非常有用的固体物理实验方法课第4章_透射电子显微镜

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《透射电子显微镜》课件

《透射电子显微镜》课件
光阑
限制照明区域,减小成像的视场,提高成像的分辨率 。
光路调节器
调节光路中的光束方向和大小,确保光束正确投射到 样品上。
成像系统
Hale Waihona Puke 物镜将样品上的图像第一次放 大并投影到中间镜上。
中间镜
将物镜放大的图像进一步 放大并投影到投影镜上。
投影镜
将中间镜放大的图像最终 放大并投影到荧光屏或成
像设备上。
真空系统
谢谢您的聆听
THANKS
透射电子显微镜技术不断改进,分辨率和放大倍数得到显著提 高。
透射电子显微镜技术不断创新,出现了许多新型的透射电子显 微镜,如高分辨透射电子显微镜、冷冻透射电子显微镜等。
透射电子显微镜的应用领域
生物学
观察细胞、蛋白质、核酸等生物大分子的 结构和功能。
医学
研究病毒、细菌、癌症等疾病的发生、发 展和治疗。
真空泵
01
通过抽气作用维持透射电子显微镜内部的高真空状态。
真空阀门
02
控制真空泵的工作时间和进气流量,以保持透射电子显微镜内
部真空度的稳定。
真空检测器
03
监测透射电子显微镜内部的真空度,当真空度不足时提醒操作
人员进行处理。
03
透射电子显微镜的操作与维护
透射电子显微镜的操作步骤
打开电源
确保实验室电源稳定,打开透射电子显微镜 的电源开关。
记录
对透射电子显微镜的使用和维护情况进行 记录,方便日后追踪和管理。
04
透射电子显微镜的样品制备技术
金属样品的制备技术
电解抛光
通过电解抛光液对金属样品进行抛光 ,去除表面杂质和氧化层,使样品表 面光滑、平整。
离子减薄

透射电子显微镜的实验技巧与使用方法

透射电子显微镜的实验技巧与使用方法

透射电子显微镜的实验技巧与使用方法透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)作为一种重要的材料科学与纳米科学研究工具,广泛应用于物质的微观结构分析。

然而,使用TEM进行观察和分析需要一些实验技巧和操作方法,以确保获得高质量的显微图像和可靠的实验结果。

本文将介绍透射电子显微镜的实验技巧和使用方法,以帮助读者更好地掌握这一强大工具。

第一部分:样品制备在进行TEM观察前,样品制备是至关重要的一步。

以下是一些常用的样品制备技巧:1. 薄片制备:将待观察的材料制备成足够薄的薄片,常用的方法有机械切割、离子蚀刻和离心旋涂等。

制备薄片时需注意避免产生裂纹和杂质。

2. 薄片转移到网格:将薄片转移到透射电子显微镜网格上,通常使用细钳和转移介质(如水和乙醇)进行操作。

转移过程需要小心以避免薄片折叠或粘附杂质。

第二部分:透射电子显微镜操作1. 启动与预热:在开始使用TEM之前,需要对其进行启动和预热。

启动过程包括电源接通、真空泵抽取空气以及透射电子显微镜主机预热。

预热时间可根据设备型号和要求进行设定。

2. 对准和聚焦:必须对TEM进行准确的样品对准和聚焦。

首先,通过观察屏幕上的光学显微镜图像,调整样品位置,使其准确对应TEM光学通道。

然后,通过微调操纵仪或操作面板上的聚焦控制旋钮对样品进行聚焦。

3. 选择倍率和放大:根据需要选择适当的倍率和放大倍数。

通常,低倍率可以提供较大的视野和全局信息,高倍率则可以提供更高分辨率和详细信息。

倍率过高可能导致图像模糊,倍率过低则可能丧失微观细节。

4. 稳定电流和时间控制:在TEM操作过程中,保持稳定的电流和时间控制至关重要。

电流的稳定性直接影响到图像质量和分辨率。

合理选择电流和控制时间以避免样品损伤。

第三部分:图像采集和分析1. 图像采集:在获得良好对准和聚焦的样品后,可以开始进行图像采集。

根据需求选择适当的图像模式,如亮场、暗场、选区电子衍射等。

物理实验中透射电子显微镜的使用指南

物理实验中透射电子显微镜的使用指南

物理实验中透射电子显微镜的使用指南透射电子显微镜(Transmission Electron Microscopy,简称TEM)是现代物理实验中一种非常重要的工具,它能够提供高分辨率的观测和分析样品的微观结构和成分。

