实验报告-霍尔效应的应用
霍尔效应实验报告(共8篇)
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/ (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
大学物理实验报告霍尔效应
大学物理实验报告霍尔效应一、实验目的1、了解霍尔效应的原理。
2、掌握用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。
3、学会使用霍尔效应实验仪器,测量霍尔电压和励磁电流,并计算霍尔系数和载流子浓度。
二、实验原理1、霍尔效应置于磁场中的载流导体,如果电流方向与磁场方向垂直,则在垂直于电流和磁场的方向会产生一横向电势差,这种现象称为霍尔效应。
设导体中的载流子为电子,它们以平均速度 v 沿 x 方向定向运动。
在磁场 B 作用下,电子受到洛伦兹力 F = e v × B,其中 e 为电子电荷量。
洛伦兹力使电子向导体一侧偏转,从而在导体两侧产生电荷积累,形成横向电场 E。
当电场力与洛伦兹力达到平衡时,有 e E = e v B,即 E = v B。
此时产生的横向电势差称为霍尔电压 UH ,UH = E b ,其中 b 为导体在磁场方向的宽度。
2、霍尔系数霍尔电压 UH 与电流 I 和磁场 B 以及导体的厚度 d 有关,其关系式为 UH = R H I B / d ,其中 R H 称为霍尔系数。
对于一种材料,R H 是一个常数,它反映了材料的霍尔效应的强弱。
3、载流子浓度由 R H 的表达式,可推导出载流子浓度 n = 1 /(R H e) 。
三、实验仪器霍尔效应实验仪,包括霍尔样品、电磁铁、励磁电源、测量电源、数字电压表等。
四、实验内容与步骤1、连接实验仪器按照实验仪器说明书,将霍尔样品、电磁铁、励磁电源、测量电源和数字电压表正确连接。
2、测量霍尔电压(1)保持励磁电流 IM 不变,改变测量电流 IS 的大小和方向,测量对应的霍尔电压 UH 。
(2)保持测量电流 IS 不变,改变励磁电流 IM 的大小和方向,测量对应的霍尔电压 UH 。
3、绘制曲线根据测量数据,分别绘制 UH IS 和 UH IM 曲线。
4、计算霍尔系数和载流子浓度根据曲线的斜率,计算霍尔系数 R H ,进而计算载流子浓度 n 。
五、实验数据记录与处理1、实验数据记录表格| IM (A) | IS (mA) | UH1 (mV) | UH2 (mV) | UH3 (mV) | UH4 (mV) | UH (mV) |||||||||| 05 | 10 ||||||| 05 | 20 ||||||| 05 | 30 ||||||| 10 | 10 ||||||| 10 | 20 ||||||| 10 | 30 ||||||(注:UH1、UH2、UH3、UH4 分别为在不同测量条件下得到的霍尔电压值,UH 为其平均值。
实验报告霍尔效应原理及其应用范文
实验报告霍尔效应原理及其应用范文一、实验目的1.掌握霍尔效应的基本原理。
2.学习如何测量霍尔电压。
3. 理解霍尔元件在磁场中的行为。
4. 了解霍尔效应的应用。
二、实验原理当一块半导体板通过一恒定电流时,板的两端会出现电压VH,即霍尔电压,其方向垂直于板和当前通过板的电流方向。
2.霍尔电压得出公式VH = BIL/ne其中B为磁场强度,I为电流强度,L为元件长度,e为元件载流子密度,n为载流子电荷数。
当元件置于磁场中时,霍尔电压会随着磁场的改变而线性变化。
磁场的强度越强,霍尔电压也越大。
霍尔效应可以应用于测量磁场、磁场传感器、磁传动、自动控制系统等领域。
三、实验材料1.霍尔元件2.磁铁3.电压表4.电流表5.恒流源6.导线四、实验步骤1.将霍尔元件固定在导轨上,并连接电路。
2.将电压表连接到霍尔元件的输出端,并将恒流源连接到元件的输入端。
3.用绿色磁铁靠近元件,然后再用蓝色磁铁靠近元件,观察电表显示。
4.改变恒流源的电流大小,再次使用磁铁观察电表的显示。
5.多次重复步骤3和4,记录数据。
五、实验结果通过实验可得,当恒定电流增加时,霍尔电压随之增加;当磁场强度增加时,电压也会增加。
当磁场方向改变时,霍尔电压的方向也会改变。
利用这些变化,可以测量磁场的强度和方向。
