理？连续X射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为～特征(标识)X射线：由原子内层电子跃迁所产生的X射线叫做特征X射线。
X射线与物质的相互作用●两类散射的性质●吸收与吸收系数意义及基本计算●二次特征辐射（X射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件二次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。
俄歇电子：俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，处于激发态的电子将产生跃迁，多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子，并将它激发出来。
这种效应称为俄歇效应。
●选靶的意义与作用第二章X射线的方向晶体几何学基础●晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体● 晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应 ● 晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式● 倒易点阵定义、倒易矢量的性质● 厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明λ1= 为半径作一球； (b) 将球心置于衍射晶面与入射线的交点。
(c) 初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。
(d) 落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。
(e) 由球心到该倒易点的矢量即为衍射矢量。
布拉格方程要灵活应用，比如结合消光规律等2d hkl sin θ ＝ n λ ‥‥ 布拉格公式d hkl 产生衍射的晶面间距θ 入射线或衍射线与晶面的夹角－布拉格角n 称之为反射级数● 布拉格方程的导出、各项参数的意义，作为产生衍射的必要条件的含义。
材料分析测试技术习题及答案
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）A.Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）A．C u；B. Fe；C. Ni；D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A.光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。
（）2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。
（）3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
（）4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
（）三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。
3. 经过厚度为H的物质后，X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是，具有性。
5. 短波长的X射线称，常用于；长波长的X射线称，常用于。
习题1.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？2.分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
3.什么叫"相干散射”、"非相干散射”、"荧光辐射”、"吸收限”、"俄歇效应”、"发射谱”、"吸收谱”？4.X射线的本质是什么？它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在？用哪些物理量描述它？5.产生X射线需具备什么条件？6.Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？7.计算当管电压为50 kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案金材02级《材料分析测试技术》课程试卷答案一、选择题：（8分/每题1分）1.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生光电子和俄歇电子，答案为A+C。
2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生四条衍射线，答案为B。
3.最常用的X射线衍射方法是粉末多晶法，答案为B。
4.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是直接比较法，答案为C。
5.可以提高TEM的衬度的光栏是物镜光栏，答案为B。
6.如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是六方结构或立方结构，答案为A或B。
