数字逻辑分析与设计..--门电路测量实验
门电路功能测试实验报告
门电路功能测试实验报告门电路功能测试实验报告引言：门电路是数字电路中最基本的元件之一，它用于实现逻辑运算和信号处理。
在本次实验中，我们将对门电路的功能进行测试，并探索其在数字电路中的应用。
实验目的：1. 了解门电路的基本原理和功能；2. 学习使用实验仪器进行门电路的功能测试；3. 探索门电路在数字电路中的应用。
实验器材：1. 门电路芯片（如与门、或门、非门等）；2. 实验仪器（如数字信号发生器、示波器等）；3. 连接线、电源等。
实验步骤：1. 准备实验器材，并连接电路；2. 将数字信号发生器与门电路芯片相连接，输入不同的信号；3. 使用示波器观察门电路的输出信号；4. 记录实验数据，并进行分析。
实验结果：通过实验，我们得到了以下结果：1. 与门：当输入信号均为高电平时，输出信号为高电平；否则输出信号为低电平。
2. 或门：当输入信号中至少有一个为高电平时，输出信号为高电平；否则输出信号为低电平。
3. 非门：输入信号为高电平时，输出信号为低电平；输入信号为低电平时，输出信号为高电平。
讨论与分析：根据实验结果，我们可以得出以下结论：1. 与门适用于需要多个输入信号同时满足条件时才输出高电平的情况，如密码锁等；2. 或门适用于需要至少一个输入信号为高电平时才输出高电平的情况，如门禁系统等；3. 非门适用于需要对输入信号进行取反操作的情况，如触发器等。
此外，门电路还可以通过组合使用实现更复杂的逻辑运算，如与非门、或非门等。
这些门电路的组合可以构成逻辑电路，实现数字电路中的各种功能。
实验总结：通过本次实验，我们深入了解了门电路的基本原理和功能，并学会了使用实验仪器进行门电路的功能测试。
我们还探索了门电路在数字电路中的应用，并通过实验结果进行了讨论和分析。
门电路作为数字电路的基础，其功能的正确性对于整个电路的正常运行至关重要。
因此，在实际应用中，我们需要仔细测试门电路的功能，并保证其稳定性和可靠性。
未来的工作：在今后的学习和实践中，我们可以进一步探索门电路的应用，并学习更复杂的数字电路设计和实现方法。
门电路逻辑功能与测试实验报告
门电路逻辑功能与测试实验报告一、引言门电路是数字电子电路中常见的逻辑电路，用于实现布尔逻辑运算和控制功能。
门电路有与门、或门、非门、异或门等多种类型，通过它们的组合可以实现复杂的数字运算和逻辑控制。
本实验旨在通过实际操作和测试，深入了解门电路的逻辑功能和工作原理。
二、实验内容1.与门的测试：使用与门芯片（74LS08），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
2.或门的测试：使用或门芯片（74LS32），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
3.非门的测试：使用非门芯片（74LS04），接入一个输入A，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
4.异或门的测试：使用异或门芯片（74LS86），接入两个输入A和B，并将结果输出连接到一个LED灯。
通过手动给输入引脚加高或低电平，观察LED灯的亮灭情况，并记录输入输出的真值表。
三、实验结果与分析1.与门测试结果分析：根据与门输入两个高电平时才输出高电平的特性，可以得到与门的真值表如下：A ，B ， Outpu:---:，:---:，:------low ， low ， lolow ， high， lohigh， low ， lohigh， high， hig实验测试结果与理论一致，说明与门的逻辑功能正常。
2.或门测试结果分析：根据或门输入两个低电平时才输出低电平的特性，可以得到或门的真值表如下：A ，B ， Outpu:---:，:---:，:------low ， low ， lolow ， high， highigh， low ， highigh， high， hig实验测试结果与理论一致，说明或门的逻辑功能正常。
(完整word版)数字实验一门电路逻辑功能与测试
实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的：1.熟悉常用集成门电路的逻辑功能及测试方法。
2. 熟悉各种门电路的管脚排列，进一步熟悉仿真软件和数字试验箱的使用。
3．学习利用与非门组成其它逻辑门电路并验证其逻辑功能。
二、实验仪器及设备1.数字电路实验箱2.万用表3.集成芯片：74LS00 2输入端四与非门 2片74LS86 2输入端四异或门 1片三、实验原理1. TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，所以称作三极管、三极管逻辑电路（Transistor -Transistor Logic ）简称TTL电路。
54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。
所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽，电源允许的范围也更大。
74 系列的工作环境温度规定为0—700C，电源电压工作范围为5V±5%V，而54 系列工作环境温度规定为-55—±1250C，电源电压工作范围为5V±10%V。
54H 与74H,54S 与74S 以及54LS 与74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电压工作范围不同，就像54 系列和74 系列的区别那样。
