Avantage_-_定量分析与数据处理方法
AvantageXPS分析软件基本分析方法
AvantageXPS分析软件基本分析方法1.进行全扫描
2.进行含量的精确计算3.进行分类拟合
在全图上用[ID]进行
全部扫描,此时为自
动扫描,还可以用ID
进行手动扫描,找到
自己觉得从在的元
素,进行寻找
在add peak中的smart(扣
背景)模式下进行精确计算,
选择要计算的高分辨扫描图,
选择高分辨扫描图,进行平滑处理(不进行add peak 处理),找峰,与相关元素的标准结合能进行比较,在中输入偏移的数值(注意查看是正偏移还是负偏移),之后在smart模式下进行拟
合(加峰add peak,按自己分析的此种元素可能存在的形式),蓝色为拟合后的线,越接近红线越好。
4.查图的信息
选中所要看的图的信息,点中,即可获取相关的图的信息
5.数据及图像导出
用选择数据存储目录以及存储格式,将数据导入Origin中进行作图。
用Avantage软件进行全谱分析和单元素谱峰分析
用Avantage软件进行全谱分析和单元素谱峰分析1.全谱图分析(主要是鉴别峰)(1)打开全谱图,选择文件类型vgd(2)鉴别谱峰,手动(),自动(,)手动鉴别峰(),可以选择根据元素鉴别峰,也可以选择根据能量范围)选择自动分析,会自动生成标好的各个峰。
是自动峰鉴别,可以选择XPS位置容差、俄歇位置容差等参数。
不论采用上面三种中的那种鉴别峰的分析,软件都会自动计算出原子百分比、面积CPS等参数,感觉不太有用,有些峰的面积会被计算为负的,有些峰的原子百分比会被算为0。
自动鉴别谱峰,会得到不需要的结果,而手动鉴别谱峰可以根据实际情况选择性的添加谱峰。
(3)能量校正根据标出的C1S峰的能量对峰进行能量校正,可以用软件的快捷键电荷偏移,将C1S的能量校正为285ev,用此软件校正的能量有误差,还可以用origin软件进行能量的校正。
在图像上点击右键,用copy active cell,导出数据文件,后保存为txt格式,将文件导入到origin软件中,对Binging Energy列的数据进行处理,即可达到希望的能量校正。
2.单元素谱峰的分析(1).数据平滑处理:Savitzky-Golay, 高斯或傅立叶,使用工具栏中的选择傅里叶平滑处理(2)去底与峰拟合,选择smart去底法,根据元素的化学环境确定拟合峰的个数,对峰进行拟合。
(4)校正荷电位移,在本例中选择Si衬底的能量97.8ev作为参考能量。
同样采用此软件校正的能量具有误差。
(5)关于counts与counts/s,基本上论文中出现的都是counts,因此点击(6)刻蚀时间的调整,在最下方的工具栏内调整,如上图。
(7)去掉拟合残留,点击右键,选择Display Options,勾选Show Residuals.(8)copy active cell,粘贴到txt文件中,再导入到origin软件内(9)点此空格,即可全选中数据,右键plot-line,即可画出曲线(10)点击下图圈的键,即可实现line和line+symbol的转换。
Avantage 数据处理方法
Sn
Ta Te Tl V W Y Zn Zr
285.2
284.8 284.8 285.4 285.1 285.0 286.7 285.8 285.9
284.8
284.6 284.2 285.2 285.2 285.1 286.7 284.9 285.4
0.4
0.2 0.6 0.2 -0.1 -0.1 ±0.0 0.9 0.5 [FO] [FO] [FO]
其中
x = log10(KE/PE), KE为电子动能,PE为通过能(Pass Energy)
y = log10[Peak Area/(PE*XSF)]
惰性气体外标:向样品注入Ar作外标物有良好 的效果。
Ar具有极好的化学稳定性,适合于Ar离子溅射后和 深度剖面分析,且操作简便易行。
荷电校正方法
內标法:利用样品材料中已知状态主成分元 素的结合能值作为参考值进行荷电校准。
碳內标:含碳材料
石墨:284.5 eV Hydrocarbon(芳香) :284.6 eV Hydrocarbon(脂肪) :285.0 eV
Avantage: 数据处理方法
2014X射线光电子能谱冬季学苑
麻茂生
主要内容(Outline)
