电子测量第二剖析

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EDS元素分析-eds图像

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EDS【2元素剖析一、试验目标1.懂得能谱仪 (EDS) 的构造和工作道理.2.控制能谱仪 (EDS) 的剖析办法.特色及运用.二、试验道理在现代的扫描电镜和透射电镜中,能谱仪 (EDS) 是一个重要的附件,它同主机共用一套光学体系,可对材估中感兴致部位的化学成份进行点剖析.面剖析.线剖析.它的重要长处有:(1)剖析速度快,效力高,能同时对原子序数在11—92之间的所有元素(甚至C.N.0 等超轻元素)进行快速定性.定量剖析;(2)稳固性好,反复性好;(3)能用于光滑表面的成份剖析(断口等);(4)能对材估中的成份偏析进行测量,等等.( 一) EDS 的工作道理探头接收特点X 射线旌旗灯号→把特点X 射线光旌旗灯号改变成具有不同高度的电脉冲旌旗灯号→放大器放大旌旗灯号→多道脉冲剖析器把代表不同能量(波长) X 射线的脉冲旌旗灯号按高度编入不同频道→在荧光屏上显示谱线→运用盘算机进行定性和定量盘算.(二) EDS 的构造1、探测头:把X 射线光子旌旗灯号转换成电脉冲旌旗灯号,脉冲高度与X 射线光子的能量成正比.2、放大器:放大电脉冲旌旗灯号.3、多道脉冲高度剖析器:把脉冲按高度不同编入不同频道,也就是说,把不同的特点X 射线按能量不同进行区分.4、旌旗灯号处理和显示体系:辨别谱.定性.定量盘算;记载剖析成果.( 三) EDS 的剖析技巧1、定性剖析: EDS 的谱图中谱峰代表样品中消失的元素.定性剖析是剖析未知样品的第一步,即辨别所含的元素.假如不能精确地辨别元素的种类,最后定量剖析的精度就毫无意义. 平日可以兴许靠得住地辨别出一个样品的重要成份,但对于肯定次要或者微量元素,惟独卖地处理谱线干扰.掉真和每一个元素的谱线系等问题,才干做到精确无误.定性剖析又分为主动定性剖析和手动定性剖析,个中主动定性剖析是依据能量地位来肯定峰位,直接单击“操作/ 定性剖析"按钮,即可在谱的每一个峰地位显示出响应的元素符号.主动定性剖析辨认速度快,但因为谱峰重叠干扰轻微,会产生必然的误差.2、定量剖析:定量剖析是经由过程X 射线强度来获取构成样品材料的各类元素的浓度.依据现实情形,人们追求并提出了测量未知样品和标样的强度比办法,再把强度比经由定量修改换算成浓度比.最普遍运用的一种定量修改技巧是ZAF 修改.3、元素的面扩散剖析:在多半情形下是将电子束只打到试样的某一点上,得到这一点的X 射线谱和成份含量,称为点剖析办法.在近代的新型SEM 中,大多可以获得样品某一区域的不同成份扩散状况,即:用扫描不雅察装配,使电子束在试样上做二维扫描,测量其特点X 射线的强度,使与这个强度对应的亮度变化与扫描旌旗灯号同步在阴极射线管CRT 上显示出来,就得到特点X 射线强度的二维扩散的像.这种剖析办法称为元素的面扩散剖析办法,它是一种测量元素二维扩散异常便利的办法.三、试验装备和材料四、试验装备: NORAN System SIX五、试验材料:ZnO 压敏断面四、试验内容与步骤( 一)点剖析该模式许可在电镜图象上采集多个自界说区域的能谱1. 采集参数设置由该模式的目标可知,其采集参数设置包括电镜图象采集参数设置和能谱采集参数设置.对其进行合理设置.2. 采集进程单击采集对象栏中的采集开端按钮,采集一幅电镜图象.可以立刻采集自力区的能谱,也可以批量采集多区域的能谱.立刻采集自力区域的能谱 (1)单击点扫对象栏中的立刻采集按钮,使其处于被按下的状况.(2)选择一种区域外形. (3)在电镜图象上指定区域地位. (4)等待采集完成. (5)如想增长一个新区域,单击指定一个新的区域地位.批量采集多区域的能谱(1)单击点扫对象栏中的立刻采集按钮,使其处于抬起的状况. (2) 单击点扫对象栏中的批量采集按钮,使其处于被按下的状况. (3)选择一种区域外形. (4) 在电镜图象上指定区域地位. (5)反复第(3). (4 )步,指定多个区域. (6)单击采集对象栏中的按钮,体系将采集每一个区域的谱图.3.查看信息(1)单击点扫对象栏中的从新查看按钮. (2)在电镜图象上单击想要查看信息的区域.全谱剖析模式剖析该模式可以对所采电镜图象的每一个像素点采集一组经由逝世时光修改的能谱数据.一 旦采集并存储后,就可以在离开电镜支撑的前提下,生成能谱进行定性.定量剖析,生成面散 布图象.生成线扫描图象.输出报告等.1. 采集参数设置该模式下的采集参数设置分为以下两部份: (1)电镜图象采集参数设置该部份参考Averaged Acquisition 平均采集参数设置.(2)面扩散图象采集参数设置单击采集对象栏中的采集参数设置按钮,打开采集参数设置2. 采集进程 单击采集对象栏中的采集按钮,进行电镜图象的采集和面扩散采集.Acquisition PropertiesEDS Imagng Mappng Lneeean| MappingHesoluionFtane Tme lsl Dwel Time [us] 50 Number of Aequinhen Time [OphonsAcqire Video Morior SI Specbum[anceQetaut对话框,进行设置.(1)在提取对象栏中选择一种提取对象,在电镜图象上肯定提取区域,即可获得提守信息. (2) 对于 Spot 圆圈和 Linescan 线提取方法,可以进行参数设置.办法是:在电镜图象上右击 鼠标,在弹出的对话框中选中 Image Extract 图象提取选项卡.在这里可以设置圆圈半径. 线宽度及线上的取样点数.(二)线扫描(1)在线扫描图象上右击鼠标,在弹出的对话框中,可以改变标落款称.改变背风景.选择线 扫描线的显示方法.是否显示光标.是否显示栅格.是否运用粗线条等. (2)如想去除某个 元素的线扫描,在元素周期表中右击该元素后选择 Inactive. (3) 在电镜图象和线扫描图 像上都运用图象强度光标.当挪移某一个光标时,另一个光标也随之挪移.电镜图象上的光标 指导出当前光标地点地位的横.纵坐标及灰度值;线扫描图象上的光标指导出当前光标地点 地位的某一元素的计数值. (4)将某一元素的线扫描图象叠加在电镜图象上显示:单击线 扫描图象下的该元素标签,即可叠加/不叠加显示该元素的线扫描图象.叠加属性可按如下方 法修改: 单击菜单 “EditProperties”, 并选择Linescan 0verlay 选项卡,如下图所示.(三)面扩散(1)在面扩散图象上右击鼠标,在弹出的对话框中,可以改变光标色采.是否显示光标.是 否叠加于电镜图象上,改变面扩散色采.面扩散比较度亮度等. (2)如想去除某个元素的Line PchlesOn the LnescanOn an bxis Uzng Smat AxrDisplay SldeOyesy.StackedSodedlndependenllLneThicknes [ cfimogotThicknest for last emtractNumber cf Ponts 50SpotBadus [%ofimaoel 10Imoge Size: 512x512 picle3. 提取所需信息面扩散,在元素周期表中右击该元素后选择 Inactive. (3)在电镜图象和面扩散图象上都运用图象强度光标.当挪移某一个光标时,另一个光标也随之挪移.电镜图象上的光标指导 出当前光标地点地位的横.纵坐标及灰度值;面扩散图象上的光标指导出当前光标地点地位的某一元素的计数值.(4)将某一面扩散图象叠加在电镜图象上显示:单击面扩散图象上的元素标签,即可叠加/不叠加显示该面扩散图象.试验完成后,将所需的扫描图象保存.五、 试验成果及评论辩论分离对ZnO 压敏断面进行点剖析,线剖析,面剖析.起首截取所选的剖析图样,如下图所示Map PropertiesMsp CaloiOuraor PicpoitiesShow Cug Cwa Cokr imaoe PicpertetContatMap Cdor RedBrighinestModn; AutoppbOrolap onto lmageCancel0K第6页,-共13页(1)点剖析起首对样品进行全谱剖析:从图中可以读取到该样品中含有Zn.0 等元素,个中Zn 的含量最高,其它挨次是0及其他元素.对应误差从表格中读取Live Time: 50.0 sec.Detector: PioneerQuantitative Results BaseAl K 0.99 +/-0.162.17 +/-0.35 Zn K 83.97 +/-1.55 76.10 +/-1.41 Sb L 3.80 +/-0.23 1.85 +/-0.11Bi L 6.37 +/-2.691.81 +/-0.76Total 100.00100.00试验中我们拔取了如图3个点进行点剖析,如下图所示Image Name: Base(1)Accelerating Voltage: 20.0 kVMagnification: 2000(个中,图象名称为ZnO(1), 加快电压为20kV,放大倍数为2000)以下具体列出了3个点剖析:从此图可以看出拔取的点1邻近富含Zn 元素,同时含有少量0和 C 元素.解释在大晶粒中ZnO 占重要成份,即ZnO 富集区,而其它掺杂含量很少.从此图可以看出拔取的点2邻近富含 Sb 元素,同时含有少量 C.0.Zn.Bi.Mn.Co.Ni 等元素.解释在晶界区域掺杂的杂质占重要成份,即杂质富集区,而主项含量很少.从此图可以看出拔取的点3邻近富含Zn.Bi 元素,同时含有少量0.Zn 等元素.解释在小晶粒中Bi 已经掺杂进入主晶相,同时一些其他杂质也已经掺入个中.下面给出了点1.2.3处各元素含量比和误差:Weight %Weight % ErrorBase(1) pt1+/-0.30 +/-1.58Base(1) pt2+/-0.37 +/-0.18 +/-0.21 +/-0.41 +/-1.28 +/-0.38Base(1) pt1 Base(1) pt2 Base(1) pt394.54 56.7926.605.46 11.54 1.5524.682.272.09 2.6271.85Base(1) pt3+/-0.16+/-0.97 +/-5.66Atom %Base(1) pt1 Base(1) pt2 Base(1) pt319.09 37.69 11.411.992.022.3380.91 45.39 48.0210.5940.57Atom % Error(2)对样品进行线剖析Accelerating Voltage: 20.0 kVMagnification: 5000注:加快电压20kV,放大倍数为5000.Base(1) pt1 +/-1.04+/-1.35Base(1) pt2 Base(1) pt3 +/-1.21 +/-1.21+/-0.17 +/-0.19 +/-0.37+/-1.02+/-1.76+/-0.16+/-3.20Base(3)MicronsOKZnKMnKSbLCoBLK NiK如图所示,我们拔取经由大晶粒.晶界.和小晶粒的一条线段进行线剖析.经由过程联合 高低两个图剖析,可以得到如下结论: ( 1 ) 该 ZnO 陶瓷重要的元素为 Zn,并且其富集区在 大晶粒中,其次是小晶粒中,晶界中含量起码;(2)掺入的 Sb 元素重要富集在小晶粒中,且 比较平均,解释掺杂后果较好;(3)晶界处富集较多的 Bi;(4) 元素 Mn 含量很少并且比较 平均.这也验证了前面点剖析的精确性.(3)对样品进行面剖析拔取如下图所示的样品区域及其灰度图,工作时加快电压为15kV,放大倍数为20005493661830. 1.35 2.69 4.04 5.39 6.73 8.08 9.42 10.7712.12s t n u o C以下为所研讨的元素在样品中的扩散(用不同标志和色采区分)Data Type: Counts Mag: 5000 Acc. Voltage: 20 kV联合面剖析中各元素的含量扩散,并与所选图各区域比较,可得出如下结论: (1) Zn 元 素含量最多,其次是氧,这也验证了其 ZnO 为重要成份,但在一些晶界上显著含量较少;(2) Co.Mn 元素含量起码,应当是少量的掺杂,且三者的扩散较为平均,但是在小晶粒和晶界中含 量较多;(3) Sb 元素含量较少,但在小晶粒中含量较多;(4) Bi 元素含量较少,但是在晶界中 扩散较多.这与前面点剖析和线剖析相吻合.依据晶体发展理论及固体物理常识,以上的现象可以解释为:重要成份 ZnO 晶粒的发展Base(2)15■5 um 5Grey6553525501所需能量较少,是以形成的晶粒较大;而重金属元素如Sb在小晶粒中代替Zn的地位,使得晶粒在发展时须要较多的能量,是以晶粒的尺寸相对较小;而晶界处往往是空位,畸变和位错的富集区,是以一些元素如Bi 往往在晶界处富集.。