在不同系列的TTL 器件中，只要器件型号的后几位数码一样，则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。
TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广，特别对我们进行实验论证，选用TTL 电路比较合适。
因此，本实训教材大多采用74LS(或74)系列TTL 集成电路，它的电源电压工作范围为5V±5%V，逻辑高电平为“1”时≥2.4V，低电平为“0”时≤0.4V。
2. 集成逻辑门有许多种，如：与门、或门、非门、与非门、或非门、与或非门、异或门等等。
但其中与非门用途最广，74LS00是“TTL系列”中的与非门，是四-2输入与非门电路，即在一块集成电路内含有四个独立的与非门。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的与要求熟悉门电路逻辑功能，并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。
熟悉RXS-1B数字电路实验箱。
二、方法、步骤1. 实验仪器及材料1) RXS-1B数字电路实验箱 2) 万用表 3) 器件74LS00 四2输入与非门1片 74LS86 四2输入异或门1片2. 预习要求1) 阅读数字电子技术实验指南，懂得数字电子技术实验要求和实验方法。
2) 复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
3) 熟悉所用集成电路的外引线排列图，了解各引出脚的功能。
4) 学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。
3. 说明用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。
常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。
非逻辑关系：Y=A 与逻辑关系：Y=AB 或逻辑关系：Y=AB 与非逻辑关系：Y=AB 或非逻辑关系：Y=AB 与或非逻辑关系：Y=ABCD 异或逻辑关系：Y=AB三、实验过程及内容任务一：异或门逻辑功能测试集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A⊕1B，2Y=2A⊕2B，3Y=3A⊕3B，4Y=4A⊕4B，其外引线排列图如图1.3.1所示。
它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B，3、6、8、11号引脚为输出端1Y、2Y、3Y、4Y，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V。
（1）将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。
（2）按图1.3.2接线测试其逻辑功能。
芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。
14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的'“+5V”插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“⊥”插孔。
门电路逻辑功能及其测试实验报告
门电路逻辑功能及其测试实验报告一、实验目的1、掌握门电路的逻辑功能。
2、学会使用实验仪器对门电路进行逻辑功能测试。
3、深入理解逻辑运算的基本原理和应用。
二、实验设备1、数字电路实验箱。
2、示波器。
3、集成电路芯片：74LS00（四 2 输入与非门）、74LS04（六反相器）、74LS08（四 2 输入与门）、74LS32（四 2 输入或门）等。
4、若干导线。
三、实验原理门电路是数字电路的基本单元，具有实现逻辑运算的功能。
常见的门电路有与门、或门、非门、与非门、或非门等。
与门的逻辑功能是：当且仅当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；否则，输出为低电平。
或门的逻辑功能是：只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；只有当所有输入都为低电平时，输出才为低电平。
非门的逻辑功能是：输入为高电平时，输出为低电平；输入为低电平时，输出为高电平。
与非门的逻辑功能是：先进行与运算，然后将结果取反。
或非门的逻辑功能是：先进行或运算，然后将结果取反。
四、实验内容及步骤1、测试与门（74LS08）的逻辑功能将 74LS08 芯片插入实验箱的插座中。
用导线将两个输入引脚分别连接到逻辑电平开关，输出引脚连接到逻辑电平指示灯。
改变输入电平的组合（00、01、10、11），观察并记录输出电平的状态。
2、测试或门（74LS32）的逻辑功能按照与测试与门相同的方法，将 74LS32 芯片插入插座并连接好线路。
改变输入电平，记录输出电平。
3、测试非门（74LS04）的逻辑功能插入 74LS04 芯片，连接线路。
改变输入电平，观察输出。
4、测试与非门（74LS00）的逻辑功能重复上述步骤，测试 74LS00 的逻辑功能。
5、用示波器观察门电路的输入输出波形将示波器的探头分别连接到门电路的输入和输出引脚。
改变输入信号的频率和幅度，观察输入输出波形的变化。
五、实验数据及分析1、与门（74LS08）｜输入 A ｜输入 B ｜输出 Y ｜｜｜｜｜｜ 0 ｜ 0 ｜ 0 ｜｜ 0 ｜ 1 ｜ 0 ｜｜ 1 ｜ 0 ｜ 0 ｜｜ 1 ｜ 1 ｜ 1 ｜从数据可以看出，与门只有在两个输入都为 1 时，输出才为 1，符合与门的逻辑功能。