谱图的一般处理 定量分析方法 谱峰拟合方法 深度剖析数据处理方法
一、谱图的一般处理
数据平滑:Savitzky-Golay, 高斯或傅立叶 本底去除:线性, Shirley, Tougaard,Smart 微分与积分 谱图比较/覆盖 (Light Box Compare) Spike Edit 能量去卷积(Deconvolution) 校正荷电位移
衬底参考
涉及导电衬底上的薄膜研究工作,常以导电衬底元素 的结合能作为绝缘覆盖层材料的参考。
应用Avantage 软件进行XPS谱图处理步骤
应用Avantage 软件进行XPS 谱图处理步骤一、 打开处理软件双击桌面上Avantage 图标二、 载入谱图数据Open files ——选择需要处理的vgp.格式的数据文件,打开相应的XPS 谱图。
三、 XPS 谱图处理1. 荷电位移(Charge Shift )a. 先用鼠标指针选中C1s 谱图,读出当前C1s 谱图上C —C 键的C1s 结合能位置,以C1s=284.8eV 为参考值,记录下当前的荷电位移。
b.选中所有XPS谱图(包括Survey谱图及元素的窄扫谱图),即点击谱图框左上角的小方块。
c.对XPS谱图进行荷电位移:选择工具栏中的“charge shift”图标,在弹出的窗口中选中“shift by amount”,然后在“shift by:”中输入荷电位移值,再选择“+eV”或“-eV”,最后点击“Close”关闭窗口。
2.扣除X射线伴峰(Satellite Subtraction)—此步骤仅适用于双阳极XPSa.用鼠标指针选中某个元素的窄扫谱图,然后点击工具栏中的“Satellite Subtraction”图标。
b. 在弹出的窗口中选择本底类型为“Smart ”,勾选“Subtract Background First ”,然后点“Subtract Satellites ”。
(注意XPS 测试时双阳极的类型是Mg?还是Al?)c. 重复以上扣伴峰的步骤,将所有元素的窄扫谱图都进行X 射线伴峰的扣除,最后点击“Close ”关闭窗口。
3. 定量(Quantification )a. 先选中双竖线指针,在需要定量的各个元素的窄扫谱图中分别选取定量范围。
注意:定量范围的起点与终点应选在本底较平滑的位置。
b. 用鼠标+Ctrl 键选中所有需要定量的元素窄扫谱图,然后进行加峰,即点击工具栏中“Add Peak ”图标。
在弹出的窗口中选取“Peak Background ”类型为“Smart ”,然后点击“Add To All ”对所有元素进行定量加峰。
Avantage_-_定量分析与数据处理方法
谱峰鉴别 定量分析 谱峰拟合 角分辨XPS与深度剖析 多维数据显示 图象显示和处理
多维数据显示
z 多维(multilevel)数据可以不同的方式显
示。可用工具条按钮(buttons)或菜单项 (主菜单或鼠标右键的弹出菜单)来激活 这些不同的显示模式。
多维数据显示
二、定量分析方法(Quantification)
2、元素灵敏度因子法
z z z z
原子灵敏度因子--由标样得出的经验校准常数。 该方法利用特定元素谱线强度作参考标准,测得其它元 素相对谱线强度,求得各元素的相对含量。 元素灵敏度因子法是一种半经验性的相对定量方法。 对于单相均匀无限厚固体表面:
I ij = K ⋅ T ( E ) ⋅ Lij (γ ) ⋅ σ ij ⋅ ni ⋅ λ ( E ) cos θ
−z
λ ( E ) cos θ
dz ⋅
其中: Iij为i元素j峰的面积,K为仪器常数,T(E)为分析器的传输函数, Lij(γ)是i元素j轨道的角不对称因子,σij为表面i元素j轨道的的光电离截 面,ni(z)为表面i元素在表面下距离z处的原子浓度,λ(E)为光电子的非弹 性平均自由程,θ是测量的光电子相对于表面法线的夹角。 此外,样品 表面粗糙度,检测面积,电子探测器效率等。
在表面分析研究中我们不仅需要定性地确定试样的元素种类 及其化学状态,而且希望能测得它们的含量。对谱线强度作 出定量解释。 z XPS定量分析的关键是要把所观测到的信号强度转变成元素 的含量,即将谱峰面积转变成相应元素的含量。这里我们定 义谱峰下所属面积为谱线强度。
z z z