电子测量技术教案《2》

电子测量技术教案《2》

电子测量技术教案《2》教案:电子测量技术《2》一、教学目标本课程旨在培养学生对电子测量技术的基本概念和方法的理解,并能够应用于电子测量领域的实际问题中。

二、教学内容1.电子测量技术的基本概念和方法介绍2.电子测量仪器的使用和操作3.电子测量技术的实例应用三、教学方法本课程采用理论与实践相结合的教学方法,通过理论讲解和实验操作相结合的方式进行教学,以培养学生的实际操作能力和解决问题的能力。

四、教学过程1.理论讲解1.1电子测量技术的基本概念和方法介绍-电子测量技术的定义和作用-电子测量仪器的分类和特点-电子测量技术的基本原理和测量范围-电子测量技术的误差分析和校准方法2.实验操作2.1电子测量仪器的使用和操作-示波器的使用和操作方法-多用表的使用和操作方法-信号发生器的使用和操作方法-频谱仪的使用和操作方法3.实例应用3.1电子测量技术的实例应用-温度测量-电压测量-频率测量-电流测量五、教学评估本课程的评估主要通过实验报告和考试成绩来进行,考察学生对电子测量技术的理解和实践能力。

同时,也将对学生的课堂参与和表现进行评估。

六、教学资源1.电子测量仪器:示波器、多用表、信号发生器、频谱仪等2.教材和参考书籍3.实验报告模板和评估表七、教学总结通过本课程的学习,学生将对电子测量技术有更为深入的了解,能够熟练运用电子测量仪器进行实验操作,并能够应用所学的电子测量技术解决实际问题。