7.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是中心暗场像，答案为C。
8.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是二次电子，答案为B。
二、判断题：（8分/每题1分）1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
√2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
√3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。
×4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
×5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。
√6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
×7.实际电镜样品的厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论的条件，这时运动学理论能很好地解释衬度像。
√8.扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。
×三、填空题：（14分/每2空1分）1.电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。
2.当X射线管电压低于临界电压时，只能产生连续谱X射线；当电压超过临界电压时，可以同时产生连续谱X射线和特征谱X射线。
《材料分析测试技术》试卷(答案) (1)
《材料分析测试技术》试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。
2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。
3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。
4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。
5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。
6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。
7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。
8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。
二、选择题：（8分，每题一分）1. X射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。
a．劳厄法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法。
2. 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）。
a．Co ；b. Ni ；c. Fe。
3. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c ）。
a．哈氏无机数值索引；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。
4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）。
a．第二聚光镜光阑；b. 物镜光阑；c. 选区光阑。
5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。
a．球差；b. 像散；c. 色差。
6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）。
a．高阶劳厄斑点；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。
7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）。
a．背散射电子；b.俄歇电子；c. 特征X射线。
8. 中心暗场像的成像操作方法是（c）。
a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。
三、问答题：（24分，每题8分）1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一个最佳厚度（t =2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些？它有哪些功能？在材料科学中有什么应用？答：透射电子显微镜的主要组成部分是：照明系统，成像系统和观察记录系统。
材料测试分析技术答案第一、三、四题
今有一张用CuKa 辐射摄得的钨(体心立方)的粉末图样，试计算出头四根线条的相对积分强度（不计e -2M和A （θ））。
若以最强的一根强度归一化为100，其他线强度各为多少?这些线4--8在德拜图形上获得某简单立方物质的如下四条谱线；所给出的均有Cu 衍射的结果。
