XRD实验报告模板 - 360文档中心

材料分析实验报告

材料分析实验报告实验目的：1.通过XRD实验，了解材料的晶体结构和晶格参数。

2.学会使用XRD仪器进行样品测量和数据分析。

实验原理：XRD（X射线衍射）是一种通过照射样品表面的X射线，观察其衍射图谱来分析材料晶体结构和晶格参数的方法。

根据布拉格方程，晶体内的原子平面间距与入射X射线波长、衍射角度之间存在关系。

实验过程：1.样品制备：a.将待分析的材料粉末状样品放入研钵中，加入少量丙酮调制成均匀的浆糊状。

b.使用玻璃片或者石英片将浆糊均匀地涂覆在片上，形成薄膜样品。

c.放置在通风处，使样品完全干燥。

2.实验操作：a.将干燥的样品片安装在XRD仪器的样品台上。

b.设定入射X射线的波长和电流，并确定扫描范围和速度。

c.启动扫描，开始测量样品的衍射图谱。

d.根据实验结果，计算并分析晶体结构和晶格参数。

实验结果：[插入实验结果图谱]根据图谱，我们可以看到明显的衍射峰，表示样品中存在特定晶面的衍射。

通过峰的位置和强度，我们可以判断出样品的晶体结构和晶格参数。

实验结论：根据衍射峰的位置和强度，我们得出样品为立方晶体结构，晶胞参数为a=b=c=3.5Å。

实验总结：通过本次XRD实验，我们学会了使用XRD仪器进行材料分析。

对于具有明显衍射峰的样品，我们可以通过XRD测量来确定其晶体结构和晶格参数。

同时，我们也需要注意样品制备的过程，确保样品干燥和均匀涂覆在片上，以获得准确的实验结果。

通过实验，我们加深了对材料的了解，并为进一步研究和应用提供了基础。

材料分析基础实验报告之X射线衍射(XRD)物相分析【范本模板】

实验一 X射线衍射仪的结构与测试方法一、实验目的1、掌握X射线衍射的基本原理；2、了解X射线衍射仪的基本结构和操作步骤;3、掌握X射线衍射分析的样品制备方法；4、了解X射线的辐射及其防护方法二、实验原理根据晶体对X射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是X射线物相分析法。

每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。

没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。

当X射线波长与晶体面间距值大致相当时就可以产生衍射。

因此，当X射线被晶体衍射时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I／I1来表征。

其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关，相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。

所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I／I1是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。

三、实验设备丹东方圆仪器有限公司的D2700型X射线粉末衍射仪一台;玛瑙研体一个；化学药品或实际样品若干（Li4Ti5O12）。

四、实验内容1、采用玛瑙研体研磨样品，在玻璃样品架上制备一个合格试验样品;2、选择合适的试验参数，获得XRD图谱一张;3、理解样品、测试参数与XRD图谱特征的关系。

五、实验步骤1、开机1）打开总电源2）启动计算机3）将冷却水循环装置的机箱上的开关拨至运行位置，确认冷却水系统运行，水温正常（19—22℃）；4)按下衍射仪ON绿色按键打开衍射仪主机开关5）启动高压部分(a）必须逐渐提升高压，稳定后再提高电流。

电压不超过40kV,管电流上限是40mA，一般为30mA。

（b)当超过4天未使用X光管时,必须进行光管的预热。

在25kV高压，预热10分钟;30kV，预热5分钟;35kV，预热5分钟。

（c）预热结束关机后，至少间隔30分钟以上方可再次开机实验。

6）将制备好的样品放入衍射仪样品台上；7)关好衍射仪门.2、样品测试1）在电脑上启动操作程序2）进入程序界面后，鼠标左键点击“测量”菜单，再点击“样品测量”命令,进入样品测量命令3)等待仪器自检完成后，设定好右边的控制参数；4）鼠标左键点击“开始测量”，保存输出文件；5）此时仪器立即开始采集数据，并在控制界面显示；（a）工作电压与电流：一般设为40kV，40mA;（b）扫描范围:起始角度>5°，终止角度<80°；(c）步进角度：推荐0.02°，一般在0.02—0。

XRD实验报告_3

XRD实验实验目的：1、了解衍射仪的正确使用方法。

2、掌握立方晶系晶体晶格常数的求法。

实验原理：一、粉末衍射花样形成的原理多晶衍射试样中包含的晶粒很多，并且是无规则分布的，这就使任一晶面（hkl）可以在空间任何取向上出现，这相当于（hkl）面在空间自由转动，不断改变与入射线所成的角度，当这角度符合布拉格定律的要求时，（hkl）面就会发生反射。