《数字电路》门电路逻辑功能及测试实验报告
《数字电路》门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路箱及示波器使用方法。
二、实验设备74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS04 六反相器 1片数字电子技术试验箱三、实验内容及步骤实验前按实验箱的使用说明先检查实验箱电源是否正常。
然后选择实验用的集成电路。
按自已设计的实验接线图连线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误后方可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
1、测试门电路逻辑功能（1）选用双四输入与非门74LS20一只，插入实验板上的IC插座，按图4-1接线，输入端A、B、C、D分别接K1～K4（电平开关输出插口），输出端接电平显示发光二极管（L1～L16任意一个）。
（2）将电平开关按表4-1置位，分别测出输出电压及逻辑状态。
表4-1与非门输出电压及逻辑状态2、异或门逻辑功能测试图4-4 异或门逻辑功能测试（1）选取二输入四异或门电路74LS86，按图4-4接线，输入端1、2、4、5接电平开关，输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表4-2置位，将结果填入表中表4-2 异或门输出电压及逻辑状态3、逻辑电路的逻辑关系（1）用74LS00，按图4-5、4-6接线，输入输出逻辑关系分别填入表4-3表4-4中；图4-5 图4-6表4-3表4-4（2）写出上面两个电路逻辑表达式。
图4-5：Y=A’B+AB’图4-6：Y=AB’+A’BZ=AB四、实验心得（1）怎样判断门电路逻辑功能是否正常？1.按照门电路功能，根据输入和输出，列出真值表。
2.按真值表输入电平，查看输出是否符合真值表。
所有真值表输入状态时，输出都是符合真值表，则门电路功能正常；否则门电路功能不正常。
（2）与非门一个输入接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过？其余输入端为高电平“1”时，允许脉冲通过，而有一个输入端为低电平“0”时，将“与非”门封锁，不允许脉冲通过。
门电路逻辑功能及测试实验报告
K3，K2，K1，K0 都设置为绿灯，A，B，Y 都为绿灯。 K3 为红灯，K2，K1，K0 都设置为绿灯，A，Y 为红灯，B 为绿灯。 K3，K2 为红灯，K1，K0 都为绿灯，A，B，Y 都为绿灯。 K3，K2，K1 为红灯，K0 为绿灯，A 为绿灯，B，Y 都为红灯。 K3，K2，K1，K0 为红灯，A，B，Y 都为绿灯。 K3，K1 都为绿灯，K2,，K0 都为红灯，A，B 为红灯，Y 为绿灯。
芯片74ls86的输入端1245号的引脚分别接至数字电路实验箱的任意个电平开关的插孔输出端368分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意光二极管的插口14号引脚接至数字电路实验箱的5v电源的5v插孔7引脚接至数字电路试验箱5v电源的gnd插孔
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深圳大学实验报告
课程名称：
数字逻辑与数字系统
实验项目名称：
方法、步骤：
任务一 异或门逻辑功能测试
（1） 将一片 74LS86 插入 RXS-1B 数字电路试验箱。 （2） 芯片 74LS86 的输入端 1,2,4,5 号的引脚分别接至数字电路实验箱的任意 4 个电
平开关的插孔，输出端 3,6,8 分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意 3 个发光二极管的插口，14 号引脚接至数字电路实验箱的+5V 电源的+5V 插孔，7 号引脚接至数字电路试验箱+5V 电源的 GND 插孔。 （3） 设置信号灯红 1 绿 0。
任务二 利用与非门控制输出 S 为红灯时
Y 在绿灯和红灯中反复切换。 S 为绿灯时 Y 始终为红灯
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数据处理分析：
任务一 异或门逻辑功能测试
A=（K3⊕K2）
B=（K1⊕K0）
门电路的测试实验报告
门电路的测试实验报告门电路的测试实验报告引言：门电路是数字电路中最基本的组成单元之一，它能够实现逻辑运算和控制信号的处理。
本次实验旨在通过对门电路的测试，验证其功能和性能，以及探究其在数字电路中的应用。
实验目的：1. 理解门电路的基本原理和工作方式；2. 掌握门电路的测试方法和技巧；3. 分析门电路的性能参数和特点。
实验材料和仪器：1. 门电路芯片；2. 电源；3. 示波器；4. 信号发生器；5. 连接线。
实验步骤：1. 准备工作：将门电路芯片插入实验板上，并确保连接线的接触良好；2. 测试门电路的输入输出关系：将信号发生器的输出信号连接到门电路的输入端，通过示波器观察门电路的输出信号，并记录下输入输出的关系；3. 测试门电路的逻辑功能：根据门电路的真值表，设置不同的输入信号组合，观察门电路的输出信号是否符合逻辑运算的规律；4. 测试门电路的响应时间：通过改变输入信号的频率和幅度，观察门电路的响应时间，并记录下来；5. 测试门电路的功耗：通过测量门电路的输入电流和电源电压，计算门电路的功耗；6. 总结实验结果：分析门电路的性能参数和特点，总结实验结果。