本文将为您介绍透射电子显微镜的使用指南。

一、透射电子显微镜的原理与构造透射电子显微镜利用电子束通过样品并形成细致的图像,它的原理是基于电子的波粒二象性以及电子与样品相互作用的特性。

透射电子显微镜通常由电子源、透镜系统、样品台和显像系统等组成。

电子源是透射电子显微镜的核心部件,常用的电子源包括热阴极和场发射阴极。

透镜系统负责控制和聚焦电子束,它由透镜、磁透镜和计数器等组成。

样品台用于固定和转动样品,使得电子束可以满足不同角度的入射条件。

显像系统则负责收集电子束通过样品后的信息,并将其转化成可见图像。

二、透射电子显微镜的样品制备透射电子显微镜对样品制备要求极高,首先需要将样品制备成薄片,以保证电子束能够穿透样品并形成可观测的图像。

常用的样品制备方法有机械切割、电子束刻蚀和离子薄化等。

在样品制备过程中,还需要注意避免样品表面的污染和氧化。

在制备过程中,可以采用真空环境、惰性气体保护或氮气氛等方法来防止样品受到污染。

同时,也要注意避免样品上的含水气泡,可以通过超声震荡或去离子水清洗等方法去除。

三、透射电子显微镜的操作指南在使用透射电子显微镜时,需要注意以下几点:1. 系统预热:在使用透射电子显微镜之前,需要进行系统预热以达到稳定的工作状态。

预热时间通常为数小时,具体时间取决于仪器和操作要求。

2. 加热和冷却样品:透射电子显微镜可以在不同温度下观察样品。

在进行加热或冷却样品之前,需要确保样品和样品台可以承受相应的温度,并根据需要选择正确的加热或冷却装置。

3. 对溶液样品的观察:如果需要观察溶液样品,可以将样品制备在薄碳膜或其他透明基底上,并在观察前进行干燥。

同时,还应注意避免样品在高真空下蒸发或结晶。

第四章 透射电子显微镜

第四章 透射电子显微镜

萃取复型
萃取复型: 既复制了试样表面的形貌 又把第二相粒子粘附下来并基本上保持原来的分 布状态 不仅可观察基体的形貌,直接观察第二相的形态 和分布状态 还可通过电子衍射来确定其物相
TEM的基本成像操作:
明场像和暗场像:用物镜光阑选用直射电子 形成的像叫明场像;选用散射电子形成的像 叫暗场像。
(2)放大倍数 透射电镜的放大倍数是指电子图象对于所观察试样区的 线性放大率。 最高放大倍数表示电镜的放大极限。实际工作中,一般 都是在低于最高放大倍数下观察,以得到清晰的图像。 高级TEM采用多级成像放大系统,最大放大倍数可达 80—100万倍
(3)加速电压 电镜的加速电压指电子枪的阳极相对于阴极的电压
(2)真空系统
电子显微镜镜筒必须具有很高的真空度
如果电子枪中存在气体,会使气体电离和放电; 炽热的阴极灯丝会受到氧化或腐蚀而烧断; 高速电子受到气体分子的随机散射而降低成象衬度 以及污染样品。
因此:为了保证在整个光路通道中电子只与试样 发生相互作用,而不与空气分子发生碰撞,因此, 整个电子通道从电子枪至照相底板盒都必须置于 真空系统之内,一般真空度为 10-4-10-7 Torr。
决定电子枪发射的电子的波长和能量。
加速电压高可观察较厚的试样。对材料研究工作选
200KV加速电压的TEM更合适。
二、透射电子显微分像
使用透射电镜观察材料的组织、结构,需具备以下两个 前提: 一是制备适合TEM观察的试样,厚度100-200nm, 甚至更薄;
对于材料研究用的TEM试样大致有三种类型: 经悬浮分散的超细粉末颗粒。 用一定方法减薄的材料薄膜。 用复型方法将材料表面或断口形貌复制下来的复型膜。
会聚/发散角为0
的交叉
热电子枪示意图

透射电子显微镜课件共69页文档

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39、勿问成功的秘诀为何,且尽全力做你应该做的事吧。——美华纳
Hale Waihona Puke 40、学而不思则罔,思而不学则殆。——孔子
谢谢!
36、自己的鞋子,自己知道紧在哪里。——西班牙
37、我们唯一不会改正的缺点是软弱。——拉罗什福科
xiexie! 38、我这个人走得很慢,但是我从不后退。——亚伯拉罕·林肯
透射电子显微镜课件
51、没有哪个社会可以制订一部永远 适用的 宪法, 甚至一 条永远 适用的 法律。 ——杰 斐逊 52、法律源于人的自卫本能。——英 格索尔
53、人们通常会发现,法律就是这样 一种的 网,触 犯法律 的人, 小的可 以穿网 而过, 大的可 以破网 而出, 只有中 等的才 会坠入 网中。 ——申 斯通 54、法律就是法律它是一座雄伟的大 夏,庇 护着我 们大家 ;它的 每一块 砖石都 垒在另 一块砖 石上。 ——高 尔斯华 绥 55、今天的法律未必明天仍是法律。 ——罗·伯顿

