门电路逻辑功能及测试实验报告(有数据)

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门电路逻辑功能与测试实验报告

门电路逻辑功能与测试实验报告

门电路逻辑功能与测试实验报告一、引言门电路是数字电子电路中常见的逻辑电路,用于实现布尔逻辑运算和控制功能。

门电路有与门、或门、非门、异或门等多种类型,通过它们的组合可以实现复杂的数字运算和逻辑控制。

本实验旨在通过实际操作和测试,深入了解门电路的逻辑功能和工作原理。

二、实验内容1.与门的测试:使用与门芯片(74LS08),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。

通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。

2.或门的测试:使用或门芯片(74LS32),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。

通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。

3.非门的测试:使用非门芯片(74LS04),接入一个输入A,并将结果输出连接到一个LED灯。

通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。

4.异或门的测试:使用异或门芯片(74LS86),接入两个输入A和B,并将结果输出连接到一个LED灯。

通过手动给输入引脚加高或低电平,观察LED灯的亮灭情况,并记录输入输出的真值表。

三、实验结果与分析1.与门测试结果分析:根据与门输入两个高电平时才输出高电平的特性,可以得到与门的真值表如下:A ,B , Outpu:---:,:---:,:------low , low , lolow , high, lohigh, low , lohigh, high, hig实验测试结果与理论一致,说明与门的逻辑功能正常。

2.或门测试结果分析:根据或门输入两个低电平时才输出低电平的特性,可以得到或门的真值表如下:A ,B , Outpu:---:,:---:,:------low , low , lolow , high, highigh, low , highigh, high, hig实验测试结果与理论一致,说明或门的逻辑功能正常。

门电路逻辑功能及测试实验报告记录(有数据)

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门电路逻辑功能及测试实验报告记录(有数据)————————————————————————————————作者:————————————————————————————————日期:实验一 门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。

2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。

二、实验仪器及器件1、示波器;2、实验用元器件:74LS00 二输入端四与非门 2 片 74LS20 四输入端双与非门 1 片 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS04 六反相器 1 片三、实验内容及结果分析实验前检查实验箱电源是否正常。

然后选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc 及地线不能接错(Vcc=+5v ,地线实验箱上备有)。

实验中改动接线须先断开电源,接好后再通电实验。

1、测试门电路逻辑功能⑴ 选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。

⑵ 将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻辑状态值及电压值填表。

表 1.1A 表1.1B 表1.1 A B C D LV A (V) V B (V) V C (V) V D (V) V L (V) A B C DL 0 X X X 1 0.024 5.020 5.020 5.020 4.163 0 1 1 1 1 X 0 X X 1 5.020 0.010 5.020 5.020 4.163 1 0 1 1 1 X X 0 X 1 5.020 5.020 0.001 5.020 4.163 1 1 0 1 1 X X X 0 1 5.020 5.020 5.020 0.009 4.163 1 1 1 0 1 1 1 1 1 05.0205.0205.0205.0200.18411 1 1将逻辑电平开关按表1.1A 要求加入到IC 的输入端,采用数字万用表直流电压档测得输入输出的电平值如表1.1B 所示,转换为真值表如表1.1。

门电路逻辑功能及测试实验报告

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门电路逻辑功能及测试实验报告门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的与要求熟悉门电路逻辑功能,并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。

熟悉RXS-1B数字电路实验箱。

二、方法、步骤1. 实验仪器及材料1) RXS-1B数字电路实验箱 2) 万用表 3) 器件74LS00 四2输入与非门1片 74LS86 四2输入异或门1片2. 预习要求1) 阅读数字电子技术实验指南,懂得数字电子技术实验要求和实验方法。

2) 复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。

3) 熟悉所用集成电路的外引线排列图,了解各引出脚的功能。

4) 学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。

3. 说明用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。

常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。

非逻辑关系:Y=A 与逻辑关系:Y=AB 或逻辑关系:Y=AB 与非逻辑关系:Y=AB 或非逻辑关系:Y=AB 与或非逻辑关系:Y=ABCD 异或逻辑关系:Y=AB三、实验过程及内容任务一:异或门逻辑功能测试集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路,逻辑关系式为1Y=1A⊕1B,2Y=2A⊕2B,3Y=3A⊕3B,4Y=4A⊕4B,其外引线排列图如图1.3.1所示。

它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B,3、6、8、11号引脚为输出端1Y、2Y、3Y、4Y,7号引脚为地,14号引脚为电源+5V。

(1)将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。

(2)按图1.3.2接线测试其逻辑功能。

芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔,输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。

14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的'“+5V”插孔,7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“⊥”插孔。