实用XPS定量方法可以概括为标样法,元素灵敏度因子法和一 级原理模型。 标样法需制备一定数量的标准样品作为参考,且标样的表面 结构和组成难于长期稳定和重复使用,故一般实验研究均不 采用。目前XPS定量分析多采用元素灵敏度因子法。该方法利 用特定元素谱线强度作参考标准,测得其它元素相对谱线强 度,求得各元素的相对含量。
avantage软件简单数据处理教程PPT学习课件
7、+键可以选择放大的区间,右边x键为关闭放大, 放大后发现并非Ag的一对3d峰,可判断无Ag
7
8、判断无Ag峰后,点击Ag,点击键盘delete键删掉 9、原子含量为全谱的含量,有一定参考值,但是步长 较大,定量没有窄谱准确。
8
10、manual peak ID 页面下有ID by element ,即选中一种元素,该元素所有峰会出现在谱图中 9
3、将要分析数据文件拖至该区域, 或者从file中open
3
4、未选中分析谱图时,analysis按钮为灰色 4
5、全谱分析,点击survey可分析全谱含有什么元素,显示结果见下一页 5
5、分析出材料含有C、O,可能含有Ag,不是很确定的元素(一般含量较少),软件会打问号??? 6、点击放大键,可查看是否有Ag峰
23
其他疑问,以及数据处理下次再 补充。如有疑问,可以qq联系。
24
21
23、双峰拟合结果比单峰可靠,两个峰的峰宽相等,两峰之间差值软件会依照元素自动更改。 22
24、数据导出。先选中要保存的数据(可全选),如果只选中一种元素,其他数据不会被保存。
(1)点击Reporting
(2)点击report options (3)选择要保存的位置。这 步操作完数据还没有被保存, 只是选择了保存位置。 (4)点击report to,数据被保存。
Thermo Avantage 软件数据的简单处理(依照数字标号)
1-4、 在Avantage软件中打开分析数据 5-9、 全谱分析 10-11、峰的判断 12-13、手动增加峰 14、 抠背底 15、 相对含量计算 16-21、单峰拟合 22-23、双峰拟合 24、 数据的导出
1
Avantage定量分析与数据处理方法
相对灵敏度因子)
电离截面计算值(Scofield)
Scofield vs. Wagner?
两数据库都在用 – 但对同一套数据可能有不同结果!! 它们必须以稍有不同的方式来使用
Scofield – 理论灵敏度因子数据库, 基于 C1s = 1 为此我们需要增加一项来说明分析的深度 (即 λ 并通常取 KE0.6)
z 树的结构与视窗资源管理器中的目 录结构类似。实验树的项可以象视 窗资源管理器中文件或文件夹的操 作方式那样来进行复制和粘贴或从 其它实验中输入。
z 一旦实验建立,这一强大的特性使 得仪器能够完全无人照料地运行。
1.2、对象属性
z 一旦确定了树的结构,每 一个对象的属性也就定义 好了。这些可以通过选择 适当的对象并显示属性对 话框来实现。
注册表和实验数据文件中,在数据定量计算时直接调用。
Avantage V2.16版本之后,传输函数乘以了通过能和0.01的因子。对 于以相同通过能采集的数据来说,此变化被抵消,对原子浓度计算
没有任何影响。此变化对在不同通过能下采集的数据可以进行更好
的定量。
1 13
因此
TF = 10y * PE * 0.01 = TXFN
C-C 6
C-O 2
O=C-O 2
Counts / s
7.00E+04 6.00E+04
C1s Scan
C1s -CH
5.00E+04
4.00E+04 3.00E+04 2.00E+04
C1s =OOH C1s -OH
1.00E+04
C1s Sat
Avantage 数据处理方法
1、数据平滑
实验谱图中包含有测量随机噪声。数据平滑的 目的就是减少这些高频噪声成分而不失真地保 留原始谱图中包含的涉及峰高和峰型的所有信 息。提高谱线的信噪比。
存在两种基本的平滑方法:使用卷积平滑函数 与应用傅里叶分析的频率滤波。
常用第一种平滑方法,尤其是多点移动平滑。 最常用的卷积程序是三次/四次函数—
Savitzky-Golay,其次可采用高斯函数。 当平滑点数取谱图中可分辨的最窄峰的FWHM
所含的数据点数时,Savitzky-Golay函数效 果最佳,失真低。
2、本底去除
