实验三 集成触发器的逻辑功能测试

实验三集成触发器的逻辑功能测试

一实验目的

1．熟悉JK触发器的基本原理及逻辑功能。

2．熟悉D触发器的基本原理及逻辑功能，并掌握其寄存器移位功能。

3．触发器应用。

二、实验仪器及器件

仪器：逻辑箱，数字万用表

器材：74LS74、74LS76

三、实验基本原理

JK触发器有J输入端和K输入端，而其R D端和S D端则具有置“0”置“1”功能，逻辑功能如下：

Q

当J=K=1时，CP脉冲作用下，触发器状态翻转，写成Q n+1=

n

当J=K=0时，CP脉冲作用下，触发器保持原状态，写成O n+1=Q n。

当J=1，K=0时，在CP脉冲作用下，触发器置“1”，写成Q n+1=1。

当J=0，K=1时，在CP脉冲作用下，触发器置“0”，写成Q n+1=0。

四、触发器的逻辑功能测试：

1．JK触发器（选择74LS76）

（1）触发器置“0”“1”的功能测试：

将S D、R D分别接开关K i+1、K i，Q、Q分别接发光二极管L i+1，L i，按表5—1要求改变S D，R D（J，K，CP处于任意状态），并在S D R D作用期间，任意改变J、K、CP的状态，观察Q和Q的状态，将结果记录于表5—1。

表5—1JK触发器菜单

将J、K分别接开关，而上述实验中的S D、

R D所接开关保持，并置于S D=1，R D=1的状

态，时钟CP接单脉冲信号源的输出P+，按

表5—2要求，将结果记录于表5—2。

2．D 触发器：（选择74LS74）

（1） 触发器置“0”置“1”功能的测试：

将S D 、R D 分别接开关，Q 、Q 分别接发光二极管，按表5—3要求改变S D 、R D （D 及CP 处于任意状态）并在S D 、R D 作用期间，任意改变D 与CP 的状态，测试S D 、R

D 的功能，并将测试结果记录于表5—3。

表5—3D 触发器S D 、R D 菜单

（2） 对D 触发器逻辑功能的

测试，结果记录于表5—4。

表5—触发器逻辑菜单

五、触发

器应用：

1． 用JK 触发器（74LS76）组成

三位串行累加计数器如下图。

2．用D 触发器组成四位移位寄存器如下图。