以为外推函数，请用柯亨法计算晶格常数，精确到四位有效数字解： ,+=1，可得下表：所以得：154.8213=6489A+231.114C① 6.728=231.114A+14.093C② 由1，2得A=0.01648，C=0.2071。
又有,===0.5994求淬火后低温回火的碳钢样品，不含碳化物（经金相检验），A （奥氏体）中含碳1％，M （马氏体）中含碳量极低。
经过衍射测得A220峰积分强度为2.33（任意单位），M200峰积分强度为16.32，试计算该钢中残留奥氏体的体积分数（实验条件：Fe K α辐射，滤波，室温20℃，α-Fe 点阵参数a=0.286 6 nm ，奥氏体点阵参数a=0.3571＋0.0044wc ，wc 为碳的质量分数。
解： • 根据衍射仪法的强度公式，• • 令 ,• 则衍射强度公式为：I = (RK/2μ)V由此得马氏体的某对衍射线条的强度为I α=(RK α/2μ)V α，残余奥氏体的某对衍射线条的强度为I y =(RK y /2μ)V y 。
两相强度之比为：• 残余奥氏体和马氏体的体积分数之和为f γ+f α=1。
则可以求得残余奥氏体的百分含量：对于马氏体，体心立方，又α－Fe 点阵参数a=0.2866nm, Fe K α波长λ＝1.973A 。
，Θ＝453K,T=293K∴sin θ1=2dλ= 0.19370.286622⨯=0.6759⇒θ1=42.52。
，P 200=6,F=2f,M 1＝226(x)1sin x 4a h m K φθλ⎡⎤⎛⎫+ ⎪⎢⎥Θ⎣⎦⎝⎭＝1.696⨯2114d ⨯10－19＝2.65⨯10－18对于奥氏体面心立方，a=0.3571 ⨯0.0044 ⨯1%=0.3575nm∴sin θ2=2d λ=0.19370.35752 =0.7661⇒θ2=50.007。
现代材料测试技术试题答案
一、X射线物相分析的基本原理与思路在对材料的分析中我们大家可能比较熟悉对它化学成分的分析，如某一材料为Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8%或SiO2 61%, Al2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%等。
这是材料成分的化学分析。
一个物相是由化学成分和晶体结构两部分所决定的。
X射线的分析正是基于材料的晶体结构来测定物相的。
X射线物相分析的基本原理是什么呢？每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构，即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。
因此，从布拉格公式和强度公式知道，当X射线通过晶体时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度来表征。
其中晶面网间距值d与晶胞的形状和大小有关，相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
衍射花样有两个用途：一是可以用来测定晶体的结构，这是比较复杂的；二是用来测定物相。
所以，任何一种结晶物质的衍射数据d和I是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相，分析的思路将样品的衍射花样与已知标准物质的衍射花样进行比较从中找出与其相同者即可。
X射线物相分析方法有：定性分析——只确定样品的物相是什么？包括单相定性分析和多相定性分析定量分析——不仅确定物相的种类还要分析物相的含量。
二、单相定性分析利用X射线进行物相定性分析的一般步骤为:①用某一种实验方法获得待测试样的衍射花样；②计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I值；③参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。
1、标准物质的粉末衍射卡片标准物质的X射线衍射数据是X射线物相鉴定的基础。
为此，人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相，将它们的衍射花样收集起来。
由于底片和衍射图都难以保存，并且由于各人的实验的条件不同（如所使用的X射线波长不同），衍射花样的形态也有所不同，难以进行比较。
因此，通常国际上统一将这些衍射花样经过计算，换算成衍射线的面网间距d值和强度I，制成卡片进行保存。
材料的现代分析方法 测试题及答案