在XPS谱中,通常为较小的谱峰叠加在大的 本底之上。如果要检查谱峰的细节,在某些 情况下就需要进行本底去除(如定量时测量 谱峰强度时)。
其中: Iij为i元素j峰的面积,K为仪器常数,T(E)为分析器的传输函数, Lij()是i元素j轨道的角不对称因子,ij为表面i元素j轨道的的光电离截面, ni(z)为表面i元素在表面下距离z处的原子浓度,(E)为光电子的非弹性平 均自由程,θ是测量的光电子相对于表面法线的夹角。 此外,样品表面粗 糙度,检测面积,电子探测器效率等。
284.0*
285.0
284.4
285.9
286.8*
284.3*
284.2
285.7
284.9
285.2
284.8
284.8
284.6
284.8
284.2
285.4
285.2
285.1
285.2
285.0
285.1
286.7
286.7
285.8
284.9
285.9
285.4
BE差 0.2 0.5 0.4 1.1 -0.5 0.6 0.6 -0.9 0.1 0.8 0.4 0.2 0.6 0.2 -0.1 -0.1 ±0.0 0.9 0.5
X射线光电子能谱avantage
XPS谱图信息
XPS谱图的表示 横坐标:动能或结合能,单位是eV, 一般以结合能为横坐标。 纵坐标:相对强度(CPS)。
结合能为横坐标的优点: ➢ 结合能比动能更能反应电子的壳层
结构(能级结构) ➢ 结合能与激发光源的能量无关
Barium Oxide Monochromated XPS\Spot Size 500 µm
注意:颗粒细(一般小于0.2mm)且均匀,粉末样品尽量事先干燥; 在压片样品上分析时尽量选用平整测试区域; 制样时使用无粉乳胶手套、尽量使用绝缘双面胶; 如样品不好压片,考虑增大压力或者使用粘结剂 样品放气气压低
压片与粘在双面胶上两种制样方法比较
压 片
粘 在 双 面 胶 带
两种制样比较: 粉末样品压片与粘在双面胶带上相比,强度和信噪比明显改善。
物理清洗,用干氮气吹干; 3、机械清洁,刮削、打磨、断裂等; 4、离子(Ar+)刻蚀清洁; 5、预抽、加热脱附等; 6、化学清洁; ……
XPS谱图信息
谱峰、背底或伴峰
谱峰:X射线光电子入射,激发出 的弹性散射的光电子形成的谱峰, 谱峰明显而尖锐。
背底或伴峰:如光电子(从产生处 向表面)输送过程中因非弹性散射 (损失能量)而产生的能量损失峰, X射线源的强伴线产生的伴峰,俄 歇电子峰等。
Barium Oxide Monochromated XPS\Spot Size 500 µm
二、 XPS仪器结构——ESCALAB 250Xi
光电子传输透镜 Video 摄像
电子能量分析器
电子中和系统 离子枪
样品台
样品停放台
磁透镜
原位反应装置
原位反应装置
三、样品制备方法
粉末样品
•压片 •粘到双面胶带上 •分散到水或挥发性有机溶剂中,形成悬浊液,滴到硅片等固 体基片、金属箔或滤膜、海绵等基底上
Avantage 数据处理方法
[FO]
元素 Nb Ni Pb Pd Re Rh Sb Sc Se Si Sn Ta Te Tl V W Y Zn Zr
C (1s) BE of Hydrocarbons
自然氧化物 离子刻蚀金属
285.1
284.9
285.4
284.9
285.6
285.2
285.3
284.2
284.5
285.0
284.6
Savitzky-Golay,其次可采用高斯函数。 当平滑点数取谱图中可分辨的最窄峰的FWHM
所含的数据点数时,Savitzky-Golay函数效 果最佳,失真低。
2、本底去除
在XPS谱中,通常为较小的谱峰叠加在大的 本底之上。如果要检查谱峰的细节,在某些 情况下就需要进行本底去除(如定量时测量 谱峰强度时)。
最简单的本底去除方法是在用户感兴趣的谱 峰两端指定点间作直线—线性。
线性本底通常误差较大,是非物理的。 线性本底的改进涉及到的物理真实逼近—
Shirly本底。
线性本底
非线性本底 - Shirley Method
使用最普遍的非线性背景扣除方法
该方法认为能量损失是常数, 谱线上任 一点由非弹性散射电子引起的背景, 只 来源于更高动能电子的散射, 正比于更 高动能的积分光电子强度(面积)
原子百分数的计算
归一化面积(NA)由谱峰面积(IA)来计算
NA = IA /NF
因而样品中任一元素的原子浓度由下式算出:
