计量器具内校规程
计量器具内校规程
计测器校管理程序1、硬度计的校程序(1)、结构说明：常用硬度计分为①章氐其计算符号为HV②布氐其计算符号为HB, ③洛氐其计算机符号为H"者之结构大致相同。
是由以下结构组成如图(一)所示：(2)、校验基准：使用外校合格的硬度计进行对比校准。
(3)、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月(4)、校准步骤：(5)、判定标准：表示值误差不超过土0.02,即为合格。
(6)、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时：依实际情况，判定为：暂停使用，降级使用，维修，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器活单》表格。
2、深度尺校程序：(1)、结构概述：深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，结构组成如图(二)所示：(2)、校准基准：标准量块(外校合格的标准块)。
(3)、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
(4)、校准步骤：(5)、判定标准：表示值误差不超过±0.04MM即判为合格(6)、记录保存:①、校准合格后，贴校准标签②、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器活单》表格。
3、高度尺校程序:(1)、结构概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成，如图(三)所示:3303. &?5Wr. 4|^n招 网 50mm 4pn&7 14 .M 5Q-75n--n S^ni畛 *15 相 3203-100 M ： 彻曲WHArnrr6|xii113 73 掣g 愧At WSdSamE T&fl lU '5 * : 150 175mrr19J 4 104 鸟m 初AC l/iiUUfflrT iW 194 1173龄坦SA£ 凶0■盐5mrr Bjpinn 144 130g 袂AC 路 5 IX 1425 渤安 1MiMHi啊 194 1颇 (2) 、校准基准：选用外校合格的量块和平台进行比对校准。
计量器具内效规程
温度计内部校准规程1目的对温度计进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于测量温度所使用的水银温度计。
3校准用基准设备外校合格的数显温度表（精度0.1℃）。
4环境条件室温。
5校准步骤5.1检查玻璃体是否破裂及刻度是否清晰，否则更换。
5.2用一透明容器盛装适量自然溶解的冰水混合物。
5.3把温度计有水银液体的一端放进冰水混合物中，然后观察水银柱的变化情况。
5.4待水银柱变化稳定，再对照温度计刻度是否在0℃的位置，记录读数。
5.5第一次测量完成后，取出温度计，待水银柱回到自然的位置后，重新第二次测量，这样连结测量三次，得出结果再取其平均值，记录在《内部校准记录表》内，允许误差±2.0℃。
5.6以上步骤完成后，把温度计放在50℃以下的温水中（30℃为宜），用基准数显温度表进行校对（把探头放在水银柱旁边的温水中），对比并记录温度计的和基准温度表的温度读数。
5.7第一次测量完成取出温度计，待水银柱回到自然的位置后，再进行第二、第三次测量，测得结果取其平均值，记录在《内部校准记录表》内，允许误差±2.0℃。
5.8把温度计放在50℃以上的热水中（80℃为宜），重复5.6、5.7相关步骤。
5.9三次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，该温度计判校准合格。
6相关记录内部校准记录表钢尺、卷尺内部校准规程1目的对钢尺、卷尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于进料检验及工程质量检验所使用的钢尺、卷尺。
3校准用基准设备外校合格的钢尺（精度0.5mm）。
4环境条件室温。
5校准步骤5.1检查钢尺、卷尺的刻度是否清晰，钢片是否平齐，否则更换。
5.2钢尺校准时，取一基准平面，把基准钢尺的零点和待校准钢尺的零点贴紧该平面，基准钢尺的刻度对近待校准钢尺的刻度。
5.3卷尺校准时，把基准钢尺平放在桌面上，拉开卷尺，用卷尺零点勾住钢尺的零点的一端并贴紧钢尺。