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答：⑴ 当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫 振 动产生交变电磁场， 其频率与入射线的频率相同， 这种由于散射线与入射线的波 长和频率一 致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。 ⑵ 当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ 射 线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。 ⑶ 一个具有足够能量的χ射线光子从原子内部打出一个 K 电子，当外层电子来填充 K 空位 时，将向外辐射 K 系χ射线，这种由χ 射线光子激发原子所发生的辐射过程， 称荧光辐射。 或二次荧光。 ⑷ 指χ射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量， 如入射光子的能 量 必须等于或大于将 K 电子从无穷远移至 K 层时所作的功 W， 称此时的光子波长 λ称为 K 系的 吸收限。 ⑸ 当原子中 K 层的一个电子被打出后，它就处于 K 激发状态，其能量为 Ek 。如果 一个 L 层 电子来填充这个空位，电离就变成了 L 电离， K 其能由 Ek 变成 El ，此 时将释 Ek-El 的能量， 可能产生荧光χ射线，也可能给予 L 层的电子，使其脱离原子 产生二次电离。 即 K 层的一个 空位被 L 层的两个空位所替代， 这种现象称俄歇效应。 29．Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？ 答：波动性 主要表现为以一定的频率和波长在空间传播，反映了物质运动的连续性；微粒性 主要表现 为以光子形式辐射和吸收时具有一定的质量， 能量和动量， 反映了物质运动的分立性。 30．计算当管电压为 50 kv 时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱 的波限和光子的最大动能。 解： 已知条件：U=50kv -31 电子静止质量：m0=9.1×10 kg 8 光速：c=2.998×10 m/s -19 电 子电量：e=1.602×10 C -34 普朗克常数：h=6.626×10 J.s 电子从阴极飞出到达靶的过程中所 获得的总动能为 -19 -18 E=eU=1.602×10 C×50kv=8.01×10 kJ 2 由于 E=1/2m0v0 所以电子 与靶碰撞时的速度为 1/2 6 v0=(2E/m0) =4.2×10 m/s 所发射连续谱的短波限 λ0 的大小仅取 决于加速电压 λ0（?）＝12400/v(伏) ＝0.248? 辐射出来的光子的最大动能为 -15 E0 ＝h?0 ＝hc/λ0＝1.99×10 J 31．为什么会出现吸收限？K 吸收限为什么只有一个而 L 吸收限有三个？当激发 K 系荧光Ⅹ 射线时，能否伴生 L 系？当 L 系激发时能否伴生 K 系？ 答：一束 X 射线通 过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收的结果。并且吸收是造成 强度衰减的主要 原因。 物质对 X 射线的吸收， 是指 X 射线通过物质对光子的能量变成了其他 形成的能 量。X 射线通过物质时产生的光电效应和俄歇效应，使入射 X 射线强度被衰减，是 物质 对 X 射线的真吸收过程。 光电效应是指物质在光子的作用下发出电子的物理过程。 因为 L 层有三个亚层，每个亚层的能量不同，所以有三个吸收限，而 K 只是一层，所以 只有一 个吸收限。 激发 K 系光电效应时， 入射光子的能量要等于或大于将 K 电子从 K 层移 到无穷远时所做 的功 Wk。从 X 射线被物质吸收的角度称入 K 为吸收限。当激发 K 系 荧光 X 射线时，能伴生 L 系， 因为 L 系跃迁到 K 系自身产生空位，可使外层电子迁入， 而 L 系激发时不能伴生 K 系。 32．物相定量分析的原理是什么？试述用 K 值法进行物相定量分析的过程。 答：根 据 X 射线衍射强度公式，某一物相的相对含量的增加，其衍射线的强度亦随之增加， 所 以通过衍射线强度的数值可以确定对应物相的相对含量。 由于各个物相对 X 射线的吸收 影 响不同，X 射线衍射强度与该物相的相对含量之间不成线性比例关系，必须加以修正。 这是内标法的一种，是事先在待测样品中加入纯元素，然后测出定标曲线的斜率即 K 值。 当要进行这类待测材料衍射分析时，已知 K 值和标准物相质量分数ωs ，只要测出 a 相 强 度 Ia 与标准物相的强度 Is 的比值 Ia/Is 就可以求出 a 相的质量分数ωa。
材料分析测试方法试题及答案
第一章电磁辐射与材料结构一、名词、术语、概念波数，分子振动，伸缩振动，变形振动（或弯曲振动、变角振动），干涉指数，晶带，原子轨道磁矩，电子自旋磁矩，原子核磁矩。
二、填空1、电磁波谱可分为3个部分：①长波部分，包括( )与( )，有时习惯上称此部分为( )。
②中间部分，包括( )、( )和( )，统称为( )。
③短波部分，包括( )和( )（以及宇宙射线），此部分可称( )。
答案：无线电波（射频波），微波，波谱，红外线，可见光，紫外线，光学光谱，X射线，射线，射线谱。
2、原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为( )跃迁或( )跃迁。
答案：电子，能级。
3、电子由高能级向低能级的跃迁可分为两种方式：跃迁过程中多余的能量即跃迁前后能量差以电磁辐射的方式放出，称之为( )跃迁；若多余的能量转化为热能等形式，则称之为( )跃迁。
答案：辐射，无辐射。
4、分子的运动很复杂，一般可近似认为分子总能量（E）由分子中各( )，( )及( )组成。
答案：电子能量，振动能量，转动能量。
5、分子振动可分为( )振动与( )振动两类。
答案：伸缩，变形（或叫弯曲，变角）。
6、分子的伸缩振动可分为( )和( )。
答案：对称伸缩振动，不对称伸缩振动（或叫反对称伸缩振动）。
