液晶面板不良现象DefectCode的命名及现象简介演示文稿
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檢測畫面︰L0階畫面、L116階畫面。 現象敘述︰50公分可見的兩顆靠近的亮點。
DA181亮暗點總數 (Point-Count)
成因：1.Array元件特性不良 3.ITO殘留 5.刮傷
2. AS殘留 4.Cell製程中導電性Particle
檢測畫面︰1. L0,L48,L92,L116,L255,RGB 現象敘述︰1 .50公分明顯可見的紅色、綠色或藍色小光
DA11 亮点(Bright Point )
成因：1.Array元件特性不良; 2.Cell段导电性Particle造成电荷的Leakage
检测画面︰ 1. L0阶 2. L116阶 3. RGB 4. 1/5gomi 现象叙述︰ 1.50公分明显可见的红色、绿色、蓝色小光点。
2.如下图所示。 3.完整一颗Sub pixel发亮则称为亮点。
DA112 压力点 (Press Point)
成因：1. Array金屬殘留 2.Cell段導電性突起物 3.Cell段導電性突起物Repair Fail
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1.因為觸碰產品表面而出現的50公分可見的紅色、綠
色或藍色小光點。 2.出現後有可能變成亮點也可能變成閃爍亮點。 3.通常為完整的一顆Sub pixel。
檢測畫面︰ L0階(黑畫面)。 現象敘述︰裸视可见, 50公分正视不可见,放大镜看占满整个subpixel
DA16 綠點(Green Bright Point)
成因：1.Array元件特性不良; 2.Cell段導電性Particle造成電荷的Leakage
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1. 50公分可見的綠色的光點。
DA12 二连亮点(BP-Pair)
成因：1.ITO殘留 2.AS殘留
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1. 50公分可見的混色小光點。
2. 任何兩相鄰亮點的四角或四邊有連接情形者皆稱之.
DA13 聚集亮點(Point-Cluster)
成因：1.Array元件特性不良 2.O/L Shift 3. Cell製程中導電性Particle
四.组装类------------------------------------------DM
五.POL类------------------------------------------DP 六.Function类-----------------------------------TM&FS
點和暗點 ，總數合計超過規格。
DA182 亮暗點間距 (DP-BP near)
成因：1.Array元件與Gate Line之間有Leakage 2.ITO殘留 3.AS殘留
檢測畫面︰L0,L48,L92,L116,L255,RGB 現象敘述︰1.同一畫面中同時存在亮點與暗點並有兩點間距離不
合規格時。
DA161 垂直二連綠亮點(V-Pair Green Bright Dot)
成因：1.ITO殘留 2.AS殘留
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1.50公分可見的垂直長條型綠色的光點。
DA17靠近亮點(BP-Near)
成因：1.Array元件特性不良; 2.刮傷 3.Cell段導電性Particle
檢測畫面︰W/R/G/B ,L255階畫面。 現象敘述︰ 1.50公分明顯可見的黑色小點。
2.Sub pixel 未正常發亮。
DA23 聚集暗點(Cluster Point)
成因：Array元件與Gate Line之間有Leakage
檢測畫面︰W/R/G/B, L255階畫面。 現象敘述︰1. 50公分明顯可見三顆或以上相連接的黑色小點。
DA113 碎亮點(Small BP)
成因：1.PI 刮傷 2. ITO破洞 3.Cell製程中的污染
檢測畫面︰ 1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰ 1. 50公分輕微可見的紅色、綠色或藍色微小光點。
2. 沒有固定形狀且常數顆或成群出現。 3.通常為<1/3顆的Sub pixel。
液晶面板不良现象 DefectCode的命名 及现象简介演示文稿
目
录
一.点类------------------------------------------- DA
二.BL类-------------------------------------------DB
三.Cell类------------------------------------------DC
DA111 闪烁亮点(Flash Point)
成因：1.Array金属残留;Cell段导电性突起物 2.Cell段导电性突起物
檢測畫面︰ 1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰ 1.50公分可見的紅色、綠色或藍色忽亮忽暗的小光點。
2.其閃爍的速度不定有的快有的慢。 3.通常為完整一顆的Sub pixel。
2.Sub pixel 未正常發亮。
DA23源自文库 靠近暗點(DP-Near)
成因：1.刮傷 2.Array元件與Gate Line之間有Leakage
DA21 暗點 (Dark Point)
成因：Array元件與Gate Line之間有Leakage
檢測畫面︰RGB,L255階畫面。 現象敘述︰1. 50公分明顯可見的黑色小點。
2.Sub pixel 未正常發亮。
DA22 二連暗點(DP-Pair)
成因：Array元件與Gate Line之間有Leakage
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1. 50公分可見的混色或偏白色的光點。
2. 任何三顆相鄰亮點者皆稱之。