5.4分别核对被校尺和基准钢尺的刻度，核对点100mm、500mm、1000mm，第一次完成后，再进行第二次、第三次，三次读数取平均值记录在《内部校准记录表》内，两尺读数之差，100mm时允许误差±1.0mm，500mm时允许误差±1.0mm，1000mm时允许误差±1.0mm。
计量器具内校规程
计量器具内校规程1目的根据本公司实际情况，大部份计量器具送检外校，其中对游标卡尺、钢直尺、钢卷尺、塞尺和电子秤进行内部校准，确保其准确度和适用性，保持完好。
2范围适用于游标卡尺、钢直尺、钢卷尺和电子秤的内部校准。
3校准基准外校合格的游标卡尺，外校合格的钢直尺,外校合格的钢卷尺，外校合格的电子称。
4环境条件室温,正常湿度中进行。
5校准步骤5.1游标卡尺5.1.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净，无污渍、锈迹，刻度是否清晰。
5.1.2调校零位，或使指针对准零点。
5.1.3取一块长、宽、厚尺寸不等的作量块（尺寸在卡尺量程之内），用外校合格游标卡尺测量长度、宽度、厚度尺寸并记录，作为标准尺寸。
5.1.4内校游标卡尺连续对量块长、宽、厚尺寸测量，记录在《内校记录》。
5.1.5内校游标卡尺所测数据及标准尺寸之差，均在允许误差范围内，判校准合格。
否则，需调整再次校准，如均达不到要求，外送维修校准或报废停用。
允许误差范围为±0.02mm内。
5.1.6校准周期：12个月。
5.2钢直尺5.2.1检查钢直尺是否弯曲，刻度是否清晰。
5.2.2将外校合格后的钢直尺平放在工作台上，与内校钢直尺平行靠近放在工作台上，将两根钢直尺零基准线对齐，对照每个刻度是否对齐，并作判定记录，取钢直尺不等值的至少三组数据记录在《内校记录》上。
5.2.3对量块用外校合格的钢直尺测量数据，并作记录，作为基准尺寸。
然后用内校钢直尺测量三次数据并作记录。
5.2.4允许误差为±0.5mm，对2、3两项综合评定，在计可范围内判定合格，超出许可范围判定不合格停用。
5.2.5新购钢直尺必须内校合格后方可使用。
5.2.6校准周期：12个月。
5.3钢卷尺5.3.1检查钢卷尺是否破损，零点勾是否正常，刻度是否清晰可用。
5.3.2将外校合格钢直尺平放在工作台上，钢卷尺零点勾住钢直尺，对照比较钢卷尺刻度是否与钢直尺刻度对齐。
5.3.3对内校钢卷尺刻度超出基准钢直尺长度时，可分段进行。
量具内校规范
器具名称 型号规格 生产厂家 校准机构 校准日期
备注：
校准合格标签
器具编号 测量范围 使用部门
校准人 有效期限
核验：
日期：
计量器具年度校验周期表
器具类别 器具编号
使用部门
2016 年 校验周期
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
备
计划：
实施： 注
核准 拟案
部门：
序号 编号 名 称 型号规格
4、内校游标卡尺连续对量块长、宽、厚尺寸测量，记录在《内校记录》。
5、内校游标卡尺所测数据及标准尺寸之差，均在允许误差范围内，判校准合格。 否则，需调整再次校准，如均达不到要求，外送维修校准或报废停用。允许误 差范围为±0.02mm 内
6、校准周期：6 个月。
钢尺 1、检查钢尺是否弯曲，刻度是否清晰。 2、将外校合格后的钢尺平放在工作台上，与内校钢尺平行靠近放在工作台上，将 两根钢尺零基准线对齐，对照每个刻度是否对齐，并作判定记录，取钢尺不等 值的至少三组数据记录在《内校记录》上。 3、对量块用外校合格的游标卡尺测量数据，并作记录，作为基准尺寸。然后用内 校钢尺测量三次数据并作记录。 4、允许误差为±0.5mm，对 2、3 两项综合评定，在计可范围内判定合格，超出许 可范围判定不合格停用。 5、新购钢尺必须内校合格后方可使用。 6、校准周期 6 个月。
2、用无尘纸沾酒精，将通止规擦拭干净。。 3、检查通止规使用部位应无变形、碰缺、凸起、锈斑等其它影响精度的缺陷。 4、检验时用千分尺分别测量如图所示的部位，通端部位沿圆周方向测量均布的三个直径（止端 部位沿圆周方向测量均布的一个直径），通端记录最大值，止端记录最小值。
5、校准完后对通止规进行防锈维护。 6、判定标准：A、B、C 相应位置中最大值 通端： ⑴0≤MAX( A、B、C)- Φ1≤ (2)0≤MAX( A、B、C)-MIN( A、B、C) ≤ 以上两点均满足判定该通止规通端尺寸合格 2 止端：D 相应位置中最大值 ⑴0≤Φ2-D≤
计量器具内校规程