7、平面多原子（三原子及以上）分子的弯曲振动一般可分为( )和( )。
答案：面内弯曲振动，面外弯曲振动。
8、干涉指数是对晶面( )与晶面( )的标识，而晶面指数只标识晶面的（）。
答案：空间方位，间距，空间方位。
9、晶面间距分别为d110／2，d110/3的晶面，其干涉指数分别为( )和( )。
答案：220，330。
10、倒易矢量r*HKL的基本性质：r*HKL垂直于正点阵中相应的（HKL）晶面，其长度r*HKL等于(HKL)之晶面间距d HKL的( )。
答案：倒数（或1/d HKL）。
11、萤石（CaF2）的（220）面的晶面间距d220=0.193nm，其倒易矢量r*220（）于正点阵中的（220）面，长度r*220=（）。
材料分析测试技术试卷
材料分析测试技术试卷一、选择题（每题2分，共20分）1、下列哪种技术可用于材料组成的定性分析？A. X射线衍射B. 原子吸收光谱C. 原子荧光光谱D. 电子显微镜2、下列哪种技术可用于材料中微量元素的分析？A. X射线衍射B. 原子吸收光谱C. 原子荧光光谱D. 电子显微镜3、下列哪种材料分析技术可用于表面形貌的观察和分析？A. X射线衍射B. 原子吸收光谱C. 原子荧光光谱D. 扫描电子显微镜4、下列哪种技术可用于材料中元素的定量分析？A. X射线衍射B. 原子吸收光谱C. 原子荧光光谱D. 扫描电子显微镜5、下列哪种技术可用于材料的物理性能分析？A. X射线衍射B. 热重分析C. 能谱分析D. 原子力显微镜6、下列哪种技术可用于材料的化学性质分析？A. X射线衍射B. 能谱分析C. 电化学分析D. 扫描电镜7、下列哪种技术可用于材料的热分析？A. X射线衍射B. 热重分析C. 能谱分析D. 原子力显微镜8、下列哪种技术可用于材料的机械性能分析？A. X射线衍射B. 拉压试验C. 能谱分析D. 原子力显微镜9、下列哪种材料分析技术可用于表面化学成分的定性和定量分析？A. X射线衍射B. 红外光谱C. 能谱分析D. 原子力显微镜10、下列哪种材料分析技术常用于材料中杂质元素的检测？A. X射线衍射B. 光谱分析C. 能谱分析D. 热重分析二、填空题（每空2分，共20分）1、常用的形态结构分析技术有___________、___________和___________。
2、常用的材料成分分析技术有___________、___________和___________。
3、常用的表面形貌分析技术有___________和___________。
4、常用的元素定量分析技术有___________、___________和___________。
5、常用的热分析技术有___________和___________。
材料分析测试方法试题及答案
材料分析测试方法试题及答案第一章电磁辐射与材料结构一、名词、术语、概念波数，分子振动，伸缩振动，变形振动（或弯曲振动、变角振动），干涉指数，晶带，原子轨道磁矩，电子自旋磁矩，原子核磁矩。
二、填空1、电磁波谱可分为3个部分：①长波部分，包括()与()，有时习惯上称此部分为()。
②中间部分，包括()、()和()，统称为()。
③短波部分，包括()和()（以及宇宙射线），此部分可称()。
答案：无线电波（射频波），微波，波谱，红外线，可见光，紫外线，光学光谱，某射线，射线，射线谱。
2、原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为()跃迁或()跃迁。
答案：电子，能级。
3、电子由高能级向低能级的跃迁可分为两种方式：跃迁过程中多余的能量即跃迁前后能量差以电磁辐射的方式放出，称之为()跃迁；若多余的能量转化为热能等形式，则称之为()跃迁。
答案：辐射，无辐射。
4、分子的运动很复杂，一般可近似认为分子总能量（E）由分子中各()，()及()组成。
答案：电子能量，振动能量，转动能量。
5、分子振动可分为()振动与()振动两类。
答案：伸缩，变形（或叫弯曲，变角）。
6、分子的伸缩振动可分为()和()。
答案：对称伸缩振动，不对称伸缩振动（或叫反对称伸缩振动）。
7、平面多原子（三原子及以上）分子的弯曲振动一般可分为()和()。
答案：面内弯曲振动，面外弯曲振动。
8、干涉指数是对晶面()与晶面()的标识，而晶面指数只标识晶面的（）。
答案：空间方位，间距，空间方位。
9、晶面间距分别为d110／2，d110/3的晶面，其干涉指数分别为()和()。
答案：220，330。
10、倒易矢量r某HKL的基本性质：r某HKL垂直于正点阵中相应的（HKL）晶面，其长度r某HKL等于(HKL)之晶面间距dHKL的()。
答案：倒数（或1/dHKL）。
11、萤石（CaF2）的（220）面的晶面间距d220=0.193nm，其倒易矢量r某220（）于正点阵中的（220）面，长度r某220=（）。
桂林理工大学2018-2020年考博试题3012材料分析测试技术
科目代码：3012 科目名称：材料分析测试技术注意：1、本试卷满分为100分，考试时间为180分钟。
2、答案必须写在答题纸上，写在试题上无效。
1、什么是化学位移？它们有何实际应用？（10分）2、什么是图像的衬度？扫描电镜图像的衬度有哪几种类型？透射电镜的衬度有哪几种的类型？（15分）3、X射线定量分析方法常见的有哪些？（15分）4、列举电子束与试样相互作用产生的四种物理信号，它们有哪些特点和用途?（15分）5、什么是晶体投影？分类及晶体投影的作用是什么？（15分）6、电子对X射线的散射有那两种？各自作用怎样?（15分）7、产生红外吸收的条件是什么？产生拉曼散射的条件是什么？（15分）科目代码：3012 科目名称：材料分析测试技术（A卷）注意：1、本试卷满分为100分，考试时间为180分钟。