同时,还能提高学生的实际操作能力和解决问题的能力,为今后从事相关工作打下坚实的基础。

电子测量仪器主要技术指标的剖析

电子测量仪器主要技术指标的剖析

电子测量仪器主要技术指标的剖析刘苏英【摘要】根据多年电子测量技术课程的教学工作经验,通过对在校生和毕业生的了解,以及对我国电子测量仪器现状的调查,发现技术指标对选择使用和销售购买电子测量仪器至关重要,正确选择测量方案和一定指标的测量仪器能够大大提高测量准确度.基于此,从电压、频率和数字三个方面深入剖析了17个电子测量仪器的常用技术指标.【期刊名称】《喀什大学学报》【年(卷),期】2018(039)006【总页数】4页(P32-35)【关键词】电子测量仪器;技术指标;电压;频率【作者】刘苏英【作者单位】[1]安徽机电职业技术学院电气工程系,安徽芜湖241000;【正文语种】中文【中图分类】TM9300 引言科学技术的发展促进了人类社会的进步,而正是测量奠定了科学技术发展的基石.它不但能够使人们得到真知,而且能够使人们发现未知.科学技术的发展促进了测量的发展,测量的发展促进了测量仪器的发展,而测量仪器的发展主要是技术指标的提高.近10年来,经过市场和技术的推动,我国电子测量仪器技术指标已经有了长足的进步,并在一些方面已接近并超过国际先进水平.目前,电子测量仪器正朝着高兼容性、高稳定性、高精确性、高便捷性的方向发展,使用也不像过去那么复杂.但要选择好、使用好,并得到精准的测量数据,除了要对测量对象有准确的了解外,还要了解其相关技术指标.本文从三个方面剖析电子测量仪器常用技术指标.1 电压相关1.1 电平特性包括输出电平及其平坦度,常作为信号发生器的技术指标.输出电平范围是指仪器输出信号幅度的有效范围.信号发生器的输出电平常用峰值表示,一般输出各种波形的最大峰峰值相同,使用时注意输出各种波形的最大有效值是不同的.输出电平平坦度是指在有效频率范围内,输出电平随频率变化的程度,选用和使用信号发生器时也尽量使用平坦度小的频段.1.2 输入阻抗和输出阻抗输入阻抗是后级电路或仪器对前级电路或仪器所呈现出来的阻抗.输入阻抗非常高,意味着从被测电路流入后级电路或仪器的电流非常小,即测量不影响电路正常工作. 信号源、放大器和电源都会向负载提供电压,但负载时输出电压总比空载时输出电压小,原因就是信号源、放大器和电源都存在输出阻抗,输出阻抗降低了一定的电压.输出阻抗越小,驱动负载的能力就越强.选用仪器或电路时要选用输入阻抗大、输出阻抗小的仪器或电路,但对负载功率有比较高的要求时,比如高频电路和仪器,一定要保证阻抗匹配,现在很多仪器输出阻抗可以直接在系统设置里调节,所以能非常方便的匹配.1.3 动态范围动态范围指能按要求精度测量、分析输入端同时出现的两个信号的最大功率比,用dB表示,上限受非线性失真的限制.能够表示频谱分析仪显示大信号和小信号频谱的能力.1.4 最大输入电压最大输入电压指仪器所能输入的最大信号幅度.为了确保安全使用测试仪器,很多测试设备都会标称CAT级别指标,IEC60664按照不同场合建立了由CATⅠ~Ⅳ的安全等级标准,也称为过电压范畴,定义如下:CATⅠ即通过变压器或类似设备连接到墙上插座的二次电气回路;CATⅡ即通过电源线连接到室内插座的用电设备的一次电气线路;CATⅢ即直接连接到配电盘的大型设备的一次回路及配电盘与插座之间的电力线路;CATⅣ即任何室外供电线路或设备.表1 过压分类Tab.1 Overvoltage classification过压分类工作电压(对地直流或交流有效值)峰值瞬间高压(重复20次)测试电阻(Ω=ΩV/A)一类 600V 2500V 30Ω源一类1000V 4000V 30Ω源二类600V 4000V 12Ω源二类 1000V 6000V 12Ω源三类600V 6000V 2Ω源三类1000V 8000V 2Ω源四类 600V 8000V 2Ω源衡量测试仪器或探头附件保护电路的关键除了最大输入电压这一指标,还包括抵御瞬间高压的能力.这一指标如若不高,则危害更大,因为当瞬间高压加在高能电路上时,能够导致比正常值大很多倍的电流.IEC1010关于耐压指标规定了三个准则:稳定状态电压、峰值瞬间高压和源电阻.它们组合在一起就可以确定一台仪器真正的耐压能力.过压分类如表1所示,由表1可知:(1)在同一过压分类下,工作电压越高,所能承受的峰值瞬间高压越高.(2)在不同过压分类下,因源电阻不同而有明显区别,例如二类的源电阻为12 Ω,三类是2 Ω,如果电压相同,那么三类仪器中的电流是二类的6倍,能量是二类的36倍.很明显满足三类600 V过压标准的仪器比二类1000 V的过压保护能力更强.1.5 灵敏度灵敏度指仪器测量小信号的能力,定义为显示幅度为满刻度时所能测量的最小电平值.受仪器中存在的噪声、杂波、失真以及杂散响应的限制,并与测量速度有关,速度越高,灵敏度越低.在测量小信号、判断电桥平衡及电路和仪器调零时一定要选择灵敏度高的仪器.1.6 分辨率分辨率指仪表所能显示被测电压最小变化值的能力.也即是显示器最末位读数跳一个单位所需要的最小电压变化值.在不同的量程上分辨率不同,最小的量程上分辨率最高.通常把一台仪器的最高分辨率作为这台仪器的分辨率指标.例如:3位半的DVM,在 200 mV量程上,可以测量的最大输入电压为199.9 mV,其分辨率为0.1 mV.1.7 1dB压缩点对于放大器,输入信号太大,会导致输出信号一部分截止失真,一部分饱和失真,所以输入电平过高会引起信号增益下降,在动态范围内,下降1 dB时的点,叫1 dB压缩点.它可以表示仪器的过载能力.2 频率相关2.1 频率范围频率范围指仪器各项指标均能得到保证时的最大频率区间.测量时,如果被测信号频率超出仪器频率范围,测得结果将不准确,甚至是错误的.2.2 频率准确度频率准确度指输出信号频率的实际值f与标称值f0的相对误差,其表达式为α=Δf/f0.2.3 频率稳定度频率稳定度指一定时间内仪器输出频率准确度的变化,它表示了信号源维持某一恒定频率的能力.分为短期频率稳定度(fmax-fmin)/f0和长期频率稳定度.2.4 非线性失真度信号发生器输出单一频率的正弦信号时,由于非线性失真、噪声等原因,往往输出信号中含有其他谐波成分,即信号的频谱不纯,用表示,式中:U1为信号基波有效值,U2~Un为各谐波有效值.2.5 频率分辨率、分辨率带宽频率分辨率是指频谱分析仪分辨相邻的两个频谱分量的能力,其受仪器中窄带滤波器的带宽限制;分辨率带宽是指窄带滤波器幅频特性的3 dB带宽,其高低反映出频谱仪的档次高低,高档的频谱仪分辨率带宽可做到1 Hz~5 MHz.其它相关的指标还有频率选择性(滤波器60 dB带宽与3 dB带宽之比),在使用频谱仪时,频率选择性越小,分辨不等幅信号的能力就越强;一般仪器的频率选择性是固定的,而分辨率带宽是可调的,所以可以通过减小分辨率带宽,减小平均显示噪声电平,达到更好的测量微弱信号的效果.2.6 扫宽、扫描时间扫宽、扫描时间通常作为频谱分析仪的技术指标.扫宽通常是指频谱分析仪在一次扫描分析过程中所显示的频率范围,修改扫宽将自动修改起始频率和终止频率,扫宽最大时,为全扫宽模式;最小为零扫宽模式,此时测量的是输入信号对应频率点处的时域特性.扫宽和分辨率带宽改变将引起扫描时间的变化.扫描时间是指在扫宽范围内完成一次扫描的时间.扫描时间小,测量速度高,但要保证设置的扫描时间大于自动耦合时的最短扫描时间,否则可能导致测量错误. 2.7 带宽与上升时间电路具有幅频特性,一般随频率升高或下降信号会有衰减,定义信号幅度下降到3 dB时的频率点为上升频率和下降频率,两者之差为带宽,使用时必须对高频和低频带宽都加以考虑.在电子测量中,示波器带宽不足会对测试信号产生两个方面的影响:(1)高频信号幅度下降;(2)信号高频成分消失,测得上升时间变慢.所以使用示波器,正确选择带宽很重要,一般分两种情况:(1)重点考虑谐波.以方波为例,方波是由基波和无数奇次谐波叠加而成的,谐波越多,越接近方波,普遍认为方波包含到9次谐波.即对于100 MHz的方波,带宽要在900 MHz以上才能进行测量,如图1所示.常见的三角波包含到3次谐波,不同占空比的脉冲包含的谐波数也不同,所以以谐波情况来选择示波器带宽首先要了解该波形的重要谐波数.(2)重点考虑上升时间.在1 GHz范围内,T上升=0.35/BW,测量所得上升时间波形上升时间越小,所含谐波越多.信号上升时间与仪表上升时间之比,会影响到测量精度,反之,根据对测量精度的要求,可以得知信号上升时间与仪表上升时间的比例要求,从而达到选择带宽的目的.图1 基波与谐波叠加方波Fig.1 Square wave is made up of fundamental wave and harmonic waves3 数字相关3.1 采样率采样是将时间上、幅值上都连续的模拟信号,在采样脉冲的作用下,转换成时间上离散、幅值上仍连续的离散模拟信号.离散的采样点之间的间隔就是采样周期,采样周期的倒数就是采样率.以示波器为例,简要说明采样过程及采样率不足所产生的影响.采样过程:输入电压信号→前端放大器→采样/保持电路→A/D转换器→存储器→微处理器→显示屏.实际测量中,如果示波器带宽确定,采样率的选择还与采样模式是实时采样还是等效采样有关.实时采样非常直观,采样率超过模拟带宽4~5倍或更高,使用固定采样率采样.主要用来捕获单次信号或非重复性信号,一次触发后,连续采样(如图2所示). 等效采样如图3所示,对周期性波形中不同周期中不同点采样,把采样点拼接起来重建波形,需要多次稳定触发才能得到足够多的采样点.图2 实时采样Fig.2 Real time sampling图3 等效采样Fig.3 Equivalent sampling示波器采样率不足将会对波形带来两个方面的影响,在实际使用示波器测量中,如果采样率不足,将会使波形失真,即波形细节缺失;还会使波形混淆,即重建波形频率将小于实际信号频率.3.2 波形捕获率波形捕获率是指1秒内仪器捕获波形的次数,即对波形的更新速率.示波器从采集信号到屏幕上显示出信号波形的过程,由若干个捕获周期组成.一个捕获周期包括采样时间和死区时间,模拟信号通过ADC采样量变化为数字信号同时存储的时间称为采样时间;对存储的数据进行测量运算显示等处理的时间称为死区时间,死区时间内不进行波形采集.捕获周期的倒数就是波形刷新率也称为波形捕获率,快的波形捕获率意味着死区时间短,便于观察在一个信号中偶然出现的干扰.3.3 存储深度存储深度指存储波形样本或数据的数量.采样点由触发点前后的预采样与延迟采样两部分组成.存储深度等于波形存储时间与采样率的乘积.图4 存储深度与采样率之间的关系Fig.4 The relation between the storage depth and the sampling rate采集的样点在存储器中循环存放,采用先进先出原则.一个示波器所能采集信号的时间和能用的最大采样速率都由存储深度决定.图4中的3条线代表3种存储深度,它们的最高采样速率都是5 GSa/s.图中横坐标表示时基,纵坐标代表采样速率.在时基很小时,都可以实现最高采样速率;随着时基的增大,每次采集波形的时间会增长,采集的点数也就增多,当采集点数大于示波器的存储深度时,为了让信号可以继续采集和存储,示波器就要降低自己的采样率,也就是发生了欠采样.存储深度越深,越可以长时间内保持最高采样速率.仪器具有很高的存储深度在实际测试中意义重大.如:电源软启动过程的测量、电源纹波和噪声的测量、FFT分析、发现随机或罕见错误、统计分析、抖动追踪分析、眼图等实际应用都需要长存储.4 结语电子测量仪器的技术指标很多,而且随着电子测量仪器的发展,还会增加新的技术指标.深入了解和剖析常用电子测量仪器技术指标不但对测量准确度起着至关重要的作用,而且了解电子测量仪器技术指标也是销售、购买电子测量仪器所必须考虑的重要因素之一.参考文献:【相关文献】[1]刘苏英,侯秀丽.电子测量技术[M].合肥:中国科学技术大学出版社.2014,54-55,165,102-103.[2]李军.示波器的采样率和存储深度[J].今日电子,2009,(8):88-91.[3]蒋焕文,孙续.电子测量[M].北京:中国计量出版社,1988:163-164.[4]康华光.电子技术基础(数字部分)[M].北京:高等教育出版,2000:414-415.[5]汤德荣,刘苏英.电工电子技术实验与实训教程[M].合肥:中国科学技术大学出版社,2014:94-100.[6]高晋占.微弱信号检测[M].北京:清华大学出版社,2011:171-195.。

