(完整版)单板硬件调试报告.doc
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产品名称:共 18页
XX 单板硬件调试和单元测试报告
(仅供内部使用 )
拟制 : 日期:yyyy-mm-dd 审核 : 日期:yyyy-mm-dd 审核 : 日期:yyyy-mm-dd 批准 : 日期:yyyy-mm-dd
日期版本描述作者
2001-06-08 1.00 初稿完成作者名yyyy-mm-dd 1.01 修改 XXX 作者名yyyy-mm-dd 1.02 修改 XXX 作者名⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯yyyy-mm-dd 2.00 修改 XXX 作者名
1概述 6 1.1基本情况介绍 6 1.2单板模块划分 6 1.3调试测试组网图 6 1.4调试时间、地点及人员 6 2调试测试用例记录 6 2.1功能部分调试 6
2.1.1模块 1 6
2.1.1.1调试用例 1 6
2.1.1.2调试用例 2 6
模块
2 6
2.1.2
2.1.3问题列表7 2.2信号质量测试用例7
电源8
2.2.1
2.2.1.1测试数据8
2.2.1.2测试波形及分析8
2.2.1.3问题列表8
逻辑信号9
2.2.2
2.2.2.1测试结果9
2.2.2.2测试波形及分析9
2.2.2.3问题列表9
2.2.3时钟信号10
2.2.
3.1测试结果10
2.2.
3.2实测波形及分析10
2.2.
3.3问题列表10 2.3时序测试用例10
2.3.1CPU 接口部分时序11
2.3.1.1测试结果11
2.3.1.2测试时序及分析11
2.3.2业务接口部分时序11
2.3.2.1测试结果11
2.3.2.2测试时序及分析12
2.3.3问题列表12 2.4失效器件原因分析12 3调试测试总结12 3.1调试测试结果12 3.2遗留问题报告13 3.3调试测试经验总结14 4其他14 5评审报告14
表目录
表
1 有问题信号记录表格9
表2 有问题信号记录表格10 表
3 有问题信号记录表格10
表
4 时序测试遗留问题12
表5 调试测试结果统计一12 表
6 调试测试结果统计二12
表7 调试测试问题列表13 表8 信号质量遗留问题统计表13 表
9 时序遗留问题统计表13
表10 功能遗留问题统计表13
图目录
图 1 XX 图 6
第 4页,共 18页
文档名称
关键词:调试测试、计划、其它关键词
摘要:
缩略语清单:对本文所用缩略语进行说明,要求提供每个缩略语的英文全名和中文解释。
概述
(本章节内容在计划模板中都有体现,在确保内容没有改变的情况下,可以
直接拷贝 )
1.1 基本情况介绍
简单介绍产品,并说明单板正式名称和PCB版本号。
1.2 单板模块划分
从调试测试的角度简要说明单板硬件功能模块的划分情况,以及各个模块
的功能和相互关系。
1.3 调试测试组网图
简单描述调试测试的组网图。可以配以插图进行说明。
1.4 调试时间、地点及人员
描述本次调试的时间,地点和开发调试人员。
2调试测试用例记录
2.1 功能部分调试
2.1.1 模块 1
2.1.1.1 调试用例 1
调试用例编号: AAA-UT-CCC-NNN
调试项目:可以用模块名或者调试大项命名
调试子项目:具体的调试描述
检查点、应达到的要求、指标和预期结果:
执行中的其他说明:
调试人员:时间:
实测结果:
差异说明:
说明以下差异及每个差异的原因:
被测对象与其规格说明、总体 /详细设计文档之间的任何差异;
实际调试活动与调试计划之间的任何差异。
调试测试是否通过:(OK, POK , NG,NT)
1.1.1.1 调试用例 2
.....
1.1.2 模块 2
...........
1.1.3 问题列表
1.2 信号质量测试用例
信号质量测试要保证全面性,即单板上的每个信号都要保证测试到,为了
保证测试不遗漏,可以先将单板按照功能模块划分,并列举出每个功能模
块中的器件,每个器件涉及到的信号再按照实现的功能分类,要列出每类信号的的
判断标准,随后给出测试记录的表格。
功能模块的划分可以为:电源模块、时钟模块、交叉模块、业务处理模块、接口模
块、CPU 控制模块、主备倒换模块等等,或者参照前面“2.单板硬件功能模块划分”。
对于不同的模块,包含或涉及到不同类型的信号,芯片对不同信号的质量要求是不一
样的,例如对电源的质量要求是幅度、上电时间、上电顺序、纹波等;对时钟信号的
质量要求是边沿单调性、上升时间、下降时间、占空比、上冲、下冲、回冲、时钟频
率、抖动等;对控制信号的质量要求则是电平幅度、有效宽度、上冲、下冲、回冲
等;对业务信号的质量要求则是电平幅度、上冲、下冲、回冲、眼图等。信号质量的
测试点要选在信号的终端。
在表格中结果判断一栏中,注明OK 、POK 、NG、NT,其中:
OK:测试结果全部正确
POK :测试结果大部分正确
NG:测试结果不通过
NT:由于各种原因本次无法测试
以下的测试结果记录中,对测试通过的信号,只要求提供其列表;测试不通过的信
号,要求提供测试波形记录、原因分析、解决措施和解决计划。
以下提供的表格为通用的信号质量规范要求和一些通用的电平信号的标准,可作为信
号质量判断的标准,同时需要参考器件手册;以下给出的标准与芯片要求不符的,以
芯片要求为准,并要求在芯片的测试实测记录前,列出其特殊要求。
信号标准特性
信号类型VCC VOH VIH VT