CA = (At%)A = (NA/(NA + NB + NC..)) X 100 或
CA
N A 100 Ni
1
i
13
2.1、灵敏度因子
应用Avantage 软件进行XPS谱图处理步骤.doc
应用Avantage 软件进行XPS谱图处理步骤应用应用Avantage软件进行软件进行XPS谱图处理步骤谱图处理步骤一、一、打开处理软件打开处理软件双击桌面上Avantage图标二、二、载入谱图数据载入谱图数据Openfiles——选择需要处理的vgp.格式的数据文件,打开相应的XPS谱图。
三、三、XPS谱图处理谱图处理1.荷电位移(ChargeShift)a.先用鼠标指针选中C1s谱图,读出当前C1s谱图上C—C键的C1s结合能位置,以C1s=284.8eV为参考值,记录下当前的荷电位移。
读取当前C1s结合能位置①②③b.选中所有XPS谱图(包括Survey谱图及元素的窄扫谱图),即点击谱图框左上角的小方块。
c.对XPS谱图进行荷电位移:选择工具栏中的“chargeshift”图标,在弹出的窗口中选中“shiftbyamount”,然后在“shiftby:”中输入荷电位移值,再选择“+eV”或“-eV”,最后点击“Close”关闭窗口。
2.扣除X射线伴峰(SatelliteSubtraction)—此步骤仅适用于双阳极XPSa.用鼠标指针选中某个元素的窄扫谱图,然后点击工具栏中的“SatelliteSubtraction”图标。
b.在弹出的窗口中选择本底类型为“Smart”,勾选“SubtractBackgroundFirst”,然后点“SubtractSatellites”。
(注意XPS测试时双阳极的类型是Mg?还是Al?)c.重复以上扣伴峰的步骤,将所有元素的窄扫谱图都进行X射线伴峰的扣除,最后点击“Close”关闭窗口。
3.定量(Quantification)a.先选中双竖线指针,在需要定量的各个元素的窄扫谱图中分别选取定量范围。
注意:定量范围的起点与终点应选在本底较平滑的位置。
b.用鼠标+Ctrl键选中所有需要定量的元素窄扫谱图,然后进行加峰,即点击工具栏中“AddPeak”图标。
在弹出的窗口中选取“PeakBackground”类型为“Smart”,然后点击“AddToAll”对所有元素进行定量加峰。
Avantage_-_定量分析与数据处理方法
−z
λ ( E ) cos θ
dz ⋅
其中: Iij为i元素j峰的面积,K为仪器常数,T(E)为分析器的传输函数, Lij(γ)是i元素j轨道的角不对称因子,σij为表面i元素j轨道的的光电离截 面,ni(z)为表面i元素在表面下距离z处的原子浓度,λ(E)为光电子的非弹 性平均自由程,θ是测量的光电子相对于表面法线的夹角。 此外,样品 表面粗糙度,检测面积,电子探测器效率等。
i
3
3、定量分析方法步骤
z
z
z
z
z
扣除背景 z 线性, Shirley, Smart(Tougaard) 测量峰面积 z 必要时进行峰拟合 应用传输函数 z 随不同的仪器而变 应用灵敏度因子 z 随不同元素(及厂商)而变 计算原子浓度
定义峰-本底类型及误差
z
z
z z
定义峰:为进行定量分析而计算峰面 积,就要确定峰的起点和终点,此两 点间的本底将被扣除。定义峰的起点 和终点位置对于定量计算的精确性是 重要的。 在实际加峰到谱峰表(Peak Table)中 之前,必须要考虑选取不同的本底类 型及其可能带来的误差。 有四种本底扣除的方法可选:Linear, Shirley,Tougaard和Smart。 应根据谱峰的实际峰型和情况来正确 选取本底类型
[例] PET的定量分析
7.00E+04 C1s Scan
C1s-C 6 C-O 2 O=C-O 2
6.00E+04 5.00E+04 Counts / s 4.00E+04 3.00E+04 2.00E+04 1.00E+04 0.00E+00 294 292 290 288 286 284 282 280 Binding Energy (eV)
定量分析结果的数据处理
学习目标
了解随机误差的分布规律,理解平均值的置
信区间的概念、可疑值的取舍方法。
一、定量分析结果的数据处理
定量分析的目的是为了得到试样中待测组分的含量信息。
由于受到分析方法、测量仪器等条件的限制以及操作人员主观因素的