电子能谱定量分析和深度分析

电子能谱定量分析和深度分析

1
1 3
电离截面计算值(Scofield)
U的相关结合能和电离截面
Scofield vs. Wagner?
两数据库都在用 – 但对同一套数据可能有不同结果!! 它们必须以稍有不同的方式来使用 Scofield – 理论灵敏度因子数据库, 基于 C1s = 1 为此我们需要增加一项来说明分析的深度 (即 λ 并通常取 KE0.6) Wagner -实验灵敏度因子数据库, 基于 F1s = 1 为此我们需要增加一项来修正不同(仪器)类型分析器 产生的因子 (A CMA rather than our HSA). 这可通过乘 以峰动能来实现。(λ项已包含在里面)
1、一级原理模型(First Principle Model)
l
l
从光电子发射的“三步模型”出发,将所观测到的谱线强 度和激发源,待测样品的性质以及谱仪的检测条件等统 一起来考虑,形成一定的物理模型。 由于模型涉及较多的因素,目前还缺乏必要精度的实验 数据,因此一级原理模型计算还未得到真正应用。
I ij = K ⋅ T ( E ) ⋅ Lij (γ ) ⋅ σ ij ⋅ ∫ ni ( z ) ⋅ e
−z λ ( E ) cos θ
dz ⋅
其中: Iij为i元素j峰的面积,K为仪器常数,T(E)为分析器的传输函数,Lij(γ)是i 元素j轨道的角不对称因子,σij为表面i元素j轨道的的光电离截面,ni(z)为表面i 元素在表面下距离z处的原子浓度,λ(E)为光电子的非弹性平均自由程,θ是测 量的光电子相对于表面法线的夹角。
l
深度剖析 l 离子束在样品表面扫描 l 样品表面物质被逐渐刻蚀掉 l 在刻蚀周期间采集XPS谱 l 建立起样品成分随深度变化的剖析图 l 剖析深度可达 1µm l 结构破坏技术

实验33 元电荷的测定剖析

实验33  元电荷的测定剖析

实验33 元电荷的测定1897年,J.J.汤姆逊发现了电子后,许多科学家为测量电子的电荷量进行了大量的实验探索工作。

其中,美国物理学家密立根(likan)从1910年开始,历时七年之久,通过测量微小油滴所带的电荷,不仅证明了电荷的不连续性,即所有的电荷都是基本电荷e的整数倍,而且测得了基本电荷的准确值。