实验结果和分析：1. 输入输出关系测试结果：根据不同的输入信号，门电路的输出信号呈现出明确的逻辑关系，验证了门电路的基本功能；2. 逻辑功能测试结果：门电路的输出信号与真值表中的逻辑运算结果一致，进一步验证了门电路的逻辑功能；3. 响应时间测试结果：门电路的响应时间与输入信号的频率和幅度有关，当频率和幅度较高时，门电路的响应时间较短；4. 功耗测试结果：门电路的功耗与输入电流和电源电压成正比，功耗较低，适合在数字电路中广泛应用。
结论：通过本次实验，我们验证了门电路的功能和性能，并深入了解了门电路在数字电路中的应用。
门电路作为数字电路的基本组成单元，具有逻辑运算、控制信号处理等重要功能，为数字系统的设计和实现提供了基础。
在实际应用中，我们可以根据需要选择不同类型的门电路，如与门、或门、非门等，来满足不同的逻辑运算需求。
门电路逻辑功能及测试实验报告
一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能，包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法，包括输入信号的选择、输出信号的观测等。
3. 通过实验加深对数字电路原理的理解，提高动手实践能力。
二、实验原理门电路是数字电路的基本单元，它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。
常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能：1. 与门（AND）：当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。
2. 或门（OR）：当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号就为高电平。
3. 非门（NOT）：将输入信号的逻辑值取反，即高电平变为低电平，低电平变为高电平。
4. 与非门（NAND）：与门输出信号取反，即当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平。
5. 或非门（NOR）：或门输出信号取反，即当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号为低电平。
6. 异或门（XOR）：当输入信号不同时，输出信号为高电平；当输入信号相同时，输出信号为低电平。
三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00（2输入端四与非门）4. 74LS32（2输入端四或门）5. 74LS20（4输入端双与非门）6. 74LS86（2输入端四异或门）7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试（1）将74LS00芯片插入实验箱，按照电路图连接好与门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。
2. 或门测试（1）将74LS32芯片插入实验箱，按照电路图连接好或门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。
3. 非门测试（1）将74LS04芯片插入实验箱，按照电路图连接好非门电路。
门电路逻辑功能及测试实验报告总结
门电路逻辑功能及测试实验报告总结门电路是数字电子电路的基本组成部分，用于实现逻辑功能。
通过逻辑门的组合和连接可以实现不同的逻辑功能，并完成各种数字电路的设计。
本文将对门电路的逻辑功能及测试实验进行总结。
门电路是数字电路中最基本的元件，它接收一个或多个输入信号，并根据特定的逻辑规则产生一个输出信号。
常见的门电路包括与门、或门、非门、异或门等。
这些门电路可以根据输入信号的真值表，通过逻辑运算实现不同的逻辑功能。
以与门为例，它有两个输入A和B，当A和B同时为高电平时，输出为高电平；否则输出为低电平。
与门的逻辑功能可以用以下真值表表示：A |B | 输出--|---|----0 | 0 | 00 | 1 | 01 | 0 | 01 | 1 | 1通过逻辑运算可以得到与门的逻辑表达式为：输出= A * B。
其中* 表示逻辑乘法运算。
为了验证门电路的逻辑功能，需要进行测试实验。
测试实验的目的是通过给定的输入信号，观察输出信号是否符合门电路的逻辑规则。
例如，对于与门，可以通过给定不同的输入信号组合，观察输出是否与真值表中的结果一致。
在测试实验中，可以使用开关或信号发生器来提供输入信号。
通过将输入信号连接到门电路的输入端，然后将输出端连接到示波器或数字电压表，可以观察输出信号的变化。
根据输入信号的变化和输出信号的结果，可以判断门电路的逻辑功能是否正确。
除了测试实验，还可以使用电路仿真软件进行门电路的逻辑功能验证。
电路仿真软件可以模拟门电路的运行过程，并给出相应的输出结果。
通过比较仿真结果和门电路的真值表，可以验证门电路的逻辑功能是否正确。
总结来说，门电路是数字电子电路的基本组成部分，用于实现不同的逻辑功能。
通过逻辑运算可以得到门电路的逻辑表达式，通过测试实验或电路仿真可以验证门电路的逻辑功能是否正确。
门电路的逻辑功能及测试实验对于数字电路的设计和实现具有重要意义，能够确保数字电路的正确运行。
门电路测量实验报告
1. 熟悉门电路的基本原理和逻辑功能。
2. 掌握使用数字电路实验箱和示波器进行门电路测量实验的方法。
3. 通过实验验证门电路的逻辑功能，并分析实验数据。
二、实验原理门电路是数字电路的基本单元，根据其逻辑功能的不同，可分为与门、或门、非门、异或门等。
