sat检测原理

SAT检测，即分层扫描技术，是一种基于原子能谱的穿透式检测技术。它利用X射线穿透物体，在穿透的过程中，X射线会被物体中的元素吸收，从而产生不同的原子能谱信号，这些信号可以推断出物体的内部结构情况。