图1 X射线衍射示意图图1中实线表示（hkl）面与入射线成θ角时，满足布拉格定律，反射出一束衍射线。

虚线表示另一个取向不同的（hkl）面，这个晶面尽管在空间的取向不同，但也与入射线成θ角，也能产生反射。

可以产生反射的（hkl）面显然不限于图1所示的两种情况。

如果以入射线为轴进行旋转，则图中的（hkl）面会构成一个半顶角为θ的锥面，在这锥面上的（hkl）面都符合布拉格定律，都能产生反射，这些反射线构成一个半顶角为2θ的锥面，称为衍射锥。

衍射锥与垂直于入射线的底片相交，就会在底片上得到一个圆环，这就是德拜环。

但在德拜法中，底片上记录的只是一些近似于圆弧的曲线，称为德拜线。

指数不同的晶面，其反射线的θ角也不同，于是，多晶试样可以得到一组不同半顶角2θ的衍射锥，相应的，在德拜照片上出现一系列德拜线。

二、X射线衍射仪的结构和工作原理X射线衍射仪由X射线发生器、测角台、探测记录系统组成，配有功能各异的计算机系统及数据处理系统。

下面主要介绍X射线发生器和测角台。

1、X射线发生器它有一个高压发生器和X射线管组成。

高压发生器提供可分档调节的稳流稳压电源，其管流管压稳定度一般优于万分之五。

稳定度低于千分之一的高压发生器不能保证光源的稳定性，大多数定量分析工作不宜采用。

X射线管是一只热阴极二极电子管。

在高压发生器输出的高压作用下，带有聚焦罩的热阴极发射的电子被加速到具有数十KeV的能量。

电子束打到阳极靶面上，激发出X射线。

靶面被电子打击处称为焦斑。

从能量转换来看，X射线的转换效率一般都在百分之一以下，其余能量转换成热能，使靶子温度升高。

材料分析(XRD)实验报告

材料分析(XRD)实验报告实验介绍X射线衍射(X-ray diffraction，XRD)作为材料分析的重要技术，广泛应用于理化、材料、生物等多领域的研究中。

通过探测样品经X射线照射后发生的衍射现象，可以研究样品的晶体结构、成分、析出物、方位取向和应力等信息。

本次实验旨在运用XRD技术，对给定的样品进行分析，获得其粉末衍射图谱，并辨识样品的组分和晶体结构。

实验内容实验仪器实验仪器为材料研究机构常用的X射线衍射仪(XRD)。

实验条件•电压：40kV•电流：30mA•Kα射线：λ=0.15418nm实验步骤1.准备样品，测定粒度，并将其均匀地涂抹在无机玻璃衬片上。

2.打开XRD仪器，调节仪器光路使样品受到Kα射线照射。

3.开始测量，记录粉末衍射图谱，并结合实验结果进行分析。

实验结果样品组分辨识通过对样品的粉末衍射图谱进行分析，我们可以得到其组分信息。

我们发现该样品固然是单晶体且结构对称性良好，可能为同质单晶或者异质晶体；而根据峰强度和位置的对比，推测其为氢氧化钠(NaOH)晶体。

样品晶体结构我们通过对样品的峰形、角度和强度等参数进行精确计算与比对，确定了其晶体结构。

结果表明，该样品为六方晶系的氢氧化钠晶体，具有P63/mmc空间群。

数据分析在粉末衍射图谱中，我们观察到了一系列异常峰，其中最强的三个峰分别位于14.1°、28.05°和62.75°。

这些峰的出现是由于样品晶体在受到X射线照射后产生的衍射现象。

观察这些峰的强度和峰形，我们可以获得该样品的晶体结构信息。

6个最强峰分别位于：14.06°、28.106°、32.667°、36.145°、41.704°、50.952°，对应晶面指数hkl为：001、100、102、110、103、112。

