透射电镜
透射电镜成像原理
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透射电镜成像原理
透射电镜是一种常用的电子显微镜,用于观察和研究材料中的微观结构。
它利用电子的波粒二象性,通过透射原子层的电子来形成显微图像,具有比光学显微镜更高的分辨率。
透射电镜的成像原理可以简单概括为以下几个步骤:
1. 电子发射:透射电镜使用热阴极或冷阴极发射出高速电子,这些电子被加速到高能状态。
2. 透射样品:加速的电子通过一个非常薄的样品片,如薄片状的金属、陶瓷或生物组织。
样品必须具有高度透射性,以允许电子通过。
3. 散射与透射:入射电子束在样品中发生散射和透射两种现象。
散射是指电子与样品中的原子或电子相互作用,改变其运动方向,而透射是指电子穿过样品的现象。
4. 透射电子形成图像:透射电镜使用透射电子成像器件,如方形磁透镜或电磁透镜,将透射电子聚焦在屏幕或感光材料上。
根据电子的能量和散射情况,屏幕上形成亮暗不同的区域,形成图像。
透射电镜成像原理的关键在于控制电子束的发射和透射过程,以及透射电子的成像聚焦和检测。
通过调整透射电子的能量、电磁透镜的设置和样品的准备,可以获得高分辨率的电子显微图像,揭示材料的微观结构和性质。
TEM(透射电子显微镜)
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细胞结构解析
细胞膜结构
透射电镜图像可以清晰地展示细胞膜的精细结构,如细胞膜的厚度、 细胞器的分布等。
细胞器结构
透射电镜能够观察到细胞内的各种细胞器,如线粒体、内质网、高 尔基体等,有助于了解细胞器的形态和功能。
细胞骨架结构
透射电镜能够观察到细胞骨架的超微结构,如微管、微丝和中间纤维 等,有助于了解细胞骨架在细胞运动、分裂和分化中的作用。
TEM应用领域
01
02
03
04
生物学
研究细胞、组织和器官的超微 结构,如细胞器、细胞膜、染
色体等。
医学
用于诊断疾病,如癌症、传染 病等,以及药物研发和疫苗制
备过程中的结构分析。
地质学
观察岩石、矿物和矿物的微观 结构,研究地球科学中的各种
地质现象。
材料科学
研究金属、陶瓷、高分子等材 料的微观结构和性能,以及材
控制切片的厚度,通常在50~70纳米之间,以确 保电子束能够穿透并观察到样品的内部结构。
切片收集与处理
将切好的超薄切片收集到支持膜上,并进行染色、 染色脱水和空气干燥等处理。
染色
染色剂选择
选择适当的染色剂,如铅、铀或 铜盐,以增强样品的电子密度并
突出其结构特征。
染色时间与温度
控制染色时间和温度,以确保染色 剂与样品充分反应并达到最佳染色 效果。
清洁样品室
定期清洁样品室,保持清洁度 。
检查电子束系统
定期检查电子束系统,确保聚 焦和稳定性。
更新软件和驱动程序
及时更新TEM相关软件和驱动 程序,确保兼容性和稳定性。
定期校准
按照厂家建议,定期对TEM进 行校准,确保观察结果的准确
性。
06 TEM未来发展
透射电镜的工作原理
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透射电镜的工作原理透射电镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)是一种利用电子束来观察样品的微观结构的高分辨率显微镜。
与光学显微镜不同,透射电镜使用的是电子而不是可见光来照射样品,因此能够获得比光学显微镜更高的分辨率。
透射电镜的工作原理涉及到电子的产生、聚焦、透射、成像和检测等多个方面,下面将详细介绍透射电镜的工作原理。
1. 电子的产生。
透射电镜使用的是电子束来照射样品,因此首先需要产生电子。
电子产生的常用方法是热发射和场发射。
热发射是利用热能使金属表面的电子逃逸而产生电子,而场发射则是利用电场使电子从金属表面逃逸。
在透射电镜中,通常使用的是热发射电子源,即利用钨丝或钨钢合金丝受热后发射电子。
2. 电子的聚焦。
产生的电子束需要经过一系列的聚焦系统,使其成为一个细小的束流,以便能够准确地照射到样品上。
透射电镜的聚焦系统通常包括电子透镜和磁透镜。
电子透镜利用电场来聚焦电子束,而磁透镜则利用磁场来聚焦电子束。
通过合理设计和调节,可以使电子束聚焦到非常小的尺寸,从而获得高分辨率的成像能力。
3. 电子的透射。
经过聚焦系统聚焦后的电子束将照射到样品上,这时的电子束被称为透射电子束。
透射电子束穿过样品时,会与样品中的原子和分子发生相互作用,产生散射和吸收。
透射电镜通过检测透射电子束的变化来获取样品的结构信息。
4. 成像。
透射电镜的成像原理是利用透射电子束与样品相互作用后产生的信号来获取样品的结构信息。
透射电镜通常采用透射电子显微镜来观察样品。
透射电子显微镜通过探测透射电子束的强度和位置来获得样品的结构信息,然后将这些信息转换成图像显示出来。
5. 检测。
透射电镜的检测系统通常包括电子探测器和图像处理系统。
电子探测器用于探测透射电子束的强度和位置,然后将这些信息传输给图像处理系统。
图像处理系统将探测到的信息转换成图像,并进行增强和处理,最终显示在显示屏上供用户观察。
总结来说,透射电镜的工作原理涉及到电子的产生、聚焦、透射、成像和检测等多个方面。
扫描电镜SEM和透射电镜TEM的介绍和区别(非常全面)
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扫描电镜和透射电镜的区别通俗的说扫描电镜是相当与对物体的照相得到的是表面的只是表面的立体三维的图象因为扫描的原理是“感知”那些物提被电子束攻击后发出的此级电子而透射电竟就相当于普通显微镜只是用波长更短的电子束替代了会发生衍射的可见光从而实现了显微是二维的图象会看到表面的图象的同时也看到内层物质就想我们拍的X光片似的内脏骨骼什么的都重叠着显现出来总结就是透射虽然能看见内部但是不立体扫描立体但是不能看见内部只局限与表面最后写论文的时候就用了扫描电镜的图,你说看主要做形貌,凡是需要看物质表面形貌的,都可以用扫描电镜,不过要要注意扫描电镜目前分辨率,看看能否达到实验要求。