2、答案必须写在答题纸上，写在试题上无效。
1、产生红外吸收的条件是什么？产生拉曼散射的条件是什么？（10分）2、从XPS谱图中可获得表面的哪些物理和化学信息？它们的依据各是什么？（15分）3、简述热分析技术在材料研究中的应用。
（15分）4、列举电子束与试样相互作用产生的四种物理信号，它们有哪些特点和用途?（主要有六种，列出其中4种即可）（15分）5、请就多相材料的微观结构（包括物相的化学组成，元素价态、物相的定性和定量分析，晶体结构，物相分布，颗粒大小和生长形貌等微观结构因素）的表征提出合理的可行性综合研究方案。
（注意：需要将采用的测试方法以及该测试方法解决多相材料哪方面的微观结构问题阐述清楚。
）（15分）6、材料的结构层次有哪些？列出对应的观测设备并举例说明研究对象。
（15分）7、如何理解材料研究方法的综合应用？为什么有时必须多种测试方法才能解决问题？（15分）。
现代材料分析测试题答案
现代材料分析测试题答案一、选择题1. 材料的力学性能主要包括哪些方面？A. 硬度和韧性B. 强度和塑性C. 韧性和导电性D. 硬度和导热性答案：B2. 扫描电子显微镜（SEM）的主要优点是什么？A. 可以观察活细胞B. 可以获得元素的化学成分信息C. 可以进行大范围的形貌观察D. 分辨率高于透射电子显微镜答案：B3. 差示扫描量热法（DSC）主要用于测量材料的哪些特性？A. 热导率和比热容B. 相变温度和焓变C. 热膨胀系数和热稳定性D. 热分解温度和质量损失答案：B4. X射线衍射（XRD）技术主要用于分析材料的哪些方面？A. 晶体结构和晶格常数B. 表面形貌和元素分布C. 化学成分和热性能D. 力学性能和电学性能答案：A5. 拉曼光谱是一种非破坏性的分析手段，它主要用于分析材料的哪些特性？A. 晶体缺陷和杂质含量B. 分子结构和化学键振动C. 热稳定性和耐腐蚀性D. 电导率和磁性质答案：B二、填空题1. 材料的硬度是指材料抵抗__________的能力，而韧性是指材料在受到冲击或载荷作用时抵抗__________的能力。
答案：硬度；断裂2. 原子力显微镜（AFM）能够达到的横向分辨率可以达到__________，这使得它能够观察到单个原子或分子的结构。
答案：纳米级3. 动态机械分析（DMA）是一种用于测量材料在动态载荷下的__________和__________的分析技术。
答案：模量；阻尼4. 红外光谱（FTIR）可以用于分析材料中的__________和__________，从而获得材料的化学组成和结构信息。
答案：官能团；化学键5. 紫外-可见光谱（UV-Vis）主要用于分析材料的__________和__________，这对于研究材料的光学性质非常重要。
答案：吸收光谱；反射光谱三、简答题1. 简述材料的疲劳性能及其对工程应用的重要性。
答：材料的疲劳性能是指材料在循环载荷作用下抵抗裂纹形成和扩展的能力。
材料科学考试试题
材料科学考试试题
1. 问答题
1.1 介绍金属晶体的晶体系和点阵结构。
1.2 什么是晶体缺陷？列举并简要描述几种常见的晶体缺陷。
1.3 什么是金属材料的弹性变形？它的原理是什么？
2. 简答题
2.1 请解释热处理对金属的影响以及其应用。
2.2 介绍金属材料的断裂方式及其相关理论。
2.3 什么是塑性变形？请说明金属材料的塑性变形机制。
3. 计算题
3.1 某一种金属的密度为7.87 g/cm³，原子量为63.55。
计算该金属的晶格常数。
3.2 一个长度为2 cm，宽度为1 cm，高度为0.5 cm的金属样品，
质量为10 g。
以该金属的密度和弹性模量，计算其Young氏弹性模量。
3.3 一个拉伸试验样品的长度为200 mm，直径为10 mm，抗拉强
度为400 MPa。
计算其屈服强度。
4. 综合题
4.1 请以金属焊接为例，说明材料科学在工程应用中的重要性。
4.2 分析金属材料的导热性能和导电性能与其晶体结构的关系。
4.3 以金属腐蚀为例，探讨材料科学在延长金属材料使用寿命中的应用。
以上为材料科学考试试题，希望能够全面展示学生对材料科学基础知识的掌握和应用能力。
祝考生取得优异的成绩！。
材料分析表征
材料分析表征篇一：试题-材料分析表征技术-20XX20XX年《材料分析测试技术》期末考试试题姓名：院/系：学号：一、填空（26分）1.化学电源可以分为三类，化学电源主要由正负极、隔膜和电解液三部分构成。
2.可逆电极反应在循环伏安测试中最重要的两个特征是3.交流阻抗谱的三个基本条件是、1-3电化学4.核磁共振波谱分析不能直接使用固体样品的原因是：5.影响红外光谱基团频率的因素包括：、、和。
6.拉曼光谱分析技术是以为基础建立起来的分子结构表征技术，其信号来源与分子的和。
7.引起原子吸收线变宽的因素包括：和。
8.人们判断太阳主要是由氢元素和氦组成，判断的依据是9.通过磁化强度的测量，可获得的材料信息包括（列举两例）。
二、问答题（24分）1.举例说明紫外-可见光谱的生色团和助色团。
2.请简述标准加入法及其在原子吸收光谱法与原子发射光谱中的异同。
3.下图是Pt电极在硫酸溶液中的循环伏安曲线，请解释各峰的含义，从中能得到关于氢、氧吸附行为的什么信息？14.下图是一个典型的实际电极过程的交流阻抗谱，试给出其等效电路，并结合等效电路简述如何求取有关电极过程参数。
