(整理)数字电路实验讲义
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数字电路实验讲义
课题:实验一门电路逻辑功能及测试课型:验证性实验
教学目标:熟悉门电路逻辑功能,熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法
重点:熟悉门电路逻辑功能。
难点:用与非门组成其它门电路
教学手段、方法:演示及讲授
实验仪器:
1、示波器;
2、实验用元器件
74LS00 二输入端四与非门 2 片
74LS20 四输入端双与非门 1 片
74LS86 二输入端四异或门 1 片
74LS04 六反相器 1 片
实验内容:
1、测试门电路逻辑功能
(1)选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。
(2)将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻辑状态值及电压值填表。
2、逻辑电路的逻辑关系
(1)用74LS00 双输入四与非门电路,按图1.2、图1.3 接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.2,表1.3 中。
(2)写出两个电路的逻辑表达式。
3、利用与非门控制输出
用一片74LS00 按图1.4 接线。S 分别接高、低电平开关,用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
4、用与非门组成其它门电路并测试验证。
(1)组成或非门:
用一片二输入端四与非门组成或非门B
+
=,画出电路图,测试并填
=
A
A
B
Y∙
表1.4。
(2)组成异或门:
①将异或门表达式转化为与非门表达式;
②画出逻辑电路图;
③测试并填表1.5。
5、异或门逻辑功能测试
(1)选二输入四异或门电路74LS86,按图1.5 接线,输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口,输出端A、B、Y 接电平显示发光二极管。
(2)将电平开关按表1.6 的状态转换,将结果填入表中。
6、逻辑门传输延迟时间的测量
用六反相器74LS04 逻辑电路按图1.6 接线,输入200Hz 连续脉冲(实验箱脉冲源),将输入脉冲和输出脉冲分别接入双踪示波器Y1、Y2 轴,观察输入、输出相位差。
实验报告
1、按步骤要求填表并画逻辑图
2、回答问题:
(1)怎样判断门电路逻辑功能是否正常?
(2)与非门一个输入接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过?
(3)异或门又称可控反相门,为什么?
课题:实验二组合逻辑电路( 2 学时) 课型:验证性实验
教学目标:
1、掌握组合逻辑电路的功能测试。
2、验证半加器和全加器的逻辑功能
3、学会二进制数的运算规律
重点:掌握组合逻辑电路的功能测试
难点:测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能
教学手段、方法:讲授及演示
实验仪器:
74LS00 二输入端四与非门3 片
74LS86 二输入端四异或门1 片
74LS54 四组输入与或非们1 片
实验内容
1、组合逻辑电路功能测试
⑴用2 片74LS00 组成图3.1 所示逻辑电路。为了便于接线和检查,按图中注明的芯片编号及引脚对应的标号接线。
⑵图中A、B、C 接电平开关,Y1、Y2 接发光管电平显示。
⑶按表3.1 要求,改变A、B、C 的状态填表并写出Y1、Y2 的逻辑表达式。
⑷比较逻辑表达式运算结果与实验是否一致。
2、测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能
根据半加器的逻辑表达式可知,半加器Y 是A、B 的异或,而进位Z 是A、B 相与,故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图3.2。
⑴在实验箱上用异或门和与非门接成以上电路。A、B 接电平开关S、Y、Z 接电平显示。
⑵按表3.2 要求改变A、B 状态,将实验结果填表。
3、测试全加器的逻辑功能。
⑴写出图3.3 电路的逻辑表达式;
⑵根据逻辑表达式列出真值表;
⑶根据真值表画出函数Si、Ci 的卡诺图。
⑷填写表3.3 各点状态。
数据进行比较,看逻辑功能是否一致。
4、测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能
⑴画出用异或门、与或非门和非门实现全加器的逻辑电路图,写出逻辑表达式。
⑵用上述三块逻辑电路器件按自己画出接线图。接线时注意与或非门中不用的与门输入端接地。
⑶输入端Ai、Bi、Ci-1 接电平开关输出插口(Si),输出端接电平显示发光二极管(Di)并将逻辑状态填入表3.5。
实验报告
1、整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。
2、总结组合逻辑电路的分析方法。
课题触发器(一)R-S,D,J-K ( 2 学时) 课型:验证性实验
教学目标:
1、熟悉并掌握R-S,D,J-K触发器的构成,工作原理和功能测试方法。
2、学会正确使用触发器集成芯片。
3、了解不同逻辑功能FF相互转换的方法。
重点:掌握R-S,D,J-K触发器的构成,工作原理和功能测试方法
难点:触发器功能转换
教学手段、方法:讲授及演示
实验仪器:
1、双踪示波器
2、实验用元器件
74LS00 二输入端四与非门1 片
74LS74 双D 型触发器1 片
74LS112 双J-K 触发器1 片
实验内容:
1、基本R-SFF 功能测试
将两个TTL 与非门首尾相接构成基本R-SFF 电路如图4.1 所示。
(1) 按下面的顺序在输入端加信号:
观察并记录FF 的Q、端的状态,将结果填入表4.1 中,并说明在上述各种输入状态下,FF 执行的是什么功能?