两种测试手段的适用情况凡是需要看物质表面形貌的,都可以用扫描电镜,不过最好的扫描电镜目前分辨率在0.5~1nm左右。
如果需要进一步观察表面形貌,需要使用扫描探针显微镜SPM(AFM,STM).如果需要对物质内部晶体或者原子结构进行了解,需要使用TEM. 例如钢铁材料的晶格缺陷,细胞内部的组织变化。
当然很多时候对于nm 材料的形搜索态也使用TEM观察。
区别扫描电镜观察的是样品表面的形态,而透射电镜是观察样品结构形态的。
一般情况下,透射电镜放大倍数更大,真空要求也更高。
扫描电镜可以看比较“大”的样品,最大可以达到直径200mm以上,高度80mm左右,而透射电镜的样品只能放在直径3mm左右的铜网上进行观察。
一、分析信号(1)扫描电镜扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。
当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。
同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。
原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。
透射电镜的基本原理
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透射电镜的基本原理透射电镜(Transmission Electron Microscope,TEM)是一种使用电子束而非光线进行成像的仪器。
它使用高能电子束将样品穿透,然后收集透射的电子,并通过电子透射图像来获得样品的高分辨率图像。
以下是透射电镜的基本原理。
1.电子源:透射电镜中的电子通常是通过热发射或场发射从钨丝或钨尖中提取出来的。
电子源通常位于电镜的顶部,并通过加热或外加电场使电子发射。
2.加速器和减速器:电子源中产生的电子通过一个加速器进行加速,以达到高能水平。
这样可以使电子具有足够的能量穿透样品。
在穿过样品后,电子被进一步减速,以改变电子束的相对能量。
3.样品:样品通常是非晶态或晶态材料,厚度通常在几纳米到几十纳米之间。
样品先被制备成极薄切片,并被放置在透明的钢网上,并通过透射底座固定在电镜中。
4.磁透镜系统:磁透镜系统用于聚焦和定向电子束。
它可以通过控制磁铁中的磁场来控制电子束的聚焦和导向。
电镜通常包含一个物镜透镜和一个对焦透镜。
物镜透镜具有更大的聚焦能力,用于将电子束聚焦到样品上,而对焦透镜用于微调焦距。
5.透射:电子束穿过样品时会与样品中的原子和电子发生相互作用。
其中一个主要的相互作用是电子与样品中的原子核和电子发生库仑散射。
这些相互作用会使电子的能量损失,并改变电子的路径。
透射电子图像是根据这些散射事件的位置和能量损失来重建的。
6.探测器:透射电子通过样品后,会被收集并转换为可视图像。
光学系统使用透射电子图像来放大和重构样品。
最常用的探测器是闪烁屏幕和摄像机。
闪烁屏幕会发出光,而摄像机则将光转换为电信号,并将其转化为可视化的图像。
7.后处理:获得的透射电子图像可以通过计算机后处理进行增强和处理。
这些处理包括调整对比度,增强细节以及从二维图像中提取出三维信息。
透射电镜的原理允许它在纳米尺度下观察物质的结构和形貌。
与传统的光学显微镜相比,透射电镜具有更高的分辨率和更大的深度解析力。
高分辨透射电镜的原理
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高分辨透射电镜的原理
高分辨透射电镜(High-ResolutionEmissionTomography,HRET)是一种高分辨率的显微成像技术,它以高分辨的电子探针(ElectronProbe)作为主要成像工具。
它可获得原子分辨率的三维图像。
与其他显微成像技术相比,HRET具有下列优点:
1.获得的图像比电子探针观察到的高一个数量级;
2.对样品无破坏性;
3.图像质量高,分辨率可达0.1纳米;
4.可获得样品表面精细结构和信息;
5.可观察样品表面或内部细微结构,且不受样品厚度限制;
6.扫描速度快,每秒可扫描数百张图片。
高分辨透射电镜的工作原理是:电子探针在透射电镜中通过电子束轰击样品时,被激发的电子或离子被偏转到样品表面的不同部位,并在这些部位产生新的电子或离子。
这些被偏转的电子或离子分别向各自相反的方向运动。
偏转后,原来被激发到样品表面的电子或离子又回到原来的位置。
这样,就可以通过扫描电镜记录下来。
—— 1 —1 —。
透射电镜(TEM)讲义
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05
TEM操作与注意事项
操作步骤与技巧
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04
准备样品
选择适当的样品,进行适当的 处理和固定,以确保观察效果 最佳。
调整仪器参数
根据观察需求,调整透射电镜 的加速电压、放大倍数等参数 ,以达到最佳观察效果。
操作步骤
按照仪器操作手册的步骤进行 操作,包括安装样品、调整焦 距、观察记录等。
技巧
定量分析方法
颗粒统计
对图像中颗粒的数量、大 小和分布进行统计,计算 颗粒的平均尺寸和粒度分 布。
电子衍射分析
利用电子衍射技术分析晶 体结构和相组成,确定晶 格常数和晶面间距。
能谱分析
通过能谱仪测定图像中各 点的元素组成和相对含量, 进行定性和定量分析。
