《质量工程师讲义》PPT课件

p图
p的含义不一定是不合格品率，它可以 是某一特定属性的比率，因此p图也常 称为百分比控制图
选用p控制图的条件： 质量特性为合格/不合格或通过/不通过 样本观测值服从二项分布 样本容量n可以变化 按时序至少可采集25个以上样本(k ≥25)
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np图
np图为不合格品数控制图，用来分析和 监控过程中不合格品的数量
C图
UCL= c+3[ c ]
LCL= c-3[ c ]
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中心线 打点值 样本容量
质量特性
CL= p pi CL= d di
可以变化 固定不变
可以用合格/不 合格、通过/不 通过等来描述 的质量特性
CL= u ui CL= c ci
可以变化 固定不变
可以用缺陷数 来描述的质量 特性
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Me（~X）—R图
X~-R控制图将X图~ 与R图组合使用，同时 分析和监控过程的均值和离散度变化
选用X~-R控制图的条件： 特性连续可计量，服从或近似服从正态分布 样本容量n为定数，且n < 10 按时序可采集20个以上的样本（即k ≥ 20） 应采集同一过程的特性值，且测量值之间相
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过程能力指数
在实际过程中，特性数值的分布中心与 规格中心往往不重合，有一定的偏移， 而Cp不能反映过程的偏移情况，这时须 用实际过程能力指数Cpk来评价过程能力： Cpk = min(Cpu,Cpl ) ……(1) 其中： Cpu = (Tu - μ ) / 3 ， Cpl = (μ - Tl ) / 3
计算工具应方便在现场计算S值
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X—Rs图
X-Rs控制图适用场合：
小批量生产，无法获得较多数据 只能获得一个观测值(如，生产效率、消耗定额) 过程质量均匀，无需多次观测(流程型材料生产) 因费用或时间关系，只能取得一个观测值(破坏性试验)
选用X-Rs控制图的条件：
质量特性连续可计量 样本服从或近似服从正态分布 样本容量n=1
互独立
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X—s图
X-S控制图将X图与S图组合使用，同时 分析和监控过程的均值和离散度变化
选用X-S控制图的条件： 特性连续可计量，服从或近似服从正态分布 样本容量n为定数，且n > 1 按时序可采集20个以上的样本（即k ≥ 20） 应采集同一过程的质量特性值，且测量值之
间相互独立
互独立
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常规计数值控制图
控制图
控制限
UCL= p+3[ p(1- p) / ni ]
p图
LCL= p-3[ p(1- p) / ni ]
Np图
UCL= d+3[ d(1- d/ n) ] LCL= d-3[ d(1- d/ n) ]
U图
UCL= u+3[ u / ni ]
LCL= u-3[ u / ni ]
Ri
Xi
Rsi
样本容量 1<n<10 以3~5为宜
n>1 以n>5为宜
1<n<10 以3~5为宜
n=1
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X—R图
X-R控制图将X图与R图组合使用，同时 分析和监控过程的均值和离散度变化
选用X-R控制图的条件： 特性连续可计量，服从或近似服从正态分布 样本容量n为定数，且n < 10 按时序可采集20个以上的样本（即k ≥ 20） 应采集同一过程的特性值，且测量值之间相
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过程能力指数与质量特性关系
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过程改进策略
确定SPC应用对象
制定抽样计划并采集数据
过程受控吗？
否
是
过程有能力吗？
否
是
对过程持续监控 持续改进
受控
失控
消除特殊因素的影响 减小普通因素的影响
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过程性能指数
又称为长期过程能力指数 C系列过程能力指数- Cp、Cpu 、Cpl 、 Cpk P系列过程性能指数- Pp、Ppu 、Ppl 、 Ppk
~
~
X—R X图
控制图 R图
wk.baidu.com
X—Rs X图 控制图 Rs图
中心线
CL=X=
__
CL=R
CL=X=
__
CL=S ~__
CL=X
__
CL=R
__
CL=X
__
CL= Rs
控制界限
__
__
UCL=X=+A2R, LCL=X-A=2R
__
__
UCL=D4R, LCL=D3R
__
__
UCL=X=+A3S, LCL=X-A=3S
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第五节 常规控制图的作法及其应用
各类常规控制图的使用场合 X—R图 X—s图 X—Rs图 Me—R图 p图 c图 u图
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各类常规控制图的使用场合
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常规计量值控制图
控制图类型
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__
X—R X图
控制图 R图
__
__
X—S X图
控制图 S图
过程能力
受控状态下过程特性数值的分布范围称为 过程能力
对于服从正态分布的过程特性数值，根 据3原则，一般以分布中心± 3的范 围来表示过程能力
过程能力反映了过程中普通因素对过程 特性综合影响的程度
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过程能力指数
对处于受控状态的过程，通常用规格限 与过程特性数值的分布范围进行比较， 以确定过程特性是否满足要求
规格限与过程特性数值分布范围的比值 称为过程能力指数
过程能力指数反映了过程波动占用规格 限的程度，直观表示了过程质量的好坏
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过程能力指数
当过程特性数值的分布中心与规格中心 重合时，过程能力指数定义为规格范围 与6之比，称为潜在过程能力指数Cp： Cp = (Tu - Tl ) / 6 一般地，如果Cp>1，则过程输出能够 满足要求；如果Cp<1，过程则会加工出 大量不合格品
__
__
UCL=B~_4_S, LCL=_B_ 3S
~__
__
UCL=X+m3A2R, LCL=X-m3A2R
__
__
UCL=D4R, LCL=D3R
__
__
__
__
UCL=X+2.660R, LCL=X-2.660R
__
UCL=3.267 Rs, LCL=0
打点值
__
Xi
Ri
__
Xi
Si ~ Xi
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过程能力指数
Cpk = (l – k) Cp = (T - 2ε) / 6 ……(2) 其中：M为标称值， ε = | M - μ | , 偏移系数 k = 2ε / T 单侧公差时： Cpk= (Tu - μ ) / 3 只给出上限标准时 Cpk = (μ - Tl ) / 3 只给出下限标准时 …… (3)