影响,分析结果不可能与试样的真实含量完全一致。
需要对测量数据进行统计处理,以便合理地表达分析结果,并对分析
2.计算出统计量Q
−
−
若 为可疑值,则Q=
若 为可疑值,则Q=
− −
−
3.根据测定次数和要求的置信度由Q值表查得Q值;
4.再以计算值和表值相比较,若Q算>Q表,则该值舍去,反之保留。
一、定量分析Biblioteka 果的数据处理4d检验法步骤:
1.求出可疑值除外的其余数据的平均值和平均偏差;
一、定量分析结果的数据处理
随机误差的正态分布
如果测量数据不断增多,会得到正态分布曲线。
为了减小随机误差,定量分析时应该多做几次平行测定并取其平均值
作为分析结果。在消除误差的情况下,平均值比任何一次测定值都更
接近真值。
一、定量分析结果的数据处理
随机误差的t分布
正态分布是无限多次测定数据的分布规律,而在实际分析工作中,测
定次数是有限的,因而无法计算总体平均值μ和总体标准偏差,只
能用样本平均值x 和样本标准偏差s来估计数据的集中趋势和分散程
度。
提出了置信因子 t
置信度P:表示在某一t值时,测定值落在( μ± t s )范围内的概率
。
一、定量分析结果的数据处理
可疑值的取舍
在一组平行测定值中,有时会有个别测定值偏离其他测定值较远,这
定量分析工作报告的数据处理技巧
定量分析工作报告的数据处理技巧数据处理在如今信息时代中扮演着至关重要的角色。
作为定量分析工作报告的一部分,数据处理技巧的正确应用对于准确分析数据、得出合理结论至关重要。
本文将探讨定量分析工作报告中的数据处理技巧,帮助读者更好地掌握这一重要技能。
一、确定数据类型在进行数据处理之前,首先需要确定所处理的数据类型。
常见的数据类型包括数值型、分类型、顺序型等。
了解数据类型,可以为后续的数据处理提供指导和方向。
二、数据清洗数据清洗是数据处理的关键一步。
通过去除脏数据、缺失值和异常值,确保数据的可靠性和准确性。
同时,还可以对于重复值进行合并和去重操作,以简化后续的分析过程。
三、数据归一化不同的数据可能具有不同的度量单位和范围,直接进行比较和分析可能存在误导性。
因此,需要对不同数据进行标准化或归一化处理,将其转化为相同的尺度。
常用的归一化方法有最大-最小归一化、标准化等。
四、数据转换有时候,原始数据并不适合进行直接分析,需要经过一些转换操作。
例如,数据可能需要进行对数转换、指数转换或幂函数转换,以满足分析的要求。
数据转换可以提高数据的线性度、降低异常值的影响,使数据更符合分析模型的假设。
五、数据分组在进行数据处理和分析时,有时需要将数据进行分组。
根据特定的标准,将数据划分为不同的组别,有助于我们发现数据中的规律和趋势。
可以根据数据的范围、频率、属性等进行分组,进一步深入了解数据的特点。
六、数据可视化数据可视化是一种强大的数据处理工具。
通过图表、图形等方式将数据呈现出来,可以更加直观地观察数据特征和趋势,进一步分析数据的关系和差异。
常见的数据可视化方式包括柱状图、折线图、散点图等。
七、数据分析数据处理的最终目的是为了得出合理的结论。
通过对数据进行统计分析、相关性分析、回归分析等,可以揭示数据之间的内在规律和关系。
同时,数据分析还可以帮助我们预测未来趋势、做出有价值的决策。
八、数据解释准确的数据解释可以使我们的分析报告更加具有说服力和有效性。
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3
3、定量分析方法步骤
z
z
z
z
z
扣除背景 z 线性, Shirley, Smart(Tougaard) 测量峰面积 z 必要时进行峰拟合 应用传输函数 z 随不同的仪器而变 应用灵敏度因子 z 随不同元素(及厂商)而变 计算原子浓度
定义峰-本底类型及误差
z
z
z z
定义峰:为进行定量分析而计算峰面 积,就要确定峰的起点和终点,此两 点间的本底将被扣除。定义峰的起点 和终点位置对于定量计算的精确性是 重要的。 在实际加峰到谱峰表(Peak Table)中 之前,必须要考虑选取不同的本底类 型及其可能带来的误差。 有四种本底扣除的方法可选:Linear, Shirley,Tougaard和Smart。 应根据谱峰的实际峰型和情况来正确 选取本底类型
z
λ值有多大 (nm)?