04
TEM图像解析实例
晶体结构分析
利用高分辨的TEM图像,可以观察到晶体内部的原 子排列和晶体结构,如面心立方、体心立方或六方 密排结构等。
掌握操作技巧,如正确使用操 作杆、合理利用观察窗口等, 以提高观察效果和效率。
仪器维护与保养
定期清洁
定期对透射电镜进行清 洁,保持仪器内部和外
部的清洁度。
检查部件
更换消耗品
定期检查透射电镜的部 件,如电子枪、镜筒等,
确保其正常工作。
根据需要,及时更换透射 电镜的消耗品,如真空泵
油、电子枪灯丝等。
保养计划
在操作透射电镜时,应严格遵守操作规程, 确保仪器和人身安全。
THANK YOU
感谢聆听
80%
观察模式
根据观察目的选择不同的观察模 式,如明场、暗场、相位对比和 微分干涉等。
图像解析与解读
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透射电镜的原理和应用
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透射电镜的原理和应用透射电镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)是一种使用电子束来对物质进行成像和分析的先进仪器。
相对于光学显微镜,透射电镜的分辨率更高,可以观察到更小尺寸的物体和更细微的细节。
下文将详细介绍透射电镜的原理和应用。
一、原理透射电镜的工作原理基于电子的波粒二象性。
当高速电子束穿过薄样品时,电子与样品原子发生散射或透射,这些散射和透射电子可以通过其中一种方式被聚焦后投射到屏幕上形成影像。
透射电镜的主要组成部分包括电子源、电子透镜系统、样品台、检测器和成像系统。
2.电子透镜系统:透射电镜中使用的电子透镜系统包括凸透镜、凹透镜和电磁透镜等,用于聚焦和控制电子束的路径。
3.样品台:样品台用于固定和支持待观察的样品。
在样品台上放置薄到几十纳米的切片样品,以便电子束能够透过。
4.检测器:透射电镜中常用的检测器包括透射电子探测器(TED)、散射电子探测器(SED)和能量散射光谱仪(EDS)等。
TED用于接收透射电子并产生明亮的影像,SED用于检测和分析散射电子的信息,EDS用于分析样品中的元素组成。
5.成像系统:透射电镜的成像系统包括投影屏幕、摄像机和电子显微图像处理设备。
通过调整电子透镜系统,可以将电子束上的信息转换成实时图像并显示在投影屏幕上。
二、应用透射电镜在材料科学、生物科学、纳米科学等领域有广泛的应用。
以下是透射电镜的几个主要应用。
1.结构表征:透射电镜可以用于观察材料的结构和形貌。
它能够提供高分辨率的图像,揭示物质的晶体结构、晶体缺陷、晶界和相界等微观结构信息。
2.成分分析:透射电镜结合能量散射光谱仪(EDS)可以分析样品中元素的组成。
EDS通过测量样品上散射电子的能量,确定样品中元素的成分和含量。
3.纳米材料研究:透射电镜可以研究和制备纳米尺寸的材料。
通过观察和测量纳米材料的形貌、尺寸和结构,可以了解纳米材料的特性和性能,并指导纳米材料的设计和合成。
透射电镜
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透射电镜的基本功能有:获取高分辨率、高放大
倍率的电子图像,可直接观察矿物的晶体形态、晶格象、 晶体缺陷、显微双晶和出溶作用等现象;进行电子衍射操 作(常用于选区电子衍射)可确定晶体的对称性,计算晶 胞参数,鉴定物相,测定晶体取向等;配以成分分析附件, 可以进行微区成分分析。
现代透射电镜大多包括:扫描透射电子显微系统、
像)。
位相衬度
位相衬度是由于透射 电子与衍射电子在离开试 样后发生干涉产生的衬度。 透射电子行程L,衍射 电子的行程(L2+d2)1/2, 当二者的光程差为λ 的整 数倍时产生干涉。
(3) 超薄切片法
高分子材料用超薄切片机可获得50nm左右的薄 样品。如果要用透射电镜研究大块聚合物样品的内 部结构,可采用此法制样。 用此法制备聚合物试样时的缺点是将切好的超 薄小片从刀刃上取下时会发生变形或弯曲。为克服 这一困难,可以先将样品在液氮或液态空气中冷冻; 或将样品包埋在一种可以固化的介质中。 选择不同的配方来调节介质的硬度,使之与样 品的硬度相匹配。经包埋后再切片,就不会在切削 过程中使超微结构发生变形。
动的全部路径上必须保持高度的真空,以防止电子与空气分 子相碰而改变电子运动方向,防止放电(电离空气分子现象) 和灯丝氧化等。因此,整个镜体,包括照相室,都密封在真 空系统中。一般要求其真空度不低于10-4毫米水银柱,真空 度则依据机械泵和扩散泵的工作来获得。通常在试样室和镜 筒主体间设有可动的隔离装置,以便在更换试样时,只需局 部破坏真空,这样,就可大大提高工作效率。
透射电镜与光学显微镜的原理对比
透射电镜的成像放大原 理与普通光学显微镜极为相 似。不同之处在于电子显微 镜用电子枪发射的电子束作 照明源,用电磁透镜取代玻 璃透镜进行聚焦、成像和放 大。由于电子束与可见光有 一系列本质上的差别,因此, 无论在仪器结构上,还是在 功能和性能方面都明显地不 同于光学显微镜。
化学物质的透射电镜
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化学物质的透射电镜透射电镜是一种常用的分析工具,特别是在化学领域。
它利用电子束照射样品,通过观察电子透射的方式来研究物质的结构和性质。
本文将介绍透射电镜的原理、应用以及在化学物质研究中的重要作用。
一、透射电镜的原理透射电镜的原理基于电子的波粒二象性。
电子具有波动性质,与光的波动性质相似。
通过将电子束聚焦到很小的直径上,并使其通过样品,探测样品中透射电子的强弱,可以了解样品的结构和成分。
二、透射电镜的应用1. 结构研究:透射电镜可以用来研究材料的晶体结构和外形。