本实验主要测量以下几种门电路的逻辑功能：1. 与门：当两个输入信号同时为高电平时，输出信号才为高电平。
2. 或门：当至少一个输入信号为高电平时，输出信号才为高电平。
3. 非门：将输入信号取反，输出信号与输入信号相反。
4. 异或门：当两个输入信号不同时，输出信号为高电平。
三、实验仪器与器材1. 数字电路实验箱2. 示波器3. 逻辑电平开关4. 接线板5. 输入信号发生器6. 输出信号显示器四、实验步骤1. 将数字电路实验箱连接好，确保电源正常。
2. 根据实验要求，将逻辑电平开关设置为不同的状态。
3. 使用示波器观察输入信号和输出信号的波形。
4. 记录输入信号和输出信号的变化情况，分析门电路的逻辑功能。
五、实验内容（1）将输入信号A和B设置为高电平，观察输出信号Y的波形，应为高电平。
（2）将输入信号A和B设置为低电平，观察输出信号Y的波形，应为低电平。
2. 或门实验：（1）将输入信号A和B设置为高电平，观察输出信号Y的波形，应为高电平。
（2）将输入信号A和B设置为低电平，观察输出信号Y的波形，应为低电平。
3. 非门实验：（1）将输入信号A设置为高电平，观察输出信号Y的波形，应为低电平。
（2）将输入信号A设置为低电平，观察输出信号Y的波形，应为高电平。
4. 异或门实验：（1）将输入信号A和B设置为高电平，观察输出信号Y的波形，应为低电平。
（2）将输入信号A和B设置为低电平，观察输出信号Y的波形，应为高电平。
六、实验结果与分析1. 通过实验验证了与门、或门、非门和异或门的基本逻辑功能。
2. 实验结果表明，输入信号和输出信号的波形符合预期，说明实验箱和示波器工作正常。
逻辑门电路功能测试实验报告
逻辑门电路功能测试实验报告实验名称：逻辑门电路功能测试实验目的：通过对基本逻辑门电路的功能测试，了解逻辑门的功能特点和使用方法。
实验器材：逻辑门 IC 芯片、电路板、电源、数字万用表。
实验原理：逻辑门电路是由数个基本逻辑门组合而成的，其功能由每个基本逻辑门的特性决定。
在实现不同功能时，需要使用不同类型的逻辑门，并通过不同的电路组合实现。
实验步骤：1. 将逻辑门 IC 芯片插入电路板中，并连接电源。
2. 针对不同的逻辑门，根据其真值表，按照连接方法将线路连接。
3. 利用数字万用表对逻辑门电路进行测试，检测其输出信号是否符合逻辑门的真值表。
4. 可通过改变输入信号的方式，观察逻辑门的输出信号变化。
实验结果：针对不同类型的逻辑门进行连接和测试，实验结果如下：1. 与门（AND）电路测试结果符合真值表，只有所有输入都为 1 时，输出信号才为 1。
2. 或门（OR）电路测试结果符合真值表，只要有一个输入信号为1，输出信号即为 1。
3. 非门（NOT）电路测试结果符合真值表，将输入信号取反输出。
4. 与非门（NAND）电路测试结果符合真值表，只要有一个输入信号为 0，输出信号即为 0。
5. 或非门（NOR）电路测试结果符合真值表，只有所有输入都为0 时，输出信号才为 1。
6. 异或门（XOR）电路测试结果符合真值表，只有输入信号不相同时，输出信号才为 1。
实验结论：通过逻辑门电路功能测试，可以了解不同类型的逻辑门的特点和功能，并根据需要进行组合，实现不同的功能。
逻辑门电路在计算机和电子设备中广泛应用，是数字电路设计的基础。
门电路逻辑功能与测试实验报告
门电路逻辑功能与测试实验报告门电路逻辑功能与测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过学习和实践，掌握基本门电路（与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等）的逻辑功能及实际应用，并通过对门电路的测试，加深对数字逻辑电路的理解。
二、实验器材1.实验箱或面包板2.电源适配器3.逻辑门电路芯片（如74LS83A）4.连接线若干5.万用表6.实验程序（可选）三、实验原理门电路是数字逻辑电路的基本组成部分，可分为基本门电路和复合门电路。
基本门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等，它们分别具有相应的逻辑功能。
例如，与门只会在所有输入均为高电平时输出高电平，否则输出低电平；或门则只需一个输入为高电平就会输出高电平，等等。
通过这些基本门电路的不同组合，可以实现复杂的逻辑功能。
本次实验将以74LS83A四路与非门电路为例，进行门电路的逻辑功能与测试。
74LS83A是一种TTL（Transistor-Transistor Logic）型四路与非门电路，其特点为功耗低、速度快、体积小等。
四个独立的与非门具有相同的输入和输出端，可单独控制。
当A、B、C和D任一输入端为0时，输出Y为1；只有当所有输入端都为1时，输出Y才为0。
四、实验步骤1.准备器材并检查完好。
2.根据实验原理，连接电源、输入和输出端口，保证电源极性正确。
3.使用万用表检查各输入端口电平状态，并记录。
4.逐个改变输入端口的状态，观察输出端口的电平变化，并记录。
5.分析实验数据，了解74LS83A四路与非门电路的逻辑功能。
6.断电，结束实验。
五、实验数据分析与结论通过对74LS83A四路与非门电路的测试，我们验证了其逻辑功能。
在输入端口状态改变时，输出端口电平变化符合与非门的逻辑功能。
当任一输入端口为0时，输出端口为1；只有当所有输入端口都为1时，输出端口才为0。
这表明该门电路功能正常，可以用于实际应用中。
通过本次实验，我们深入了解了基本门电路的逻辑功能和实际应用，并学会了如何使用万用表进行电路测试。
门电路逻辑功能测试实验报告
门电路逻辑功能测试实验报告
门电路是数字电路中的基本组成部分，用于控制信号的传输和处理。