本实验通过观察霍尔效应,学习了如何测量霍尔电压和了解了霍尔元件在磁场中的行为。
同时,实验还介绍了霍尔效应的应用。
通过实验得出数据,验证了霍尔电压与电流、磁场强度之间的关系,并且可以得到准确的磁场测量结果。
霍尔效应实验报告(共8篇)
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/ (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
霍尔效应实验报告[共8篇]
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isb?rhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/???? (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
霍尔效应及其应用实验报告
课程名称:大学物理实验(二)实验名称:霍尔效应及其应用
图3.3 霍尔器件输出特性测量仪器实物图
仪器操作注意事项
1、测试仪开关机前将I S和I M旋钮逆时针转到底,防止输出电流过大;
2、I S和I M接线不可颠倒,以防烧坏霍尔片;
3、式样应置于螺旋线圈/铁芯气隙内磁场均匀处(即尽量处于中心)。
4、电压表调零
,测试仪功能选择置于“V H”,然后调节I M=0.5A,d=0.5mm
K,单位为千高斯/安(KGs/A)
表5.1 V H—I S曲线图
表5.2测绘曲线V H—I M数据记录表
/mV V2/mV V3/mV V4/mV V
Is-B,+Is-B,-Is+B,-Is
-4.52 4.53-4.80
-6.07 6.11-6.36
-7.637.64-7.92
-9.199.20-9.47
-10.7510.76-11.03
-12.3112.32-12.60
图5.2V H—I M曲线图
测量螺线管轴线上磁场分布
图5.3螺线管轴线上磁场分布
I S曲线的数据处理如下
=0.500A,K=3.94(KGS/A)
V H1=V1−V2+V3−V4
4=2.64−(−2.54)+2.55−(−2.63)
4
=2.59(mV)
5.1;
B=KI M=0.394×0.5=0.197(T)。
霍尔效应实验报告[共8篇]
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isb?rhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/???? (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
霍尔效应的研究与应用实验报告
霍尔效应的研究与应用实验报告一、实验目的1. 了解霍尔效应的基本原理和特性;2. 掌握霍尔元件的使用方法;3. 学习如何进行霍尔效应的实验测量;4. 理解霍尔效应在电子技术中的应用。
二、实验原理1. 霍尔效应当一个电流通过一个导体时,会在导体内产生一个磁场。
如果将这个导体放置在另一个磁场中,那么这个磁场会对导体内的电荷运动产生影响,使得电荷在导体中出现偏移。
这种现象就是霍尔效应。
2. 霍尔元件为了利用霍尔效应进行测量,需要使用一种叫做霍尔元件的器件。
它通常由一块半导体材料制成,上面有三个引线:两个用于通电,另一个则是输出引脚。
当通过器件中的电流时,在垂直于器件表面方向上会产生一个横向磁场,从而使得载流子发生偏移。
3. 实验测量为了进行实验测量,需要将霍尔元件放置在磁场中,并通过元件通入一定大小的电流。
此时可以测量出输出端口处产生的电压,从而计算出霍尔系数和磁场强度等参数。
三、实验步骤1. 准备工作将实验仪器准备好,包括霍尔元件、磁铁、万用表等。
2. 实验测量将霍尔元件放置在磁场中,并通过元件通入一定大小的电流。
此时可以测量出输出端口处产生的电压,并记录下来。
重复多次实验,以得到更加准确的结果。
3. 数据处理根据实验测量结果,可以计算出霍尔系数和磁场强度等参数。
同时需要进行数据分析,以确定实验结果的可靠性和准确性。
四、实验结果与分析通过实验测量,我们得到了霍尔元件在不同磁场下的输出电压值,并计算出了相应的霍尔系数和磁场强度等参数。