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告实验目的:1. 理解并掌握基本逻辑门电路的工作原理。

2. 学习如何使用实验设备测试逻辑门电路的功能。

3. 验证不同逻辑门电路的真值表。

实验设备:1. 数字逻辑实验板2. 逻辑门电路元件(如与门、或门、非门等)3. 示波器4. 电源5. 连接线实验步骤:1. 准备实验设备,确保所有设备正常工作。

2. 根据实验要求,设计逻辑门电路,并在实验板上搭建。

3. 连接电源,确保电压稳定且符合逻辑门电路的要求。

4. 使用示波器探头连接到逻辑门的输入和输出端,观察并记录波形。

5. 根据真值表,改变输入信号,逐一测试逻辑门的所有可能输入组合。

6. 记录每个输入组合下的输出结果,并与理论值进行对比,验证电路功能。

实验结果:1. 列出所有测试的逻辑门类型及其对应的真值表。

2. 展示每个逻辑门在不同输入下的输出波形图。

3. 对比实验结果与理论真值表,总结实验中发现的任何偏差及其可能的原因。

实验分析:1. 分析实验中观察到的波形,解释其与逻辑门功能的关系。

2. 讨论实验中出现的任何异常情况及其解决方案。

3. 探讨如何通过改进电路设计来提高逻辑门的性能。

实验结论:1. 总结实验结果,确认逻辑门电路是否符合预期的功能。

2. 评估实验过程的有效性和准确性。

3. 提出可能的改进措施,以优化未来的实验设计和执行。

注意事项:1. 在操作实验设备时,务必遵守实验室安全规则。

2. 在连接电路前,仔细检查电路设计是否正确,避免短路或错误连接。

3. 记录数据时要准确无误,以确保实验结果的可靠性。

门电路逻辑功能及测试实验报告

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门电路逻辑功能及测试实验报告实验目的:1、理解门电路逻辑功能的基本知识和实现方法;2、掌握门电路逻辑功能测试实验的方法和步骤;3、培养实验操作能力和实验数据处理能力。

实验原理:门电路是逻辑电路的基础,其逻辑功能有常用的与门、或门、非门等。

门电路具有输入端和输出端,输入端接受信号,输出端输出运算结果。

门电路由电子器件组成,一般常用的是晶体管。

门电路的测试方法主要是通过检测输入和输出的电平状态,以及关键节点其它信号状态变化。

可以通过观察电压电流示波图、结合实测数据进行逻辑功能的验证。

实验器材和连接图:1、集成电路芯片:7400 门电路。

2、直流电源。

3、万用表。

4、示波器。

5、面包板、电缆、电阻等辅助器材。

实验步骤:1、按照连接图搭建门电路实验线路;2、开启直流电源,测试电路各个节点的电压、电流值,并记录数据;3、输入不同的高低电平信号,观察输出端的电平状态变化;4、观察电压电流示波图,验证门电路的逻辑功能;5、根据实测数据,分析电路中可能出现的故障原因和处理办法。

实验结果:在本次门电路测试实验中,我们按照实验步骤搭建好了门电路实验线路,开启直流电源,测试了电路各节点的电压、电流值,并记录了数据。

在输入不同的高低电平信号时,观察输出端的电平状态变化,发现门电路具有良好的逻辑功能。

通过观察电压电流示波图,验证了门电路的逻辑功能。

在实验中,我们还发现电路中可能存在的故障原因和处理办法。

实验结论:本次门电路测试实验,通过搭建门电路实验线路、开启直流电源、测试电路各节点的电压、电流值、记录数据,验证了门电路的逻辑功能。

本次实验对我们加深了对门电路逻辑功能和测试实验的认识和理解,提高了我们的实验操作能力和实验数据处理能力。

深大实验报告(逻辑电路)门电路逻辑功能及测试

深大实验报告(逻辑电路)门电路逻辑功能及测试

深圳大学实验报告课程名称: 数字电路与逻辑设计实验项目名称: 门电路逻辑功能及测试学院: 计算机与软件学院专业: 未分****: **报告人: 薛锡增学号: ********** 班级: 8实验时间: 2014-10-17实验报告提交时间: 2014-10-24教务部制1.实验目的:2.熟悉门电路逻辑功能并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。

;3.熟悉RXB-1B数字电路实验箱及V252示波器使用方法;实验仪器及材料:1) V252双踪示波器2) RXB-1B数字电路实验箱3) 万用表4) 74LS00(四2输入与非门)1片、74LS86(四2输入异或门)1片任务一: 异或门逻辑功能测试:步骤:1)将一片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。

2)按图4-13接线测试其逻辑功能。

芯片74LS86的输入端1.2.4.5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔, 输出端3.6.8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。

14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的“+5V”插孔, 7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“GND”插孔。

3)将电平开关按表4-1设置, 观察输出端A、B、Y所连接的电平显示器的发光二极管的状态, 测量输出端Y的电压值。

发光二极管为红色表示输出为高电平(1), 发光二极管为绿色表示输出为低电平(0)。

把实验结果填入表4-1中。

图4-13:表4-1:输入输出1 2 3 4 A B Y Uy(电压值)00 10 1 1 1 1 1 1 0 1 0 00 00 01 01 10 11111110.143(V)3.487(V)0.143(V)3.485(V)0.144(V)0.171(V)根据测量电压值, 写出逻辑电平0和1的电压范围:由表中数据可猜测, 当范围大约在0~0.2V之间时, 显示为逻辑“0”;当电压范围在3V或3V以上时, 显示为逻辑“1”任务二: 利用与非门控制输出步骤:选一片74LS00, 并按4-14接线。

门电路逻辑功能及测试实验报告

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一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能,包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。

2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法,包括输入信号的选择、输出信号的观测等。

3. 通过实验加深对数字电路原理的理解,提高动手实践能力。

二、实验原理门电路是数字电路的基本单元,它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。

常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。

本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能:1. 与门(AND):当所有输入信号都为高电平时,输出信号才为高电平。