门电路逻辑功能测试实验旨在验证门电路的逻辑功能是否符合设计要求，通过观察输入信号和输出信号的变化，确定门电路的工作状态。
在门电路逻辑功能测试实验中，我们通常会使用数字信号发生器作为输入信号的源，将不同的数字信号输入到门电路中，然后通过示波器或数字多用表来观察输出信号的变化。
通过对比输入信号和输出信号的逻辑关系，我们可以判断门电路的工作是否正常。
在进行门电路逻辑功能测试实验时，首先需要准备好实验所需的设备和元件，包括数字信号发生器、示波器、数字多用表等。
然后按照实验步骤逐步操作，将输入信号连接到门电路的输入端，观察输出信号的变化。
如果输出信号符合门电路的逻辑功能，则说明门电路正常工作；反之，则需要进一步检查和调试。
在实际的门电路逻辑功能测试实验中，我们可以选择不同类型的门电路进行测试，如与门、或门、非门等。
通过对不同类型门电路的测试，可以更好地理解门电路的逻辑功能和工作原理，为后续的数字电路设计和故障排除提供参考。
总的来说，门电路逻辑功能测试实验是数字电路实验中的重要环节，通过实际操作和观察，可以加深对门电路的理解，提高实验能力和
工程实践能力。
希望通过本次实验，同学们能够掌握门电路的逻辑功能测试方法，为今后的学习和研究打下坚实的基础。
门电路的测试实验报告
门电路的测试实验报告实验名称：门电路测试实验实验目的：通过测试门电路，掌握其实际使用情况；了解门电路在电子电路中的应用。
实验原理：门电路由门电路开关、输入端和输出端等组成。
门电路输入端具有输入信号，当输入信号符合门电路规定的逻辑条件时，门电路产生输出信号。
门电路将输入信号的多种逻辑关系作为输出信号进行逻辑判断，实现复杂的逻辑运算。
门电路广泛应用于数字电路系统中的控制、存储和处理等部分。
实验器材：数字逻辑实验箱（Logic Box）、双倍增益数字逻辑触发器74LS73、数码钳形测试仪。
实验步骤：1.将门电路开关接入数字逻辑实验箱。
2.将门电路输入端和输出端分别引出。
3.将数码钳形测试仪设为“门电路测试模式”。
4.将数码钳形测试仪依次接入门电路输入端，观察输出端的信号变化。
5.测试门电路的不同逻辑功能，如与门、或门等。
6.记录测试结果。
实验结果：在测试中发现，门电路能够根据输入输出不同的逻辑关系，输出相应的逻辑运算结果。
比如在与门测试中，当A和B两个输入信号都为1时，输出端才会输出1，否则输出0。
此外，在或门测试中，只需要输入的两个信号中有一个为1，输出端即输出1，否则输出0。
通过测试，我们了解到门电路的基本功能和逻辑运算，掌握了门电路在数字电路系统中的应用。
实验结论：门电路是数字电路系统中的重要组成部分，能够进行逻辑运算，实现多种不同逻辑功能。
在实际使用中，门电路的测试是非常必要的，只有对其实际使用情况进行了解和掌握，才能够更好地应用于数字电路系统中，为人们所用。
实验建议：门电路测试应在数字电路实验箱等专业设备上进行，以确保实验的准确性和安全性。
建议在实验前，对门电路的组成和逻辑功能进行充分了解。
实验过程中，需要记录实验数据，以便后续分析。
以上是本次门电路测试实验报告，望采纳。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告门电路是数字电路中常见的一种基本逻辑电路，它能够实现逻辑运算，控制信号的传输和处理。
本实验旨在通过对门电路的逻辑功能及测试实验进行研究，深入理解门电路的工作原理和应用。
一、门电路的基本概念。
门电路是数字电路中的基本组成单元，它根据输入信号的不同组合产生相应的输出信号。
常见的门电路有与门、或门、非门等。
与门的逻辑功能是当所有输入信号都为高电平时输出高电平，否则输出低电平；或门的逻辑功能是当任意一个输入信号为高电平时输出高电平，否则输出低电平；非门的逻辑功能是对输入信号取反输出。
门电路的逻辑功能由其逻辑门电路图和真值表来描述。
二、门电路的逻辑功能测试。
1. 与门的逻辑功能测试。
通过搭建与门的逻辑电路，输入不同的信号组合，观察输出信号的变化，记录真值表，并与理论预期进行对比分析。
在测试过程中，需要注意输入信号的稳定性和准确性，以确保测试结果的可靠性。
2. 或门的逻辑功能测试。
同样地，通过搭建或门的逻辑电路，输入不同的信号组合，观察输出信号的变化，记录真值表，并与理论预期进行对比分析。
在测试过程中，需要注意输入信号的稳定性和准确性，以确保测试结果的可靠性。
3. 非门的逻辑功能测试。
搭建非门的逻辑电路，输入不同的信号组合，观察输出信号的变化，记录真值表，并与理论预期进行对比分析。
在测试过程中，同样需要注意输入信号的稳定性和准确性。
三、门电路的测试实验报告。
通过以上逻辑功能测试，我们得出了门电路的真值表和逻辑功能描述。
与门、或门、非门均能够按照预期的逻辑功能进行工作，输出信号符合逻辑运算的规律。
在测试过程中，输入信号的稳定性和准确性对于测试结果的可靠性至关重要。
通过本实验，我们深入了解了门电路的基本概念和逻辑功能，掌握了门电路的测试方法和技巧。
门电路作为数字电路中的基本组成单元，在数字系统设计和应用中具有重要的作用。
掌握门电路的逻辑功能及测试方法对于数字电路的设计和应用具有重要的意义。
门电路测试实验报告
一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能。
2. 掌握门电路的测试方法及步骤。
3. 培养实际操作能力和严谨的实验态度。
二、实验原理门电路是数字电路的基本组成单元，根据逻辑功能的不同，可以分为与门、或门、非门、异或门等。
本实验主要测试常用逻辑门电路的功能，通过观察输入和输出之间的关系，验证门电路的逻辑功能。