《透射电子显微镜》课件

《透射电子显微镜》课件
优点和缺点
透射电子显微镜的优点包括高分辨率、高对比度、高灵敏度、大深度和号称百万倍的放大倍 数。缺点则包括成本高,需要复杂的样品处理和分析技能。
主要部件
透射电子显微镜主要由以下几个部分组成。
电子源
在透射电子显微镜中使用的电子通常来自热丝或发 射枪。电子的产生必须在真空下进行,以避免与气 体分子相互作用。
透镜系统
透射电子显微镜的透镜系统主要包括透镜、压电陶 瓷和扫描线圈等。这些设备可在电子束内部转移和 聚焦电子以生成清晰的图像。
检测器
工作原理
透射电子显微镜将电子束传递到样品中。当电子束穿过样品时,它们与样品中的原子和分子发生相互作用,并 形成一张图像。
1
电子束的生成
通过电子源产生电子束。在常见的电子源
潜在应用
透射电子显微镜在材料科学、生物学和半导体和微 电子学以外,有许多潜在应用。例如,透射电子显 微镜可以用于分析能量存储、生物医学和太阳能等 领域。
结束语
透射电子显微镜是一种强大的工具,可用于分析微观结构、了解材料性质和研究新技术。希望这个PPT课件能 让更多的人了解透射电子显微镜,并鼓励更多的人来研究和应用这项技术。
电子束的准直和聚焦
2
中,通过加热钨丝等材料来产生电子。
使用透镜系统将电子束准直和聚焦,以使
电子束具有较小的纵向、径向直径和透射
度。
3
电子束与样品的相互作用
电子束穿过样品并与样品中的电子云相互
作用,同时使样品产生信号。这些信号被
信号的检测检测器收集并解析透射电子显微镜样品与 电子束相互作用所生成的信号。
应用
透射电子显微镜在各种不同的领域中都有广泛的应用,其中包括材料科学、生物学和半导体和微电子学。

材料物理学中的透射电子显微镜技术

材料物理学中的透射电子显微镜技术

材料物理学中的透射电子显微镜技术材料物理学是一门研究材料的基本物理性质及其应用的科学。

透射电子显微镜技术在材料物理学中扮演着非常重要的角色。

本文将简要介绍透射电子显微镜技术在材料物理学中的意义、应用及其发展前景。

透射电子显微镜是一种用于研究材料结构的高分辨率显微镜,它主要用于对固体材料的表面和内部结构进行观察和分析。

透射电子显微镜的工作原理是通过电子束对材料进行穿透,并通过样品中电子的散射来重建样品的结构和形貌。

透射电子显微镜技术在材料物理学中应用广泛。

它能够提供非常高的分辨率,从而可以观测到非常小的结构和纳米级别的材料。

透射电子显微镜技术被广泛应用于材料科学、纳米科学、电子学、固体物理学等领域,如表面形貌结构、原子层分辨率、晶体学结构分析等方面均有应用。

透射电子显微镜技术带来了许多新的材料物理学研究方向和问题。

例如, surface enhanced Raman spectroscopy (SERS) 和plasmon-induced optical fields 在纳米材料的应用和实现中的研究等。

此外,透射电子显微镜技术还可以用于超材料和曲率引导器等新材料的研究。

透射电子显微镜技术也有一些限制,其中之一是样品需要很薄,以便电子束可以穿过它。

这一限制使得材料科学家需要针对透射电子微镜的分析来进行制样,从而花费更多的时间和资源。

而且,透射电子显微镜还需要高度训练有素的技术操作人员和高级计算机资源。

因此,透射电子显微镜技术仍面临着一些技术上的挑战。

透射电子显微镜技术的未来发展前景很好。

随着技术和计算机软件的进步,将有更多的样品可以被透射电子显微镜分析,而且分析速度和质量也将得到显著提高。

透射电子显微镜技术也将进一步发展,例如,更好地整合与其他纳米科技技术,也将由此出现许多新的科研应用领域。

总之,透射电子显微镜在材料物理学中的应用具有重要的意义和研究价值。

它在揭示材料微观结构与性质关系方面表现出卓越的能力,为材料科学的发展做出了巨大的贡献。

物理实验中透射光电子显微镜的使用及技巧

物理实验中透射光电子显微镜的使用及技巧

物理实验中透射光电子显微镜的使用及技巧透射光电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)是一种采用电子束而非光束的显微镜,能够观察到原子级别的细节。