2. 或门(OR):当至少有一个输入信号为高电平时,输出信号就为高电平。

3. 非门(NOT):将输入信号的逻辑值取反,即高电平变为低电平,低电平变为高电平。

4. 与非门(NAND):与门输出信号取反,即当所有输入信号都为高电平时,输出信号为低电平。

5. 或非门(NOR):或门输出信号取反,即当至少有一个输入信号为高电平时,输出信号为低电平。

6. 异或门(XOR):当输入信号不同时,输出信号为高电平;当输入信号相同时,输出信号为低电平。

三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00(2输入端四与非门)4. 74LS32(2输入端四或门)5. 74LS20(4输入端双与非门)6. 74LS86(2输入端四异或门)7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试(1)将74LS00芯片插入实验箱,按照电路图连接好与门电路。

(2)使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。

(3)分别将A和B端设置为高电平和低电平,观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。

2. 或门测试(1)将74LS32芯片插入实验箱,按照电路图连接好或门电路。

(2)使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。

(3)分别将A和B端设置为高电平和低电平,观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。

3. 非门测试(1)将74LS04芯片插入实验箱,按照电路图连接好非门电路。

门电路逻辑功能及测试-实验报告(有数据)

门电路逻辑功能及测试-实验报告(有数据)

一、实验目的1熟悉门电路逻辑功能。

2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。

二、实验仪器及器件1示波器; 实验门电路逻辑功能及测试2、实验用元器件:74LS00二输入端四与非门74LS20 四输入端双与非门 74LS86 二输入端四异或门 74LS04六反相器1片三、实验内容及结果分析实验前检查实验箱电源是否正常。

然后选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线, 特别注意Vcc 及地线不能接错(Vcc=+5v ,地线实验箱上备有)。

实验中改动接线须先断开电源,接好后再 通电实验。

1、测试门电路逻辑功能Vcc⑴ 选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板 (注意集成电路应摆正放平) ,按图1.1接线,输入端接 S1〜S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口 D1〜 D8中的任意一个。

⑵ 将逻辑电平开关按表1.1状态转换,测出输出逻1474LS20E1.1观四输入与非门1.1A 要求加入到IC 的输入端,采用数字万用表直流电压档测得输入输出的电平值 如表1.1B 所示,转换为真值表如表 1.1。

结论:根据实际测试的到的真值表,该电路完成了所设计的逻辑功能。

2、逻辑电路的逻辑关系⑴ 用74LS00双输入四与非门电路,按图 1.2、图1.3接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.2 ,表1.3中。

将逻辑电平开关按表 辑状态值及电压值填表。

表表4——I⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。

Z AgBgAgB将逻辑电平开关按表1.2A 和表1.3A 的要求分别加入到IC 的输入端,采用数字万用表直流电压档测得输 入输出的电平值如表1.2B 和表1.3B 所示,转换为真值表如表1.2和表1.3。

结论:根据实际测试的到的真值表,该电路完成了所设计的逻辑功能。

3、禾用与非门控制输出用一片74LS00按图1.4接线。

S 分别接高、低电平开关, 用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。

CMOS、TTL逻辑门电路测试实验报告(有数据)

CMOS、TTL逻辑门电路测试实验报告(有数据)

CMOS、TTL逻辑门电路测试实验报告(有数据)实验二 CMOS 、TTL 逻辑门电路测试一、实验目的1.掌握CMOS 、TTL 逻辑门电路特性测试的方法。

2.掌握CMOS 、TTL 逻辑门电路的主要技术指标。

3.比较CMOS 门和TTL 门的特点。

二、实验仪器及器件1.双踪示波器、数字万用表、实验箱2、实验用元器件: ① 74LS00 1片② CD4001B 1片三、实验内容及结果分析1. CD4069逻辑电平测试及功能测试本实验采用CD4069芯片, 分别选择电源电压V dd = 5V 和V dd = 12V 验证其逻辑功能。

根据CMOS 芯片的特性参数, 在输入端A 加不同的逻辑电平V A .用电压表测出相应输出端的逻辑电平Vo .记录测试结果, 并根据测试结果列成真值表, 写出逻辑表达式, 验证其逻辑功能。

表 1.1A 表1.1B 表1.1 输入输出V DD =5VV DD =12V输入输出 A O V A /V V O /V V A /V V O /V A O 0 1 0.000 5.053 0.000 11.94 0 1 15, 0670.02011.990.1011逻辑表达式: L A = 2. CD4069电压传输特性按图3.1所示接线。

令芯片的电源电压V dd = 10V 。

调节电位器Rw 的阻值.使V I 在+0~+10V 变化, 观察输出电压的变化, 指出ViL 、ViH 、VoL 、VoH 、转折点输入电平Vth 、抗干扰容限。

表1.2V I /V 0.006 0.375 1.115 2.022 3.105 4.021 5.001 5.251 5.439 5.63 V O /V 9.96 9.96 9.96 9.93 9.66 9.20 8.20 7.70 7.03 5.387 V I /V 5.808 6.08 6.69 7.24 7.64 8.13 8.64 9.00 9.27 9.97 V O /V2.7291.7511.10110.6470.4600.2930.1670.1100.0830.066V IL =2.022V V OL =0.066VV IH =8.13V V OH =9.96V V th =5.63V输入高电平的噪声容限 (min)(min)9.968.13 1.83NH OH IH V V V V V V =-=-= 输出低电平的噪声容限(max)(max) 2.0220.066 1.956NL IL OL V V V V V V =-=-=3. 74LS00逻辑电平测试及功能测试TTL 集成电路电源电压V cc = 5V 。