三、实验仪器与器材1. 数字电子技术实验箱2. 示波器3. 逻辑笔4. 电源5. 逻辑门电路芯片（如74LS00、74LS02、74LS04等）6. 逻辑门电路测试电路板四、实验内容及步骤1. 与门测试（1）将实验箱上的电源打开，将74LS00芯片插入实验箱的IC空插座中。
（2）按照测试电路板上的连接图，连接与门电路的输入端和输出端。
（3）使用逻辑笔测量输入端A和B的电平，记录输入和输出之间的关系。
（4）根据输入和输出之间的关系，验证与门电路的逻辑功能。
2. 或门测试（1）按照与门测试步骤，将74LS02芯片插入实验箱的IC空插座中。
（2）按照测试电路板上的连接图，连接或门电路的输入端和输出端。
（3）使用逻辑笔测量输入端A和B的电平，记录输入和输出之间的关系。
（4）根据输入和输出之间的关系，验证或门电路的逻辑功能。
3. 非门测试（1）按照与门测试步骤，将74LS04芯片插入实验箱的IC空插座中。
（2）按照测试电路板上的连接图，连接非门电路的输入端和输出端。
（3）使用逻辑笔测量输入端A的电平，记录输入和输出之间的关系。
（4）根据输入和输出之间的关系，验证非门电路的逻辑功能。
4. 异或门测试（1）按照与门测试步骤，将74LS86芯片插入实验箱的IC空插座中。
（2）按照测试电路板上的连接图，连接异或门电路的输入端和输出端。
（3）使用逻辑笔测量输入端A和B的电平，记录输入和输出之间的关系。
（4）根据输入和输出之间的关系，验证异或门电路的逻辑功能。
五、实验结果与分析1. 与门测试结果：当A和B都为高电平时，输出为高电平；否则，输出为低电平。
逻辑门电路功能测试实验报告
逻辑门电路功能测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入理解和掌握常见逻辑门电路（与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门和同或门）的逻辑功能，并通过实际测试和验证，提高对数字逻辑电路的分析和设计能力。
二、实验原理1、逻辑门电路的基本概念逻辑门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与、或、非、与非、或非、异或和同或等。
每种逻辑门都有其特定的逻辑表达式和真值表。
2、逻辑门的符号和表达式与门：符号为“＆”，表达式为 Y ＝ A·B （A 和 B 均为输入，Y 为输出），只有当 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 才为 1。
或门：符号为“｜”，表达式为 Y ＝ A ＋ B ，当 A 或 B 至少有一个为 1 时，输出 Y 为 1。
非门：符号为“～”，表达式为 Y ＝～A ，输入为 1 时输出为 0，输入为 0 时输出为 1。
与非门：符号为“NAND”，表达式为 Y ＝～（A·B) ，当 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 为 0，否则为 1。
或非门：符号为“NOR”，表达式为 Y ＝～（A ＋ B) ，当 A 或 B 至少有一个为 1 时，输出 Y 为 0，否则为 1。
异或门：符号为“⊕”，表达式为 Y ＝ A ⊕ B ，当 A 和 B 不同时，输出 Y 为 1，否则为 0。
同或门：符号为“⊙”，表达式为 Y ＝ A ⊙ B ，当 A 和 B 相同时，输出 Y 为 1，否则为 0。
3、真值表真值表是列出逻辑门电路所有可能输入组合及其对应的输出值的表格，是分析和理解逻辑门电路功能的重要工具。
三、实验设备与器材1、数字逻辑实验箱2、集成电路芯片：74LS08（与门）、74LS32（或门）、74LS04（非门）、74LS00（与非门）、74LS02（或非门）、74LS86（异或门）、74LS266（同或门）3、导线若干4、直流电源四、实验步骤1、熟悉实验箱和芯片引脚功能首先，仔细观察数字逻辑实验箱的布局和各插孔的功能，了解如何连接电路。
数电逻辑门电路实验报告doc
数电逻辑门电路实验报告篇一：组合逻辑电路实验报告课程名称：数字电子技术基础实验指导老师：樊伟敏实验名称：组合逻辑电路实验实验类型：设计类同组学生姓名：__________ 一、实验目的和要求（必填）二、实验内容和原理（必填）三、主要仪器设备（必填）五、实验数据记录和处理七、讨论、心得一．实验目的1.加深理解全加器和奇偶位判断电路等典型组合逻辑电路的工作原理。
2.熟悉74LS00、74LS11、74LS55等基本门电路的功能及其引脚。
3.掌握组合集成电路元件的功能检查方法。
4.掌握组合逻辑电路的功能测试方法及组合逻辑电路的设计方法。
二、主要仪器设备74LS00（与非门） 74LS55（与或非门） 74LS11（与门）导线电源数电综合实验箱三、实验内容和原理及结果四、操作方法和实验步骤六、实验结果与分析（必填）实验报告(一)一位全加器1.1 实验原理：全加器实现一位二进制数的加法，输入有被加数、加数和来自相邻低位的进位；输出有全加和与向高位的进位。
1.2 实验内容：用 74LS00与非门和 74LS55 与或非门设计一个一位全加器电路，并进行功能测试。
1.3 设计过程：首先列出真值表，画卡诺图，然后写出全加器的逻辑函数，函数如下： Si = Ai ?Bi?Ci-1 ；Ci = Ai Bi +(Ai?Bi)C i-1异或门可通过Ai ?Bi?AB?AB,即一个与非门；（74LS00），一个与或非门（74LS55）来实现。
Ci = Ai Bi +(Ai?Bi)C再取非，即一个非门（i-1?Ai Bi +(Ai?Bi)Ci-1，通过一个与或非门Ai Bi +(Ai?Bi)Ci-1，用与非门）实现。
1.4 仿真与实验电路图：仿真与实验电路图如图 1 所示。