三、判断题（16分）1.某个有机化合物的分子式是：c8H10，其nmR氢谱如下图所示，求其结构式。
并请给出各个峰的归属。
（6分）3H5H2H22.（10分）（1）红外光谱定性分析的基本依据是什么？简要叙述红外定性分析的过程。
（2）未知物分子式为c8H8o，测得的红外谱图如下，计算不饱和度，并确定其结构。
四、（12分）简述X射线光电子能谱（XPS）、紫外光电子能谱（UPS）和俄歇电子能谱（aES）的异同点，可各自获得样品的哪些信息？五、（12分）（1）简述热重分析（TGa）和差热分析（dTa）有何区别及在材料研究中的应用。
（2）采用草酸亚铁（Fec2o4·2H2o）、氢氧化锂（LioH·H2o）和草酸二氢胺（nH4H2Po4）为原料制备磷酸铁锂（LiFePo4）正极材料，图1是三种反应原材料在ar+5%H2气氛下的热重分析曲线，图2为上述原材料采用丙酮混合均匀干燥后的前驱体烧结的热重和差热曲线图。
材料分析表征技术试题
《材料分析测试技术》硕士生考试答案姓名：院/系：学号：一、填空（20分，每空1分）1. 紫外光谱中蒽和萘相比，λmax比较长。
2. 决定化合物红外吸收峰强度的决定因素是瞬间偶极矩的变化。
3. 在红外光谱分析中，用KBr做样品池，这是因为KBr无红外吸收。
4.XPS、俄歇电子能谱、X射线荧光、二次离子质谱，这四种表面分析方法中，表征深度从浅到深依次为：二次离子质谱<俄歇电子能谱< XPS< X射线荧光。
5.属于吸收光谱的分析方法，如红外、紫外-可见和NMR、AAS (举例）。
6.二维核磁共振中，可以用于不同扩散系数的多种分子混合物溶液成分分析的扩散排序谱（DOSY）。
7.核磁共振波谱法中，乙烯、乙烷、苯分子中质子化学位移值序是：乙烷、乙烯、苯。
8.NMR法中影响质子化学位移值的因素有电负性、环流效应、范德华作用、氢键等。
9.差示扫描量热分析根据所用测量方法的不同，可以分类为热流型DSC和功率补偿型DSC.10.根据产生原因不同，电极的极化可以分为浓差极化和电化学极化。
11.电池的电压主要取决于（电极材料）的氧化还原电势，电池的比容量主要取决于单位质量的电极活性物质得失电子数。
二、问答题（40分，每题5分）1.请列出三种以上的热分析技术，并简述其基本原理及各自的应用范围。
DSC（差示扫描量热）TG（热重）DTA(差热)2. 解释原子吸收光谱和原子发射光谱的异同。
答：都是原子光谱。
原子吸收是吸收光谱，用火焰法、石墨炉法等方法将样品原子化，用空心阴极灯作为光源，用于定量分析特定的元素。
原子发射光谱是发射光谱，用电弧、ICP等方法将样品原子化，检测原子化的样品发射的原子谱线，可以同时监测很多种元素，定量能力不如原子吸收光谱。
3. 试举出三类常用的的参比电极；简述如何为一个电化学反应体系选择合适的参比电极。
饱和干汞，银/氯化银，标准氢电极，硫酸亚汞……..满足条件：1，电极反应单一可逆；2，交换电流密度大（电极电势稳定和重现性好）（流过微小电流的时候电极电势不发生明显变化）；3.一定的温度对应一定的电位；4.与研究体系兼容….4. 请简述俄歇电子发射过程，并说明“LMM”的含义。
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第一章
1、同种材料经过不同的处理后其性能不变（）
2、XRD可以进行样品表面微观形貌观察（）
3、x-ray是电磁波，具有粒子性和波动性（）
4、在医学透视上的x-ray波长很长，故又称为软x-ray（）
5、对于长方形焦点的x-ray管，对这长边的表观焦点形状为线状，它的强度很强（）
6、连续x-ray的强度随着管压的增高而增高（）
7、连续x-ray谱中，能量最大值在光子能量最大的λ0处（）
8、Kα线比Kβ线的波长长而强度高（）
9、每种物质的俄歇电子能量大小只取决于该物质的原子能级结构，是物质的固有特征（）
10、质量吸收系数与物质密度和状态无关，只与原子序数和x-ray的波长有关（）
11、随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小（）
12、经滤波后的X射线是相对的单色光（）
13、选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度（）
14、产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态（）
15、X射线是单色的（）
16、x-ray的波长很短，能量和动量很大，具有很强的穿透能力（）
17、连续x-ray谱短波限只与管电压有关（）
18、x-ray管中阳极靶物质的原子序数越大，所需临界激发电压值越高（）
19、线吸收系数与物质种类、密度、x-ray波长有关（）
20、x-ray不反射，几乎不折射（）
21、原子系统中各能级的能量差是不均匀的，越靠近原子核的相邻能极差越大（）
22、光的干涉条件是散射波之间振动方向相同、频率相同、位相差恒定（）
第二章
1、空间点阵只有14种，而晶体结构可以有无限种（）
2、空间点阵与晶体结构是相同的两个概念（）
3、立方晶系的{100}晶面族包含6个晶面（）
4、同一晶带中所有晶面的法线都与晶带轴垂直（）
5、（100）和（110）同属于[001]晶带轴（）
6、单色x-ray的衍射只在满足布拉格定律的若干个特殊角度上产生（）
7、X射线衍射线的强度接近于入射线强度（）