门电路逻辑功能及测试实验报告总结

门电路逻辑功能及测试实验报告总结

门电路逻辑功能及测试实验报告总结门电路是数字电子电路的基本组成部分,用于实现逻辑功能。

通过逻辑门的组合和连接可以实现不同的逻辑功能,并完成各种数字电路的设计。

本文将对门电路的逻辑功能及测试实验进行总结。

门电路是数字电路中最基本的元件,它接收一个或多个输入信号,并根据特定的逻辑规则产生一个输出信号。

常见的门电路包括与门、或门、非门、异或门等。

这些门电路可以根据输入信号的真值表,通过逻辑运算实现不同的逻辑功能。

以与门为例,它有两个输入A和B,当A和B同时为高电平时,输出为高电平;否则输出为低电平。

与门的逻辑功能可以用以下真值表表示:A |B | 输出--|---|----0 | 0 | 00 | 1 | 01 | 0 | 01 | 1 | 1通过逻辑运算可以得到与门的逻辑表达式为:输出= A * B。

其中* 表示逻辑乘法运算。

为了验证门电路的逻辑功能,需要进行测试实验。

测试实验的目的是通过给定的输入信号,观察输出信号是否符合门电路的逻辑规则。

例如,对于与门,可以通过给定不同的输入信号组合,观察输出是否与真值表中的结果一致。

在测试实验中,可以使用开关或信号发生器来提供输入信号。

通过将输入信号连接到门电路的输入端,然后将输出端连接到示波器或数字电压表,可以观察输出信号的变化。

根据输入信号的变化和输出信号的结果,可以判断门电路的逻辑功能是否正确。

除了测试实验,还可以使用电路仿真软件进行门电路的逻辑功能验证。

电路仿真软件可以模拟门电路的运行过程,并给出相应的输出结果。

通过比较仿真结果和门电路的真值表,可以验证门电路的逻辑功能是否正确。

总结来说,门电路是数字电子电路的基本组成部分,用于实现不同的逻辑功能。

通过逻辑运算可以得到门电路的逻辑表达式,通过测试实验或电路仿真可以验证门电路的逻辑功能是否正确。

门电路的逻辑功能及测试实验对于数字电路的设计和实现具有重要意义,能够确保数字电路的正确运行。

门电路测量实验报告

门电路测量实验报告

1. 熟悉门电路的基本原理和逻辑功能。

2. 掌握使用数字电路实验箱和示波器进行门电路测量实验的方法。

3. 通过实验验证门电路的逻辑功能,并分析实验数据。

二、实验原理门电路是数字电路的基本单元,根据其逻辑功能的不同,可分为与门、或门、非门、异或门等。

本实验主要测量以下几种门电路的逻辑功能:1. 与门:当两个输入信号同时为高电平时,输出信号才为高电平。

2. 或门:当至少一个输入信号为高电平时,输出信号才为高电平。

3. 非门:将输入信号取反,输出信号与输入信号相反。

4. 异或门:当两个输入信号不同时,输出信号为高电平。

三、实验仪器与器材1. 数字电路实验箱2. 示波器3. 逻辑电平开关4. 接线板5. 输入信号发生器6. 输出信号显示器四、实验步骤1. 将数字电路实验箱连接好,确保电源正常。

2. 根据实验要求,将逻辑电平开关设置为不同的状态。

3. 使用示波器观察输入信号和输出信号的波形。

4. 记录输入信号和输出信号的变化情况,分析门电路的逻辑功能。

五、实验内容(1)将输入信号A和B设置为高电平,观察输出信号Y的波形,应为高电平。

(2)将输入信号A和B设置为低电平,观察输出信号Y的波形,应为低电平。

2. 或门实验:(1)将输入信号A和B设置为高电平,观察输出信号Y的波形,应为高电平。

(2)将输入信号A和B设置为低电平,观察输出信号Y的波形,应为低电平。

3. 非门实验:(1)将输入信号A设置为高电平,观察输出信号Y的波形,应为低电平。

(2)将输入信号A设置为低电平,观察输出信号Y的波形,应为高电平。

4. 异或门实验:(1)将输入信号A和B设置为高电平,观察输出信号Y的波形,应为低电平。

(2)将输入信号A和B设置为低电平,观察输出信号Y的波形,应为高电平。

六、实验结果与分析1. 通过实验验证了与门、或门、非门和异或门的基本逻辑功能。

2. 实验结果表明,输入信号和输出信号的波形符合预期,说明实验箱和示波器工作正常。

门电路逻辑功能及测试实验

门电路逻辑功能及测试实验

门电路逻辑功能及测试实验一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。

其逻辑框图、符号及引脚排列如图2-1所示。

图2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH(a) (b) (c) (d)图2-2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL和高电平输入电流I iH。