我们将其与国际晶体结构数据中心(ICDD)的氢氧化钠(NaOH)晶体结构进行比对，发现两者是相符的，因此可以确认该样品为氢氧化钠(NaOH)晶体。

xrd课实验报告

XRD课实验报告
实验目的
本实验旨在通过X射线衍射（XRD）技术分析材料的晶体结构和晶体学参数。

实验器材
•X射线衍射仪
•样品：待测材料样品
实验步骤
步骤一：样品准备
1.将待测材料样品研磨成细粉末状。

2.使用仪器提供的样品支架，将研磨好的样品粉末均匀地涂抹在样品支架上。

步骤二：仪器设置
1.打开X射线衍射仪的电源，确保仪器处于工作状态。

2.根据样品特性和实验要求，设置合适的入射角度和扫描范围。

步骤三：开始测量
1.将样品支架放置在仪器的样品台上，确保样品处于稳定的位置。

2.启动仪器，开始进行X射线衍射扫描。

3.等待扫描完成，记录扫描结果。

步骤四：数据分析
1.根据扫描结果，绘制衍射曲线。

2.通过观察曲线的峰位、峰形和峰宽，初步判断样品的晶体结构类型。

3.使用适当的分析软件对衍射数据进行进一步处理，获取晶体学参数（如晶格常数、晶胞体积等）。

步骤五：结果解读
1.根据获得的晶体学参数，结合已有知识，对样品的晶体结构进行解读。

2.分析实验结果的可靠性和可能存在的误差来源。

结论
通过本次XRD实验，我们成功地分析了待测材料的晶体结构和晶体学参数。

通过仔细的样品准备、仪器设置和数据分析，我们获得了可靠的实验结果。

实验结果对于进一步研究该材料的物理和化学性质具有重要意义。

注意：本实验报告仅供参考，实际实验操作和数据分析过程可能因仪器和样品的不同而有所差异。

在进行实验前，请仔细阅读仪器使用说明书，并遵循实验室安全规定。

XRD物相分析实验报告

XRD物相分析实验报告一、引言X射线衍射（XRD）是一种用来研究物质的晶体结构和晶体衍射现象的重要实验方法。

XRD物相分析实验可以通过测定物质的衍射图案，确定样品中的晶体结构以及晶格参数，进而分析物质的组成和性质。

本实验旨在通过XRD物相分析，对实验样品的晶体结构进行研究。

二、实验步骤1.将待测样品研磨成细粉，并用乙醇进行清洗和过滤，使得样品表面平整且无杂质。

2.将样品放置在刚度良好的样品钢环中，并用理石粉填充其余空间，以保持样品的平整性和稳定性。

3.将样品钢环固定在X射线测量装置上的样品架上，确保样品与X射线发射源、接收器和探测器之间的距离合适，并开启仪器。

4.使用仪器提供的程序选择适当的测量参数，如测量范围、步长等，进行XRD测试。

5.测量结束后，根据实验结果进行数据处理和分析，绘制出衍射图案，通过对衍射峰进行配对和标定，确定样品的物相信息。

三、实验结果与分析根据实验测得的衍射图案，可以清晰地观察到一系列衍射峰。

根据布拉格衍射公式d = λ / (2sinθ)，其中d是晶面间距，λ是入射X射线波长，θ是衍射角度，我们可以计算出样品的晶面间距。

通过对衍射峰的标定和配对，我们可以确定样品中的物相信息。

根据国际晶体学数据库（ICDD）提供的数据，我们可以进行衍射峰的比对和匹配，确定样品中的晶体结构和晶格参数。

四、讨论与结论通过实验测定和分析，我们可以得出以下结论：1.样品中存在的晶体结构和晶格参数：（列举样品中的物相，以及其晶格参数，如晶格常数a，b，c以及晶胞参数等）2.样品的组成和性质：根据物相信息，可以推断出样品的组成和性质，如化合物的化学组成和晶体的热稳定性等。

3.实验结果的可靠性：对于确定样品物相和晶体结构的可靠性，除了比对和匹配实验结果外，还应考虑并确定实验条件和控制因素的合理性以及实验数据的准确性。

总之，XRD物相分析实验是一种常用的方法，可以研究物质的晶体结构和晶格参数。

通过实验测量和分析，我们可以得出样品中存在的物相信息并推断出样品的组成和性质。

衍射仪实验报告

衍射仪实验报告篇一：XRD 实验报告（一）XRD实验报告实验目的：了解X射线衍射仪的结构和工作原理；掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤；了解X射线衍射物相定量分析的原理和方法；熟悉XRD的一些基本操作。

实验原理：X衍射原理：X射线在晶体中的衍射现象，实质上是大量的原子散射波互相干涉的结果。

晶体所产生的衍射花样都反映出晶体内部的原子分布规律。

概括地讲，一个衍射花样的特征，可以认为由两个方面的内容组成：一方面是衍射线在空间的分布规律，（称之为衍射几何），衍射线的分布规律是晶胞的大小、形状和位向决定。

另一方面是衍射线束的强度,衍射线的强度则取决于原子的品种和它们在晶胞中的位置。

对某物质的性质进行研究时，不仅需要知道它的元素组成，更为重要的是了解它的物相组成。

X射线衍射方法可以说是对晶态物质进行物相分析的最权威的方法。

每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。

没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。

因此，当x射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射图谱，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I／I0来表征。

其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关，相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。

所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I／I0是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。

晶体的X射线衍射图谱是对晶体微观结构精细的形象变换，每种晶体结构与其X射线衍射图质检有着一一对应的关系，任何一种晶态物质都有自己对特的X射线衍射图，而且不会因为与其他物质混合而发生变化，这就是X射线衍射法进行物相分析的依据。

根据晶体对X射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是X射线物相分析法。

实验仪器：XRD仪、橡皮泥、电脑及相关软件等实验步骤：开电脑，开循环水，安装试样，设置参数，运行XRD衍射仪，然后获得数据，利用Origin 软件生成XRay衍射图谱依次找出峰值的2θ，与PDF卡片中的标准图谱相比较，确定试样中的相。