计测器内校管理程序1、硬度计的内校程序〔1〕、构造说明：常用硬度计分为①章氐其计算符号为HV。
②布氐其计算符号为HB，③洛氐其计算机符号为HR三者之构造大致一样。
是由以下构造组成如图〔一〕所示：〔2〕、校验基准：使用外校合格的硬度计进展比照校准。
〔3〕、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
〔4〕、校准步骤：〔6〕、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时：依实际情况，判定为：暂停使用，降级使用，维修，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02?检测仪器清单?表格内。
2、深度尺内校程序：〔1〕、构造概述：深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，构造组成如图〔二〕所示：〔2〕、校准基准：标准量块〔外校合格的标准块〕。
〔3〕、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
〔4〕、校准步骤：〔6〕、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02?检测仪器清单?表格内。
3、高度尺内校程序：〔1〕、构造概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精细划线的量具，其主要由以下构造组成，如图〔三〕所示：〔2〕、校准基准：选用外校合格的量块和平台进展比对校准。
〔3〕、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
〔4〕、校准步骤：〔6〕、记录保存：①、校准合格后，贴上校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02?检测仪器清单?表格内。
4、外径千分尺内校程序：〔1〕、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，锁紧装置，固定套筒，微分筒等组成，如图〔三〕所示。
〔2〕、使用基准：外校合格的标准量块：〔3〕、校准环境及周期。
常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
计量器具内校规程
计量器具内校规程一、引言计量器具是用于测量和检验各种物理量的工具，其准确性和可靠性对各行业的生产和质量控制至关重要。
为了保证计量器具的准确性，减少误差，提高测量的可靠性，内校（内部校验）成为一项必要的工作。
本文档旨在规范计量器具的内校工作，确保内校的准确性和可靠性。
二、内校的目的内校的目的是检验计量器具的准确性和可靠性，保证其符合相应的技术标准和规范要求。
通过内校，可以及时发现和纠正计量器具的偏差，确保其在测量过程中的可靠性和准确性，提高产品质量和生产效率。
三、内校的方法1.选择校验设备：根据被测量的计量器具的种类和特点，选择相应的校验设备。
校验设备应符合国家和行业标准，保证其准确性和可靠性。
2.准备校验材料：根据内校的要求，准备相应的校验材料，例如标准样品、校验盘等。
校验材料应具有相对准确度较高且稳定的特性。
3.内校流程：按照内校规程，进行内校的具体操作流程。
包括以下步骤：–准备工作：检查校验设备的状态和准确性，保证其正常运行。
准备被测量的计量器具，确保其处于可内校状态。
–校验：根据内校要求和被测量的计量器具的特点，进行相应的校验操作。
记录校验结果，并与标准要求进行比对。
–处理不合格：对于校验结果不合格的计量器具，应及时进行维修、调整或更换，确保其符合内校要求。
–记录与报告：记录内校的相关数据和过程，编制内校报告，包括校验结果、不合格处理情况等。
报告应存档备查。
4.内校周期：根据计量器具的使用频率和重要性，确定内校的周期。
常见的内校周期有日常内校、定期内校和验收内校等。
不同的计量器具可能需要不同的周期来进行内校，应根据实际情况确定。
四、内校的要求1.计量器具的内校应由经过培训并具备相关专业知识和技能的人员进行。
内校人员应熟悉内校的操作流程和要求，具备相应的仪器操作和维护能力。
2.内校应在符合相应的环境条件下进行，避免干扰和误差。
内校环境应具备相对稳定的温度、湿度和光照条件。
3.内校应严格按照内校规程进行，确保操作的准确性和可靠性。
计量器具内部校准规程