I iL是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,由被测输入端流出的电流值。

I iH是指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,流入被测输入端的电流值。

图2-4 传输特性测试电路(3)电压传输特性门的输出电压v O随输入电压v i而变化的曲线v o=f(v i) 称为门的电压传输特性。

测试电路如图2-4所示,采用逐点测试法,即调节R W,逐点测得V i及V O,然后绘成曲线。

74LS20主要电参数规范如表2-1所示参数名称和符号规范值单位测试条件直流参数通导电源电流I CCL<14 mAV CC=5V,输入端悬空,输出端空载截止电源电流I CCH<7 mAV CC=5V,输入端接地,输出端空载三、实验设备与器件1、数字电路实验箱2、数字万用表3、74LS20一块、10K电位器一个四、实验内容在合适的位置选取一个14P插座,按定位标记插好74LS20集成块。

1、验证TTL集成与非门74LS20的逻辑功能按图2-6接线,门的四个输入端接逻辑开关输出插口,以提供“0”与“1”电平信号,开关向上,输出逻辑“1”,向下为逻辑“0”。

门的输出端接由 LED发光二极管组成的逻辑电平显示器(又称0-1指示器)的显示插口,LED亮为逻辑“1”,不亮为逻辑“0”。

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告实验名称:逻辑门电路功能测试实验目的:通过对基本逻辑门电路的功能测试,了解逻辑门的功能特点和使用方法。

实验器材:逻辑门 IC 芯片、电路板、电源、数字万用表。

实验原理:逻辑门电路是由数个基本逻辑门组合而成的,其功能由每个基本逻辑门的特性决定。

在实现不同功能时,需要使用不同类型的逻辑门,并通过不同的电路组合实现。

实验步骤:1. 将逻辑门 IC 芯片插入电路板中,并连接电源。

2. 针对不同的逻辑门,根据其真值表,按照连接方法将线路连接。

3. 利用数字万用表对逻辑门电路进行测试,检测其输出信号是否符合逻辑门的真值表。

4. 可通过改变输入信号的方式,观察逻辑门的输出信号变化。

实验结果:针对不同类型的逻辑门进行连接和测试,实验结果如下:1. 与门(AND)电路测试结果符合真值表,只有所有输入都为 1 时,输出信号才为 1。

2. 或门(OR)电路测试结果符合真值表,只要有一个输入信号为1,输出信号即为 1。

3. 非门(NOT)电路测试结果符合真值表,将输入信号取反输出。

4. 与非门(NAND)电路测试结果符合真值表,只要有一个输入信号为 0,输出信号即为 0。

5. 或非门(NOR)电路测试结果符合真值表,只有所有输入都为0 时,输出信号才为 1。

6. 异或门(XOR)电路测试结果符合真值表,只有输入信号不相同时,输出信号才为 1。

实验结论:通过逻辑门电路功能测试,可以了解不同类型的逻辑门的特点和功能,并根据需要进行组合,实现不同的功能。

逻辑门电路在计算机和电子设备中广泛应用,是数字电路设计的基础。

门电路逻辑功能与测试实验报告

门电路逻辑功能与测试实验报告

门电路逻辑功能与测试实验报告门电路逻辑功能与测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过学习和实践,掌握基本门电路(与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等)的逻辑功能及实际应用,并通过对门电路的测试,加深对数字逻辑电路的理解。

二、实验器材1.实验箱或面包板2.电源适配器3.逻辑门电路芯片(如74LS83A)4.连接线若干5.万用表6.实验程序(可选)三、实验原理门电路是数字逻辑电路的基本组成部分,可分为基本门电路和复合门电路。

基本门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等,它们分别具有相应的逻辑功能。

例如,与门只会在所有输入均为高电平时输出高电平,否则输出低电平;或门则只需一个输入为高电平就会输出高电平,等等。

通过这些基本门电路的不同组合,可以实现复杂的逻辑功能。

本次实验将以74LS83A四路与非门电路为例,进行门电路的逻辑功能与测试。

74LS83A是一种TTL(Transistor-Transistor Logic)型四路与非门电路,其特点为功耗低、速度快、体积小等。

四个独立的与非门具有相同的输入和输出端,可单独控制。

当A、B、C和D任一输入端为0时,输出Y为1;只有当所有输入端都为1时,输出Y才为0。

四、实验步骤1.准备器材并检查完好。

2.根据实验原理,连接电源、输入和输出端口,保证电源极性正确。

3.使用万用表检查各输入端口电平状态,并记录。

4.逐个改变输入端口的状态,观察输出端口的电平变化,并记录。

5.分析实验数据,了解74LS83A四路与非门电路的逻辑功能。

6.断电,结束实验。

五、实验数据分析与结论通过对74LS83A四路与非门电路的测试,我们验证了其逻辑功能。

在输入端口状态改变时,输出端口电平变化符合与非门的逻辑功能。

当任一输入端口为0时,输出端口为1;只有当所有输入端口都为1时,输出端口才为0。

这表明该门电路功能正常,可以用于实际应用中。

通过本次实验,我们深入了解了基本门电路的逻辑功能和实际应用,并学会了如何使用万用表进行电路测试。

门电路逻辑功能及测试实验报告

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门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的本次实验旨在深入理解门电路的逻辑功能,并通过实际测试掌握其工作特性和应用。