同时我们还进行了数据分析,以确定实验结果的可靠性和准确性。
根据实验结果与分析,我们可以得出以下结论:1. 霍尔效应是一种非常重要的物理现象,在电子技术中有着广泛应用;2. 霍尔元件是利用霍尔效应进行测量的重要器件之一;3. 实验测量结果的准确性和可靠性取决于实验仪器和实验操作的精度,需要进行严谨的数据处理和分析。
五、实验总结通过本次实验,我们深入了解了霍尔效应的基本原理和特性,掌握了霍尔元件的使用方法,学习了如何进行霍尔效应的实验测量,并理解了霍尔效应在电子技术中的应用。
霍尔效应的应用实验报告
一、目的:1.霍尔效应原理及霍尔元件相关参数的含义和作用2.测绘霍尔元件的V H—Is ,V H— I M曲线,认识霍尔电势差V H与霍尔元件工作电流 Is ,磁场应强度 B 及励磁电流 IM 之间的关系。
3.学习利用霍尔效应丈量磁感觉强度 B 及磁场散布。
4.学惯用“对称互换丈量法”除去负效应产生的系统偏差。
二、器械:1、实验仪:(1)电磁铁。
(2)样品和样品架。
(3) Is 和 I M换向开关及 V H、 Vó切换开关。
2、测试仪:(1)两组恒流源。
(2)直流数字电压表。
三、原理:霍尔效应从实质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而惹起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被拘束在固体资猜中,这类偏转就致使在垂直电流和磁场方向上产生正负电荷的积聚,进而形成附带的横向电场,即霍尔电场 E H。
如图 15-1 所示的半导体试样,若在 X 方向通以电流I S,在 Z 方向加磁场 B ,则在 Y 方向即试样 A-A /电极双侧就开始齐集异号电荷而产生相应的附带电场。
电场的指向取决于试样的导电种类。
对图所示的N 型试样,霍尔电场逆 Y 方向,(b)的 P 型试样则沿 Y 方向。
即有E H (Y)0(N型)E H (Y)0型(P )明显,霍尔电场 E H是阻挡载流子持续向侧面偏移,当载流子所受的横向电场力 eE H与洛仑兹力evB相等,样品双侧电荷的累积就达到动向均衡,故eE H evB(1)此中 E H为霍尔电场,v是载流子在电流方向上的均匀漂移速度。
设试样的宽为 b,厚度为 d,载流子浓度为 n ,则I S nevbd( 2)由(1)、(2)两式可得:V H E H b 1 I S B I S B(3)neR Hd d即霍尔电压 V H(A、A/电极之间的电压)与I S B 乘积成正比与试样厚度 d 成反比。
比率系数 R H 1称为霍尔系数,它是反应资料霍尔效应强弱的重要参数。
ne只需测出 V H(伏)以及知道 I S(安)、B(高斯)和d(厘米)可按下式计算R H3V H d8(4)(厘米/库仑):R =10HI S B上式中的 10 8是因为磁感觉强度 B 用电磁单位(高斯)而其余各量均采纳 CGS适用单位而引入。
霍尔效应的应用(实验报告)
霍尔效应的应用(实验报告)引言霍尔效应是物理学中的一种重要效应,它是指在垂直于电流方向和磁场方向的方向上施加一定大小的磁场,结果将会出现电势差。
霍尔系数指的是磁场大小和电势差之间的比率,该系数可以反映金属内部自由电子的密度和带电载流子运动的速率等参数。
霍尔效应广泛应用于各种领域,如磁场传感器、磁场漫游器、磁性存储器等。
在实验室中,人们经常使用霍尔效应来测量电阻率、磁场强度、材料的类型等物理量。
本实验旨在通过实际操作,深入了解霍尔效应的物理原理、测量方法及其应用,并学习相关数据的处理与分析方法。
实验原理当一个电导体被放置于均匀磁场中,电导体内的自由电子受到洛伦兹力的作用而偏转。
因此,从一个边缘到另一个边缘的自由电子轨道长度增加,电场强度也相应地增加,从而导致电势差。
这种现象称为霍尔效应。
如图1所示,当一个电导体被放置在均匀磁场中,自由电子的运动路径受到洛伦兹力的影响,偏向的方向垂直于电流方向和磁场方向。
偏转的自由电子会集中在电导体的一侧,另一侧则缺少自由电子。
因此,在沿电导体宽度方向施加电场E时,电子从一个侧面流向另一侧面,在这个过程中,电势差V将出现在电导体的宽度方向上。