通过观察透射的电子的衍射图案,可以确定晶体的晶胞参数、晶面指数等信息。
同时,透射电镜还可以观察到有关晶格缺陷、原子排列和晶界等结构信息。
2. 成分分析:透射电镜可以通过观察透射电子的吸收和散射情况,来确定样品的成分。
利用不同化学物质对电子的散射和吸收的差异,可以获得样品的能谱图像,进而分析样品中的元素种类和含量。
3. 形貌观察:透射电镜还可以用来观察化学物质的形貌。
通过调节电子束的聚焦和透射模式,可以观察到样品的表面形貌以及微观结构,如纳米颗粒、薄膜厚度等。
三、透射电镜在化学研究和应用中的作用1. 新材料研发:透射电镜在新材料研发中起到了重要作用。
通过观察材料的晶格结构、成分分布和缺陷情况,可以帮助科学家们设计和合成具有特定性能的新材料。
2. 催化剂研究:催化剂在化学反应中起到了关键作用。
透射电镜可以用来研究催化剂的结构和活性中心,以及催化剂与反应物之间的相互作用,从而优化催化剂的性能和效率。
3. 纳米材料研究:纳米材料因其独特的物理和化学性质而备受关注。
透射电镜可以观察到纳米材料的形貌和结构信息,帮助了解纳米颗粒的生长机理、表面活性和物理化学性质。
4. 生物化学研究:透射电镜在生物化学领域中也有广泛的应用。
它可以用来观察生物大分子的结构和形貌,如蛋白质、核酸等,对于研究其功能和生物活性具有重要意义。
综上所述,透射电镜在化学物质研究中扮演着重要角色。
透射电镜(TEM)
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应用及特点
一:应用:透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物 体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更 薄的超薄切片,通常为50~100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得 很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。 对于液体样品,通常是挂预处理过的铜网上进行观察。图为超薄切片的制备
显微镜原理对比图
应用举例
1.元素分布分析 利用微束技术对在光学显微镜下所选区域进行扫描分析,可 获得元素的分布图(线分布、面分布、深度分布和断层), 来比较研究元素的区域(或相)分布特征。这类分析称为元 素分布分析。
合金元素在γ和γ’中的分布
应用举例
2.微观形貌观察
镍基高温合金蠕变后的位错形貌
应用举例
JEM2010-透射电子显微镜
原理
透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况:
1.吸收像:当电子射到质量、密密度大的样品时,主要的成相作用是散射作用。样品 上质量厚度大的地方对电子的散射角大,通过的电子较少,像的亮度较暗。早期的透 射电子显微镜都是基于这种原理 2.衍射像:电子束被样品衍射后,样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体 各部分不同的衍射能力,当出现晶体缺陷时,缺陷部分的衍射能力与完整区域不同, 从而使衍射钵的振幅分布不均匀,反映出晶体缺陷的分布。 3.相位像:当样品薄至100A以下时,电子可以穿过样品,波的振幅变化可以忽略, 成像来自于相位的变化。
TEM组件
电子枪:发射电子,由阴极、栅极、阳极
组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔 形成射线束,经阳极电压加速后射向聚光镜, 起到对电子束加速、加压的作用。 聚光镜:将电子束聚集,可用于控制照明强 度和孔径角。 样品室:放置待观察的样品,并装有倾转 台,用以改变试样的角度,还有装配加热、 冷却等设备。 物镜:为放大率很高的短距透镜,作用是 放大电子像。物镜是决定透射电子显微镜分 辨能力和成像质量的关键。 中间镜:为可变倍的弱透镜,作用是对电 子像进行二次放大。通过调节中间镜的电流, 可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。 透射镜:为高倍的强透镜,用来放大中间 像后在荧光屏上成像。 此外还有二级真空 泵来对样品室抽真空、照相装置用以记录影 像
透射电镜
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2、成像系统
成像系统是电镜获得高分辨 率高放大倍数的核心组件 组成 三组电磁透镜(物镜、中间镜和 投影镜) 两个金属光阑(物镜光阑和选区 光阑) 消像散器
对于所形成的三级放大像 (如图),放大倍数为: M=MoMIMp
(1)物镜
是用来形成第一幅高分辨率电 子显微图像或电子衍射花样的 透镜 透射电子显微镜分辨本领的高 低主要取决于物镜。只有被物 镜分辨出来的结构细节,通过 中间镜和投影镜的放大,才能 被肉眼看清。 物镜是一个强激磁,短焦距的 透镜。它的放大倍数很高,一 般为100-300倍。目前高质量 的物镜分辨率可达0.1nm左右 物镜的分辨率主要取决于极靴 的形状和加工精度。
控制系统
四、主要部件的结构
1、样品台
位置:透射电镜的样品是放
置在物镜的上、下极靴之间。
作用:装载试样
由于这里的空间很小,所以 透射电镜的样品也很小,通 常是直径2~3mm、厚度约为 200纳米的薄片,通常用外径 3mm的样品铜网支持,网孔或 方或园,约0.075mm。
2 、电子束倾斜与平移装置
(2)聚光镜
放大倍数为几十万倍的高分辨率电子显微镜要求样品 被照明的范围很小,因此把电子枪提供的光斑直径进 一步会聚缩小,以便得到一束强度高,直径小,相干 性好的电子束。高性能电子显微镜一般采用双聚光镜 系统。 作用: ①会聚经加速管加速的电子束,以最小的损失照射样品; ②调节照明强度、孔径角和束斑大小。