具体目标包括:1、熟悉与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本门电路的逻辑表达式和真值表。

2、学会使用实验仪器对门电路进行逻辑功能测试。

3、培养实验操作能力、数据分析能力和逻辑思维能力。

二、实验原理1、门电路的基本概念门电路是实现基本逻辑运算的电子电路,包括与门、或门、非门等。

与门的逻辑功能是只有当所有输入都为高电平时,输出才为高电平;或门只要有一个输入为高电平,输出就为高电平;非门则是输入与输出相反。

2、逻辑表达式和真值表与门:Y = A·B或门:Y = A + B非门:Y = A'与非门:Y =(A·B)'或非门:Y =(A + B)'异或门:Y = A ⊕ B通过真值表可以清晰地看到输入与输出之间的对应关系。

3、实验仪器数字电路实验箱、示波器、数字万用表、逻辑电平测试笔等。

三、实验内容与步骤1、与门逻辑功能测试(1)在实验箱上选取与门芯片(如 74LS08),按照芯片引脚图正确连接电路。

(2)将两个输入分别接逻辑电平开关,输出接逻辑电平指示灯。

(3)改变输入电平的组合(00、01、10、11),观察并记录输出电平的状态。

2、或门逻辑功能测试(1)选取或门芯片(如 74LS32),按照引脚图连接电路。

(2)同样将输入接逻辑电平开关,输出接指示灯,改变输入电平组合进行测试并记录。

3、非门逻辑功能测试(1)使用非门芯片(如 74LS04)进行连接。

(2)输入接电平开关,输出接指示灯,测试并记录。

4、与非门逻辑功能测试(1)选择与非门芯片(如 74LS00)进行电路连接。

(2)设置输入电平,观察并记录输出。

5、或非门逻辑功能测试(1)采用或非门芯片(如 74LS02)搭建电路。

(2)改变输入电平,记录输出结果。

6、异或门逻辑功能测试(1)找到异或门芯片(如 74LS86)并连接电路。

门电路的测试实验报告

门电路的测试实验报告

门电路的测试实验报告实验名称:门电路测试实验实验目的:通过测试门电路,掌握其实际使用情况;了解门电路在电子电路中的应用。

实验原理:门电路由门电路开关、输入端和输出端等组成。

门电路输入端具有输入信号,当输入信号符合门电路规定的逻辑条件时,门电路产生输出信号。

门电路将输入信号的多种逻辑关系作为输出信号进行逻辑判断,实现复杂的逻辑运算。

门电路广泛应用于数字电路系统中的控制、存储和处理等部分。

实验器材:数字逻辑实验箱(Logic Box)、双倍增益数字逻辑触发器74LS73、数码钳形测试仪。

实验步骤:1.将门电路开关接入数字逻辑实验箱。

2.将门电路输入端和输出端分别引出。

3.将数码钳形测试仪设为“门电路测试模式”。

4.将数码钳形测试仪依次接入门电路输入端,观察输出端的信号变化。

5.测试门电路的不同逻辑功能,如与门、或门等。

6.记录测试结果。

实验结果:在测试中发现,门电路能够根据输入输出不同的逻辑关系,输出相应的逻辑运算结果。

比如在与门测试中,当A和B两个输入信号都为1时,输出端才会输出1,否则输出0。

此外,在或门测试中,只需要输入的两个信号中有一个为1,输出端即输出1,否则输出0。

通过测试,我们了解到门电路的基本功能和逻辑运算,掌握了门电路在数字电路系统中的应用。

实验结论:门电路是数字电路系统中的重要组成部分,能够进行逻辑运算,实现多种不同逻辑功能。

在实际使用中,门电路的测试是非常必要的,只有对其实际使用情况进行了解和掌握,才能够更好地应用于数字电路系统中,为人们所用。

实验建议:门电路测试应在数字电路实验箱等专业设备上进行,以确保实验的准确性和安全性。

建议在实验前,对门电路的组成和逻辑功能进行充分了解。

实验过程中,需要记录实验数据,以便后续分析。

以上是本次门电路测试实验报告,望采纳。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告门电路是数字电路中常见的一种基本逻辑电路,它能够实现逻辑运算,控制信号的传输和处理。

本实验旨在通过对门电路的逻辑功能及测试实验进行研究,深入理解门电路的工作原理和应用。

一、门电路的基本概念。

门电路是数字电路中的基本组成单元,它根据输入信号的不同组合产生相应的输出信号。

常见的门电路有与门、或门、非门等。

与门的逻辑功能是当所有输入信号都为高电平时输出高电平,否则输出低电平;或门的逻辑功能是当任意一个输入信号为高电平时输出高电平,否则输出低电平;非门的逻辑功能是对输入信号取反输出。

门电路的逻辑功能由其逻辑门电路图和真值表来描述。

二、门电路的逻辑功能测试。

1. 与门的逻辑功能测试。

通过搭建与门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,需要注意输入信号的稳定性和准确性,以确保测试结果的可靠性。

2. 或门的逻辑功能测试。

同样地,通过搭建或门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,需要注意输入信号的稳定性和准确性,以确保测试结果的可靠性。

3. 非门的逻辑功能测试。

搭建非门的逻辑电路,输入不同的信号组合,观察输出信号的变化,记录真值表,并与理论预期进行对比分析。

在测试过程中,同样需要注意输入信号的稳定性和准确性。

三、门电路的测试实验报告。

通过以上逻辑功能测试,我们得出了门电路的真值表和逻辑功能描述。

与门、或门、非门均能够按照预期的逻辑功能进行工作,输出信号符合逻辑运算的规律。

在测试过程中,输入信号的稳定性和准确性对于测试结果的可靠性至关重要。

通过本实验,我们深入了解了门电路的基本概念和逻辑功能,掌握了门电路的测试方法和技巧。

门电路作为数字电路中的基本组成单元,在数字系统设计和应用中具有重要的作用。

掌握门电路的逻辑功能及测试方法对于数字电路的设计和应用具有重要的意义。

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门电路逻辑功能及测试实验报告[文档推荐]一、实验目的1.学习和掌握门电路的基本逻辑功能和特点。