当电流$I$通过电导体时,霍尔电势差$V_H$与电流$I$、磁感应强度$B$和材料的霍尔系数$R_H$之间存在如下关系:$$V_H=R_HB\frac{IB}{d}$$其中,$d$为电导体的厚度。
霍尔系数$R_H$可以通过测量电势差$V_H$、电流$I$和磁感应强度$B$来计算。
在实验中,通常使用双臂电桥测量$V_H$,从而计算出$R_H$。
实验器材1. 磁场传感器2. 电流源3. 电压表5. 双臂电桥6. 示波器实验流程1. 将电导体固定在磁场传感器上,并将电流通入电导体中。
2. 通过稳流电源调节电流值,并通过电压表测量电流值。
3. 在磁场传感器上调节磁感应强度,使其达到一定的值。
4. 连接双臂电桥,调整电桥的平衡,记录下电桥平衡时的两臂电压。
大物实验报告霍尔效应【霍尔效应及其应用】
大物实验报告霍尔效应【霍尔效应及其应用】霍尔效应是1879 年美国物理学家霍尔读研究生期间在做研究载流子导体在磁场中受力作用实验时发现的。
阐述了霍尔效应的原理,霍尔元件的特点和分类以及在各个领域中的应用。
霍尔效应霍尔元件应用一、霍尔效应原理霍尔效应是1879 年美国物理学家霍尔读研究生期间在做研究载流子导体在磁场中受力作用实验时发现的。
霍尔效应是载流试样在与之垂直的磁场中由于载流子受洛仑兹力作用发生偏转而在垂直于电流和磁场方向的试样的两个端面上出现等量异号电荷而产生横向电势差UH的现象。
电势差UH称为霍尔电压,EH称为霍尔电场强度。
此时的载流子既受到洛伦兹力作用又受到与洛伦兹力方向相反的霍尔电场力作用,当载流子所受的洛伦兹力与霍尔电场力相等时,霍尔电压保持相对稳定。
二、霍尔元件的特点和分类1.霍尔元件的特点。
霍尔元件的结构牢固,体积小,重量轻,寿命长,安装方便,功耗小,频率高(可达1MHZ,耐震动,不怕灰尘、油污、水汽及盐雾等的污染或腐蚀,调试方便等。
霍尔元件和永久磁体都能在很宽的温度范围(-40 C〜1 50 C)、很强的振动冲击条件下工作,且磁场不受一般介质的阻隔。
另外它的变换器组件能够和相关的信号处理电路集成到同一片硅片上,体积小,成本低,且具有较好的抗电磁干扰性能。
2.霍尔元件的分类。
按照霍尔元件的结构可分为:一维霍尔元件、二维霍尔元件和三维霍尔元件。
一维霍尔元件又被称为单轴霍尔元件,它的主要参数是灵敏度、工作温度和频率响应。
运用此类器件时,就可将与适当的小磁钢一起运动的物体的位置、位移、速度、角度等信息以电信号的形式传感出来,达到了自动测量与控制的目的。
二维霍尔元件的结构是二维平面,也被称为平面霍尔元件;三维霍尔元件通常被称为非平面霍尔元件。
霍尔元件按功能可分为:线形元件、开关、锁存器和专用传感器。
三、霍尔效应的应用人们在利用霍尔效应原理开发的各种霍尔元件已广泛应用于精密测磁、自动化控制、通信、计算机、航天航空等工业部门及国防领域。
霍尔效应实验报告(共8篇)
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vhis,vhim曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 feeehevh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度当达到动态平衡时,flfe vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为isne (2)由(1),(2)两式可得 vhehlib1isbrhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh/ (4)式中为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
霍尔效应的研究与应用实验报告
霍尔效应的研究与应用实验报告引言霍尔效应是指当导电体内部有电流流过时,在垂直于电流方向的外加磁场作用下,导体内部会产生一种电压差现象。
这一效应被广泛应用于传感器、电子元件等领域。
本实验旨在通过实验验证霍尔效应,并探讨其在实际应用中的潜力。
实验目的1.验证霍尔效应的存在。
2.测量霍尔电压与电流、磁场的关系。
3.探讨霍尔效应在传感器等领域的应用。
实验原理当导电体内部有电流流过时,导体内部的载流子会受到外加磁场的洗礼,产生洛伦兹力,从而在导体的两侧产生电压差,这就是霍尔效应。