图11实验名称：组合逻辑实验姓名：学号：1.5 实验数据记录以及实验结果全加器实验测试结果满足全加器的功能，真值表：(二)奇偶位判断器2.1 实验原理：数码奇偶位判断电路是用来判别一组代码中含 1 的位数是奇数还是偶数的一种组合电路。
数字逻辑分析及设计..门电路测量实验
实验报告题目：门电路测量实验课程名称：数字逻辑分析与设计姓名：院（系）：专业班级：学号：指导教师：成绩：时间：2017 年10 月30 日目录1实验目的 (1)2实验内容 (1)3实验设备 (1)4实验原理 (1)5实验过程及结果 (2)6实验心得 (4)1.实验目的1、掌握用测量门电路技术参数的基本方法2、熟悉74LS00芯片的封装和逻辑功能2.实验内容1、验证与非门74LS00的逻辑功能2、化简函数F=∑（1,3,5,9）+∑ d（7,11,13），并用与非门74LS00实现。
要求：用卡诺图化简，并画出逻辑电路图及芯片连线图。
3、验证异或门74LS86的逻辑功能。
3.实验设备实验电路板,74LS00型号芯片,74LS86型号芯片，各色导线若干。
4.实验原理1、为了验证某一种门电路功能，首先选定元件型号，并正确连接好元件的工作电压端。
选定某种“逻辑电平输出”电路，该电路应具有多个输出端，每个端都可以独立提供逻辑“0”和“1”两种状态，将被测门电路的每个输入端分别连接到“逻辑电平输出”电路的每个输出端。
选定某种具有可以显示逻辑状态“0”或“1”的电路，将被测门电路的输出端连接到这种电路的输入端上。
确定连线无误后，可以上电实验，并记录实验数据，分析结果。
2、实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面印有集成电路型号标记面对着使用者，集成电路上的标识凹口朝左，下角第一脚为一脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。
5.实验过程及结果5.1验证与非门74LS00的逻辑功能图1 74LS00引脚连接图5.2化简函数F=∑（1,3,5,9）+∑d（7,11,13），并用与非门74LS00实现。
要求：用卡诺图化简，并画出逻辑电路图及芯片连线图1、函数F=∑（1,3,5,9）+∑ d（7,11,13）的卡诺图化简，得到F图2 函数F的卡诺图化简2、继续用公式化简F，得到有三个与非门的F;能够用一个74LS00连接；并画出逻辑电路图3、作出函数F的真值表5.3验证异或门74LS86的逻辑功能将74LS86正确接入电路，注意识别引脚位置，按要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，得表达式为Y=A⊕B6.实验心得第一次做数电实验，因为之前对芯片不是很了解，导致刚开始做实验的时候进程很慢，而且还因为Vcc和GND引脚搞混而烧坏了一个芯片，所以这次实验课我的收获很大，学到了很多知识。
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实验报告
题目：门电路测量实验
课程名称：数字逻辑分析与设计
姓名：
院（系）：
专业班级：
学号：
指导教师：
成绩：
时间： 2017 年 10 月 30 日
目录
1实验目的 (1)
2实验内容 (1)
3实验设备 (1)
4实验原理 (1)
5实验过程及结果 (2)
6实验心得 (4)
1.实验目的
1、掌握用测量门电路技术参数的基本方法
2、熟悉74LS00芯片的封装和逻辑功能
2.实验内容
1、验证与非门74LS00的逻辑功能
2、化简函数F=∑（1,3,5,9）+∑ d（7,11,13），并用与非门74LS00实现。
要求：用卡诺图化简，并画出逻辑电路图及芯片连线图。
3、验证异或门74LS86的逻辑功能。
3.实验设备
实验电路板,74LS00型号芯片,74LS86型号芯片，各色导线若干。
4.实验原理
1、为了验证某一种门电路功能，首先选定元件型号，并正确连接好元件的工作电压端。
选定某种“逻辑电平输出”电路，该电路应具有多个输出端，每个端都可以独立提供逻辑“0”和“1”两种状态，将被
测门电路的每个输入端分别连接到“逻辑电平输出”电路的每个输出端。
选定某种具有可以显示逻辑状态“0”或“1”的电路，将被测门电路的输出端连接到这种电路的输入端上。
确定连线无误后，可以上电实验，并记录实验数据，分析结果。
2、实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面印有集成电路型号标记面对着使用者，集成电路上的标识凹口朝左，下角第一脚为一脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。
5.实验过程及结果
5.1验证与非门74LS00的逻辑功能
图1 74LS00引脚连接图
5.2化简函数F=∑（1,3,5,9）+∑d（7,11,13），并用与非门74LS00实现。
要求：用卡诺图化简，并画出逻辑电路图及芯片连线图
1、函数F=∑（1,3,5,9）+∑ d（7,11,13）的卡诺图化简，得到F
图2 函数F的卡诺图化简
2、继续用公式化简F，得到有三个与非门的F;能够用一个74LS00连接；并画出逻辑电路图
3、作出函数F的真值表
5.3验证异或门74LS86的逻辑功能
将74LS86正确接入电路，注意识别引脚位置，按要求输入信号，测出
相应的输出逻辑电平，得表达式为Y=A⊕B
6.实验心得
第一次做数电实验，因为之前对芯片不是很了解，导致刚开始做实验的时候进程很慢，而且还因为Vcc和GND引脚搞混而烧坏了一个芯片，所以这次实验课我的收获很大，学到了很多知识。
以后做书店试验的时候一定会更加细心，尽量少出错。
实验成绩评定表。