在物理领域,TEM被广泛应用于材料研究、纳米技术和生物学等领域。

本文将介绍TEM的使用和一些技巧。

首先,为了获得高质量的样品图像,准备好样品非常重要。

尽量避免样品表面的灰尘和杂质,使用无尘室或干燥柜进行样品制备。

此外,切片的技巧也非常重要。

切片应该尽量薄,一般在几十纳米到几百纳米的范围内。

太厚的样品会减弱电子的穿透能力,导致图像模糊。

其次,对于初学者来说,调节显微镜和定位样品可能会有些困难。

在使用TEM之前,应该仔细阅读相关的操作手册,并在专业人士的指导下进行实践。

通常,调节透射光电子显微镜需要耐心和时间,但一旦掌握了技巧,操作将变得更加容易。

值得注意的是,TEM对于样品的要求非常高。

因为电子穿透样品,所以样品必须足够透明。

一些具有高原子序数的材料(如金和铂)通常不适合通过TEM观察,因为电子束在这些材料中容易被吸收。

此外,含水样品也需要特殊处理,以避免水分的挥发和蒸发对样品的影响。

在观察中,TEM的对比度和分辨率也是需要考虑的重要因素。

对比度是指样品表面的亮度差异,而分辨率则是指两个相邻点之间的最小可分辨距离。

为了提高对比度,可以选择调整加速电压和物镜射界。

而为了提高分辨率,可以增加电子束的能量和减小光圈。

最后,对于TEM图像的分析和解释也需要一定的技巧。

通过观察样品图像中的细节和结构特征,可以对材料的晶体结构、成分和缺陷进行分析。

此外,利用特殊的技术,如电子衍射和能谱分析,可以进一步获得更多的信息。

综上所述,透射光电子显微镜是一种强大的工具,可以帮助研究人员观察到原子级别的细节。

然而,它的使用和技巧需要一定的经验和技术。

只有通过仔细的样品制备、准确的调节和合理的分析,才能发挥TEM的最大潜力,并在物理研究中取得突破。

透射电子显微镜课件

透射电子显微镜课件

还原到物平面
为象散引起的最大焦距差; 透镜磁场不对称,可能是由于极靴被污染,或极靴的机械不 对称性,或极靴材料各项磁导率差异引起。象散可由附加磁场的 电磁消象散器来校正。
透镜平面
平面B

光轴
P PA PB fA
平面A
图1-5(b)象散
3)色差
电子的能量不同,从而波长不一造成的,电子透镜的焦距随着电子 能量而改变,因此,能量不同的电子束将沿不同的轨迹运动。产生的 漫散圆斑还原到物平面,其半径为
CM200-FEG场发射枪电镜
加速电压20KV、40KV、80KV、 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率 1.4Å 点分辨率 2.4Å 最小电子束直径1nm 能量分辨率约1ev 倾转角度α=±20度 β=±25度
JEM-2010透射电镜
加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率 1.94Å
透射电镜---技术指标
包括 ●分辨本领(亦称分辨率) 表征电镜观察物质微观细节的能力,它是标志电镜水 平的首要指标。 ●放大率 ●加速电压 ●自动化程度及所具备的功能等。
点分辨率(点分辨本领):
定义:电子图像上刚能分 辨开的相邻两点在试样 上的距离。 测量方法: 在照片上量出两个斑点 中心之间的距离,除以 图像的放大倍数。 近代高分辨电镜的点分 辨率可达0.3 nm。
日本日立公司H-700 电子显微镜,配有双倾台 ,并带有7010扫描附件和 EDAX9100能谱。该仪器 不但适合于医学、化学、 微生物等方面的研究,由 于加速电压高,更适合于 金属材料、矿物及高分子 材料的观察与结构分析, 并能配合能谱进行微区成 份分析。
● ● ● ● ●
分 辨 率:0.34nm 加速电压:75KV-200KV 放大倍数:25万倍 能 谱 仪:EDAX-9100 扫描附件:S7010

物理实验技术中的透射电子显微镜使用方法

物理实验技术中的透射电子显微镜使用方法

物理实验技术中的透射电子显微镜使用方法透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)是一种强大的物理实验技术工具,广泛应用于物理、化学和材料科学等领域。

它能够以极高的分辨率观察样品的内部结构和原子级别的细节,为研究人员提供了无限可能。

一、透射电子显微镜的基本原理透射电子显微镜利用电子束取代了光束,通过样品的透射和散射来获取图像。

在透射过程中,电子束穿过样品,与样品内部原子的电子发生相互作用。

这些相互作用导致电子束的透射方向和能量发生变化,并形成透射电子图像。

二、透射电子显微镜的操作步骤1. 样品准备在使用透射电子显微镜进行观察之前,首先需要准备样品。

样品通常是严密精细制备的,以保证样品表面的平整度和粒子尺寸的均匀性。

2. 样品安装将样品安装在样品架上,并调整样品的位置和角度,确保样品位于电子束的路径上。

3. 调节透射电子显微镜参数根据样品的性质和实验目的,调节透射电子显微镜的参数。

这些参数包括加速电压、对消器和光圈的大小,以及衍射镜和物镜的对焦等。

4. 调节对焦使用透射电子显微镜的光学系统进行对焦。

通过调整物镜和衍射镜的位置,使得电子束的焦点能够准确地聚焦在样品上,以获得清晰的图像。

5. 选择适当的模式根据需要选择透射电子显微镜的模式。

常用的模式包括普通透射模式、选区电子衍射模式和扫描透射电子显微镜模式等。

6. 开始观察将电子束投射到样品上,开始观察。

通过调整透射电子显微镜的参数,可以获得不同深度和分辨率的图像。

三、透射电子显微镜的应用领域透射电子显微镜在科学研究和工程开发中具有广泛的应用价值。

它可以用于观察材料的微观结构,研究材料的物理、化学和力学性质,以及揭示材料中的缺陷和晶格结构等问题。

1. 材料科学透射电子显微镜可以观察材料的晶体结构和晶格缺陷,揭示材料的物理和化学性质。

它可以用于研究材料的力学性能、导电性能和磁性等特性,为材料科学家开发新材料提供重要的信息。

(整理)透射式电子显微镜实验

(整理)透射式电子显微镜实验

物理仿真实验报告项目名称:透射式电子显微镜实验院系名称:专业班级:姓名:学号:透射式电子显微镜实验一、实验目的在软件虚拟的环境中,了解对透射电子显微镜的基础操作流程;结合原理的介绍,了解它们的意义。