XRD实验报告

XRD实验报告一、实验目的1.了解X射线衍射（XRD）技术的基本原理；2.学习XRD在矿石分析中的应用；3.掌握利用XRD技术鉴别蒙脱石的方法。

二、实验原理X射线衍射是一种通过物质对X射线的衍射现象来研究物质结构和性质的方法。

当X射线与物质中的原子或离子相互作用时，会受到散射并出现干涉现象，形成衍射图案。

在XRD实验中，我们使用的是钼靶X射线源，其波长为0.7112Å。

X射线射入样品后，会与样品中的晶体结构发生相互作用，产生不同的衍射角度，并通过X射线探测器检测并记录下来。

通过观察衍射谱图，可以得到样品的晶体结构和组成。

对于蒙脱石的鉴别，其主要特征是出现在5-8°范围内的两个衍射峰。

这两个峰分别对应（001）和（060）晶面的衍射峰。

通过观察这两个峰的位置、强度和形状，可以确定样品中是否存在蒙脱石。

三、实验步骤1.准备样品：将蒙脱石样品研磨成粉末状，将粉末均匀地撒在XRD样品台上。

2.调整XRD仪器：打开XRD仪器，调整样品台的位置和角度，使其与X射线源和X射线探测器对准。

3.收集衍射数据：开始收集衍射数据，设置扫描范围为2θ=3-30°，步进角度为0.02°。

通过点击“开始扫描”按钮，开始进行自动扫描。

4.分析数据：扫描结束后，得到一幅衍射谱图。

观察谱图中5-8°范围内的两个衍射峰，分析其位置、强度和形状，确定是否存在蒙脱石。

5.记录观察结果：根据分析结果，记录下样品中是否存在蒙脱石，以及相应的衍射峰特征。

四、实验结果与分析根据图谱分析，我们确定样品中存在蒙脱石。

两个衍射峰的位置分别为6.5°和7.2°，强度相对较强，峰形较尖锐。

这与蒙脱石的（001）和（060）晶面的衍射特征相符合。

五、实验总结通过本次XRD实验，我们学习了X射线衍射技术的基本原理，并成功运用XRD技术鉴别了蒙脱石样品。

实验结果表明，蒙脱石样品的衍射图谱中确实存在5-8°范围内的两个衍射峰，验证了蒙脱石的存在。

材料分析(XRD)实验报告

材料专业实验报告题目：X射线衍射(XRD)定性分析实验学院：先进材料与纳米科技学院专业：材料物理与化学姓名：学号：15141229862016年6月30日X射线衍射（XRD）定性分析实验一、实验名称X射线衍射(XRD)实验二、实验目的1、了解X射线衍射的基本原理。

2、了解X射线衍射仪的正确使用方法。

3、掌握立方系晶体晶格常数的求法。

三、实验原理（一）X射线衍射原理X射线在晶体中产生的衍射现象，是由于晶体中各个原子中电子对X射线产生相干散射和相互干涉叠加或抵消而得到的结果。

当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。

这就是X射线衍射的基本原理。

图1 晶体对X射线衍射示意图如图1所示，衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示：2d sinθ=nλ（二）粉末衍射花样成像原理粉末样品是由数目极多的微小晶粒组成（10-2-10-4mm，每颗粉末又包含几颗晶粒），取向是完全无规则的。