z
对元素硅 λm=0.41(aE)0.5 monolayers (元素) λm= 8 monolayers
换算成nm: λn=aλm z (a3 =(A/1000ρnNA)) z A= 原(分)子量, ρ = 密度, n=分子中原子数 NA = Avogadro’s 常数
z
定义峰-本底类型及误差
z
Linear: 定义峰的的起点和终点间直线本底扣除方法。 通常在峰两端本底高度差别不大时适用。
定义峰-本底类型及误差
Shirley: 适用于峰两端较 为平坦的台阶状峰形本底。
•
定义峰-本底类型及误差
z
Smart: 源于Shirley本底,但会反复调整本底位置使得本 底不会跑到数据曲线之上。当对有较宽能量范围的双峰 进行定量时这是十分有用的。
1
1 3
2.2 原子浓度的计算
由两不同的数据库计算的归一化面积为:
Scofield:
NA = Peak Area/SF(Scofield) x E0.6 x TF
Wagner:
NA = Peak Area/SF(Wagner) x E x TF
因而给出原子浓度:
NA C A = At% A = × 100 1 ∑ Ni
1、定量分析基础:一级原理模型
z
从光电子发射的“三步模型”出发,将所观测到的谱线强度和激 发源,待测样品的性质以及谱仪的检测条件等统一起来考虑,形成 一定的物理模型。 由于模型涉及较多的因素,目前还缺乏必要精度的实验数据, 因此一级原理模型计算还未得到真正应用。
I ij = K ⋅ T ( E ) ⋅ Lij (γ ) ⋅ σ ij ⋅ ∫ ni ( z ) ⋅ e
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1.2、对象属性
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一旦确定了树的结构,每 一个对象的属性也就定义 好了。这些可以通过选择 适当的对象并显示属性对 话框来实现。 实验树中各类对象都有类 似的对话框显示。 整个实验树及每个对象的 属性都可存储下来用于后 续的样品,而且所有的采 集参数与数据一起被存储 下来。
2、数据处理
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Avantage提供了较全面的谱图分析和处理工 具。它提供了许多像谱峰鉴别和谱峰定义等的 标准数据处理工具,同时也包含许多谱图分析 的高级功能。
X射线电离截面项 (特定跃迁将产生多少光电子) 分析深度项 (并入λ值中) 传输函数项 (谱仪对特定动能电子检测的能力) 不同仪器得出的灵敏度因子之间的归一化 (比如 CMA和HAS之间 )
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2.1.1 X射线电离截面
X射线电离截面项 (特定跃迁将产生多少光电子) 一般使用下列两个数据库: (客户也可产生其自己的数据库, 大多数不必) Scofield – 理论灵敏度因子数据库, 基于 C1s = 1 (即一定量的光子作用到样品上后所产生光电子数目的 一个相对计算值) Wagner – 实验灵敏度因子数据库, 基于 F1s = 1 (即在某种谱仪上真实测量大量的已知化合物并计算出 相对灵敏度因子)
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电离截面计算值(Scofield)
Scofield vs. Wagner?
两数据库都在用 – 但对同一套数据可能有不同结果!! 它们必须以稍有不同的方式来使用 Scofield – 理论灵敏度因子数据库, 基于 C1s = 1 为此我们需要增加一项来说明分析的深度 (即 λ 并通常取 KE0.6) Wagner -实验灵敏度因子数据库, 基于 F1s = 1 为此我们需要增加一项来修正不同(仪器)类型分析器 产生的因子 (A CMA rather than our HSA). 这可通过乘 以峰动能来实现。(λ项已包含在里面)
ni = I ij {K ⋅ T ( E ) ⋅ Lij (γ ) ⋅ σ ij ⋅ λ ( E ) cos θ } = I ij Sij
因此,
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式中Sij=K⋅T(E)⋅Lij(γ)⋅σij⋅λ(E)cosθ ≈ T(E)⋅Lij(γ)⋅σij⋅λ(E) 定 义为原子灵敏度因子,它可用适当的方法加以计算,一 般通过实验测定。可取SF1s=1作为标准来确定其它元素 的相对灵敏度因子。 ni ∝ Iij / Sij =Ni
C1s Sat
C1s =OOH
C1s -OH
峰面积 归一化峰面积
原子浓度
灵敏度因子
传输函数
原子百分数的精确度如何?