二、实验原理图1图1表示:透射电子显微镜由电子枪(照明源、接地阳极、光阑等)、双聚光镜、物镜、中间镜、投影镜等组成. 电子显微镜的热发射电子枪由高温的钨丝尖端发射电子,高级的场发射电子枪在高电场驱动下通过隧道效应发射电子. 场发射电子束的亮度显著提高,同时能量分散度(色差)显著减少,使电子束直径会聚到1nm以下仍有相当的束流.双聚光镜将电子枪发出的电子会聚到样品,经过样品后在下表面形成电子的物波,物波经过物镜、中间镜、投影镜在荧光屏或照相底片上形成放大象.图2为了获得更高的性能,目前生产的新型TEM的结构更为复杂(图2),如透镜有:聚光镜两个,会聚小透镜,物镜,物镜小透镜,三个中间镜,投影镜等. 这样的结构可以在很大围改变像的放大倍数,并被用来实现扫描透射成像(STEM,需要利用偏转线圈)、微衍射和微分析(加上X射线能谱仪).图3图3是透射电子显微镜阿贝成像原理光路图. 物波在物镜的焦平面上形成衍射图样,各个衍射波经过透镜汇聚成第一中间像。

改变中间镜、投影镜电流(即改变它们的焦距),将试样下表面的物波聚焦到荧光屏或底片上得到的是显微像(左). 当中间镜、投影镜改变焦距将焦平面的衍射图样聚焦到荧光屏或底片上得到的是衍射图样(右). 透射电子显微镜的一大优点是:可以同时提供试样的放大像和对应的衍射图样。

得到显微像后在第一中间象处放置选区光阑选出需要的局部图象,再次得到的衍射图样就是和选区(最小选区为几百nm)图像对应的电子衍射图样.图4图4(动画)分别演示显微象和衍射图样的形成过程.先用闪烁的红色箭头表示试样、第一中间象、第二中间象和显微象的形成过程.接着用闪烁的三个圆斑表示物镜焦平面上的衍射图样经过中间镜和投影镜形成衍射图样的过程.三、实验仪器透射电子显微镜主要部件电子枪电子枪有四种:热发射W电子枪,热发射LaB6电子枪,热场发射W (100)电子枪和冷场发射W(310)电子枪. 前两种利用高温下电子获得足够能量逸出灯丝,后两种利用高场下电子的隧道效应逸出灯丝,它们的性能及使用条件见下表.热发射LaB6灯丝比热发射W亮度高,束斑小,能量发散度小,使用温度低,但真空度需提高. 产品更先进的场发射电子枪性能更好,但真空度需更高,并且价格昂贵. 利用场发射枪,可以获得半高宽为0.5nm的电子束。

透射式电子显微镜实验

透射式电子显微镜实验

物理仿真实验报告项目名称:透射式电子显微镜实验院系名称:专业班级:姓名:学号:透射式电子显微镜实验一、实验目的在软件虚拟的环境中,了解对透射电子显微镜的基础操作流程;结合原理的介绍,了解它们的意义。

二、实验原理图1图1表示:透射电子显微镜由电子枪(照明源、接地阳极、光阑等)、双聚光镜、物镜、中间镜、投影镜等组成. 电子显微镜的热发射电子枪由高温的钨丝尖端发射电子,高级的场发射电子枪在高电场驱动下通过隧道效应发射电子. 场发射电子束的亮度显著提高,同时能量分散度(色差)显著减少,使电子束直径会聚到1nm以下仍有相当的束流.双聚光镜将电子枪发出的电子会聚到样品,经过样品后在下表面形成电子的物波,物波经过物镜、中间镜、投影镜在荧光屏或照相底片上形成放大象.图2为了获得更高的性能,目前生产的新型TEM的结构更为复杂(图2),如透镜有:聚光镜两个,会聚小透镜,物镜,物镜小透镜,三个中间镜,投影镜等. 这样的结构可以在很大范围内改变像的放大倍数,并被用来实现扫描透射成像(STEM,需要利用偏转线圈)、微衍射和微分析(加上X射线能谱仪).图3图3是透射电子显微镜阿贝成像原理光路图. 物波在物镜的焦平面上形成衍射图样,各个衍射波经过透镜汇聚成第一中间像。

改变中间镜、投影镜电流(即改变它们的焦距),将试样下表面的物波聚焦到荧光屏或底片上得到的是显微像(左). 当中间镜、投影镜改变焦距将焦平面的衍射图样聚焦到荧光屏或底片上得到的是衍射图样(右). 透射电子显微镜的一大优点是:可以同时提供试样的放大像和对应的衍射图样。