电荷e是一个基本物理量,它的测定还为从实验上测定电子质量、普朗克常数等其他物理量提供了可能性,密立根因此获得了1923年的诺贝尔物理学奖。

密立根油滴实验用经典力学的方法,揭示了微观粒子的量子本性。

它的构思巧妙,设备简单,结果准确,是一个著名而有启发性的物理实验。

本实验就是采用密立根油滴实验的方法来测定电子的电荷值e的。

实验中油滴非常微小(半径约为910-m,质量约为1510-kg),进行本实验需具备严谨的科学态度、严格的实验操作、准确的数据处理,才能得到较好的实验结果。

一、实验目的1. 了解油滴仪测定油滴带电量的基本原理及实验方法。

2. 测定电子的电荷值e 并验证电荷的不连续性。

二、实验仪器密立根油滴仪、喷雾器等。

三、实验原理1. 基本原理实验中,用喷雾器将油滴喷入两块相距为d的水平放置的平行极板之间,如图33-1所示。

油滴在喷射时由于摩擦,一般都会带电。

设油滴的质量为m,所带电量为q,加在两平行极板之间的电压为V,油滴在两平行极板之间将受到两个力的作用,一个是重力mg,一个是电场力VqE qd=?。

通过调节加在两极板之间的电压V ,可以使这两个力大小相等、方向相反,从而使油滴达到平衡,悬浮在两极板之间。

此时有dVqqE mg == (33-1) 其中,m 为油滴的质量(约1510-kg ),q 为油滴所带的电量,d 为两极板间的距离,V 为油滴平衡不动时所加电压。

图33-1图33-2为了测出 q 值,除测定d 、V 外,还需要测定 m ,油滴的 m 很小,需要用如下方法测定。

2. 油滴质量 m 的测定如图33-2所示,平行板未加电压时,油滴受重力而加速下降,但空气的粘滞性对油滴所产生的阻力与速度成正比,由stokes 定律知06r g f a p hu =,油滴下降一段距离后,油滴匀速下降,阻力与重力平衡(忽略空气浮力),有 06r g f a mg p hu == (33-2) 其中,h 是空气的粘滞系数,0a 为油滴的半径,约610-m (油滴由于表面张力,总是呈小球状),g υ为油滴匀速下降时的运动速度。

电子测量原理

电子测量原理

电子测量原理
电子测量原理是电子技术中十分重要的内容之一,它用于测量物理量,如电压、电流、电阻、电感、电容等。

在电子测量中,我们需要了解一些基本原理。

1. 电压测量原理:电压是指电势差,是一种单位是伏特(V)的
物理量。

电压可以通过电压表或电压计进行测量。

电压测量原理是利用测量回路中的测量元件,比如电压表的内阻和待测电压之间存在电势差。

2. 电流测量原理:电流是指电子在电路中的流动,是一种单位是安培(A)的物理量。

电流可以通过电流表进行测量。

电流测
量原理是将待测电流通过电流表,根据安培力对电流进行测量。

3. 电阻测量原理:电阻是指电路中的阻碍电流流动的物理量,是一种单位是欧姆(Ω)的物理量。

电阻可以通过万用表或电桥
进行测量。

电阻测量原理是利用电桥电路中的电流平衡条件,将未知电阻与已知电阻进行比较,从而测量待测电阻的大小。

4. 电感测量原理:电感是指导线圈中储存磁能的能力,是一种单位是亨利(H)的物理量。

电感可以通过LCR表进行测量。


感测量原理是利用测量电路中的电流和电压相位差,计算出待测电感的大小。

5. 电容测量原理:电容是指电路中储存电能的能力,是一种单位是法拉(F)的物理量。

电容可以通过LCR表进行测量。

电容
测量原理是利用测量电路中的电流和电压之间的关系,计算出
待测电容的大小。

综上所述,电子测量原理涉及了电压、电流、电阻、电感和电容等物理量的测量原理。

这些原理在电子技术中具有广泛的应用,是我们进行电子测量的基础知识。

XPS仪器介绍分析 第二部分

XPS仪器介绍分析 第二部分

5.1 样品的制备 3. 挥发性材料
• 对于含有挥发性物质的样品,在样品 进入真空系统前必须清除掉挥发性物 质。 一般可以通过对样品加热, 抽真空, 或用溶剂清洗等方法。 处理样品时,应该保证样品中的成份 不发生化学变化。
5.1 样品的制备 4. 污染样品
• 对于表面有油等有机物污染的样品,在进入真 空系统前必须用油溶性溶剂如环己烷、丙酮等 清洗掉样品表面的油污。最后再用乙醇清洗掉 有机溶剂, • 对于无机污染物,可以采用表面打磨以及离子 束溅射的方法来清洁样品。 • 为了保证样品表面不被氧化,一般采用自然干 燥。
5.1 样品的制备 5. 带有磁性的材料
• 由于光电子带负电荷,在微弱的磁场作用下,也可以发 生偏转。当样品具有磁性时,由样品表面出射的光电子 就会在磁场的作用下偏离接收角,最后不能到达分析器, 因此,得不到正确的XPS谱。
• 此外,当样品的磁性很强时,还有可能使分析器头及样 品架磁化的危险,因此,绝对禁止带有磁性的样品进入 分析室。
依据化学位移,获得各种终态效应以及价电子能带结构信息。
1. 光电子谱线化学位移(Photoelectron line chemical shifts and separations).
除惰性气体元素与少数位移较小的元素外,大部分元素的单 质、态氧化态与还原态之间都有明显的化学位移。 与用核磁共振分析非等效C和H一样,XPS光电子线的 位移还非常普遍地用来区别分子中非等效位置的原子。在有 机化合物的结构分析上,XPS比NMR更优越的是能分析周 期表中除H 、He以外的元素。 内层电子结合能的化学位移反映了原子上电荷密度的变 化,有机分子中各原子的电荷密度受有机反应历程中各种效 应的影响,因而利用内层电子的光电子线位移可以研究有机 反应中的取代效应、配位效应、相邻基团效应、共扼效应、 混合价效应和屏蔽效应等的影响。有机分子的基团位移法更 直接地根据化学位移给出分子结构。

X射线光电子能谱(XPS)课件

X射线光电子能谱(XPS)课件
表面分析
利用XPS对样品表面进行深度剖析, 了解表面元素的化学状态和组成, 为材料科学、环境科学等领域提供 有力支持。
05
XPS与其他分析方法的比 较
XPS与AES的比较
总结词
XPS和AES都是表面分析技术,但它们的工 作原理和应用范围有所不同。
详细描述
XPS(X射线光电子能谱)和AES(原子发 射光谱)都是表面分析技术,用于确定样品 表面的元素组成。然而,它们的工作原理和 应用范围有所不同。XPS主要测量的是光电 子的能量分布,可以提供元素种类、化学态 和电子态的信息。而AES则通过测量原子发 射出来的特征光谱来分析元素组成。在应用 方面,XPS更适用于轻元素的分析,而AES 更适用于重元素的分析。
02
XPS仪器设备
XPS仪器结构
01
02
03
04
发射源
X射线管,用于产生X射线。
真空系统
确保实验室内高真空度,以减 少气体对光电子的散射。
能量分析器
用于检测和测量光电子的能量 。
探测器
用于收集光电子,并将其转换 为电信号。
XPS仪器操作流程
样品安装
将样品放置在样品 台上,并确保稳定 固定。
数据采集
开发多元素同时分析的XPS技术, 能够快速获取样品中多种元素的
化学信息,提高分析效率。
XPS在各领域的应用前景
环境监测
生物医学研究
利用XPS技术对大气、水体、土壤等环境中 的有害物质进行快速、准确检测,为环境 保护和治理提供有力支持。
通过XPS技术对生物样品进行无损检测,有 助于深入了解生物分子结构和功能,推动 生物医学领域的发展。
数据采集
按照设定的参数进行测量,并 采集光谱数据。

SIMS溅射深度剖析的定量分析

SIMS溅射深度剖析的定量分析

书山有路勤为径,学海无涯苦作舟SIMS 溅射深度剖析的定量分析本文综述了二次离子质谱(Secondary溅射就是用具有一定能量的一次性粒子轰击样品表面(粒子的动能通常在0.1~5 keV 之间),通过样品发射二次粒子而使材料表面原子或分子剥离的一个过程。