定量计算结果中存在几个不确定性的来源,它们来自于: z 峰强度的测定? 如何测量峰面积, 从什么位置到什么位置, 包括什么, 什么 形状背底等 z 灵敏度因子数据库的精确度? 不同的数据库给出不同的结果 – 哪个更好? z 传输函数的精确度? 对特定仪器传输函数定义的准确程度如何 z 其它因素包括λ的测定?
Avantage:
定量分析与数据处理方法
光电子能谱表面分析应用培训 2008.5, 济南 麻茂生 中国科学技术大学
主要内容(Outline)
z Avantage功能简介 z 定量分析原理与方法 z 实验数据处理方法
ห้องสมุดไป่ตู้
一、Avantage功能简介
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Avantage数据系统是基于视窗操作系统的。易 于和第三方软件集成。 Avantage数据系统提供实验控制、数据采集、 数据处理和报告输出等全面的功能特性,是一 个操作灵活方便、功能全面的能谱仪数据系统 软件包。 安全性通过不同级别的用户允许访问软件的不 同部分而得到改进。专家用户可以访问允许设 置仪器参数的软件部分。 临时的或新手用户被 限制到数据采集,使用选择预设参数,和数据 处理。系统易于用口令进行保护。
z z z z z z
谱峰鉴别 定量分析 谱峰拟合 角分辨XPS与深度剖析 多维数据显示 图象显示和处理
多维数据显示
z 多维(multilevel)数据可以不同的方式显
示。可用工具条按钮(buttons)或菜单项 (主菜单或鼠标右键的弹出菜单)来激活 这些不同的显示模式。
多维数据显示
二、定量分析方法(Quantification)
在一个实验中所有的实验参数都可 以用实验“树”的概念来进行任意的 组合和控制。 z 实验的不同部分被定义为树中的“对 象”。随着实验的进行,包含在每个 对象中的指令就被依次执行。如果 在特定的对象处存在分枝,则在转 移到此层次中同级别的下一个对象 上之前先执行分枝中包含的指令。 z 树的结构与视窗资源管理器中的目 录结构类似。实验树的项可以象视 窗资源管理器中文件或文件夹的操 作方式那样来进行复制和粘贴或从 其它实验中输入。 z 一旦实验建立,这一强大的特性使 得仪器能够完全无人照料地运行。
[例] PET的定量分析
7.00E+04 C1s Scan
C1s -CH
PET中每 种碳的 数目为: C-C 6 C-O 2 O=C-O 2
6.00E+04 5.00E+04 Counts / s 4.00E+04 3.00E+04 2.00E+04 1.00E+04 0.00E+00 294 292 290 288 286 284 282 280 Binding Energy (eV)
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此外样品的不均匀性或表面有污染层存在以及元素化学 态不同
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原子百分数的精确度如何?
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使用原子灵敏度因子法准确度优于15%。在同一 仪器上使用标样测量准确度优于5%。在所有情形 下重复性(精密度)好于2%。 z 对于任一元素并非所有的XPS峰都有相同的强 度(面积比正比于其原子灵敏度因子)⎯选 择具有最大原子灵敏度因子的峰以最大化灵 敏度 z 每一元素在复杂混合物中的灵敏度会变化。
原子百分数的计算
归一化面积(NA)由谱峰面积(IA)来计算
NA = IA /NF
因而样品中任一元素的原子浓度由下式算出:
CA = (At%)A = (NA/(NA + NB + NC..)) X 100 或
NA CA = × 100 ∑ Ni
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2.1 灵敏度因子
灵敏度因子(归一化因子)包括下面几项:
−z
λ ( E ) cos θ
dz ⋅
其中: Iij为i元素j峰的面积,K为仪器常数,T(E)为分析器的传输函数, Lij(γ)是i元素j轨道的角不对称因子,σij为表面i元素j轨道的的光电离截 面,ni(z)为表面i元素在表面下距离z处的原子浓度,λ(E)为光电子的非弹 性平均自由程,θ是测量的光电子相对于表面法线的夹角。 此外,样品 表面粗糙度,检测面积,电子探测器效率等。
2.1.2 光电子的非弹性平均自由程λ
λ值依赖电子能量和样品材 料性质 λ通常在XPS的能量范围内 近似于 KE0.6
万有曲线
λ值有多大 ?
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在某一能量下 (近似地 Si2p) 对于万有曲线的分散值约为 3.5 到 14 monolayers (= atoms).