8、X射线的入射线与反射线的夹角永远是2θ（）
9、X射线的衍射是大量原子参与的一种散射现象（）
10、产生X射线衍射现象的必要条件是有一个可以干涉的波和一组周期排列的散射中心（）
11、干涉指数只能是互质的整数（）
12、衍射方向决定于晶胞的大小与形状（）
13、干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n（）
14、X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行（）
15、一种布拉菲点阵可以代表许多种晶体结构（）
16、晶面间距越大的晶面其指数也越大（）
17、粉末法多晶体试样的形状可以是任意的（）
18、晶面指数的数值是晶面在三个坐标轴上的截距（）
19、凡是属于[uvw]晶带的晶面，其晶面指数（hkl）必须符合hu+kv+lw=0（）
20、若已知特征x-ray的波长和衍射角，则通过布拉格方程可以计算出晶面间距（）
21、劳埃法是采用连续x-ray作为入射光源的（）
22、粉末法采用的X射线为单色x-ray（）
第三章
1、衍射方向在X射线波长一定的情况下取决与晶面间距（）
2、物质的原子序数越小，非相干散射越弱（）
3、在一个晶面族中，等同晶面越多，参加衍射的概率就越大（）
4、X射线衍射线的峰宽可以反映出许多晶体信息，峰越宽说明晶粒越大（）
5、在其他条件一定的情况下，晶粒越小，X射线衍射强度越弱（）
6、原子的热振动可使X射线衍射强度增大（）
7、温度一定时，衍射角越大，温度因子越小，衍射强度随之减小（）
8、布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度（）
9、衍射角一定时，温度越高，温度因子越小，衍射强度随之减小（）
10、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射（）
第四章
1、大直径德拜相机可以提高衍射线分辨率，缩短曝光时间（）
2、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确（）
3、在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。
一个是测角仪圆；另一个是聚焦圆，X射线管的焦点、计数器接受光阑与试样三者必须位于其上（）
4、粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好（）
5、德拜相机的底片安装方式中，正装法多用于点阵常数的确定（）
6、根据不消光晶面的N值比值可以确定晶体结构（）
7、为了提高德拜相机的分辨率，在条件允许的情况下，应尽量采用波长较长的x-ray源（）
8、在分析大晶胞的试样时，应尽可能选用波长较长的x-ray源，以便抵偿由于晶胞过大对分辨率的不良影响（）
9、选择小的接受光阑狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会降低接受强度（）
10、时间常数等于接受光阑的时间宽度的一半或更低时，能够记录出分辨能力最佳的强度曲线（）
11、德拜相机的底片安装方式中，反装法多用于物相分析（）
12、衍射角越大，相机的分辨率越高（）
第五章
1、X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分（）
2、X射线衍射之所以可以进行物相定性分析，是因为没有两种物相的衍射花样是完全相同的（）
3、各相的衍射线条的强度随着该相在混合物中的相对含量的增加而增强（）
4、内标法仅限于粉末试样（）
5、哈氏索引和芬克索引均属于数值索引（）
6、PDF索引中晶面间距数值下脚标的x表示该线条的衍射强度待定（）
7、PDF卡片的右上角标有★说明数据可靠性高（）
8、多相物质的衍射花样相互独立，互不干扰（）
9、物相定性分析时的试样制备，必须将择优取向减至最小（）
第九章
1、有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平（）
2、电磁透镜的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加（）
3、光学显微镜的分辨率取决与照明光源的波长，波长越长，分辨率越高（）
4、波长越短，显微镜的分辨率越低，因此可以采用波长较短的γ射线作为照明光源（）
5、用小孔径角成像时可使球差明显减小（）
6、电磁透镜和光学透镜均属于直线汇聚透镜（）
7、限制电磁透镜分辨率的最主要因素是色差（）
8、电磁透镜的景深越大，对聚焦操作越有利（）
第十章
1、TEM的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响（）
2、孔径半角α是影响分辨率的重要因素，TEM中的α角越小越好（）
3、物镜的分辨率主要决定于极靴的形状和加工精度（）
4、物镜光阑可以减小像差但不能提高图像的衬度（）
5、当电磁偏转器的上、下偏转线圈偏转的角度相等但方向相反时，电子束会进行平行移动（）
6、物镜光阑孔越小，被挡去的电子越多，图像的衬度越大（）
7、物镜光阑能使物镜孔径角减小，能减小像差，得到质量较高的图像（）
8、物镜光阑是没有磁性的（）
9、TEM中栅极的作用是限制和稳定束流（）
10、利用电子显微镜进行图像分析时，物镜和样品之间的距离是固定不变的（）。