所谓“粉末”，指样品由细小的多晶质物质组成。

理想的情况下，在样品中有无数个小晶粒（一般晶粒大小为1μ，而X射线照射的体积约为1mm3，在这个体积内就有109个晶粒），且各个晶粒的方向是随机的，无规则的。

即各种取向的晶粒都有。

这种粉末多晶中的某一组平行晶面在空间的分布，与一在空间绕着所有各种可能的方向转动的单晶体中同一组平行晶面在空间的分布是等效的。

在粉末法中由于试样中存在着数量极多的各种取向的晶粒。

因此，总有一部分晶粒的取向恰好使其（hkl）晶面正好满足布拉格方程，因而产生衍射线。

图4 背散射分析设备示意图图2 粉末衍射成像原理如图2所示，衍射锥的顶角为4θ。

每一组具有一定晶面间距的晶面根据它们的d 值分别产生各自的衍射锥。

一种晶体就形成自己特有的一套衍射锥。

XRD物相分析实验报告

XRD物相分析实验报告X射线衍射（XRD）是一种常用的物相分析技术，通过分析物质的衍射图谱，可以确定样品的晶体结构、晶粒尺寸、晶体取向等信息。

本实验旨在利用XRD技术对一系列样品进行物相分析，并对实验结果进行分析和讨论。

实验仪器及试剂：1.X射线衍射仪：用于测量样品的XRD图谱。

2.样品：包括无定形材料、多晶材料和单晶材料等。

实验步骤：1.准备样品：将样品制备成均匀颗粒，并保持表面平整。

2.调节仪器参数：根据实际需要，选择适当的X射线波长和扫描范围，并调节其他参数如扫描速度、脉冲时间等。

3.测量样品的XRD图谱：将样品放置在X射线衍射仪的样品台上，通过扫描仪器开始测量。

4.数据处理：将测得的强度-2θ数据转换为曲线图，并对图谱进行标定和解析。

实验结果：[插入XRD图谱]通过比对已知标准样品的XRD图谱数据库，确定了样品的物相成分。

同时，可以利用XRD图谱确定样品的相对晶胞参数和晶体取向信息。

实验讨论：根据实验结果，我们可以得出如下结论：1.样品A的XRD图谱显示出峰位集中、峰型尖锐的特点，表明样品A是单晶材料。

进一步分析发现，样品A的晶体结构为立方晶系，晶胞参数为a=5Å。

2.样品B的XRD图谱呈现出多个峰位的广谱特征，表明样品B是多晶材料。

进一步分析发现，样品B的晶体结构为正交晶系，晶胞参数为a=4Å，b=6Å。

3.样品C的XRD图谱呈现出连续且平坦的背景特征，表明样品C为无定形材料。

由于无定形材料不具备明确的晶胞参数和晶体结构，因此无法进一步分析。

实验总结：XRD技术是一种广泛应用于物相分析的方法，在材料科学、地球科学、化学等领域均有重要应用。

通过XRD实验，我们能够确定样品的晶体结构和成分，为进一步的材料研究提供重要信息。

在实验中，我们需要合理选择X射线波长和仪器参数，确保获得准确可靠的实验结果。

在实验结果的分析中，还需要参考已知标准样品库，结合实验条件和样品特性，进行准确的物相分析。

XRD 实验报告【范本模板】

(一）XRD实验报告实验目的:了解X射线衍射仪的结构和工作原理；掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤；了解X射线衍射物相定量分析的原理和方法；熟悉XRD的一些基本操作。

实验原理：X衍射原理：X射线在晶体中的衍射现象，实质上是大量的原子散射波互相干涉的结果。

晶体所产生的衍射花样都反映出晶体内部的原子分布规律。

概括地讲，一个衍射花样的特征，可以认为由两个方面的内容组成：一方面是衍射线在空间的分布规律，（称之为衍射几何），衍射线的分布规律是晶胞的大小、形状和位向决定.另一方面是衍射线束的强度,衍射线的强度则取决于原子的品种和它们在晶胞中的位置。

对某物质的性质进行研究时，不仅需要知道它的元素组成，更为重要的是了解它的物相组成。

X射线衍射方法可以说是对晶态物质进行物相分析的最权威的方法。

每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。

没有任何两种物质，它们的晶胞大小、质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。

因此，当x射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射图谱，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I／I0来表征.其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关,相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。

所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I／I0是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。

晶体的X射线衍射图谱是对晶体微观结构精细的形象变换，每种晶体结构与其X射线衍射图质检有着一一对应的关系，任何一种晶态物质都有自己对特的X射线衍射图，而且不会因为与其他物质混合而发生变化，这就是X射线衍射法进行物相分析的依据.根据晶体对X射线的衍射特征－衍射线的位置、强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是X射线物相分析法.实验仪器：XRD仪、橡皮泥、电脑及相关软件等实验步骤:开电脑，开循环水，安装试样，设置参数，运行XRD衍射仪，然后获得数据,利用Origin 软件生成XRay衍射图谱依次找出峰值的2θ，与PDF卡片中的标准图谱相比较，确定试样中的相。

实验报告(XRD)

XRD衍射分析实验报告
学号
姓名
专业、班
实验地点
苏州纳米所E
指导教师
时间
一、实验目的
掌握XRD衍射分析仪器使用及测试
二、实验要求
掌握粉末样品制样方法，选择和设计测试模式及参数，实验数据处理，定性物相分析
三光，通过一组狭缝，每一个狭缝成为一个新的光源，这些新的光源相位相互叠加，相位相同的增强，相位相反的减弱，在投影屏上就可以看到明暗相间的衍射条纹。在X射线衍射的实践中，狭缝被晶体的晶面组所替代。衍射图谱中的每一个衍射峰都满足布拉格方程：
四、实验内容
五、实验结果和分析
成绩：
教师评语
签名：
日期：
式中：λ：X射线波长
n：反射级数，为一整数
d(hkl)：反射晶面（hkl）的面间距
HKL：衍射指数（各反射晶面指数乘上反射级数，H=nh，K=nk，L=nl）
θ(HKL)：（HKL）衍射的布拉格角，2θ称衍射角
1.2物相组成的定性分析：不同物相的多晶衍射谱，在衍射峰的数量、2θ位置及强度上总有一些不同，具有物相特征。几个物相的混合物的衍射谱是各物相多晶衍射谱的权重叠加，因而将混合物的衍射谱与各种单一物相的标准衍射谱进行匹配，可以解析出混合物的各组成相。一个衍射谱可以用一张实际谱图来表示，也可以与各衍射峰对应的一组晶面间距值（d值）和相对强度（I/I1）来表示。因而这种匹配可以是和图谱对比，也可是将他们的各d(2θ), （I/I1）进行对比。这种匹配解析可以用计算机自动进行，也可用人工进行。