深度剖面分析(简称深度剖析)是指对分析样品元素的组分含量随深度变化的二维分析。

目前,有两种不同的深度剖析方法:非破坏性和破坏性的方法。

通常的非破坏性深度剖析技术只提供间接的信息,需通过定量分析才能得到浓度深度谱,如卢瑟福背散射(Rutherford Backscattering Spectrometry,RBS) 或者角分辨的X-射线光电子能谱(Angle Resolved X-ray Photoelectron Spectroscopy,AR-XPS)。

而破坏性的溅射深度剖析的原始数据是元素强度相对溅射时间的关系溅射深度剖析是将离子溅射与表面元素成分表征结合在一起的一种测量分析技术,其主要目的是为了获得薄膜材料(从几纳米到几百微米)中元素成分的深度分布。

按对元素表征方式的不同,溅射深度剖析可分为两类:一类是分析溅射出来的元素,如二次离子质谱(Secondary深度分辨率的提出标志着深度剖析定量分析的开始。

深度分辨率表示了深度剖析谱的失真程度,即由于离子束和样品的相互作用在表面区域产生的成分与形貌的改变,使得实际测得的深度剖析谱与真实的成分深度分布之间产生的偏差程度,它是表征深度剖析实验优劣的一个主要指标。

深度分辨率Δz 的定义如下:假设一理想的、原子单层的界面A/B,当测量信号的归一化强度从84% 降到16% 或从16% 上升到84% 所对应的溅射深度Δz。

Δz 愈小意味着深度剖析的分辨率愈大,测量的成分深度分布就愈接近真实的成分深度分布,深度剖析的质量就愈高1970-1990。

电子血压计计量检定中存在问题及对策探究

电子血压计计量检定中存在问题及对策探究

电子血压计计量检定中存在问题及对策探究摘要:随着我国经济的高速发展,出现了很多高科技的手段,这也体现在了医学方面。

过去的医疗计量方式,已经不能跟现在的社会需求相匹配,所以,我们开始了技术变革,电子血压计逐步替代了传统的血压计,这使得血压计工作的精度得到了极大的提升。

然而,在实际应用中,一些医务人员对其认识不足,没有采取专门的检查方式,造成了应用中出现了一些错误。

关键词:电子血压计;计量检定;医疗器械1电子血压计计量检定中存在的问题1.1动态计量检定问题目前,在电子血压计的动态计量校准中,标准规范仅对其动力学特性进行了相应的规范,造成了在实际应用中的误差较大,精度较低。

当前,国际上尚无对其动态特性的检测标准,导致检测结果不够准确,且检测过程中存在一些具体问题。

特别是目前以听诊方法测定的血压值为参照点,无论是电子血压计还是泵柱式血压计都可以实现血压的标定,在标定结束后,对两个结果进行比较分析。

电子血压计并不是专门的血压计,而是一种基本的血压计,和普通的血压计相比,它的血压计要困难得多。

这就需要建立一套适合于电子血压计的规范,以确保其测量结果的精度。

1.2静态计量检定问题目前,国家对电子血压计的规程进行了更新,从而有效地控制了静态计量检定中存在的误差,在规程中,对于静态压示值中,明确指出,必须将电子血压计调节到静态压力测试方式,但并未对其进行具体的调整。

在这种情形下,大部分的检定员都不能很好的完成工作。

在电子血压计进行血压测定时,排气阀门是关闭的,而电子血压计的空气泵会进行增压,所以排气阀门会一直开启,无法达到规定的压力值。

对于这种情况,如果采用静压测试的方式,其关键是关闭排气阀。

电子血压计排气阀的种类不同,所采用的控制方法也不一样,主要包括如下几种。

在在无创血压监测仪的静态压值检定过程中,选择了无创血压设置主菜单,开启了校正功能,此时,电子血压计的排气阀门已被关闭,此时,电子血压计就会进入到静态压测量模式。

电子测量原理

电子测量原理

电子测量原理电子测量是现代科技中不可或缺的一部分。

从电子设备到通信系统,从医疗仪器到环境监测,电子测量在各个领域都有着广泛的应用。

本文将介绍电子测量的原理及其应用。

一、电子测量的基本原理电子测量是通过对电信号的测量来获取所需的信息。

电信号可以是电压、电流或其他电磁波的形式。

电子测量的基本原理包括信号的采集、处理和显示。

1. 信号采集信号采集是将待测信号转换为电压或电流的过程。

常用的信号采集方法包括传感器测量、放大器放大和模数转换。

传感器是用于测量物理量的器件,如温度传感器、压力传感器等。

传感器将物理量转换为电信号,然后经过放大器放大,使得信号能够被后续电路处理。

模数转换是将连续的模拟信号转换为离散的数字信号。

模数转换器(ADC)将连续信号的幅值转换为数字代码,以便后续处理和显示。

2. 信号处理信号处理是对采集到的信号进行滤波、分析和计算等操作,以提取有用的信息。

信号处理可以通过模拟电路或数字电路实现。

滤波是对信号进行频率选择,去除不需要的频率分量。

滤波可以采用模拟滤波器或数字滤波器实现,常见的滤波器类型包括低通滤波器、高通滤波器和带通滤波器。

分析是对信号进行频谱分析、时域分析等操作,以获取信号的特征。

频谱分析可以通过傅里叶变换等方法实现,时域分析可以通过时间窗口和自相关函数等方法实现。

计算是对信号进行数学处理,以获得所需的结果。

计算可以包括峰值检测、平均值计算、功率计算等操作。

3. 信号显示信号显示是将处理后的信号以适当的形式展示给用户。

信号显示可以采用数字显示器、示波器、图形终端等设备。

数字显示器可以直接显示数字结果,如温度值、电压值等。

示波器可以以波形图的形式显示信号的变化。

图形终端可以将信号以图形的方式展示给用户,如频谱图、时域图等。

二、电子测量的应用电子测量在多个领域都有着广泛的应用。

以下是几个常见的应用领域以及相应的电子测量方法。

1. 通信系统在通信系统中,电子测量用于测量信号的质量和性能。

2014《期间核查管理程序》计量文件剖析

2014《期间核查管理程序》计量文件剖析

程序文件修改记录1 目的为证明我中心在用的计量标准、测量设备、实验设备以及标准物质等在相邻两次检定/校准周期之间, 保持良好置信度的检定/校准状态, 特制定本程序。

2 适用范围适用于本中心在用的计量标准、测量设备、实验设备以及标准物质等进行期间核查时的监督、控制和管理。

3 职责3.1技术负责人3.1.1确认并组织编制需进行核查而且有条件实施核查的标准物质和仪器设备目录。

3.1.2审批核查方案3.1.3组织核查有效性评审3.2检测室负责人和业务室负责人3.2.1检测室负责人组织本检测室有关人员制定并实施核查方案并及时总结经验, 改进并完善此项工作;检测人员负责期间核查计划的制定和实施。

