表面粗糙度比较样块校准装置操作程序

xxxx 作业指导书

计量标准操作程序

YTIM3924-2012 表面粗糙度比较样块校准装置

xxxx-0*-0*批准 xxxx-0*-0*实施

表面粗糙度比较样块校准装置操作程序

一、依据：

根据JJF1099-2003校准规范制定本程序。

二、适用范围：

适用于新制造、使用中和修理后的表面粗糙度样板的校准。

三、校准前的准备工作：

1．表面粗糙度样块：Ra（6.3～0.1）µm在表面粗糙度检查仪上进行； Ra（0.1～0.012）µm在干涉显微镜上进行。

2．校准时室内温度为（20±5）℃，且防潮、防震、电压必须稳定，被测样块必须清洗干净；

3．使用表面粗糙度检查仪：校准前需对表面粗糙度检查仪进行校准，首先开机预热30分钟，然后将多刻线样板平放在工作台上，使样机板表面加工纹理垂直于传感器运动方向，转动立柱上的手轮将指零针调至两条红带之间，再将测量范围旋钮拨到10000×的位置，变动手柄“‖”的位置上，测量方式开关拨“读表”，在切除长度为2.5mm、0.mm、0.25mm时，启动仪器对多刻线样板进行测量，如在平均表反映的数值与多刻线样板进行测量，如在平均表反映的数值与多刻线样板所标的数值不符合时，调整仪器背后的平均表增益器使之符合，仪器校准后，方可使用。

4、使用干涉显微镜：校准前半小时，打开照明灯，将仪器温度稳定后再进行测量。调整光源，使视场照常明均匀，选择光源，寻找

干涉带，调整干涉带间距宽度及方向，使干涉带间距为：视宽度（3~5）mm，此时，即可进行读数测量。

四、校准过程方法：

1．用眼观察样块质量，应无碰伤、锈迹等表面缺陷以及肉眼能明显觉察到的表面波度和加工痕迹不均匀的现象，对于新制造的样板不允许有划痕和测量痕迹，对使用中的样块允许有不影响使用的少量细微划痕；

2．样块工作面的表面粗糙度参考值：

a)根据样块所标注的Ra公称值，选择取样长度，评定长度和放大倍数；

b)将样板放在工作台上，按校准多刻线样板的步骤将仪器进行调整，调好后开始校准；

c)对样板进行测量，在样板工作面上均匀分布不少于三个位置进行校准，每个位置重复测量2—3次取平均值，作为该样板最终结果。

五、数据处理：

经校准后的样块，出具校准证书。

六、使用维护保养：

校准结束后，关掉仪器电源，以备下次再用。

本操作程序由xxx室编写审核：批准：