(2)中间镜
改变中间镜的电流,如果把 中间镜的物平面和物镜的像 平面重合,电镜处于成像模 式,在荧光屏上得到试样的 形貌像。这就是电镜中的高 倍放大操作,如图(a)。
如果把中间镜的物平面和物 镜的后焦面重合,电镜处于 衍射模式,在荧光屏上得到 一幅电子衍射花样,这就是 电镜中的电子衍射操作,如 图(b)。
4.2 透射电镜(TEM)

二、放大倍数
透射电镜的放大倍数是指电子图象对于所 透射电镜的放大倍数是指电子图象对于所 观察试样区的线性放大率。目前高性能透射电 观察试样区的线性放大率。目前高性能透射电 镜的放大倍数变化范围为100倍到80万倍。 镜的放大倍数变化范围为100倍到80万倍。 人眼睛的最小分辨率是0.2mm,若将 人眼睛的最小分辨率是0.2mm,若将 0.1nm放大到0.2mm,需要放大到200万倍。 0.1nm放大到0.2mm,需要放大到200万倍。 通过立体显微镜及照相底片的光学放大 可进一步放大图像。
透镜电镜和普通光学显微镜的光路是相似的
光学显微镜与透射电镜的比较
比较部分 光源 透镜 放大成象系统 样品 介质 像的观察 分辨本领 有效放大倍数 聚焦方法 光学显微镜 可见光(日光 电灯光) 日光、 可见光 日光、电灯光 光学透镜 光学透镜系统 1mm厚的载玻片 厚的载玻片 空气和玻璃 直接用眼 200nm 103× 移动透镜 透射电镜 电子源(电子枪 电子枪) 电子源 电子枪 磁透镜 电子光学透镜系统 约10nm厚的薄膜 厚的薄膜 高度真空 利用荧光屏 0.2~0.3nm 106× 改变线圈电流或电压
工作原理: 工作原理:
电子枪产生的电子束经1-2级聚光镜汇聚后均匀照射到 电子枪产生的电子束经1 试样上的某一待观察微小区域内,由于试样很薄, 试样上的某一待观察微小区域内,由于试样很薄,绝大多数 电子穿透试样,其强度分布与所观察试样区的形貌、组织、 电子穿透试样,其强度分布与所观察试样区的形貌、组织、 结构一一对应。透射出的电子经放大后投射于荧光屏上, 结构一一对应。透射出的电子经放大后投射于荧光屏上,显 示出与试样形貌、组织、结构相对应的图像。 示出与试样形貌、组织、结构相对应的图像。
4.2.3 透射电镜的主要性能指标
透射电镜的原理
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透射电镜的原理透射电镜(Transmission Electron Microscope, TEM)是一种利用电子束来观察样品内部微观结构的高分辨率显微镜。
它的原理是利用电子的波粒二象性,通过透射样品并对透射电子进行成像,从而获得样品内部的高分辨率图像。
透射电镜的原理主要包括电子发射、电子透射、成像和检测四个主要步骤。
首先是电子发射。
透射电镜使用的电子源通常是热阴极,通过加热阴极,使其发射出高速电子。
这些电子经过加速和聚焦后形成电子束,用于透射样品。
其次是电子透射。
电子束穿过样品时,会与样品中的原子核和电子发生相互作用,产生散射和吸收。
透射电子束的强度和方向会受到样品内部结构的影响,因此可以通过测量透射电子的强度和方向来获取样品的内部结构信息。
然后是成像。
透射电镜使用电磁透镜来对透射电子进行成像。
透射电子束通过样品后,会被透镜聚焦成一个细小的电子束,然后投射到感光底片或电子传感器上,形成样品的高分辨率图像。
最后是检测。
透射电镜的成像系统会将透射电子束转换成可见的图像,通过调节透镜和检测器的参数,可以获得不同对比度和分辨率的图像。
透射电镜的原理虽然简单,但是在实际操作中需要考虑许多因素,比如样品的制备、透射电子的能量、透镜的性能等。
同时,透射电镜的应用也非常广泛,可以用于生物学、材料科学、纳米技术等领域的研究。
总的来说,透射电镜的原理是利用电子的波粒二象性,通过透射样品并对透射电子进行成像,从而获得样品内部的高分辨率图像。
它的应用范围广泛,对于研究微观结构和纳米材料具有重要意义。
希望本文能够对透射电镜的原理有一个简要的了解。
透射电镜实验报告
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透射电镜实验报告透射电镜是一种能够观察样品内部结构的高级显微镜,它利用电子束的透射来形成样品的显微图像。
透射电镜实验是现代生物学、材料科学和纳米技术等领域中常用的实验手段,可以帮助研究人员观察和分析样品的微观结构。
本实验旨在通过透射电镜对样品进行观察,了解透射电镜的工作原理和操作方法,以及掌握透射电镜实验的基本技能。
实验步骤:1. 样品制备,首先,我们需要准备样品。
样品制备的关键是要将样品切割成极薄的切片,以便电子束能够透射样品并形成清晰的显微图像。
2. 透射电镜的准备,接下来,我们需要对透射电镜进行准备。
首先打开透射电镜的主电源,等待其预热。
然后安装样品架,并调整透射电镜的对焦和放大倍数,以确保能够获得清晰的显微图像。
3. 样品观察,将制备好的样品放置到透射电镜的样品架上,调整透射电镜的参数,如加速电压和聚焦,然后通过电子束对样品进行观察。
观察过程中需要注意调整对比度和亮度,以获得清晰的显微图像。
4. 数据分析,观察完样品后,我们需要对获得的显微图像进行分析。
通过观察样品的微观结构,我们可以了解样品的成分、晶体结构、表面形貌等信息,并对样品进行进一步的研究和分析。
实验结果:通过透射电镜观察,我们成功获得了样品的显微图像,并对样品的微观结构进行了初步分析。
我们观察到样品中的颗粒分布情况,以及颗粒的形状和大小。
通过对比不同样品的显微图像,我们还可以比较不同样品之间的微观结构差异,为进一步研究提供了重要参考。