3.2.2业务室负责人负责审批期间核查计划, 组织实施, 按核查方案定期核查, 认真做好核查记录;并对期间核查结果的有效性进行确认。

3.2.3对核查发现的校准状态的异常变化及时组织有关人员查找原因并作出相应的处理。

3.3办公室负责对期间核查实施监督与管理以及需要的外部协调工作。

4 工作程序4.1 期间核查的范围a.对一些关键的在用的计量标准、测量设备、实验设备以及标准物质等, 在相邻两次检定/校准间隔内, 为保持其准确可靠需要进行期间核查:b.新建立的计量标准装置, 新购进的测量仪器设备、实验设备以及首次使用的标准物质等。

c.计量标准稳定性考核证明其检定/校准数据超出其稳定性允许误差的。

d.经常携带到现场进行检定、校准和检测工作的仪器设备。

e.计量标准、仪器、设备在运行过程中有可疑现象发生的。

f.测量结果具有重要经济价值或安全作用的设备。

4.2期间核查的方法检测室负责人和业务室负责人结合使用的仪器设备的特点和核查标准的具体情况选择核查方案:a) 核查标准的标准量值x S未知;如通过对样品的不同特性的检测结果的相关性进行验算等。

b) 核查标准的标准量值x S已知。

可采用如下方法进行期间核查:(1)采用高一精度的计量标准、仪器设备或有证标准物质进行核查。

EDS元素分析剖析

EDS元素分析剖析

EDS元素分析剖析EDS元素分析是一种常见的材料表征技术,通过对材料表面进行能量散射X射线光谱分析,可以确定材料表面元素的种类和含量。

EDS元素分析的原理是利用材料中化学元素的电子云来散射X射线,通过测量能量散射的角度和能量,可以得到材料表面元素的信息。

EDS元素分析主要包括样品准备、仪器调试和数据分析三个步骤。

首先,样品需要进行适当的制备,通常是通过制备薄片或将材料粉末铺在导电支撑物上。

其次,仪器需要进行调试,包括调整电子束的加速电压、射线探测器的位置和工作参数等。

最后,通过对样品表面进行扫描,可以得到一系列X射线光谱图,通过对这些数据的分析,可以确定材料表面元素的种类和含量。

在EDS元素分析中,最常用的参数是X射线光谱中的峰的位置和强度。

每个化学元素都有一系列特征峰,这些峰的位置和强度与元素的种类和含量有关。

因此,通过测量这些峰的特征,可以确定样品表面的元素组成。

在进行数据分析时,通常需要将测量的X射线光谱与已知的标准光谱进行比对。

可以利用数据库中的元素光谱数据,与实际测量得到的光谱进行对比,找到匹配度最高的标准光谱。

通过这种方式,可以确定材料表面的元素种类。

除了元素的种类,EDS元素分析还可以得到元素的含量信息。

由于不同元素的的散射截面不同,因此可以通过对峰的强度进行校正,计算元素的相对含量。

然后,通过对材料的密度等因素进行校正,可以得到元素的绝对含量。

EDS元素分析具有许多优点。

首先,通过EDS分析,可以对材料的表面进行非破坏性的分析。

即使是非导电材料也可以通过涂覆导电层来进行分析。

其次,EDS元素分析具有非常高的灵敏度和分辨率,能够对元素密集程度较低的样品进行分析。

最后,EDS元素分析还可以寻找和表征材料中的微观缺陷和杂质。

然而,EDS元素分析也存在一些限制。

首先,EDS只能分析材料表面的元素组成,对材料的体积信息了解有限。

其次,EDS需要对样品进行制备,有可能引入制备过程中的污染。

最后,EDS在分析过程中需要对材料进行高真空处理,有可能造成材料表面的物理和化学变化。

EDS元素分析剖析

EDS元素分析剖析

EDS元素分析剖析EDS元素分析一、实验目的1.了解能谱仪(EDS)的结构和工作原理。

2.掌握能谱仪(EDS)的分析方法、特点及应用。

二、实验原理在现代的扫描电镜和透射电镜中,能谱仪(EDS)是一个重要的附件,它同主机共用一套光学系统,可对材料中感兴趣部位的化学成分进行点分析、面分析、线分析。

它的主要优点有:(1)分析速度快,效率高,能同时对原子序数在11—92之间的所有元素(甚至C、N、O等超轻元素)进行快速定性、定量分析;(2)稳定性好,重复性好;(3)能用于粗糙表面的成分分析(断口等);(4)能对材料中的成分偏析进行测量,等等。

(一)EDS的工作原理探头接受特征X射线信号→把特征X射线光信号转变成具有不同高度的电脉冲信号→放大器放大信号→多道脉冲分析器把代表不同能量(波长)X射线的脉冲信号按高度编入不同频道→在荧光屏上显示谱线→利用计算机进行定性和定量计算。

(二)EDS的结构1、探测头:把X射线光子信号转换成电脉冲信号,脉冲高度与X 射线光子的能量成正比。

2、放大器:放大电脉冲信号。

3、多道脉冲高度分析器:把脉冲按高度不同编入不同频道,也就是说,把不同的特征X射线按能量不同进行区分。

4、信号处理和显示系统:鉴别谱、定性、定量计算;记录分析结果。

(三)EDS的分析技术1、定性分析:EDS的谱图中谱峰代表样品中存在的元素。

定性分析是分析未知样品的第一步,即鉴别所含的元素。

如果不能正确地鉴别元素的种类,最后定量分析的精度就毫无意义。

通常能够可靠地鉴别出一个样品的主要成分,但对于确定次要或微量元素,只有认真地处理谱线干扰、失真和每个元素的谱线系等问题,才能做到准确无误。

定性分析又分为自动定性分析和手动定性分析,其中自动定性分析是根据能量位置来确定峰位,直接单击“操作/定性分析”按钮,即可在谱的每个峰位置显示出相应的元素符号。

自动定性分析识别速度快,但由于谱峰重叠干扰严重,会产生一定的误差。

2、定量分析:定量分析是通过X射线强度来获取组成样品材料的各种元素的浓度。

AES 技术解析

AES 技术解析




定性分析的任务是根据实测的直接谱的俄歇峰 或微分谱的负峰的位置识别元素。 通常是将实测谱与标准谱对比进行定性分析。 采用Perkin-Elmer公司的“俄歇电子能谱手 册”,俄歇电子能谱的定性分析过程如下: 1 利用“主要俄歇电子能量图表”,确定实测 谱中最强俄歇峰对应的可能元素(一般2~3种)。 由于元素不同化学状态产生化学位移,测得的 峰能量与标准谱的峰能量相差几个电子伏特很 正常。


若连续改变外筒上的偏转电压,就可在检测器上 依次接收到具有不同能量的俄歇电子,从能量分 析器输出的电子经电子倍增器、前置放大器后进 入脉冲计数器,最后由X-Y记录仪或荧光屏显示俄 歇电子能谱——俄歇电子数目N(E)随电子能量E的 分布曲线。 为了将微弱的俄歇电子信号从强大的背底中提取 出来,Harris提出了采用锁相放大器获得俄歇信号 微分谱的方法,即采用电子电路对电子能量分布 曲线N(E)进行微分,测量dN(E)/dE-E来识别俄歇 电子峰,这就是著名的微分法。


3 对于轻元素C、O、N、S、P等的分析 灵敏度较高。
俄歇过程与特征X射线辐射是相互竞争的过程, 当原子序数小于19时,俄歇电子产率大于90%, 小于33时,俄歇电子产率大于50%,因此,俄 歇电子能谱分析对于轻元素特别有效。


4 可进行成分的深度剖析或薄膜及界面 分析。
局限性


虽然AES应用广泛,但不能分析氢和氦元素; 定量分析的准确度不高;对多数元素的探测灵 敏度为原子分数0.1%~10%;电子束轰击损伤 和电荷积累问题限制其在有机材料、生物试样 和某些陶瓷材料中的应用;对试样要求高,表 面必须清洁(最好光滑)等。 俄歇电子能谱分析方法在理论和技术方面或实 际应用方面都还在不断发展,还需要提高定量 分析的准确性和增强横向分辨能力。