霍尔电压与电流、磁场的关系可以用数学公式表示,具体实验过程中会进一步探讨。
实验材料1.霍尔元件2.导线3.直流电源4.磁铁5.万用表实验步骤1.将霍尔元件固定在支架上。
2.接通直流电源,通过导线将霍尔元件接入电路中。
3.在霍尔元件周围放置磁铁,调节磁场的强度。
4.使用万用表测量霍尔元件两侧的电压差。
5.改变电流大小,记录不同电流下的霍尔电压。
6.改变磁场强度,记录不同磁场下的霍尔电压。
实验结果与分析通过实验测量,我们得到了不同电流大小和磁场强度下的霍尔电压数据。
通过分析这些数据,我们可以得出霍尔电压与电流、磁场的关系,并验证了霍尔效应的存在。
进一步探讨霍尔效应在传感器等领域的应用潜力,可以为相关领域的研究和发展提供参考。
实验结论本实验验证了霍尔效应的存在,通过实验数据分析得出了霍尔电压与电流、磁场的关系。
霍尔效应在传感器等领域有广泛的应用前景,可以为相关领域的技术发展提供支持和指导。
结语通过本次实验,我们深入了解了霍尔效应的原理和应用,同时也探讨了其在传感器领域的潜力。
相信在未来的研究和实践中,霍尔效应将发挥更大的作用,为科学技术的发展做出更大贡献。
愿我们在探索科学的道路上不断前行,开拓创新,探索未知领域。
霍尔效应实验报告[共8篇]
篇一:霍尔效应实验报告篇一:霍尔效应实验报告大 学本(专)科实验报告科实验报告课程名称:课程名称: 姓 名:名: 学 院:院:系:系:专 业:业: 年 级:级: 学 号:号:指导教师:指导教师: 成 绩:绩:年 月 日 (实验报告目录)(实验报告目录)实验名称实验名称一、实验目的和要求一、实验目的和要求 二、实验原理二、实验原理 三、主要实验仪器三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录四、实验内容及实验数据记录 五、实验数据处理与分析五、实验数据处理与分析 六、质疑、建议六、质疑、建议霍尔效应实验霍尔效应实验一.实验目的和要求:一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数. .2、测绘霍尔元件的vh?is vh?is,,vh?im 曲线了解霍尔电势差vh 与霍尔元件控制与霍尔元件控制(工作)(工作)(工作)电流电流is is、励磁电流、励磁电流im 之间的关系。
之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b 及磁场分布。
及磁场分布。
44、判断霍尔元件载流子的类型,、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
并计算其浓度和迁移率。
55、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:二.实验原理:1、霍尔效应、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(如右图(11)所示,磁场b 位于z 的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x 正向通以电流is is(称为控制电流或工作电流)(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(,假设载流子为电子(n n 型半导体材料),它沿着与电流is 相反的x 负向运动。
霍尔效应实验报告KH(共8篇)
篇一:霍尔效应实验报告大学本(专)科实验报告课程名称:姓名:学院:系:专业:年级:学号:指导教师:成绩:年月日(实验报告目录)实验名称一、实验目的和要求二、实验原理三、主要实验仪器四、实验内容及实验数据记录五、实验数据处理与分析六、质疑、建议霍尔效应实验一.实验目的和要求:1、了解霍尔效应原理及测量霍尔元件有关参数.2、测绘霍尔元件的vh?is,vh?im曲线了解霍尔电势差vh与霍尔元件控制(工作)电流is、励磁电流im之间的关系。
3、学习利用霍尔效应测量磁感应强度b及磁场分布。
4、判断霍尔元件载流子的类型,并计算其浓度和迁移率。
5、学习用“对称交换测量法”消除负效应产生的系统误差。