得到显微像后在第一中间象处放置选区光阑选出需要的局部图象,再次得到的衍射图样就是和选区(最小选区为几百nm)图像对应的电子衍射图样.图4图4(动画)分别演示显微象和衍射图样的形成过程.先用闪烁的红色箭头表示试样、第一中间象、第二中间象和显微象的形成过程.接着用闪烁的三个圆斑表示物镜焦平面上的衍射图样经过中间镜和投影镜形成衍射图样的过程.三、实验仪器透射电子显微镜主要部件电子枪电子枪有四种:热发射W电子枪,热发射LaB6电子枪,热场发射W (100)电子枪和冷场发射W(310)电子枪. 前两种利用高温下电子获得足够能量逸出灯丝,后两种利用高场下电子的隧道效应逸出灯丝,它们的性能及使用条件见下表.热发射LaB6灯丝比热发射W亮度高,束斑小,能量发散度小,使用温度低,但真空度需提高. 产品更先进的场发射电子枪性能更好,但真空度需更高,并且价格昂贵. 利用场发射枪,可以获得半高宽为0.5nm的电子束。

非常有用的固体物理实验方法课第4章_透射电子显微镜

非常有用的固体物理实验方法课第4章_透射电子显微镜

第4章透射电子显微镜同学们好!今天我们学习的内容是第4章透射电子显微镜,(transmission electron microscopy)简称TEM。

下图就是我们今天要介绍的仪器。

那么透射电子显微镜在什么情况下产生的?又有什么功能和作用呢?下面我们就简单介绍一下它的历史背景和其功能和作用。

在光学显微镜下有的细微结构也无法看清,这些结构称为亚显微结构或超微结构。

要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。

1932年Ruska等发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。

目前TEM的分辨力可达0.2nm。

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscopy,TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。

散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。

通常,透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,适于观察超微结构。

透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。

由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100nm。

所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。

那么我们总结以上内容可以给透射电子显微镜下一个简单的定义:用透过样品的电子束使其成像的电子显微镜。

在一个高真空系统中,由电子枪发射电子束,穿过被研究的样品,经电子透镜聚焦放大,在荧光屏上显示出高度放大的物像,还可作摄片记录的一类最常见的电子显微镜。

那么本章主要分为5个部分组成。

4.1 电子光学基础4.2 电子与固体物质的相互作用4.3 透射电子显微镜4.4 电子衍射4.5 透射电子显微分析样品制备下面我们就来讲第一节,4.1 电子光学基础。

固体物理实验方法Chapter 4 SEM

固体物理实验方法Chapter 4 SEM

其次,背散射电子数目也随倾斜角增大而增多,背散射
电子在取样深度范围内激发的二次电子数相应增多。
(3) SEM分辨率
4. 2 实验装置
扫描电子显微镜由电子枪、聚光镜、电子束偏转线圈和信号探测 系统组成。镜筒真空度约为10-3Pa,电子束经聚光镜、物镜聚焦 到厚试样表面,最小斑直径可达nm量级。
面掃描 (Area Scanning) 電子束掃描試片之XY區,同時CRT亦掃描XY的像,此種 一對一對應; 信號強弱則由CRT上點的明暗來顯示。
這種(SEM)影像和光學及穿透式電子顯微鏡像不同,並非 真正像,因真正像必須有真實的光途徑(ray path)連接至底 片,但對SEM而言,像的形成係由試片空間經一布驟轉換 到CRT空間而成。
试样倾角 (垂直入射时 =00)的影响很大。试样倾角愈大, 入射
电子在二次电子表取样深度范围内经过的路程愈长,在这段路程激
发出的二次电子数将增加到垂直入射时的 sec 倍。
(2)背散射电子
图3-2-1是蒙特卡 罗方法模拟的10 条电子的轨迹。 有2个电子经过 曲折的路程可以 折回表面并散射 出来成为背散射 电子。
(3)SEM 象
二次电子象给出试样 表面形貌的信息,二 次电子象的分辨率可 达几个nm,
金属断面的二次电子象。
背散射电子象给出表面成分以及形貌的信息。从白到黑能区 分平均原子序数差别为1的不同区域,分辨率好于100nm。
4.4 试样制备
SEM的试样在真空中观察,要求清除表面上的水、溶剂, 以及能在真空中浑发的材料。 SEM需要导电试样,金属试样能直接安装在试样台上。绝 缘体试样在电子束照射下电荷会积累起来,产生很高的局部 电场排斥入射电子,因此,绝缘体试样应事先镀金膜,使表 面能导电,样品表面不积累电荷。 镀金膜可用溅射方法。
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第4章透射电子显微镜同学们好!今天我们学习的内容是第4章透射电子显微镜,(transmission electron microscopy)简称TEM。

下图就是我们今天要介绍的仪器。

那么透射电子显微镜在什么情况下产生的?又有什么功能和作用呢?下面我们就简单介绍一下它的历史背景和其功能和作用。

在光学显微镜下有的细微结构也无法看清,这些结构称为亚显微结构或超微结构。

要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。

1932年Ruska等发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。

目前TEM的分辨力可达0.2nm。

透射电子显微镜(Transmission Electron Microscopy,TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。