现代分析xrd实验报告

现代分析xrd实验报告引言X射线衍射（X-ray Diffraction，简称XRD）是一种常用的材料分析方法，通过探测材料中的晶体结构与结晶性质，在材料科学、地质学、化学等领域有着广泛的应用。

本实验旨在利用现代分析XRD技术，研究样品的结晶性质及晶体结构，深入了解样品的微观结构和性质。

实验原理XRD实验基于布拉格方程：n\lambda = 2d\sin\theta其中，n为正整数，\lambda为入射X射线的波长，d为晶格间距，\theta为X 射线与晶体平面的夹角。

通过衍射仪表的旋转，可以连续扫描探测到一系列的衍射峰，每个峰对应一个特定的晶面间距和入射角。

通过分析这些数据，可以推断出晶体的晶胞参数以及晶体的晶体结构。

实验步骤1. 样品准备：将待测样品制备成粉末状，并将其均匀地散布在样品托盘上。

2. 仪器调试：按照仪器操作手册，正确调整XRD仪器的参数，确定好入射角范围、扫描速度等。

3. 样品加载：将样品托盘固定在仪器的样品台上，并确保样品与X射线束的垂直对准。

4. 开始扫描：启动XRD仪器，进行衍射扫描。

仪器会自动旋转样品台，并记录衍射峰的位置和强度。

5. 数据分析：将实验得到的数据导入分析软件，通过峰位和峰宽的测量，计算晶格常数和晶胞参数。

对数据进行拟合，得到最佳拟合曲线，并根据拟合结果确定晶体结构。

实验结果经过实验测量和数据分析，得到了如下结果：1. 样品X射线衍射图谱：经过峰形分析，得到了样品的X射线衍射图谱。

2. 衍射峰角度和强度数据：记录了每个衍射峰的角度和相对强度。

3. 拟合结果：通过拟合处理，得到了最佳的拟合曲线，并计算出样品的晶格常数和晶胞参数。

根据实验结果，可以得出样品的晶体结构、晶格常数等信息，进一步研究样品的晶体性质和结构性质。

结论通过现代分析XRD技术，我们成功地研究了样品的结晶性质和晶体结构。

获得了样品的X射线衍射图谱，并通过数据分析得到了样品的晶格常数和晶胞参数。

xrd分析实验报告

xrd分析实验报告X射线衍射（XRD）分析实验报告引言：X射线衍射（XRD）是一种重要的实验技术，广泛应用于材料科学、地质学、生物学等领域。

本实验旨在通过XRD技术，研究样品的晶体结构和晶体学性质，为材料研究和应用提供有力的支持。

一、实验目的本实验的目的是通过XRD分析，确定样品的晶体结构、晶格常数、晶体质量和晶体取向等性质。

通过实验结果，了解材料的结晶状态、晶体缺陷和晶格畸变等信息。

二、实验原理XRD技术基于X射线与晶体的相互作用。

当X射线入射到晶体上时，由于晶体的周期性结构，X射线会发生衍射现象。

通过测量衍射角和衍射强度，可以确定晶体的晶格常数和晶体结构。

三、实验步骤1. 样品制备：将待测样品制备成粉末状，并均匀地涂布在玻璃衬片上。

2. 仪器设置：打开X射线衍射仪，调整仪器参数，如入射角、出射角、扫描速度等，以适应样品的特性。

3. 开始测量：将样品放置在衍射仪的样品台上，启动测量程序，开始自动扫描。

4. 数据分析：通过软件对测得的数据进行分析，绘制衍射图谱，并解析出衍射峰的位置、强度和形状等信息。

5. 结果解读：根据衍射图谱和解析结果，确定样品的晶体结构和晶格常数，并分析晶体的缺陷和畸变情况。

四、实验结果与讨论通过XRD实验，我们得到了样品的衍射图谱，并根据图谱解析出了衍射峰的位置和强度。

根据衍射峰的位置和强度，我们可以推断出样品的晶体结构和晶格常数。

进一步分析衍射峰的形状和宽度，我们可以了解样品的晶体质量和晶格畸变情况。

如果衍射峰非常尖锐且对称，说明样品的晶体质量较好；如果衍射峰宽度较大，且呈现不规则形状，说明样品存在晶格畸变或晶体缺陷。

此外，通过比较不同样品的衍射图谱，我们可以研究晶体取向的差异。

不同晶面的衍射峰位置和强度的变化，可以揭示晶体的取向情况和晶体生长方向。

五、结论通过XRD分析实验，我们成功确定了样品的晶体结构和晶格常数，并分析了晶体的质量、畸变和取向等性质。

实验结果为材料研究和应用提供了重要的参考依据。

XRD实验报告（蒙脱石鉴别）

土质学课XRD 实验报告1目录1 实验目的................................................................................................................ . (112)实验原理................................................................................................................ ................................................................................................................ 112.1 晶体结构与晶体X 射线衍射 ............................................................................. 12.2 物相鉴定原理.................................................................................................... (22)3 实验仪器................................................................................................................ . (334)实验步骤................................................................................................................ ................................................................................................................ 444.1 实验前的准备.................................................................................................... ................................................................................................... 444.2 试样制备........................................................................................................... ........................................................................................................... 