2.通过实际操作,增强对数字电路的感性认识,提高实践动手能力。

3.了解和掌握基本逻辑门电路(与门、或门、非门)的功能及测试方法。

二、实验原理1.逻辑门电路:逻辑门电路是数字电路的基本组成部分,它们按照一定的逻辑关系对输入信号进行处理,产生相应的输出信号。

主要的逻辑门电路有与门、或门、非门等。

2.逻辑功能:逻辑门电路具有特定的逻辑功能,可以通过对输入信号的处理得到预期的输出信号。

与门实现逻辑与运算,或门实现逻辑或运算,非门实现逻辑非运算。

3.测试方法:对于每种逻辑门电路,需要设计合适的测试方案,通过对输入信号的调整和观察输出信号的变化,验证其逻辑功能的正确性。

三、实验步骤1.准备实验材料:数字万用表、逻辑门电路实验箱、与门、或门、非门各一个,以及适当的连接线和输入输出设备。

2.设计测试方案:分别针对与门、或门、非门设计测试方案,包括输入信号的选择、预期输出结果的预测以及如何使用万用表进行实际测量。

3.进行测试:按照设计的测试方案,逐一进行实验测试,记录实际测量结果。

4.结果分析:对比预期输出结果与实际测量结果,分析差异及原因,总结各种逻辑门电路的功能及特点。

5.撰写实验报告:整理实验过程和结果,撰写实验报告。

四、实验结果及分析1.与门测试:(1)设计测试方案:给与门的输入端分别接入高电平和低电平,观察输出结果的变化。

并预测当两个输入端都为低电平时的输出结果。

(2)进行测试:使用万用表测量与门的输出电压,记录下不同输入情况下的输出结果。

(3)结果分析:当两个输入端都为低电平时,输出端为高电平;其他情况下,输出端为低电平。

与预期结果相符,验证了与门的正确功能。

2.或门测试:(1)设计测试方案:给或门的输入端分别接入高电平和低电平,观察输出结果的变化。

并预测当两个输入端都为低电平时的输出结果。

(2)进行测试:使用万用表测量或门的输出电压,记录下不同输入情况下的输出结果。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能:
门电路是现代电子学中最基本的逻辑元件。

它可以把输入信号处理成输出信号,根据不同的输入信号情况,采取不同的逻辑处理方式。

常见的门电路有与门、或门、非门、异或门、NAND门、NOR门等等,它们都是由晶体管、反相器或其它电子器件组成的一种特殊的电路。

测试实验报告:
1.实验目的:
本实验旨在验证和研究门电路的基本原理和功能,掌握用于判断门电路的正确性的方法,并掌握制作门电路的方法。

2.实验材料:
晶体管、反相器、电阻、电容、电感、继电器、电池、面包板等。

3.实验过程:
(1)绘制电路图:根据门电路的功能要求,绘制电路图,指明所用元件型号,确定输入输出端口;
(2)调试电路:根据电路图,将每个元件安装到面包板上,接好电池,接通电源,然后按照输入的控制电路,对门电路进行调试;
(3)测试电路:根据调试的情况,调整电路,使之达到所需要的功能,然后进行各种可能的输入情况下的测试,记录输入输出的结果;
(4)编写实验报告:根据实验过程,编写实验报告,描述实验过程,分析实验结果,得出结论。

4.实验结果:
实验结果表明,门电路可以按照预定的功能,在不同输入情况下,正确的输出信号,实现了预定的逻辑功能。

门电路逻辑功能测试实验报告

门电路逻辑功能测试实验报告

实验报告专业物联网工程年级 2012级姓名 *** 学号 **********日期 2014.4.4 实验地点 *学院实验室指导教师 ***(宋体、4号字)实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的(宋体、4号字)1、熟悉门电路逻辑功能。

2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。

二、实验仪器1、示波器;2、实验用元器件:74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片三、实验内容及结果分析1、测试门电路逻辑功能⑴选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。

⑵将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻辑状态值及电压值填表。

(3)试验真值表,以及测试表格:双四输入与非门真值表 表1.1 实测结果表(4)实验结果及分析:真值表如上图所示,由真值表可知双四输入与非门74LS20的功能是Y=(ABCD )′,表现为输入的四个逻辑电平值若有0,则输出值为1;当四个均为1时,输出为0;根据我的实际试验操作,记录试验结果为表1.1,和预测试验结果相符。

电压也相符,当输出结果为高电频是,电压大于2.7V ,当输出结果为低电频时,输出电压小于0.4V 。

2、逻辑电路的逻辑关系⑴ 用 74LS00 双输入四与非门电路,按图1.2、图1.3 接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.2,表1.3 中。

⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。

分别为Y=A+B 和Y=xy ’+x ’y (3)逻辑电路1.2和1.3的测试表格分别为下表1.2及1.3表 1.2 表 1.3输入 输出 0 X X X 1 X 0 X X 1 X X 0 X 1 X X X 0 1 1111输入输出 1 2 3 4 Y 电压(v) 1 1 1 1 0 0.179 0 1 1 1 1 4.217 0 0 1 1 1 4.217 0 014.217输入 输出 A B Y 电压(v ) 0 0 0 0.355 0 1 1 4.215 1 0 1 4.228 1114.225输入 输出 A B Y 电压v Z 电压v 0 0 0 0.172 0 0.015 0 1 1 4.196 0 0.014 1 0 1 4.207 0 0.008 110.17115.052(4)实验结果及分析:根据真值表,可知图1.2是或门,图1.3是异或门。

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实验一门电路逻辑功能及测试
一、实验目的
1、熟悉门电路逻辑功能。

2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。

二、实验仪器及器件
1、示波器;
2、实验用元器件:74LS00 二输入端四与非门 2 片
74LS20 四输入端双与非门 1 片
74LS86 二输入端四异或门 1 片
74LS04 六反相器 1 片
三、实验内容及结果分析
实验前检查实验箱电源是否正常。

然后选择实验用的集成电路,按自己设计的实验接线图接好连线,特别注意Vcc 及地线不能接错(Vcc=+5v,地线实验箱上备有)。

实验中改动接线须先断开电源,接好后再
通电实验。

1、测试门电路逻辑功能
⑴选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板
(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接
S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输
出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~
D8 中的任意一个。

⑵将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻
辑状态值及电压值填表。

表 1.1A 表1.1B 表1.1
将逻辑电平开关按表1.1A要求加入到IC的输入端,采用数字万用表直流电压档测得输入输出的电平值如表1.1B所示,转换为真值表如表1.1。

结论:根据实际测试的到的真值表,该电路完成了所设计的逻辑功能。

2、逻辑电路的逻辑关系
⑴用 74LS00 双输入四与非门电路,按图1.2、图1.3 接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.2,表1.3 中。

⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。

图1.2的逻辑电路表达式 =Y A A B B B A 图1.3的逻辑电路表达式 =Y A B A A B B Z A B A B
将逻辑电平开关按表1.2A 和表1.3A 的要求分别加入到IC 的输入端,采用数字万用表直流电压档测得输入输出的电平值如表1.2B 和表1.3B 所示,转换为真值表如表1.2和表1.3。

结论:根据实际测试的到的真值表,该电路完成了所设计的逻辑功能。

3、利用与非门控制输出
用一片74LS00 按图1.4 接线。

S 分别接高、低电平开关,用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。

(1)高电平:
低电平:
(2)高电平:
低电平:
4、用与非门组成其它门电路并测试验证
⑴ 组成或非门:用一片二输入端四与非门组成或非门Y A B =+,画出电路图,测试并填表1.4。

⑵ 组成异或门:
① 将异或门表达式转化为与非门表达式;
L A B A B A B A B =+=
②画出逻辑电路图;
③ 测试并填表1.5。

表 1.4A 表1.4B 表1.4 A B Y
V A (V) V B (V) V Y (V)
A B Y 0 0 1 0.001 0.001 4.160 0 0 1 0 1 0 0.001 5.017 0.161 0 1 0 1 0 0 5.017 0.001 0.161 1 0 0 1 1 0 5.017 5.017 0.161 1 1 0
A B Y V A (V) V B (V) V Y (V) A B Y 0 0 0 0.005 0.001 0.175 0 0 0 0 1 1 0.005 5.016 4.131 0 1 1 1 0 1 5.017 0.001 4.131 1 0 1 1
1
5.017
5.016
0.175
1
1
将逻辑电平开关按表1.4A 和表1.5A 的要求分别加入到IC 的输入端,采用数字万用表直流电压档测得输入输出的电平值如表1.4B 和表1.5B 所示,转换为真值表如表1.4和表1.5。

结论:根据实际测试的到的真值表,该电路完成了所设计的逻辑功能。

5、异或门逻辑功能测试
⑴选二输入四异或门电路74LS86,按图1.5 接线,输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口,输出端
A、B、Y 接电平显示发光二极管。

⑵将电平开关按表1.6 的状态转换,将结果填入表中。

将逻辑电平开关按表1.6A的要求分别加入到IC的输入端,采用数字万用表直流电压档测得输入输出的电平值如表1.6B所示,转换为真值表如表1.6。

结论:根据实际测试的到的真值表,该电路完成了所设计的逻辑功能。

思考题:
⑴怎样判断门电路逻辑功能是否正常?
首先,按照门电路功能,根据输入和输出,列出真值表。

其次,按真值表输入电平,查看它的输出是否符合真值表。

最后,所有真值表输入状态时,它的输出都是符合真值表,则门电路功能正常;否则门电路功能不正常。

⑵与非门一个输入接连续脉冲,其余端什么状态允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过?对脉冲信号有何要求?
答:其余的输入端口全置高电平,则这个输入端的脉冲,才能在输出端产生相应的变化(非门作用)。

如果其余的输入端口有任意一个是低电平,则信号即被阻断,输出端将无脉冲输出。

⑶异或门又称可控反相门,为什么?
答:“异或”函数当有奇数个输入变量为真时,输出为真。

当输入X=0,Y=0时,输出S=0;当输入X=0,Y=1时,输出S=1。

其中,0代表假,1代表真。

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