DA114 微亮点 (small bright dot)
成因： 1.Array元件特性不良; 2.Cell段導電性Particle造成電荷的Leakage
DA181亮暗點總數 (Point-Count)
成因：1.Array元件特性不良 3.ITO殘留 5.刮傷
2. AS殘留 4.Cell製程中導電性Particle
檢測畫面︰1. L0,L48,L92,L116,L255,RGB 現象敘述︰1 .50公分明顯可見的紅色、綠色或藍色小光
DA11 亮点(Bright Point )
成因：1.Array元件特性不良; 2.Cell段导电性Particle造成电荷的Leakage
检测画面︰ 1. L0阶 2. L116阶 3. RGB 4. 1/5gomi 现象叙述︰ 1.50公分明显可见的红色、绿色、蓝色小光点。
2.如下图所示。 3.完整一颗Sub pixel发亮则称为亮点。
DA112 压力点 (Press Point)
成因：1. Array金屬殘留 2.Cell段導電性突起物 3.Cell段導電性突起物Repair Fail
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1.因為觸碰產品表面而出現的50公分可見的紅色、綠
色或藍色小光點。 2.出現後有可能變成亮點也可能變成閃爍亮點。 3.通常為完整的一顆Sub pixel。
檢測畫面︰ L0階(黑畫面)。 現象敘述︰裸视可见, 50公分正视不可见,放大镜看占满整个subpixel
DA16 綠點(Green Bright Point)
成因：1.Array元件特性不良; 2.Cell段導電性Particle造成電荷的Leakage
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1. 50公分可見的綠色的光點。
DA12 二连亮点(BP-Pair)
成因：1.ITO殘留 2.AS殘留
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1. 50公分可見的混色小光點。
2. 任何兩相鄰亮點的四角或四邊有連接情形者皆稱之.
DA13 聚集亮點(Point-Cluster)
成因：1.Array元件特性不良 2.O/L Shift 3. Cell製程中導電性Particle
四.组装类------------------------------------------DM
五.POL类------------------------------------------DP 六.Function类-----------------------------------TM&FS
點和暗點 ，總數合計超過規格。
DA182 亮暗點間距 (DP-BP near)
成因：1.Array元件與Gate Line之間有Leakage 2.ITO殘留 3.AS殘留
檢測畫面︰L0,L48,L92,L116,L255,RGB 現象敘述︰1.同一畫面中同時存在亮點與暗點並有兩點間距離不
合規格時。
DA161 垂直二連綠亮點(V-Pair Green Bright Dot)
成因：1.ITO殘留 2.AS殘留
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1.50公分可見的垂直長條型綠色的光點。
DA17靠近亮點(BP-Near)
成因：1.Array元件特性不良; 2.刮傷 3.Cell段導電性Particle
檢測畫面︰W/R/G/B ,L255階畫面。 現象敘述︰ 1.50公分明顯可見的黑色小點。
2.Sub pixel 未正常發亮。
DA23 聚集暗點(Cluster Point)
成因：Array元件與Gate Line之間有Leakage
檢測畫面︰W/R/G/B, L255階畫面。 現象敘述︰1. 50公分明顯可見三顆或以上相連接的黑色小點。
DA113 碎亮點(Small BP)
成因：1.PI 刮傷 2. ITO破洞 3.Cell製程中的污染
檢測畫面︰ 1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰ 1. 50公分輕微可見的紅色、綠色或藍色微小光點。
2. 沒有固定形狀且常數顆或成群出現。 3.通常為<1/3顆的Sub pixel。
液晶面板不良现象 DefectCode的命名 及现象简介演示文稿
目
录
一.点类------------------------------------------- DA
二.BL类-------------------------------------------DB
三.Cell类------------------------------------------DC
DA111 闪烁亮点(Flash Point)
成因：1.Array金属残留;Cell段导电性突起物 2.Cell段导电性突起物
檢測畫面︰ 1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰ 1.50公分可見的紅色、綠色或藍色忽亮忽暗的小光點。
2.其閃爍的速度不定有的快有的慢。 3.通常為完整一顆的Sub pixel。
2.Sub pixel 未正常發亮。
DA23源自文库 靠近暗點(DP-Near)
成因：1.刮傷 2.Array元件與Gate Line之間有Leakage
DA21 暗點 (Dark Point)
成因：Array元件與Gate Line之間有Leakage
檢測畫面︰RGB,L255階畫面。 現象敘述︰1. 50公分明顯可見的黑色小點。
2.Sub pixel 未正常發亮。
DA22 二連暗點(DP-Pair)
成因：Array元件與Gate Line之間有Leakage
檢測畫面︰1. L0階 2. L116階 3. RGB 4. 1/5gomi 現象敘述︰1. 50公分可見的混色或偏白色的光點。
2. 任何三顆相鄰亮點者皆稱之。
DA114 微亮点 (small bright dot)
成因： 1.Array元件特性不良; 2.Cell段導電性Particle造成電荷的Leakage