高级抖动溯源分析方法 (孙灯亮)

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溯源流析技巧-概述说明以及解释

溯源流析技巧-概述说明以及解释

溯源流析技巧-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述溯源流析技巧是一种通过追溯事物发展的过程和来源,深入分析其本质和原理的方法。

在各个领域,溯源流析技巧被广泛运用,用以提供更加全面准确的理解和解决问题的能力。

本文将重点介绍溯源流析技巧在实践中的应用。

首先会对溯源流析技巧的背景进行介绍,包括其发展历程和相关理论基础。

接着,将详细介绍两种具体的溯源技巧,这些技巧包括如何追溯事物的演变过程,以及如何分析事物的来源和根本原因。

最后,通过总结和展望,将对溯源流析技巧的应用进行归纳和展望未来的研究方向。

通过阅读本文,读者将能够深入了解溯源流析技巧的实践意义和应用场景。

无论是在学术研究、商业分析还是决策制定中,溯源流析技巧都将为我们提供切实可行的思路和方法。

通过学习和掌握这些技巧,我们能够更加全面准确地认识事物的本质和规律,为问题解决和创新提供有力支持。

在接下来的章节中,我们将详细讨论溯源流析技巧的具体应用,以及其中涉及的背景知识和方法论。

通过理论和实践的结合,我们将能够更好地应用溯源流析技巧,提升我们的思考能力和解决问题的能力。

本文的目的是为读者提供一份详尽的溯源流析技巧指南,以便读者能够在实际操作中灵活运用这些技巧。

希望读者能够通过本文的阅读,进一步提升自己的思考水平和问题解决能力,为个人和社会的发展做出更大的贡献。

1.2文章结构文章结构部分的内容可以包括以下几个方面的描述:1) 引言部分:介绍整篇文章的目的和意义,概括文章的主要内容,为读者提供总体的导向。

2) 正文部分:a) 背景介绍:对溯源流析技巧的基本概念进行阐述,为读者了解文章的主题和研究内容提供背景知识。

b) 溯源技巧一:详细介绍第一种溯源技巧的原理、方法和应用场景,通过案例或实证数据论证该技巧的有效性,并对其优缺点进行评价。

c) 溯源技巧二:详细介绍第二种溯源技巧的原理、方法和应用场景,通过案例或实证数据论证该技巧的有效性,并对其优缺点进行评价。

DDR失效分析方法

DDR失效分析方法
上电时序测试

DDR SDRAM 必须按照预定义的时序进行上电和初始化 :首先 VDD 上电 ,接着 VDDQ 上电 ,最 后 VREF 和 VTT 上电 ,同时保持 CKE 低。 在所有供电部分和 CLK 稳定后,等过了 200us 后,才 可以执行操作指令,在满足 200us 的延迟后,必须执行 DESL 或 NOP 命令,同时保持 CKE 高,然 后推荐执行 Pre-charge 或 PALL 命令,接着输入模式寄存器设置命令(MRS),把内存操参数写入 SPD 内(内存上的一个 EEPROM),参考图 3。
一定的延时。
DDR 本质上不需要提高时钟频率就能加倍提高 SDRAM 的速度,它允许在时钟的上升沿
和下降沿读出数据,因而其速度是标准 SDRAM 的两倍。至于地址与控制信号则与传统 SDRAM
相同,仍在时钟上升沿进行数据判断。图 1 是 DDR 总线的体系结构。
图 1:DDR 总线的体系结构 DQS 是源同步时钟,在接收端使用 DQS 来读出相应的数据 DQ,上升沿和下降沿都有效。 DQS 和 DQ 都是三态信号,在 PCB 走线上双向传输,读操作时,DQS 信号的边沿在时序上与 DQ 的信号边沿处对齐,而写操作时,DQS 信号的边沿在时序上与 DQ 信号的中心处对齐,参 考图 2,这就给测试验证带来了巨大的挑战:把“读”信号与“写”信号分开是非常困难的!
图 6:“读”数据或“写”数据的眼图 由于 DQS 和 DQ 都是三态信号,并且“读”“写”时序不一致,做到这一步是非常难的, 最好的方式是示波器能够从 DQS 的有效边沿恢复时钟,以恢复的时钟来分别形成“读”“写” 数据的眼图。这对示波器的分析分析能力有很高的要求,Infiniium 示波器具有这个分析能力, 可以从 DQS 中恢复时钟,如图 7 所示。