444.3 开机与测试过程................................................................................................ (55)5 数据处理................................................................................................................ ................................................................................................................ 555.1 图谱后期处理.................................................................................................... ................................................................................................... 555.2 自动寻峰........................................................................................................... ........................................................................................................... 775.3 与标准PDF 卡片对比 (8)6 实验结论.............................................................................................................. .............................................................................................................. 118 7实验存在的问题及可能原因 (18)1土质学课XRD 实验报告1 实验目的1) 了解X 射线衍射仪的结构和工作原理； 2) 掌握X 射线衍射物相定性分析的方法和步骤； 3) 学会用Highscore 软件进行图谱分析； 4) 鉴定蒙脱石样品。

xrd实验报告

xrd实验报告X射线衍射（XRD）实验报告一、实验目的：1. 理解X射线衍射的原理和方法；2. 掌握X射线衍射实验技术。

二、实验仪器和试样：1. 实验仪器：X射线衍射仪；2. 试样：晶体样品。

三、实验原理：当X射线照射到晶体上时，会发生衍射现象。

根据布拉格定律，晶体的面间距d与入射角θ、衍射角2θ之间的关系为：nλ = 2d sinθ，其中n为整数，λ为入射X射线的波长。

在实验中，通过调节入射角和测量衍射角的大小，可以确定晶体的面间距d。

四、实验步骤：1. 打开X射线衍射仪电源，接通电源；2. 放置试样：将试样固定在衍射仪的样品台上，并平稳调整样品位置，使得样品完全暴露在X射线束下；3. 调整角度：通过旋转样品台和检测器，使得X射线通过样品时的入射角和衍射角适中；4. 测量数据：用探测器测量各个入射角对应的衍射强度，并记录下来；5. 处理数据：根据测得的衍射角和入射角，计算晶体的面间距；6. 分析结果：根据计算的结果，分析晶体的结构和组成。

五、实验结果：1. 测得的入射角和衍射角数据如下：入射角（θ/°）衍射角（2θ/°）10 2020 4030 6040 8050 1002. 计算得到的晶体的面间距如下：面间距d = λ / (2sin(θ/2))= λ / (2sin(10/2))= λ / (2sin(5))= λ / (2×0.087)≈ 5.7Å六、实验结论：通过实验测得的X射线衍射数据和计算得到的晶体面间距，可以得出晶体的结构和组成。

根据测得的数据，在入射角为10°的情况下，衍射角为20°，计算得到面间距为5.7Å，可以初步推断晶体为立方晶系。

进一步根据其他测量数据分析晶体的具体组成和结构。

七、实验总结：X射线衍射实验是一种重要的结晶学方法，非常有助于研究晶体的结构和组成。

在实验过程中，需要仔细调节样品位置和角度，以获得准确的衍射数据。

(完整word版)XRD实验报告

XRD 实验报告一、实验名称X 射线衍射(XRD)实验二、实验目的1. 了解X 射线衍射的工作原理和仪器结构；2. 掌握X 射线衍射仪的操作步骤和注意事项；三、实验原理X 射线是一种波长很短（约20～0.06Å）的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。

在用电子束轰击金属“靶”产生的X 射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X 射线，称为特征（或标识）X 射线。

X 射线在晶体中产生的衍射现象，是由于晶体中各个原子中电子对X 射线产生相干散射和相互干涉叠加或抵消而得到的结果。

晶体可被用作X 光的光栅，这些很大数目的粒子（原子、离子或分子）所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X 射线的强度增强或减弱。

由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X 射线的衍射线。

当一束单色X 射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X 射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X 射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X 射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。

这就是X 射线衍射的基本原理。

晶体对X 射线衍射示意图衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示：2sin d n θλ=其中d 是晶体的晶面间距，θ为X 射线的衍射角，λ为X 射线的波长，n 为衍射级数。

应用已知波长的X 射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d ，这是用于X 射线结构分析；另一个是应用已知d 的晶体来测量θ角，从而计算出特征X 射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。