版序：A/0 页次： 1 / 3内部校准规程一、目的：本指示规定了公司自行校准的计量器具校准方法、接受标准及校准周期。
二、范围：校准包括1、电子天平2、外径千分尺3、钢卷尺4、带表、数显游标卡尺三、权责单位：质管部。
四、指示内容：计量员每季度对可自行校准的计量器具进行校准。
五、电子天平校准方法5.1、计量标准器具名称/型号：砝码测量范围/准确度：50g~200g/M2级5.2、校准环境要求温度：21℃湿度：68％RH 其它：5.3、校准方法5.3.1、按TARE键将天平置零。
5.3.2、按下CAL键，天平将显示满量校准值。
5.3.3、按照天平所显示的重量放置标定砝码，然后按MODE键，天平显示“ACAL”，然后回到正常称量模式。
5.3.4、重复5.3.1～5.3.2步骤，按一下TARE键天平显示满量程以内的某点，按照天平所显示的重量放置标定砝码，然后按MODE键，天平显示“ACAL”，然后回到正常称量模式。
5.3.5、如果天平显示“NOCAL”,请检查标定砝码和称量环境，天平应远离有气流及振动的环境。
5.4、接受标准检定项目允许误差准确度标准器具200g ±20mg 一级 200g标准砝码300g ±30mg 一级 300g标准砝码六、外径千分尺校准方法6.1、计量标准器具名称/型号：量块测量范围/准确度：0.5~1.5mm/4等6.2、校准环境要求温度：20℃湿度：68％RH 其它：6.3、校准方法6.3.1、将千分尺测量下限调至正确位置（即归零）。
6.3.2、分别用0.5mm、1.5mm的量块测量，查看测量值。
6.4、接受标准检定项目允许误差准确度标准器具0.5mm ±0.010mm 一级 0.5mm标准量块1.5mm ±0.015mm 一级 1.5mm标准量块版序：A/0 页次： 2 / 3内部校准规程七、钢卷尺校准方法7.1、校准环境要求温度：20℃湿度：68％RH 其它：7.2、校准方法用钢卷尺自10CM位置分别测量出0.5M、1.0M的距离段并作好标识，需校准的钢卷尺参照测量出的长度标识同卷尺上的刻度相对比，并记录差值，若有一个值误差超过接受标准，则此卷尺达不到标准。
计量器具内校要求规范
1 目的对公司的计量器具进行部校验，确保其准确度和适用性，保持完好。
2 围适用于公司长度类量具（如卡尺、千分尺、高度尺）、检具、塞规、环规及电子秤的部校准。
3.职责：校由计量室有证书资质人员实施4 校验仪器及设备外校合格的千分尺，外校合格的标准量块,外校合格的投影仪，外校合格的法码等。
5 环境条件1、温度: 23 ±2 ℃2、湿度: 50 ±20 %RH6 校验6.1卡尺、高度尺、深度尺6.1.1、校检项目:1、外观检查2、示值误差检测6.1.2校验仪器及设备外校合格的卡尺、外校合格的标准块（1-100mm 38块2级）。
6.1.3校验标准6.1.4 校验步骤：1、外观检查：检查尺子测量接触面是否平整、干净，无污渍、锈迹，表头的指针/游标是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、平滑。
各功能能稳定、工作可靠。
2、示值误差检测：（1）将尺子调至零点位置，使读数归零、指针对准零点。
（2）选取一块标准量块进行测量，读取其数值。
（注意：取放标准量块时，必需戴细纱手套；测量过程卡尺要与被测量块同方向平直。
（3）用同样的方法，取3～5组不同量块进行测量。
测量点如下图卡尺量程校准点（4）不同量程的尺子可选用不同的基准块或其组合进行校准，对标准块量测值误差，不能大于6.1.3项表格的允许误差。
（5）将检定结果填写在《监测设备履历卡》。
校准周期：6个月。
6.2千分尺6.2.1、校验项目:1、外观检查2、示值误差检测6.2.2校验仪器及设备外校合格的标准块（1-100mm 38块2级）6.2.3校验步骤1、外观检查：千分尺刻度应清晰,测量面无损伤，测量面应无漏光，微调装置，锁定机构应良好,2、示值误差检测:量程围选取低、中、高三个检定点，分别选取三个相应的标准量块，用待检千分尺对每一量块检定三次。
要求对标准块量测值误差不能大于0.005mm3将检定结果填写在《监测设备履历卡》。
校准周期：6个月6.3螺纹塞规6.3.1、校验项目外径、中径、6.3.2校验仪器及设备外校合格外径千分尺，外校合格螺纹千分尺，外校合格投影仪验6.3.2校验步骤1外径检测：千分尺归零后，量取塞规的外径2.中径检测：据螺距选取相应一组量头，将待校螺纹牙规、牙沟的油污、铁屑擦净，把其中一个量头插在零件的螺纹牙沟，另一个骑在牙尖上，用棘轮仔细测量。
