用时间分辨法实现半导体激光器特性脉冲测试

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ｄｖｌｐｄａｐｉｇｗｎｏａｅａｃｒｉｇｔｔｅｔｉｇｏｅｐｌｄｃｒｎｏｒ．Ｕｉｇａｓｎｈｏｉｄｓｍｌｇｓｈｍ，ｔｅｉｅｔｅｅｅ．Ｓｍｌｉｄｗｉｍｄｃｏｄｉｎｆｈｕｅｕｒｔｕｃｏｎｓｎｏｈｍｔｓｅｓｅｓｙｃｒｎｚａｐｉｃｅｅｈｊｃｄｎｅｎｎｅ
ｃｒｎ，ｔｅｆｒｒｏｔｇｎｅｏｔａｕｐｔｏｅｒａｈｒｄｎｈｎｔｅｃｒｅｎａａｔｒｒｂａｎｄｕｒｔｈｏｗａｄｖｌｅａｄｔｐｉｌｔｕｗｒａｅｇｔｅｅ，ａｄｔｅｈｕｖｓａｄｐｒｍｅｅｓａｅｏｔｉｅ．Ｔｅｒｉｇｏｓｒｉｄｅａｈｃｏｐｈｓｎｆａｅｏｅｉｌｄｃｉｅｅａｕｅｕｄｒｔｓｓｒｄｃｄ，ａｄｔｅｓｎｈｏｉａｉｎｆｒｐｌｅｕｒｎｏｒｅａｄｔｓｎｓｒｓｌｅｙｔｉｍｅｈｄＢｓｄｏｈｈｐｔｍｐｒｔｒｎｅｔｉｅｕｅｅｎｈｙｃｒｎｚｔｏｕｓｄｃｒｅｔｓｕｃｎｅｔｇｉｅｏｖｄｂｈｓｏｉｔｏ．ａｅｎｔｅ
Ｋｅｒｓｌｓｒｄｏｅ；ｐｌｅｅｔｇ；ｔ－ｅｏｖｄ；ｃａａｔｒｓｃｙｗｏｄ：ａｅｉｄｕｓｄｔｓｉｎｉｒｓｌｅｍｅｈｃｅｉｔｓｒｉ
Ｏ引言
半导体激光器具有体积小、能够直接调制、输人
摘要：提出了一种基于时间分辨的脉）半导体激光器特性测试新方法，并研制了相应的测试系统。该方中式法根据脉冲驱动源的时序，同步产生采样窗口信号，然后根据采样窗采集半导体激光器的注入电流、端电压和输出光功率等数据，进而获得表征器件特性的曲线和参数。该方法解决了半导体激光器特性测试中的２个关键问题：
方法也分为连续测试Ｉ和脉冲测试４
计测技术
计量、测试与校准
・３・４
用时间分辨法实现半导体激光器特性脉冲测试
左勇，范贤光，孙颖
（．中航工业北京长城计量测试技术研究所，北京１０９１００５；２．厦门大学 Baidu Nhomakorabea理与机电工程学院，福建厦ｆ３１０）－６０５ｊ
（．Ｃａｇｈｎｓｔｔｏｅｒｏｙ＆ＭｅｓｒｍｎＢｉｎ００５ｈｎ；１ｈｎｃｅｇＩｔｕｅｆｔｌｇｎｉＭｏａｕｅｅｔ，ｅｉｇ１０９，Ｃｉａｊ２Ｄｐ．ｏｈｓｓｎｃａｉｌｌｔｃｌｎｉｅｒｇｉｍｎＵｉｅｓｙＸａｅ６０５ｈａ）．ｅｔｆｙｉｄＭｅｈｎａ— ｅｒａＥｇｅｉ，Ｘａｅｎｖｒｔ，ｉｍｎ３１０，ＣｉＰｃａｃＥｃｉｎｎｉｎ
一
是现有的连续测试方法造成的器件温升，影响测试准确性和安全性；二是解决了脉冲驱动源与测试的同步问关键词：半导体激光器；脉冲测试；时间分辨；特性中图分类号：Ｔ２８４Ｎ４．文献标识码：Ｂ文章编号：１７６４—５９（０２）０７５２１３—０４０３—０４
ＡｂｔａｔＡｎｗｍｅｈｄｔｅｔｐｌｅａｅｉｄｈｒｃｅｓｉｓｂｓｄｏｉ —ｅｏｖｄｔｃｎｑｅｉｐｅｅｔｄ，ａｄｔｅｔｓｉｇｓｓｅｉｓｒｃ：ｅｔｏｏｔｓｕｓｄｌｓｒｄｏｅｃａａｔｒｔｃａｅｎｔｉｍｅｒｓｌｅｅｈｉｕｓｒｓｎｅｎｈｅｔｙｔｍｓｎ
ｓｔｐ一－ｒｓｎｅｔａａｅｒｏａｌｅｄｄｅｅｔｔｄｗｔｐｌｄｉｅｔｎｏＯｓｅ，Ｌ／ＶＣｖｄｒａｄｐｍｔｓｆｓｒｉｅｒｅｅｉｕｓｊｃｏｆＯｎ．ｕｕｅａｌｅｒｅａｏｗｓｈｅｎｉｌ
题。文中给出了最小脉冲宽度达１０ｎ０ｓ的窄脉冲驱动的一＿，Ｖ测试曲线和测试参数。
ＩｐｅｎｔｔｏｆＬａｅｏｅＣｈａａｃｅｉｔｃｌｅｓｎｇｂｍｅｒｓｌｅｃｎｉｅｍｌｍｅａｉｎｏｓｒＤｉｄｒｔｒｓｓＰｕｓｄＴｅｔｙＴｉ－ｅｏｖｄＴｅｈｑｕｉｉＺＵＯＹｏｎｇ，ＦＡＮａＸｉｎｇｕａｎｇ，ＳＵＮｎｇＹｉ