二.实验原理:1、霍尔效应霍尔效应是导电材料中的电流与磁场相互作用而产生电动势的效应,从本质上讲,霍尔效应是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力的作用而引起的偏转。
当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷在不同侧的聚积,从而形成附加的横向电场。
如右图(1)所示,磁场b位于z的正向,与之垂直的半导体薄片上沿x正向通以电流is(称为控制电流或工作电流),假设载流子为电子(n型半导体材料),它沿着与电流is相反的x负向运动。
由于洛伦兹力fl的作用,电子即向图中虚线箭头所指的位于y轴负方向的b侧偏转,并使b侧形成电子积累,而相对的a侧形成正电荷积累。
与此同时运动的电子还受到由于两种积累的异种电荷形成的反向电场力fe的作用。
随着电荷积累量的增加,fe增大,当两力大小相等(方向相反)时,fl=-fe,则电子积累便达到动态平衡。
这时在a、b两端面之间建立的电场称为霍尔电场eh,相应的电势差称为霍尔电压vh。
设电子按均一速度向图示的x负方向运动,在磁场b作用下,所受洛伦兹力为fl=-eb式中e为电子电量,为电子漂移平均速度,b为磁感应强度。
同时,电场作用于电子的力为 fe??eeh??evh/l 式中eh为霍尔电场强度,vh为霍尔电压,l为霍尔元件宽度图片已关闭显示,点此查看当达到动态平衡时,fl??fe ?vh/l (1)设霍尔元件宽度为l,厚度为d,载流子浓度为n,则霍尔元件的控制(工作)电流为 is?ne (2)由(1),(2)两式可得 vh?ehl?ib1isb?rhs (3)nedd即霍尔电压vh(a、b间电压)与is、b的乘积成正比,与霍尔元件的厚度成反比,比例系数rh?1称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,根据材料的电导ne率σ=neμ的关系,还可以得到:rh??/???? (4)式中?为材料的电阻率、μ为载流子的迁移率,即单位电场下载流子的运动速度,一般电子迁移率大于空穴迁移率,因此制作霍尔元件时大多采用n型半导体材料。
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大学物理实验报告实验3-13 霍尔效应的应用一、实验目的:1、了解霍尔效应原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。
2、学习用对称测量法消除副效应的影响,测量试样的S H I -V 和M H I -V 曲线。
3、确定试样的导电类型、载流子浓度及迁移率。
二、实验器材:TH-H 型霍尔效应实验组合仪(由实验仪和测试仪两大部分组成)1、实验仪:电磁铁、样品与样品架S I 和M I 换向开关及H V 、 V 切换开关2、测试仪:两组恒流源、直流数字电压表三、实验原理:霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛伦兹力作用而引起的偏转。
由于带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场。
(a ) (b )对于图中(a )所示的N 型半导体试样,若在X 方向通以电流,在Z 方向加磁场,试样中载流子(电子)将受洛伦兹力g F =B v e 则在Y 方向即试样A 、A ´电极两侧就开始聚积异号电荷而产生相应的附加电场——霍尔电场。
电场的指向取决于试样的导电类型。
对N 型试样,霍尔电场逆Y 方向;P 型试样则沿Y 方向。
其一般关系可表示为⎩⎨⎧><型型P Y E N Y E Z B X I H HS ,0)(,0)()(),( 显然,该霍尔电场阻止载流子继续向侧面漂移。
当载流子所受的横向电场力H eE 与洛伦兹力B v e 相等时,样品两侧电荷的累积就达到平衡,此时有B v e eE H =(1)其中H eE 为霍尔电场,v 是载流子在电流方向上的平均漂移速度。
设试样的宽度为b ,厚度为d ,载流子浓度为n ,则bd v ne I S =(2)由(1)、(2)得dB I R d BI ne b E V S H S H H ===1 (4)产生霍尔效应的同时,因伴随着多种副效应,以致实验测得的A 、A ’两极之间的电压并不等于真实的H V 值,而是包含着各种副效应引起的附加电压,因此必须设法消除。