四、实验仪器1. 仪器名称：D8 FOCUS 粉末衍射仪；2. 仪器厂家：德国Bruker公司；3. 仪器照片：3. X射线靶枪材质：铜（λ=0.15406nm）五、实验步骤1. 开机：打开电脑→开启低压开关→开冷却水（两个开关，先开侧面开关再开正面开关）→开启高压开关（左扳45°，顶灯亮后马上松开）→打开软件D8 tool→online states→点击online refresh ON/OFF。

xrd物相分析实验报告

关于xrd物相分析实验报告范文篇一：XRD物相分析实验报告一、实验目的1.掌握X 射线衍射仪的使用及进行定性相分析的基本原理。

2.学会用PDF软件索引对多相物质进行相分析的方法和步骤。

二、实验原理布拉格方程：2dsinnX 射线衍射仪是按着晶体对 X 射线衍射的几何原理设计制造的衍射实验仪器。

在测试过程，由X 射线管发射出来的 X 射线照射到试样上产生衍射效应，满足布拉格方程的2dsinn，和不消光条件的衍射光用辐射探测器，经测量电路放大处理后，在显示或记录装置上给出精确的衍射峰位置、强度和线形等衍射信息，这些衍射信息可作为各种应用问题的原始数据。

X 射线衍射仪的基本组成包括；X 射线发生器、衍射测角仪、辐射探测器、测量电路和控制操作、运行软件的电子计算机系统。

在衍射测量时，试样绕测角仪中心轴转动，不断地改变入射线与试样表面的夹角，射测量时，试样绕测角仪中心轴转动，不断地改变入射线与试样表面的夹角，与此同时计数器沿测角仪圆运动，接收各衍射角所对应的衍射强度。

任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构。

在一定波长的X 射线照射下，每种晶体物质都产生自己特有的衍射花样。

每一种物质与它的衍射花样都是一一对应的，不可能有两种物质给出完全相同的衍射花样。

如果试样中存在两种以上不同结构的物质时，每种物质所特有的衍射花样不变，多相试样的衍射花样只是由它所含各物质的衍射花样机械叠加而成。

在进行相分析时，只要和标准的PDF衍射图谱比较就可以确定所检测试样里面的所存在的相。

三、实验仪器，试样XRD仪器为：Philip X’Pert diffractometer with Cu-Ka radiation source (=1.54056) at 40Kv。

实验试样：Ti98Co2基的合金四、实验条件2=20-80ostep size:0.05o/S五、实验步骤1.开总电源2.开电脑，开循环水3.安装试样，设置参数，并运行Xray衍射仪。

XRD实验报告_2

材料的表征实验报告——XRDK值法物相定量分析一实验目的本实验目的是动手操作X射线衍射仪, 对结果通过X射线K值法定量相分析, 使学生熟悉X射线衍射仪的结构和工作原理, 熟悉和掌握X射线定量相分析的基本原理及实验方法。

二实验器材及药品Rigaku D/max 2500 PC X射线衍射仪、玛瑙研磨器、电子天平、称量纸、药匙、CaCO3.TiO2.待测样品三实验原理X射线衍射仪对称扫描: 样品置于测角仪圆心上, X射线, X射线探测器均以测角仪圆心为中心旋转。

混合物中某物相所产生的衍射线强度与其在混合物中的含量是相关的。

混合物相的X射线定量相分析, 就是用X射线衍射的方法通过衍射图谱的衍射峰强度来测定混合物中各种物相的含量百分数。

根据公式Ia / Is = Kas·wa’/ws；在公式中, Kas为a相（待测相）对s相（内标相）的K值,四实验过程1.称量质量比为1:1的二氧化钛和碳酸钙混和, 并使用玛瑙研磨器研磨混合均匀, 再将粉末置于光刻好的有沟槽的载玻片上, 用玻璃瓶压平整, 放入X射线衍射仪的样品台上进行衍射。

2.使用玛瑙研磨器研磨1号待测样品至混合均匀, 称量待测样品的重量, 再称量一定量CaCO3（1.0g）,以及适量研磨好的1号待测物(1.6g)；将称量好的CaCO3以及样品混合, 在玛瑙研磨器中研磨一段时间混合均匀, 研磨完成后, 将粉末置于光刻好的有沟槽的载玻片上, 用力压粉末至平整, 放入X射线衍射仪的样品台上进行衍射。

3得到衍射图谱, 进行物相分析。

五实验数据处理TiO2-1: 25.44 ° 364TiO2-2: 27.60 ° 594CaCO3: 29.64° 689根据PDF 卡片比对TiO2-1: 25.76 ° 284 2844099042691840100200300400500600700800900100020222426283032343638404244464850525456586062XRD-1Intensity Omega/°TiO2-2: 27.84 ° 409CaCO3: 29.84° 904计算K 值利用公式Ia / Is = Kas ·wa ’/ws （此处假定样品中TiO2为金红石相, 即利用TiO2-1计算）1:111S S i S i S i i i SS S S I I w I w w K I I w I w ⨯⨯⨯⨯⎛⎫== ⎪--⎝⎭ 式中 W i ——待测样中i 相含量；Ii, Is ——复合样中i 相和参考相S 的强度；S i K ——参考相S 与i 相含量1:1时的强度比S iI I ； W s ——参考相S 的掺入量。