射频可测试性设计规范

Q/SY

深圳市远望谷信息技术股份有限公司企业标准

Q/SY XXXX–2009

射频可测试性设计规范

2010-XX-X发布 2010-XX-XX实施

深圳市远望谷信息技术股份有限公司发布

目录

前言

本标准的其它系列标准：

与对应的国际标准或其它文件的一致性程度：

本标准参考内容，结合我司实际制定/修订。

本标准由深圳市远望谷信息技术股份有限公司中试部提出。本标准由深圳市远望谷信息技术股份有限公司技术部归口。本标准起草部门：中试部。

本标准主要起草人：彭辉、王文财。

本标准于2010年8月首次发布。

射频可测试性设计规范

1范围和简介

1.1范围

本规范主要规范RF单板ICT DFT 设计和FT DFT 设计，适用于产品设计中的所有成员，特别包括硬件方案设计人员，原理图项目人，RF硬件设计人员，RF 互连设计工程师、ICT 装备工程师。

本规范适用于RF单板ICT 和FT DFT 的设计。

1.2简介

本规范规定了RF单板ICT DFT 设计方法和FT DFT 设计方法，适用在RF单板方案设计阶段、PCB 布局阶段和ICT 软件编程阶段。要求开发工程师和RF CAD 设计工程师在单板方案设计、PCB 布局时遵守此规范进行ICT 测试点和FT可测试性设计，ICT 装备工程师遵守此规范进行ICT 软件编程。

制定本规范的目的之一是收集整理产品设计过程中好的射频FT DFT 设计方法并加以总结、推广，旨在从设计源头加强射频FT DFT 设计的有效性和规范性，帮助DFT 设计人员和产品开发人员更好的实现产品的射频FT DFT 特性。

1.3关键词

RF，DFT，ICT，FT，ICT 测试点。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

序号编号名称

1

3术语和定义

RF：Radio Frequency ，无线电频率。ICT：In-Circuit Test，在线测试BUT：Board Under

Test，被测单板DFT：Design-for-Test ，可测试性设计FT：Function Test，功能测试

MMIC：Microwave Monolithic Integrated Circuit，微波单片集成电路

4射频单板ICT,DFT设计

4.1射频单板ICT 测试点设计规则

规则1.1.1 ：射频微带线上的ICT 测试点的直径设置为40mil，特殊情况下最小可允许为

32mil（需要与ICT 工程师确认）。所以PCB 设计时，微带线线宽最好设置在30mil 以上，尽量减小测试点阻抗的不连续性。

说明1：如果射频微带线上有过孔，过孔直径设置为40mil，特殊情况下最小可允许为32mil

（需要与ICT 工程师确认），仿真通过后，将该过孔属性设置成ICT 测试点属性，则该过孔可以直接作为ICT 测试点。

说明2：如果射频微带线上没有过孔，则微带线上ICT 测试点类型选用表贴式，直径设置

为40mil，特殊情况下最小可允许为32mil（需要与ICT 工程师确认），仿真通过后，将表贴式测试点属性设置成ICT 测试点属性。

规则1.1.2 ：射频微带线上的ICT 测试点尽量放在微带线上，见图1。对于1GHz 以下的信号，如果布局紧密，微带线上的ICT 测试点也可以适当设置在分支线上，见图2；对于1GHz 以上的信号，微带线上的测试点要求放在微带线上，如果空间局限必须设置在分支线上，可以最后进行防真，将ICT 测试点的影响降低到最小。

图1 某公司功放模块单板微带线上ICT 测试点设置方法

图2 某公司频率综合源RF通路微带线分支ICT 测试点设置方法

规则1.1.3 ：其它非微带线上的ICT 测试点设计规则见《可测试性设计DFT》中第6节课测试性总体设计要求。说明：非微带线上的ICT 测试点可以是过孔型式，也可以是表贴式。见图3，某公司单板AT-210 数字衰减器控制端ICT 测试点为表贴式。

图3 某公司数字衰减器AT-210 控制端ICT 测试点设置方法（表贴式）

4.2射频器件ICT DFT 设计规则

1.2.1 射频放大器和场效应管放大器

规则1.2.1.1：放大器直流工作点设置ICT 测试点，可以检测放大器直流工作点电压是否正常。

说明1：如果放大器输出端直接与扼流电感相接，则放大器直流工作点测试点设置在扼流电感与限流电阻之间，见图4；如果放大器输出端直接与限流电阻相接，则放大器直流工作点测试点直接设置在放大器输出端，见图5。具体应按实际电路及布线情况确定。

图4 ICT 测试点设置在扼流线圈和限流电阻之间

图5 ICT 测试点设置输出微带线上建议

1.2.1.1：如果空间布局允许，建议在放大器输入端的微带线上也设置ICT 测试点，可以检测放大器输

入工作点电压是否正常。说明1：射频放大器输入端ICT 测试点的设置在放大器输入管脚附近，见图6。

图6 放大器前直接是耦合电容ICT 设置方法

1.2.2 MMIC 射频开关

规则1.2.2.1 ：射频开关电源端设置ICT 测试点，可以检测射频开关电源端电压是否正常，进一步判断器件电源端工作电流的大小，筛选出电源端漏电偏大的失效器件。

说明1：电源端ICT 测试点设置在器件管脚附近，见图7，可以直接检测器件的工作电压。

为达到筛选出漏电流偏大的器件，电源端限流电阻不能低于2.2K 。

图7 射频开关电源端ICT测试点设置方法

规则1.2.2.2 ：射频开关控制端设置ICT 测试点，可以检测射频开关控制电压状态，进