散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。

通常,透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,适于观察超微结构。

透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。

由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量,必须制备更薄的超薄切片,通常为50~100nm。

所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。

那么我们总结以上内容可以给透射电子显微镜下一个简单的定义:用透过样品的电子束使其成像的电子显微镜。

在一个高真空系统中,由电子枪发射电子束,穿过被研究的样品,经电子透镜聚焦放大,在荧光屏上显示出高度放大的物像,还可作摄片记录的一类最常见的电子显微镜。

那么本章主要分为5个部分组成。

4.1 电子光学基础4.2 电子与固体物质的相互作用4.3 透射电子显微镜4.4 电子衍射4.5 透射电子显微分析样品制备下面我们就来讲第一节,4.1 电子光学基础。

本节内容有三部分组成4.1.1 电子波与电磁透镜4.1.2 电磁透镜的分辨率4.1.3 电磁透镜的景深和焦长那么我们再回顾一下以前所学的内容。

由于光的衍射,使得由物平面内的点s 1、s 2在象平面形成圆斑(Airy 斑)。

若s 1、s 2靠的太近,过分重叠,图像就模糊不清。

1. 光学显微镜的分辨率最小分辨距离计算公式:αλsin 61.0⋅=n dd ——最小分辨距离λ——波长n ——透镜周围的折射率α——透镜对物点张角的一半,αsin ⋅n 称为数值孔径,用 N.A 表示。

2. 电子波的波长特性比可见光波长更短的有:1)紫外线 —— 会被物体强烈的吸收; 2)X 射线 —— 无法使其会聚 ; 3)电子波根据德布罗意物质波的假设,即电子具有微粒性,也具有波动性。

电子波mvh=λh ——S J 1063.634⋅⨯-Plank 常数 ,m ——kg 101.931-⨯υ —— 电子速度显然,U 越大,λ越小,电子的速度与其加速电压有关。

即eU mv =221所以υ=,其中C 1060.119-⨯=e 则U150=λ埃 即若被150伏的电压加速的电子,波长为 1 埃。

若加速电压很高,就应进行相对论修正。

① 若电子速度较低,则其质量和静止质量相近,即m ≈ m 0则(nm)225.1)(25.121502A 00U U U Uem h ====λ② 若加速电压很高,使电子具有极高速度,则经过相对论修正,有λ=讨论:1. 提高加速电压,缩短电子波长,提高电镜分辨率。

2. 加速电压越高,对试样的穿透能力越大,可放宽对样品的减薄要求。

3. 如用更厚样品,更接近样品实际情况。

4. 电子波长与可见光相比,相差710-量级。

3. 电磁透镜能使电子束聚焦的装置称为电磁透镜。

电磁透镜分为静电透镜和磁透镜,磁透镜又分为恒磁透镜和电磁透镜。

电子可以凭借轴对称的非均匀电场、磁场的力,使其会聚或发散。

由静电场制成的透镜—— 静电透镜。

由磁场制成的透镜 —— 磁透镜。

磁透镜和静电透镜相比有如下的优点: 静电透镜1. 需改变很高的加速电压才可改变焦距和放大率;2. 静电透镜需数万伏电压,常会引起击穿;3. 象差较大。

磁透镜1. 改变线圈中的电流强度可很方便的控制焦距和放大率;2. 无击穿,供给磁透镜线圈的电压为60到100伏;3. 象差小。

1)磁透镜使电子会聚的原理电子在磁场中要受到磁场作用力:()F q B υ=⨯即sin()F e B B υυ=-⋅2)电磁透镜的结构电磁透镜实质是一个通电的短线圈,它能造成一种轴对称的分布磁场。

带有软磁铁壳的磁透镜导线外围的磁力线都在铁壳中通过,由于在铁壳内侧开一环状狭缝,从而可以减小磁场的广延度,使大量磁力线集中在狭缝附近的狭小区域,增强磁场强度。

其磁场的等磁位面的形状类似于光学透镜的形状。

带有极靴的磁透镜为了进一步缩小磁场的轴向宽度,在环状间隙两边加上一对顶端呈圆锥状的极靴,其目的就是将电磁线圈的磁场在轴向的广延度降低,可达到3mm 范围。

3)电磁透镜的光学性质电磁透镜物距、像距和焦距三者间的关系与光学玻璃透镜相似,满足vu f 111+=放大倍数fu fM -=,u - 物距;v - 像距;f - 焦距 电磁透镜的焦距2)(NI RU Af = A —与透镜结构有关的比例常数;R —透镜半径; 0U —电子加速电压。

电磁透镜具有磁转角, 因为电子束在电子透镜磁场中的运动是圆锥螺旋近轴运动。

4.1.2 电磁透镜的分辨率已知光学衍射确定的分辩率为:λαλ21sin 61.00≈=∆n r )75~70,5.1(︒==αn但实际电镜的分辨率远远达不到上述指标,因为电磁透镜存在着像差。