实验总结:透射电镜实验是一项重要的实验手段,可以帮助研究人员观察和分析样品的微观结构。
通过本次实验,我们掌握了透射电镜的操作方法和样品制备技巧,并成功获得了样品的显微图像。
透射电镜实验为我们提供了一种全新的观察样品的方式,为我们的研究工作提供了重要的帮助。
透射电镜实验报告到此结束。
透射电镜
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1、负载型金属纳米粒子的 HRTEM表征 负载型金属催化剂的金属纳米粒子的尺寸、形状与催化剂 的活性密切相关, 通过 HRTEM研究上述信息具有重要意义。 在 HRTEM下,金属粒子的衬度受载体的制约,在由轻元素构 成的载体中,金属纳米粒子的分辨性又与粒子的原子序、 尺寸与载体厚度相关。通常情况下,金属越重 , 载体越薄, 则图像的衬度越高,可分辨性就越强。图中 PT的纳米簇, 甚至单原子PT均能清晰可辨
应
用
透射电子显微镜及相关技术在多相催化研 究中的应用
杨卫亚 , 沈智奇 , 王丽华 , 郭长友 , 季洪海 , 凌凤香 , 王丽 君 (中国石油化工股份有限公司 抚顺石油化工研究院, 辽宁 抚 顺 113001)
摘 要:工业多相催化剂是极其复杂的物理化学体系。 长期 以来, 工业催化剂的制备很大程度上依赖于经验和技艺, 而 难以从原子分子水平的科学原理方面给出令人信服的形成机 制。 为开发更高活性、 选择性和稳定性的新型工业催化剂, 通过各种表征技术对催化剂制备中的过程产物及最终产品进 行表征是一个关键性的基础工作。 在当前各种现代表征手段 中, 透射电子显微镜尤其是高分辨透射电子显微镜, 可以在 材料的纳米、微米区域进行物相的形貌观察、 成分测定和结 构分析, 可以提供与多相催化的本质有关的大量信息, 指导 新型工业催化剂的开发。 该文讨论了运用透射电子显微镜获 取催化剂中纳米结构信息的方法, 并综述了运用透射电子显 微镜表征多相催化剂方面的一些成果。
TEM成像原理
透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况: • 吸收像:当电子射到质量、密度大的样品时,主要的成相 作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射 角大,通过的电子较少,像的亮度较暗。早期的透射电子 显微镜都是基于这种原理。 • 衍射像:电子束被样品衍射后,样品不同位置的衍射波振 幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力,当出现 晶体缺陷时,缺陷部分的衍射能力与完整区域不同,从而 使衍射波的振幅分布不均匀,反映出晶体缺陷的分布。 • 相位像:当样品薄至100Å以下时,电子可以穿过样品,波 的振幅变化可以忽略,成像来自于相位的变化。
电镜的基本原理(1)透射电镜
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在台湾只要往有山的道路上走一走,就随处都可看到「农 舍」变「精舍」,山坡地变灵塔,无非也是为了等到死后,
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透射电子显微镜的样品处理
样品的一般制备方法 1、粉末样品可将其分散在支持膜上进行观察。
2、直接制成厚度在100-200nn之间的薄膜样品,观 察其形貌及结晶性质。一般有真空蒸发法、溶 液凝固(结晶)法、离子轰击减薄法、超薄切片 法、金届薄片制备法。
3、采用复型技术,即制作表面显微组织浮雕的复形
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•
光学显微镜的分辨率为光波波长的一半(约为2000Å),
眼睛的分辨率为0.2mm,因此光学显微镜最大放大倍数为
1000倍, 超过这个数值并不能得到更多的信息,而仅仅是
将一个模糊的斑点再放大而已.多余的放大倍数称为空放
大。
• 为了看清楚原子.电镜必须有优于2.5 Å的原子尺寸的 分辨率和50万~100万倍的放大倍数,否则就不能在底片 上记录下原子的存在。目前200kV电镜的技术水平已达到 放大倍数100万倍,点分辨率1.9 Å,晶格分辨率1.4 Å.目 前最高水平仪器的品格分辨率可达0.5 .基本可以在底 片上记录下原于的存在,清晰地反映原子在空间的排列.
个原于的显微镜,并且还能进行纳米尺度的晶
体结构及化学组成分析,成为全面评价固体微 观结构的综合性仪器.
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电子显微镜利用电磁透镜使电子束聚焦成 像,具有极高的放大倍数和分辨率,可以洞察 物质在原子层次的微观结构.但是高聚物和生 物大的结构本身又容易在 电子束的照射下产生损伤,因此像的反差及清 晰度不高。英国医学研究委员会分子生物实验 室的A Klug博士,把衍射原理与电子显微学巧 妙地结合在一起,发展了一整套图像处理方法, 把生物标本的电子显微像的分辨率提高到可以 观察生物分子内部结构的水平.并用它研究了 核酸—蛋白质构成的染色体的结构,对细胞分 化和癌症起因的探讨起到了重要作用,因而获 得了1982年诺贝尔化学奖.这也为从分子水平 上阐明高聚物的结构和弄清高聚物结构与性能 的关系开辟了新的前景。
简述透射电镜的工作原理
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简述透射电镜的工作原理
透射电镜,或称透射电子显微镜,是一种高分辨率、高放大倍数的电子显微镜。
它利用电子枪发射的电子束穿透样品,通过电磁透镜聚焦和放大,最后投射到荧光屏幕上,形成样品的放大图像。
以下是透射电镜的工作原理简述:
1. 电子源:透射电镜的核心部分是电子枪,它由阴极(通常是一个金属丝或针尖)和阳极组成。
阴极在热或强电场的作用下发射出电子,这些电子在阳极的加速下形成高速电子束。
2. 聚光镜:电子束离开电子枪后,通过聚光镜进一步缩小直径,并通过电磁透镜聚焦到样品上。
聚光镜的作用是将电子束缩小并集中,以获得更高的成像分辨率。
3. 样品:被观察的样品放置在透镜的样品台上,通常需要进行薄化处理以允许电子穿过。
样品可以是固体、液体或气体,但需要满足一定的厚度和透明度要求。
4. 信息传递:当电子束穿透样品时,与样品的原子相互作用,产生散射和衍射。
这些散射和衍射的电子携带了有关样品内部结构的信息。
透射电镜通过电磁透镜对这些电子进行收集和放大,形成样品的放大图像。
5. 成像:经过电磁透镜的放大和会聚,携带样品信息的电子束最后投射到荧光屏幕上,形成样品的放大图像。
这一步将电子信号转化为可见光信号,方便观察和记录。
总的来说,透射电镜通过利用高速电子束穿透样品并利用电磁透镜进
行放大和会聚,实现了高分辨率和高放大倍数的样品成像。
这种成像方式对于研究微观结构和材料特性具有重要意义。
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3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 直接样品的制备
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 直接样品的制备
2.薄膜样品的制备 块状材料是通过减薄的方法(需要先进行机械或化学 方法的预减薄)制备成对电子束透明的薄膜样品。减薄的 方法有超薄切片、电解抛光、化学抛光和离子轰击等. 适用于 生物试 样 适用于金 属材料 适用于在化学试剂 中能均匀减薄的材 料,如半导体、单 晶体、氧化物等。 无机非金属材料大 多数为多相、多组 分的的非导电材料, 上述方法均不适用。 60年代初产生了离 子轰击减薄装臵后, 才使无机非金属材 料的薄膜制备成为 可能。
3.2 透射电镜主要性能指标
(1)分辨率 是透射电镜的最主要的性能指标,它反应了电镜显示 亚显微组织、结构细节的能力。用两种指标表示: 点分辨率:表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离。 线分辨率:表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。 (2) 放大倍数 是指电子图象对于所观察试样区的线性放大率。 (3)加速电压 是指电子枪的阳极相对于阴极的电压,它决定了电 子枪发射的电子的能量和波长。
3.4 电子衍射
3.4.4 电子衍射方法
(1) 选区电子衍射 透射电镜中通常采用选区电 子衍射,就是选择特定像区的各 级衍射束成谱。 选区是通过臵于物镜像平面 的专用选区光阑(或称视场光阑) 来进行的。在图2-50所示的选区 光阑孔情况下,只有试样AB区的 各级衍射束能通过选区光阑最终 在荧光屏上成谱,而AB区外的各 级衍射束均被选区光阑挡住而不 能参与成谱。 因此所得到的衍射谱仅与试样AB区相对应。通过改 变选区光阑孔大小,可以改变选区大小,使衍射谱与所 造试样像区一一对应。
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 间接样品的制备
碳一级复型是通过 真空蒸发碳,在试样表 面沉淀形成连续碳膜而 制成的。
塑料—碳二级复 型是无机非金属材料 形貌与断口观察中最 常用的一种制样方法
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 间接样品的制备
2、萃取复型 萃取复型既复制了试样表面的形貌,同时又把 第二相粒子粘附下来并基本上保持原来的分布状态。 通过它不仅可观察基体的形貌,直接观察第二相的 形态和分布状态,还可通过电子衍射来确定其物相。 因此,萃取复型兼有复型试样与薄膜试样的优点。
可通过以一定的角度在复型膜上蒸镀一层密度大的 金属,增加试样形貌不同部位的密度差,则能大大改善 图象的衬度,使图象层次丰富,立体感强。这种方法称 为重金属投影技术。如图:
3.4 电子衍射
早在1927年,戴维森(Davisson)和革末(Germer) 就已用电子衍射实验证实了电子的波动性,但电子衍射 的发展速度远远落后于X射线衍射。 直到50年代,才随着电子显微镜的发展,把成像和 衍射有机地联系起来后,为物相分析和晶体结构分析研 究开拓了新的途径。 许多材料和粘土矿物中的晶粒只有几十微米大小, 有时甚至小到几百纳米,不能用X射线进行单个晶体的 衍射,但却可以用电子显微镜在放大几万倍的情况下, 用选区电子衍射和微束电子衍射来确定其物相或研究这 些微晶的晶体结构。 另一方面,薄膜器件和薄晶体透射电子显微术的发 展显著地扩大了电子衍射的研究和范围,并促进了衍射 理论的进一步发展。
3.4.1电子衍射基本公式
3.4 电子Байду номын сангаас射
3.4.1电子衍射基本公式
R Ltg2 由于电子波长很短,电 子衍射的2很小,所以 tg sin 2 2 sin 2 代入布拉格公式 d sin ,得: 2 Rd Lλ 这就是电子衍射基本公 式。 L为衍射相机长度,当加 速电压一定时, 值确定, λ L和λ的乘积为一常数: K Lλ
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 直接样品的制备
1、粉末样品制备 分散:用超声波分散器将需要观察的粉末在溶 液(不与粉末发生作用的)中分散成悬浮液。