根据副效应产生的机理可知,采用电流和磁场换向的所谓对称测量法,基本上能够把副效应的影响从测量的结果中消除。
具体做法是S I 和B 大小不变,并在设定电流和磁场的正、反方向后,依次测量由下列四组不同方向的S I 和B 组合的两点之间的电压1V ,2V ,3V ,4V 即4321,,,,,,,,V B I V B I V B I V B I S S S S +----+++然后求上述四组数据1V ,2V ,3V ,4V 的代数平均值,可得44321V V V V V H -+-=(5)通过对称测量法求得的H V ,虽然还存在个别无法消除的副效应,但其引入的误差甚小,可以忽略不计。
由(4)式可知霍尔电压H V (A 、A ’两极之间的电压)与B I S 乘积成正比,与试样厚度d 成反比。
比例系数neR H 1=称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数,只要测出)(V V H 及知道)(A I S 、)(T B 和d(m),可按下式计算霍尔系数BI dV R S H H =(6) (1)根据H R 的符号(或霍尔电压的正、负)判断样品的导电类型。
判断方法是按图所示的S I 和B 方向。
若测得0'<=AA H V V ,(即A 点的电位低于A ´点的电位)则H R 为负,样品属于N 型,反之为P 型。
(2)求载流子浓度。
由eR n H ||1=可求出载流子浓度。
应该指出,这个关系式是假定所有载流子都具有相同的漂移速度得到的,如果考虑载流子的速率统计分布,需引入修正因子8/3π。
(3)结合电导率的测量,求载流子的迁移率μ。
电导率σ可以通过上图所示的A 、C 电极进行测量。
设A 、C 间的距离为L=3.0mm ,样品的横截面积为S=bd ,流经样品的电流为S I ,在零磁场下,若测得A 、C 间的电位差为σV ,可由下式求得σ,SV LI S σσ=(7) 电导率σ与载流子浓度n 以及迁移率μ之间有如下关系:μσne = (8)即σμ||H R =,通过实验测出σ值即可得到μ。
根据上述可知,要得到大的霍尔电压,关键是选择霍尔系数大(即迁移率μ高、电阻率ρ也较高)的材料。
因为μρ=||H R ,就金属导体而言,μ和ρ均很低,而不良导体ρ高,但μ极小,因而上述两种材料的霍尔系数都很小,不能用来制造霍尔器件。
半导体材料μ高,ρ适中,是制造霍尔器件的较理想的材料。
由于电子的迁移率比空穴的迁移率大,所以霍尔器件都采用N 型材料。
又由于霍尔电压的大小与材料的厚度成反比,因此,薄膜型的霍尔器件的输出电压较片状的要高得多。
就霍尔器件而言,其厚度是一定的,所以实用上才用nedK H 1=(9) 来表示器件的灵敏度,H K 称为霍尔灵敏度。
四、实验步骤:(1)按上图连接测试仪和实验仪之间相应的S I 、H V 和M I 各组连线,S I 及M I 换向开关投向上方,表明S I 及M I 均为正值(即S I 沿X 方向,B 沿Z 方向),反之为负值。
H V 、σV 切换开关投向上方测H V ,投向下方测σV 。
接线时严禁将测试仪的励磁电源“IM 输出”误接到实验仪的“S I 输入”或“H V 、σV 输出”处,否则一旦通电,霍尔元件即遭损坏!(2)对测试仪进行调零。
将测试仪的“S I 调节”和“ M I 调节”旋钮均置零位,待开机数分钟后若H V 显示不为零,可通过面板左下方小孔的“调零”电位器实现调零,即“0.00”。
转动霍尔元件探杆支架的旋钮X 、Y ,慢慢将霍尔元件移到螺线管的中心位置。
(3)测绘H V -S I 曲线。
将实验仪的“H V 、σV ”切换开关投向H V 侧,测试仪的“功能切换”置H V 。
保持M I 值不变(取IM =0.6A ),测绘H V -S I 曲线。
(4)测绘H V -M I 曲线。
实验仪及测试仪各开关位置同上。
保持Is 值不变,(取S I =3.00mA ),测绘H V -S I 曲线。
(5)测量σV 值。
将“H V 、σV ”切换开关投向σV 侧,测试仪的“功能切换”置σV 。
在零磁场下,取S I =2.00mA ,测量σV 。