像差分为几何像差和色差,几何像差又分为象散和球差。

1. 球差(球面像差)电磁透镜近轴区域磁场和远轴区域磁场对电子束的折射能力不同而产生的。

原来的物点是一个几何点,由于球差的影响现在变成了半径为s r ∆的漫散圆斑。

341αs s C r =∆2. 像散像散由透镜磁场的非旋转对称引起的像差。

αA A f r ∆=∆这种非旋转对称磁场会使它在不同方向上的聚焦能力出现差别,结果使成像物点P 通过透镜后不能在像平面上聚焦成一点,形成一个最小散焦斑,这个最小散焦斑半径的大小可以表示成:αA A f M R ∆=最小散焦斑在原物平面的折算半径值可表示成:αA A f r ∆=其中A f ∆是由于象散而引起的焦距差。

透镜磁场不对称,可能是由于极靴被污染,或极靴的机械不对称性,或极靴材料各向磁导率差异引起(由制造精度引起)。

像散可通过引入一个强度和方向都可以调节的矫正电磁消像散器来矫正。

3. 色差色差是由于成像电子的能量不同或变化,从而在透镜磁场中运动轨迹不同以致不能聚焦在一点而形成的像差。

最小的散焦斑c R 。

同样将c R 折算到物平面上,得到半径为c r ∆的圆斑。

色差c r ∆由下式来确定:EEC r c c ∆⋅=∆α,c C —色差系数; E E ∆—电子束能量变化率,取决于加速电压的稳定性和电子穿过样品时发生非弹性散射的程度。

引起电子能量波动的原因有两个,一是电子加速电压不稳,致使入射电子能量不同;二是电子束照射试样时和试样相互作用,部分电子产生非弹性散射,致使能量变化。

已知衍射效应对分辨率的影响: αλsin 61.00n r =∆∵α很小通常rad 10~1032--∴αλ61.00=∆r 像差对分辨的影响4341049.0λsC r =∆,304161.0ααλs C = 球差:341αs s C r =∆ 像散:αA A f r ∆=∆用消像散器色差:EEC r c c ∆=∆α稳定电源 4.1.3 电磁透镜的景深和焦长电磁透镜的景深是指当成像时,像平面不动(像距不变),在满足成像清晰的前提下,物平面沿轴线前后可移动的距离。

αα002tan 2r r D f ∆≈∆=一般nm 10=∆rα=3210~10--radnm 300~200=f D 焦长焦长是指物点固定不变(物距不变),在保持成像清晰的条件下,像平面沿透镜轴线可移动的距离。

当物点位于o 处时,电子通过透镜在'o 处会聚。

让像平面位于'o 处,此时像平面上是一像点;当像平面沿轴线前后移动时,像平面上逐渐由像点变成一个散焦斑。

只要散焦斑的尺寸不大于0R (折算到物平面上的尺寸不大于0r ∆),像平面上将是一幅清晰的像。

此时像平面沿轴线前后可移动的距离为L D :由图中几何关系得:2000022tan 2tan 2M r M r M r R D L αβββ∆=∆≈∆==nm 1=∆o r 倍,2000M rad 102==-αcm 80=L D4.2 电子与固体物质的相互作用电子束与物质相互作用,可以产生背散射电子、二次电子、吸收电子、俄歇电子、透射电子、白色X 射线、特征X 射线、X 荧光等。

1. 背散射电子(back scattering electrons, BE )电子射入试样后,受到原子的弹性和非弹性散射,有一部分电子的总散射角大于90°,重新从试样表面逸出,称为背散射电子。

特点:1)能量高,大于50eV ; 2)分辨率较低;3)产生与Z 有关,与形貌有关。

2. 二次电子(secondary electrons, SE )入射电子在试样内产生二次电子,所产生的二次电子还有足够的能量继续产生二次电子,如此继续下去,直到最后二次电子的能量很低,不足以维持此过程为止。

特点:1)能量低,为2~3eV。

2)仅在试样表面层内产生。

3)对试样表面状态敏感,显示表面微区的形貌有效。

4)分辨率很高,是扫描电镜的主要成像手段。

5)与形貌密切相关,图象的景深大、立体感强,常用于观察形貌。

3. 吸收电子(absorption electrons, AE)入射电子经多次非弹性散射后能量损失殆尽,不再产生其他效应,一般称为被试样吸收,这种电子称为吸收电子。

试样厚度越大,密度越大,吸收电子就越多,吸收电流就越大。

它被广泛用于扫描电镜和电子探针中。

4. 俄歇电子(Auger electrons, AuE)如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量不是以X射线的形式释放,而是用该能量将核外另一电子打出,脱离原子变为二次电子,这种被电子激发的二次电子叫做俄歇电子。

俄歇电子仅在表面1nm层内产生,适用于表面分析。

5. 透射电子(transmisive electrons, TE)当试样厚度小于入射电子的穿透深度时,入射电子将穿透试样,从另一表面射出称为透射电子。

如果试样很薄,只有10~20nm的厚度,透射电子的主要组成部分是弹性散射电子,成像比较清晰,电子衍射斑点也比较明锐。

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