比表面积仪使用简介-JW-BK222

分析方法

比表面测定： BET（单点、多点）比表面，Langmuir比表面，外表面测定；

BJH孔径分布测定：总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；

微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面积（t-图、D&R、MP等）

真密度测定

技术参数

测试方法：低温真空氮吸附容量法，静态容量法

原理方法：低温氮吸附，静态容量法

吸附气体：高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体

极限真空：4×10-2Pa （3×10-4 Torr）

分压范围：4×10-5 – 0.995

控制精度：测试压力点控制最小间隔可小于0.1 KPa （0.75 Torr）可测上千个点

测试范围：0.01(M2/g)---无规定上限（比表面），0.35 - 500 nm（孔径）

测试精度：重复性误差±1%

压力测量：采用压力分段测量，进口双压力传感器显著提高P/P0点下测试精度，0--1000 torr(0--

133kpa)

样品数量：同时进行2个样品的分析和2个样品的脱气处理

测试效率：双工作站，测试效率提高一倍，多点BET比表面测定，每样平均15min，孔径分析两个样品同时测试，效率也提高一倍

液位控制：确保液氮面与样品管位置保持一致，消除因死体积变化导致的误差，连续10h不添加液氮

预处理：两个样品同位处理，温度50-400℃，±1℃

数据采集：高精度双向数字采集模块，最强的灵活性完成最全面的数据采集，误差小，抗干扰能力强

数据处理：标准的windows窗口界面，易理解、学习、操作，丰富的比表面和孔分析模型，图像分辨率高，易于维护，兼顾到系统后期扩展

专用软件：BET（单点、多点）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等

质量认证：CE认证、中国计量研究院认证、中国科技部检测报告、国家新产品证书、GB/T 19001-

2008质量管理体系认证证书

仪器特点

1、双工作站，测试效率提高一倍，多点BET比表面测定，每样平均15min

2、国产比表面积及孔径分析仪唯一通过国家级技术鉴定产品，附产品鉴定证书

3、德国氦质谱检漏仪检测真空系统，确保每台仪器完美的高真空

4、自主知识产权的抽气与充气速度精密控制装置，保证测试点高达1000多点；

5、多途径液氮面控制校正技术，确保样品在冷阱中的深度及环境一致,消除因死体积变化导致的误差

6、具有独立，不易损坏的不锈钢杜瓦瓶，安全可靠，保温效果极佳

7、无需氦气降低测试成本（一瓶氦气2000元）

8、完善的标准等温线数据库和规范的分析方法，BJH、t-Plot、MP、D-R微孔常规测试技术国内领先

9、可编程控制电路，高精度双向数字采集模块，测试全程自动化、智能化，长时间运行可以无人职守附图：

10、可将分析结果实现叠加对比分析

附图：

1、双样品同时测试界面

2. BET比表面测试图

3. 吸脱附等温曲线图

4. t-图

5. 孔径微分分布和积分分布综合图