计量器具内部校准规程
计量器具内部校准规程1 目的对公司内的计量器具进行内部校验，确保其准确性和适用性，保持完好。
2 范围适用于公司内长度类度量尺（如游标卡尺、高度尺）、检具、塞规等的内部校准。
3 职责内校由质检部门标准校检量具校检。
4 校验仪器及设备送检合格的万能角度尺，送检合格的直角尺，送检合格的钢直尺，送检合格的钢卷尺，送检合格的数显卡尺等。
5 环境条件1. 温度: 23 ±2 ℃2. 湿度: 50 ±20 %RH6 校验6.1 卡尺、高度尺、深度尺6.1.1 校检项目:1. 外观检查2. 示值误差检测6.1.2 校验仪器及设备外校合格的卡尺、外校合格的标准块（1-100mm 38块2级）。
6.1.3 校验标准6.1.4 校验步骤：1. 外观检查：检查尺子测量接触面是否平整、干净，无污渍、锈迹，表头的指针/游标是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、平滑。
各功能能稳定、工作可靠。
2. 示值误差检测：（1）将尺子调至零点位置，使读数归零、指针对准零点。
（2）选取一块标准量块进行测量，读取其数值。
（注意：取放标准量块时，必需戴细纱手套；测量过程卡尺要与被测量块同方向平直。
（3）用同样的方法，取3～5组不同量块进行测量。
测量点如下图（4）不同量程的尺子可选用不同的基准块或其组合进行校准，对标准块量测值误差，不能大于6.1.3项表格内的允许误差。
（5）将检定结果填写在《计量器具校检表》内。
校准周期：12个月。
6.2 钢直尺6.2.1 校检项目:1. 外观检查2. 示值误差检测6.2.2 校验仪器及设备外校合格的标准直尺, 校准参考依据JJG1-1999钢直尺检定规程。
6.2.3 校验步骤：1. 外观检查：（1）尺的端边、侧边及背面应光滑，不应有毛刺、锋口和锉痕等现象。
（2）尺的刻线面不应有碰伤、锈迹及影响使用的明显斑点、划痕。
（3）线纹必须清晰，垂直到侧边，不应有目力可见的断线现象存在，半毫米、毫米、半厘米、厘米线纹应用户不同长度的线纹表示。
计测器具内校管理规范
计测器具内校管理规范一、目的根据本公司实际情况，大部分计量器具送检外校，其中对部分没有送外校、或无法外校的、或外校后使用频繁的器具进行不定期的内部校准，确保其准确度和适用性，以保持完好。
二、范围适应于游标卡尺、电子秤、温湿度计、万用表等的内部校准。
三、校准基准：外校合格的游标卡尺、电子秤、温湿度计、万用表等。
四、校准步骤：4.1、卡尺内校程序：4.1.1 卡尺的类型4.1.1.1游标卡尺：由尺身、尺框和深度三部分组成。
其刀口内量爪用于测量内尺寸，外量爪用于测量外尺寸，尺身背面沟槽中装有深度尺用于测量孔或槽的深度。
（如图1）4.1.1.2带表卡尺该卡尺的尺身有毫米刻线并装有高精度齿条，以齿条为基准带动百分表转动，由此代替游标装置进行读数。
我司带表卡尺的百分表分度值为0.01mm（如图2）4.1.1.3数显卡尺该卡尺尺身装有高精度齿条，齿条运动带动圆形栅格片转动，用光电脉冲计数原理，将卡尺量爪的位移量转变为脉冲讯号，通过计数器和显示器将测量尺寸用数字显示在屏幕上。
（如图3）图1图2图34.1.2校准原理：利用主尺刻线间距与游标刻线间距之差来进行小数部分读数，整数部分由游标尺的零刻线所对应的主尺刻线确定。
4.1.3校准基准：①、外校合格的标准件。
②、选用外校合格的平台。
4.1.4 校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为6个月。
4.1.5校准步骤：4.1.6 判定标准：表示值误差不超过下表所列的标准即为合格：4.1.7 注意事项：4.1.7.1掌握好测力测量力对于卡尺来说是一个影响测量准确度的重要因素，测量时要掌握好量爪与工件表面接触时的压力，测量面与工件接触后，量爪应能沿工件表面滑动，但不能有松动，跌落的手感，有微动装置的卡尺应使用微动装置。
4.1.7.2注意减少测量孔径的误差用内量爪测孔径时，应先将固定量爪接触孔壁，再移动活动量爪找出最大尺寸，这样的测得值才是孔径尺寸，否则，测得值是弦长或其他尺寸。
计量器具内校规程定稿版
计量器具内校规程精编W O R D版IBM system office room 【A0816H-A0912AAAHH-GX8Q8-GNTHHJ8】计测器内校管理程序1、硬度计的内校程序（1）、结构说明：常用硬度计分为①章氐其计算符号为HV。
②布氐其计算符号为HB，③洛氐其计算机符号为HR三者之结构大致相同。