《电路实验》笔记

《电路实验》笔记

《电路实验》笔记第一章引言1.1 背景与意义在电子工程及相关专业的学习过程中,电路实验被视为一个至关重要的环节。

它不仅搭建了从理论知识通往实践操作的桥梁,还为学生提供了锻炼实验技能、培养问题解决能力以及激发创新思维的平台。

正因如此,编写并整理电路实验笔记的重要性不言而喻。

通过对《电路实验》笔记的详细解析,我们能够更深入地探讨其在电路学习中的关键作用,并探索如何通过高效的笔记整理方法来提升学习效率。

电路实验作为电子工程教育的基础,其实践性强的特点使学生能够将课堂上学到的理论知识应用到实际操作中,从而加深对电路原理和工作机制的理解。

例如,在电子电路实验中,学生可以通过观察和分析电路中的信号波形、电压电流变化等实验现象,来验证和巩固所学的电路定理和公式[1][2]。

电路实验也是培养学生实验技能和问题解决能力的重要途径。

在实验过程中,学生需要独立完成电路的搭建、调试和测量等工作,这不仅锻炼了学生的动手能力,还提高了他们在面对实际问题时的分析和解决能力。

此外,电路实验中的故障排除环节也是对学生细心观察和逻辑思维能力的考验,通过不断的实践和经验积累,学生能够更加熟练地应对各种电路故障[3]。

电路实验还为学生的创新思维提供了广阔的空间。

在实验过程中,学生可以尝试不同的电路设计方案、探索新的实验方法,或者对现有的电路进行改进和优化。

这种创新性的实践活动不仅能够激发学生的学习兴趣和热情,还能够培养他们的创新意识和能力,为将来的科研或工程实践打下坚实的基础[4]。

编写并整理电路实验笔记对于电子工程及相关专业的学生来说具有非常重要的意义。

通过详细的笔记记录,学生可以系统地回顾和总结实验过程、实验结果以及实验中的心得体会,从而加深对电路知识的理解和掌握。

同时,笔记的整理过程也是对学生逻辑思维和表达能力的锻炼,有助于学生形成清晰、条理化的知识体系和思维模式。

电路实验在电子工程及相关专业的学习中占据着举足轻重的地位。

通过编写并整理电路实验笔记,学生不仅能够巩固和深化所学的理论知识,还能够提升实验技能、问题解决能力和创新思维,为未来的学习和职业发展奠定坚实的基础。

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(2)量程范围宽。如数字万用表对电压测量由纳伏 (nV)级至千伏(kV)级电压,量程达12个数量 级
(3)测量准确度高。例如,用电子测量方法对频率和 时间进行测量时,由于采用原子频标和原子秒作为 基准,可以使测量准确度达到10-13~10-14的数量级。
(4)测量速度快。因为电子测量是通过电子运动和电 磁波传播进行工作
信号就是信息的某种物理表现方式,信号 是信息的载体,是物质,具备能量。
同一个信息可以用不同的信号来运载,反 之,同一种信号也可以运载不同的信息。
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2.2.1 被测对象—信号与系统的特点及分类
信号的特点是:
①信号是用变化着的物理量来表示信息的 一种函数;
②信号中包含着信息,它是信息的载体, 具有能量(有能源)。被测对象的信息感 知阶段的任务,是要把信息变换成信号;
②非确定性(随机)信号:在相同试验条件下,不能 够重复实现的信号。随机信号又分为:平稳随机信号; 非平稳随机信号。
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2.2.2 信号的分类
2.周期性信号与非周期性信号 3.连续信号与离散信号
表 2-1 信号的分类
自变量 t
函数值 f(t)
连续时间信号
连续 离散
离散时间信号
频率特性:一个复杂信号可以分解成许多不同频率的正弦分 量,即具有一定的频率成分。将各个正弦分量的幅度和相位 分别按频率高低依次排列就成为频谱。信号的频谱包含了信 号的全部信息。
(6)信号的空间分布结构 许多信号,既具有时间特性、也还具有空间特性
例如描述大气压随海拔高度变化的信号,其自变量表示 海拔高度;描述飞机机翼上应变分布的信号,其自变量 表示结构尺寸;
③信号不是信息本身,必须对信号进行测 量后,才能从信号中提取出信息,这是电 子测量的根本目的。
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2.2.2 信号的分类
1.确定性信号和非确定性信号
电子测量中被测信号大多是时间的函数x(t),按其性质不同
可分类如下:
①确定性信号:在相同试验条件下,能够重复实现的 信号。确定性信号又分为:恒定(直流)信号;周期 信号(简谐周期信号和复杂周期信号);非周期信号 (准周期信号和瞬变冲激信号);
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2.1.3 电子测量的内容
电子测量的内容是:
(1)按具体的测量对象来分类,包括下列电参数的测量 ①电能量的测量 包括各种频率及波形下的电压、电流、
功率、电场强度等的测量。
②电路参数的测量 包括电阻、电感、电容、阻抗、品质 因数、电子器件参数等的测量。
③电信号特征的测量 包括信号、频率、周期、时间、相 位、调幅度、调频指数、失真度、噪音以及数字信号的 逻辑状态等的测量。
(5)易于实现遥测
(6)易于实现测量过程的自动化和测量仪器智能化
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2.1.3电子测量的内容
从广义上说,电子测量是泛指以电子 科学技术为手段而进行的测量,即以 电子科技理论为依据,以电子测量仪 器和设备为工具,对电量和非电量进 行的测量。
从狭义上讲,电子测量则是利用电子 技术对电子学中有关的电量所进行的 测量。
第2章 测量方法与测量系统
2.1 电子测量的基本原理 2.2 电子测量的对象——信号与系统 2.3 测量方法的分类概述 2.4 测量系统的静态特性 2.5 测量系统的动态特性
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2.1 电子测量的基本概念
2.1.1 电子测量的意义 20世纪30年代,便开始了测量科学与电子科学的结 合,产生了电子测量技术
连续 离散
信号分类 模拟信号 量化信号 采样信号 数字信号
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2.2.2 信号的分类
4.时限信号和频限信号 时限信号是指信号在时间的有限区间(t1,
t2)内有定义、在区间之外信号值恒等于 零的信号,称为时域有限信号。
例如,矩形脉冲、正弦脉冲等。而周期信号、 指数信号、随机信号等,则为时域无限信号。
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2.2.3 系统的基本概念
信号的产生、传输、处理、存储和再现都需要一定的物理 装置,这种装置通常就称为系统。
从一般意义讲,系统是由若干相互依赖、相互作用的事 物组合而成的具有特定功能的整体。
1.系统的外部特性 即系统的输入与输出之间的关系或系统的功能。
x(t) 激励
系统 h (t )
④电子设备性能的测量 包括放大倍数、衰减、灵敏度、 频率特性、通频带、噪声系数的测量。
⑤特性曲线的测量 包括幅频特性曲线、晶体管特性曲线 等的测量和显示。
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2.1.3 电子测量的内容
(2)按基本的测量对象来看,电子测量是对 电信号和电系统的测量:
①电子测量的基本对象是未知的信号与系统
频限信号是指在频率域内只占据有限的带
宽(f1~f2)、在这一带宽之外信号值恒等
于零的信号,称为频域有限信号。
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2.2.2 信号的分类
(5)信号的时间特性和频率特性
时间特性:反映在信号随时间变化的波形上,包括信号出现 时间的先后、持续时间的长短、重复周期的大小、随时间变 化速率的快慢13
2.2.3 系统的基本概念
2.系统的内部结构
测量系统的外部特性是由其内部参数也即系统本 身的固有属性决定。
系统模型指系统物理特性的数学抽象,即以数学 表达式或具有理想特性的符号组合图形来表征系 统的输入-输出特性
②电子测量的基本工具是已知的信号与系统
③电子测量的基本工作机理是信号与系统的相 互作用
x(t) 输入
系统 h (t )
y(t) 输出
测试系统框图
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2.2 电子测量的对象—信号与系统
2.2.1 信号的基本概念 测量的目的是获取被测对象的信息,信息
描述了被测对象的状态及其变化方式。
处理信息最有效、最成功的是电子科学技术 ①具有极快的速度 ②具有极精细的分辨能力,很宽的作用范围。 ③极有利于信息传递 ④极为灵活的变换技术。 ⑤巨大的信息处理能力
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2.1.2 电子测量的特点
(1)测量频率范围宽。被测信号的频率范围除测量直 流外,测量交流信号的频率范围低至10-6Hz以下, 高至THz(1THz=1012Hz)
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