注意:S I 取值不要过大,以免σV 太大,毫伏表超量程(此时首位数码显示为1,后三位数码熄灭)。
(6)确定样品的导电类型。
将实验仪三组双刀开关均投向上方,即S I 沿X 方向,B 沿Z 方向,毫伏表测量电压为′AA V 。
取S I =2.00mA ,M I =0.6A ,测量H V 大小及极性,判断样品导电类型。
(7)求样品H R 、n 、σ和 µ 值。
五、数据采集:(1)测绘SH I -V 曲线,将测量数据记录在下表,并用作图纸SH I -V 关系线。
表(1) 测绘SH I -V 曲线数据表其中电流范围:M I =0.6A ,S I =1.00~4.00mA .(2)测绘M H I -V 曲线,将测量数据记录在下表,并用作图纸M H I -V 关系线。
表(2) 测绘M H I -V 曲线数据表其中电流范围:S I =3.00mA ;M I =0.300~0.800mA . (3)测量σV 值。
(4)确定样品的导电类型。
根据H R 的符号(或霍尔电压的正、负)判断样品的导电罗类型。
(5)求样品H R 、n 、σ和 µ 值。
霍尔系数H R 的计算可用以下两种方法计算: 1)可由公式BI dV R S H H =计算,其中B 为磁场强度,因磁场有励磁电流通过线圈产生,线圈上标有电流和磁场的换算关系X (常数)kGS/A ,其中GS 为磁场单位高斯(非国际单位),T 101GS -4=(特斯拉,磁场国际单位),从线圈上抄下励磁常数X ,再乘以M I ,即可得M -43M I 0.1X 1010I X B •=•••=(T ),则MS H S H H I 0.1X dI V I d V R •==B 当M I 一定时,S H I -V 呈线性关系,利用表(1)所测数据,用最小二乘法求出1H R 。
同理,利用表(2)所测数据,用最小二乘法求出2H R 。
对1H R 、2H R 求平均值的H R 。
2)对表(1)中每一组S I 和H V 值均可计算出一个H R ,对应6组数据分别求H R ;对表(2)数据做同样处理,对所求得的12个H R 求平均值和标准偏差。
n 、σ、µ的值由下列公式计算: 由eR n H ||1=可求得载流子浓度n 值,电导率有SV LI S σσ=计算得出;再有σμ||H R =可求出迁移率µ。
有计算过程可见,H R 得计算错误会导致n 、µ错误,故计算过程要细心,特别要注意H R 、n 、σ、µ必须统一成国际单位来计算。
计算公式、过程、单位均应在实验报告中给出。
(1)测绘SH I -V 曲线,将测量数据记录在下表,并用作图纸SH I -V 关系线。
表(1) 测绘SH I -V 曲线数据表其中电流范围:M I =0.6A ,S I =1.00~4.00mA .(2)测绘M H I -V 曲线,将测量数据记录在下表,并用作图纸M H I -V 关系线。
表(2) 测绘M H I -V 曲线数据表其中电流范围:S I =3.00mA ;M I =0.300~0.800mA .(3)测量σV 值。
当B=0T I S =2.00mA 时, σV =1.516V (4)I S =2.00mA 、I M =0.6A 时。
V AA ’=-54.8mV(1)测绘SH I -V 曲线。
(2)测绘测绘M H I -V 曲线。
(3)在B=0T 时, I S =2.00mA 时, σV =1.516V 。
(4)确定样品的导电类型。
测量知道 I S =2.00mA 、I M =0.6A 时。
V AA ’=-54.8mV 。
结合+I S,+B 的方向判断,V AA ’=-54.8mV <0,所以样品为N 型半导体。
(5)求样品H R 、n 、σ和 µ 值。
计算霍尔系数R H 。
由公式BS H H I dV R =,其中d=2.6×10-4m ,又B=XI M =280×10-3(T/A)I M 又,所以有S M H S H H I /0.28dV I d V R I A T B )(==,通过公式,可以分别计算出:(单位:Vm ·A -1·T -1)可以求得12个霍尔系数的平均值为:R H 平均=-4.109×10-2(Vm ·A -1·T -1)由标准偏差公示可算得:S=0.0034×10-2所以 R H =-4.109×10-2(Vm ·A -1·T -1)②计算n 的值。