是由以下结构组成如图（一）所示：（2）、校验基准：使用外校合格的硬度计进行对比校准。
（3）、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
（4）、校准步骤：（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时：依实际情况，判定为：暂停使用，降级使用，维修，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
2、深度尺内校程序：（1）、结构概述：深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，结构组成如图（二）所示：（2）、校准基准：标准量块（外校合格的标准块）。
（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
（4）、校准步骤：（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
3、高度尺内校程序：（1）、结构概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成，如图（三）所示：（2）、校准基准：选用外校合格的量块和平台进行比对校准。
（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
（4）、校准步骤：（（6）、记录保存：①、校准合格后，贴上校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
4、外径千分尺内校程序：（1）、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，锁紧装置，固定套筒，微分筒等组成，如图（三）所示。
计量器具内校要求规范
1 目的对公司内的计量器具进行内部校验，确保其准确度和适用性，保持完好。
2 范围适用于公司内长度类量具（如卡尺、千分尺、高度尺）、检具、塞规、环规及电子秤的内部校准。
3.职责：内校由计量室有证书资质人员实施4 校验仪器及设备外校合格的千分尺，外校合格的标准量块,外校合格的投影仪，外校合格的法码等。
5 环境条件1、温度: 23 ±2 ℃2、湿度: 50 ±20 %RH6 校验6.1卡尺、高度尺、深度尺6.1.1、校检项目:1、外观检查2、示值误差检测6.1.2校验仪器及设备外校合格的卡尺、外校合格的标准块（1-100mm 38块 2级）。
6.1.3校验标准6.1.4 校验步骤：1、外观检查：检查尺子测量接触面是否平整、干净，无污渍、锈迹，表头的指针/游标是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、平滑。
各功能能稳定、工作可靠。
2、示值误差检测：（1）将尺子调至零点位置，使读数归零、指针对准零点。
（2）选取一块标准量块进行测量，读取其数值。
（注意：取放标准量块时，必需戴细纱手套；测量过程卡尺要与被测量块同方向平直。
（3）用同样的方法，取3～5组不同量块进行测量。
测量点如下图卡尺量程校准点0-150mm 50 100 1400-200mm 20 50 120 1900-300mm 40 100 200 290（4）不同量程的尺子可选用不同的基准块或其组合进行校准，对标准块量测值误差，不能大于6.1.3项表格内的允许误差。
（5）将检定结果填写在《监测设备履历卡》内。
校准周期：6个月。
6.2千分尺6.2.1、校验项目:1、外观检查2、示值误差检测6.2.2校验仪器及设备外校合格的标准块（1-100mm 38块 2级）6.2.3校验步骤1、外观检查：千分尺刻度应清晰,测量面无损伤，测量面应无漏光，微调装置，锁定机构应良好,2、示值误差检测:量程范围内选取低、中、高三个检定点，分别选取三个相应的标准量块，用待检千分尺对每一量块检定三次。
计量器具内校规程
计测器内校管理程序1、硬度计的内校程序（1）、结构说明：常用硬度计分为①章氐其计算符号为HV。
②布氐其计算符号为HB，③洛氐其计算机符号为HR三者之结构大致相同。
是由以下结构组成如图（一）所示：（2）、校验基准：使用外校合格的硬度计进行对比校准。
（3）、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