镀膜:用滴管滴几滴在覆盖有碳加强火棉胶支 持膜的电镜铜网上。待其干燥(或用滤纸吸干)后, 再蒸上一层碳膜,即成为电镜观察用的粉末样品。 检查:如需检查粉末在支持膜上的分散情况,可 用光学显微镜进行观察。也可把载有粉末的铜网再 作一次投影操作,以增加图像的立体感,并可根据 投影“影子”的特征来分析粉末颗粒的立体形状。
3.4 电子衍射
3.4.4 电子衍射方法
(2)微束电子衍射 微束电子衍射是利用 经聚光镜系统会聚的、很 细的电子束对试样进行衍 射。微束电子衍射的电子 束直径最小可达50nm,因 而不需要使用选区光阑就 能得到微区电子衍射,也 不会产生衍射与选区不相 对应的情况。微束电子衍 射的光路原理如图2-51b。
3.3 透射电镜样品制备方法
应用透射电镜对材料的组织、结构进行深入研究,需 具备以下两个前提: 制备适合TEM观察的试样,厚度100-200nm,甚至 更薄; 建立阐明各种电子图象的衬度理论。
对于材料研究用的TEM试样大致有三种类型: 经悬浮分散的超细粉末颗粒。 用一定方法减薄的材料薄膜。 用复型方法将材料表面或断口形貌复制下来的复 型膜。
3.4 透射电子显微镜
3.4.5电子衍射
电子衍射几何学与X射线衍射完全一样,都遵循 劳厄方程或布喇格方程所规定的衍射条件和几何关系。 电子衍射与X射线衍射的主要区别在于电子波的 波长短受物质的散射强(原子对电子的散射能力比X 射线高一万倍)。 电子波长短,决定了电子衍射的几何特点,它使 单晶的电子衍射谱和晶体倒易点阵的二维截面完全相 似,从而使晶体几何关系的研究变得简单多了。 散射强,决定了电子衍射的光学特点:第一,衍 射束强度有时几乎与透射束相当;第二,由于散射强 度高,导致电子穿透能力有限,因而比较适用于研究 微晶、表面和薄膜晶体。
第三章 透射电子显微镜
3.1 透射电镜工作原理及结构
3.1.1 透射电镜工作原理
3.1 透射电镜工作原理及结构
3.1.2 透射电镜结构
1、透射电镜的结构 透射电镜主要由光学成像系统、真空系统和 电气系统三部分组成。 (1)光学成像系统: 照明、成像放大系统、图像观察记录系统 是产生具有一定能量、足 够亮度和适当小孔径角的 稳定电子束的装臵,包括: 电子枪、 聚光镜
3.1 透射电镜工作原理及结构
3.1.2 透射电镜结构
3.1 透射电镜工作原理及结构
3.1.2 透射电镜结构
(2)真空系统 电子显微镜镜筒必须具有高真空,这是因为: –若镜筒中存在气体,会产生气体电离和放电现象; –电子枪灯丝被氧化而烧断; –高速电子与气体分子碰撞而散射,降低成像衬度及 污染样品。 电子显微镜的真空度要求在10-4-10-6 Torr。 (3)电气系统 主要有灯丝电源和高压电源,使电子枪产生稳 定的高照明电子束;各个磁透镜的稳压稳流电源; 电气控制电路。
其减薄原理是:在高真空中,两个相对的冷阴极离 子枪,提供高能量的氩离子流,以一定角度对旋转的样 品的两面进行轰击。当轰击能量大于样品材料表层原子 的结合能时,样品表层原子受到氩离子击发而溅射、经 较长时间的连续轰击、溅射,最终样品中心部分穿孔。 穿孔后的样品在孔的边缘处极薄,对电子束是透明的, 就成为薄膜样品。
3.3 透射电镜样品制备方法
3..3.1 间接样品的制备
在一般复型中,有时为了暴露第二相的形貌需 选用适当的侵蚀剂溶去部分基体,使第二相粒子凸 出,形成浮雕,但并不希望在复型过程中把材料本 身的碎屑粘附下来,因为这些碎屑的密度和厚度比 之碳膜要大得多,在图像中形成黑色斑块,影响形 貌观察和图像质量,因此要适当控制侵蚀程度。
3.4 电子衍射
3.4.1电子衍射基本公式
1.电子衍射基本公式和相机常 数
右图为电子衍射的几何关 系图,当电子束I0照射到试样 晶面间距为d的晶面组(hkl), 在满足布拉格条件时,将产生 衍射。
透射束和衍射束在相机底 版相交得到透射斑点Q和衍射斑 点P,它们的距离为R。由图可 知:
3.4 电子衍射
3.4 电子衍射
3.4.4 电子衍射方法
(5)会聚束电子衍射 是近十年来发展起来的一种电子衍射,它可以给 出有关晶体结构的三维信息。会聚束经试样衍射后成 透射束的明场圆盘和衍射束的暗场圆盘,这些衍射盘 中的强度分布细节及其对称性给出晶体结构的三维信 息。可用于晶体对称性的测定,微区点阵参数的精确 测定等。原理见图2-51e,右图为Si(111)的会聚束 电子衍射图。
3.4 电子衍射
3.4.4 电子衍射方法
(3)高分辨电子衍射
r r 电子衍射的分辨率定义为: L R
r为衍射斑点半径,R为衍射斑到透射斑的距离。r 对L或R比值越小,分辨率越高。但在选区衍射时,物 镜后焦平面的第一级衍射谱的分辨率为r′/f0与荧光 屏上得到的分辨率相同。因f0很小所以分辨率不高。 若按图2-51c所示进行衍射,则大大提高了分辨率。 (4)高分散性电子衍射(小角度电子衍射) 高分散性电子衍射的目的是拉开衍射斑点和透射 斑的距离,以便于分辨和分析。原理如图2-51d。
3.4 电子衍射
3.4.2 单晶电子衍射谱
3.4 电子衍射
3.4.3 多晶电子衍射谱
3.多晶电子衍射谱 多晶电子衍射谱的几何特征和粉末法的X射线衍射 谱非常相似,由一系列不同半径的同心圆环所组成。
3.4 电子衍射
3.4.3 多晶电子衍射谱
产生这种环形花样的原因是:多晶试样是许多取 向不同的细小晶粒的集合体,在入射电子束照射下, 对每一颗小晶体来说,当其面间距为d的{hkl}晶面簇 的晶面组符合衍射条件时,将产生衍射束,并在荧光 屏或照相底板上得到相应的衍射斑点。 当有许多取向不同的小晶粒,其{hkl}晶面簇的 晶面组符合衍射条件时,则形成以入射束为轴,2θ 为半角的衍射束构成的圆锥面,它与荧光屏或照相底 板的交线,就是半径为R= Lλ/d的圆环。 因此,多晶衍射谱的环形花样实际上是许多取向 不同的小单晶的衍射的叠加。d值不同的{hkl}晶面 簇,将产生不同的圆环、从而形成由不同半径同心圆 环构成的多晶电子衍射谱。