（4）、校准步骤：（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时：依实际情况，判定为：暂停使用，降级使用，维修，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
2、深度尺内校程序：（1）、结构概述：深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，结构组成如图（二）所示：（2）、校准基准：标准量块（外校合格的标准块）。
（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
（4）、校准步骤：（6）、记录保存：①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
3、高度尺内校程序：（1）、结构概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成，如图（三）所示：（2）、校准基准：选用外校合格的量块和平台进行比对校准。
（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
（4）、校准步骤：（6）、记录保存：①、校准合格后，贴上校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
4、外径千分尺内校程序：（1）、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，锁紧装置，固定套筒，微分筒等组成，如图（三）所示。
（2）、使用基准：外校合格的标准量块：（3）、校准环境及周期。
常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
内校规范
计量器具(长度类)内校规程
文件编号
QCWI18
版本
A/1
生效日期
2014-6-08
第1页,共2页
1.目的:
对内校计量器具规定校验的方法,确保产品和计量结果的有效性.
2.适用范围:
适用于本公司内校的长度类测量仪器.
3.责任部门:
品管部
4.实施办法:
4.1依照《计量校准计划》对所规定的计量器具作校准,填写《内校记录表》,并对校准后
和191.8mm,内卡为25mm,深度尺为20mm.对于(0-150)mm的数显卡尺、带表卡尺的
校准,分别对内卡,外卡,深度尺进行校准,其受检点外卡为10mm, 20mm,51.2mm和
121.5mm,内卡为25mm,深度尺为20mm,每一受检点上测四次,并记下每次的数值;在
东莞市佰利实业投资有限公司
5.1.5对于(0-300)mm的数显卡尺、带表卡尺的校准是以标准块规和千分尺为依据,分别
对内卡,外卡,深度尺进行校准,其受检点外卡分别为51.2mm,101.2mm,201.5mm和
291.8mm,内卡为25mm,深度尺为20mm.对于(0-200)mm的数显卡尺、带表卡尺的校
准,分别对内卡,外卡,深度尺进行校准,其受检点外卡分别为10mm,51.2mm,121.5mm
尺读数与量块尺寸之差确定;对(0-200)mm的数显卡尺、带表卡尺外卡的校准用
10mm,51.2mm,121.5mm和191.8mm的量块分别夹在两外测量面间,并使量块平行于
两外测量面.尺寸偏差以卡尺读数与量块尺寸之差确定;对于(0-150)mm的数显卡尺、
带表卡尺外卡的校准分别用10mm, 20mm,51.2mm和121.5mm的量块夹在两外测量
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计量器具内校规程
内部校准
游标卡尺内部校准规程
1目的对游标卡尺进行内部校准，确保其准确性和适用性保持完好。
2范围适用于普通及指针式游标卡尺的内部校准。
3校准用基准物质外校合格的标准块规(量块)
4环境条件室温。
5校准步骤
5．1 检查卡尺测量接触面，干净、无污渍、锈迹，指针式卡尺表头的指针是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、平滑。
5．2调校零位，或使指针对准零点。
5．3先取一块10mm基准量块进行度量，量块被测量面要干净、平整。
5．4连续测量三次，允许误差±0.02mm；取其平均值记录在《内校记录表》内，在度量过程中卡尺要和被测量块同方向平值。
5．5用同样的方法，用以下基准量块逐个度量，50mm允许误差±0.02mm；100mm允许误差±
0.02mm；（50m m＋100mm ）允许误差±0.04mm、（100mm＋50m m＋70m m＋80mm ）允许误
差±0.06mm、每个量程必须测量三次再取其平均值记录在《内校记录表》内。
5．6测内径接触面磨损程度：取两块同样大小的量块（构成测量的基准面），夹紧一块的50mm 量块成“H”型，然后移动表头，使游标卡尺上面的测量端张开靠紧两基准面后再读数，测量三次，取平均值，记录在《内部校准表》内，测量值与标准值允许误差±0.02mm。
5．7可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或其组合进行校准。
5．8 历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格。
6 相关记录内校记录表。
钢尺、卷尺内部校准规程
1目的对钢尺、卷尺进行内部校准，确保其准确性和适用性保持完好。
2范围适用于进料检验所使用的钢尺、卷尺。
3校准用基准设备外校合格的钢尺(精度0.5mm)
4环境条件室温。
5校准步骤
5．1 检查钢尺、卷尺的刻度是否清晰，钢片是否平齐，否则更换。
5．2钢尺校准时，取一基准平面，把基准钢尺的零点贴紧该平面，基准钢尺的刻度对近待校准钢尺的刻度。
5．3卷尺校准时，把基准钢尺平放在桌面上，拉开卷尺，用卷尺零点勾住钢尺的零点的一端并贴紧钢尺。
5．4分别核对被校尺和基准钢尺的刻度，核对点100mm 、500mm 、1000mm 、第一次完成后，再进行第二次、第三次，三次读数取平均记录在《内校记录表》内，两尺读数之差，100mm时允许误差±1.0mm；500m m时允许误差±1.0mm；1000mm时允许误差±1.0mm。
5．5当被校准的卷尺长度超出基准钢尺的长度时，按1000mm每分段校准，将卷尺全都拉开，先校准前1000mm，记录数据；再在卷尺1000mm点划一条细小的横线，用钢尺的零点对准该条横线，
按上述方法核对数据后记录，依次校准下去，重复三次取平均值记录在《内校记录表》内，最大允许累积误差为±2.0mm。
5．6历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内（且卷尺的累积误差在±2.0mm范围内），判校准合格。
6 相关记录内校记录表。
温度计内部校准规程
1目的对温度计进行内部校准，确保其准确性和适用性保持完好。
2范围适用于测量溶液温度所使用的水银温度计。
3校准用基准设备外校合格的数显温度表(精度0.1℃).
4环境条件室温。
5校准步骤
5．1 检查玻璃体是否破裂及刻度是否清晰，否则更换。
5．2用一透明容器盛装适量自然溶解的冰水混合物。
5．3把温度计有水银液体的一端放进冰水混合物中，然后观察水银柱的变化情况。
5．4待水银柱变化稳定，再对照温度计刻度是否在0℃的位置，记录读数。
5．5第一次测量完成后，取出温度计，待水银柱回到自然的位置后，重新第二次测量，这样连续测量三次，取得结果再取其平均值，记录在《内校记录表》内，允许误差±1.0℃。
5．6以上步骤完成后，把温度计放在50℃以下的温水中（30℃为宜），用基准数显温度表进行校对（把探头放在水银柱旁边的温水中），对比并记录温度计的和基准温度表的温度读数。
5．7第一次测量完成取出温度计，待水银柱回到自然的位置后，再进行第二、第三次测量，测量结果取其平均值，记录在《内校记录表》内，允许误差±1.0℃。
5．8 把温度计放在50℃以上的热水中（80℃为宜），重复5.6、5.7相关步骤。
5．9三次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，该温度计判校准合格。
6 相关记录内校记录表。
电子称内部校准规程
1目的对电子称进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于调配方时所使用的电子称（0～300g）。
3校准用基准物质外校合格的标准砝码。
4环境条件室温。
5校准步骤
5．1 清洁被校电子称载物台，进行归零。
5．2分别使用10，20，50，100，（100＋100），（100＋100 ＋50＋20＋20＋10）g的砝码进行校准。
每个重量读数三次取平均，记录载《内校记录表》中。
5．3根据下式计算误差：△（％）=（G-g）/G×100 式中：G---标准砝码示值；
g---电子称读值。
5．4所有校准值的误差均在±1％以内，判校准合格。
6 相关记录内校记录表。