翡翠鉴别的高科技方法

翡翠鉴别的高科技方法

翡翠鉴别的高科技方法翡翠是一种贵重的宝石,在市场上被广泛应用于珠宝制作和装饰品。

由于其高价值和广泛流通性,对于翡翠的真伪鉴别就显得尤为重要。

传统的鉴别方法包括目视观察、重量测定、硬度测试和折射率测定等,然而这些方法往往需要依赖于经验和专业技能,容易出现主观性和误判的问题。

随着高科技的发展,一些新的鉴别方法也得以应用于翡翠鉴别,以提高鉴别结果的准确性和可信度。

本文将介绍一些目前应用于翡翠鉴别的高科技方法。

1.红外光谱(FTIR)分析:红外光谱分析是一种常见的分析技术,可以用于材料的成分分析和化学结构的鉴定。

对于翡翠鉴别来说,红外光谱仪可以用于对石料中存在的不同矿物成分进行鉴别。

由于不同种类的翡翠中含有不同的矿物,其红外光谱图谱也会有所不同。

通过对比待鉴别石料的红外光谱图谱和已知翡翠的红外光谱图谱,可以判断待鉴别石料是否为真翡翠。

2. 分光仪(UV-Vis)分析:分光仪是一种用于测量物体吸收、透射和反射光线的设备。

在翡翠鉴别中,分光仪可以用于检测石料中的一些特定吸收峰。

例如,翡翠中常含有的铁元素会导致在可见光区域(400-700nm)出现吸收峰,通过测量石料在可见光区域的吸收光谱,可以间接判断翡翠中是否含有铁元素,从而进一步鉴别翡翠的真伪。

3.激光诱导荧光光谱(LIF):激光诱导荧光光谱是一种通过激光照射样品,测量样品发射的荧光光谱来分析样品成分的技术。

应用于翡翠鉴别中,激光诱导荧光光谱可以用于检测石料中的荧光特性。

真正的翡翠通常会在荧光光谱图上显示出一些特定的峰值,而伪造的石料则不会有这些峰值。

通过比对待鉴别石料和真翡翠的荧光光谱图谱,可以判断待鉴别石料是否为真翡翠。

4.X射线衍射(XRD)分析:X射线衍射是一种利用X射线通过晶体并与晶体相互作用而产生的衍射的方法。

对于翡翠鉴别来说,X射线衍射可以用于确定石料中的晶体结构。

真正的翡翠通常具有特定的晶体结构(如石英结构),而伪造石料则可能具有其他不同的晶体结构。

PyrisDiamondDSC实用培训教程

PyrisDiamondDSC实用培训教程

识别方法
通过DSC曲线的形状、峰 位、峰高等特征,结合实 验条件和样品性质,识别 出特征温度点。
计算方法
根据特征温度点的定义和 识别结果,采用相应的计 算公式或算法,计算出准 确的特征温度点数值。
热力学参数计算及应用举例
热力学参数定义
介绍热力学参数的定义和 物理意义,如热容、焓变 、熵变等。
计算方法
01
02
03
04
温度异常
检查温度传感器、加热元件、 控制板等部件是否正常工作,
逐步排查故障。
气路故障
检查气路系统是否漏气、堵塞 或损坏,及时更换损坏部件。
仪器无法启动
检查电源插头、保险丝、控制 板等部件是否正常,逐步排查
故障。
测量结果不准确
检查样品室、传感器、校准参 数等是否正常,重新进行校准
或调整参数。
DSC定义
差示扫描量热法(Differential Scanning Calorimetry,DSC) 是一种热分析方法,用于测量样品与参比物之间的功率差随温度 或时间的变化。通过DSC分析,可以获得样品的热性能参数,如 玻璃化转变温度、熔融温度、结晶温度等。
工作原理
在DSC实验中,样品和参比物分别置于两个独立的加热室中,并 以相同的速率加热。当样品发生热效应(如吸热或放热)时,与 参比物之间会产生温度差。为了维持两者温度一致,需要向样品 或参比物施加额外的功率,这个功率差就是DSC曲线上的纵坐标 。
确保样品与测试要求相匹配,考虑样品的热稳定性 、纯度、粒度等因素。
样品制备
根据实验需求,对样品进行研磨、干燥、混合等预 处理,以获得均匀、稳定的测试样品。
避免污染
在样品制备过程中,注意避免引入杂质或污染物, 确保测试结果的准确性。

DDR1的“读”和“写”眼图分析

DDR1的“读”和“写”眼图分析

DDR1&2&3的“读”和“写”眼图分析来源:安捷伦科技有限公司作者:孙灯亮时间:2008-05-14发布人:林逸DDR 1&2&3总线概览DDR全名为Double Data Rate SDRAM ,简称为DDR。

现在DDR技术已经发展到了DDR 3,理论上速度可以支持到1600MT/s。

DDR总线走线数量多,速度快,操作复杂,探测困难,给测试和分析带来了巨大的挑战。

DDR 本质上不需要提高时钟频率就能加倍提高SDRAM的速度,它允许在时钟的上升沿和下降沿读出数据,因而其速度是标准SDRAM的两倍。

至于地址与控制信号则与传统SDRAM相同,仍在时钟上升沿进行数据判断。

目前,许多计算机使用时钟频率为533MHz的DDR2内存,更先进的DDR2内存正在日益普及,它的时钟频率在400 MHz-800 MHz之间,新的DDR3内存的时钟频率则可以工作在800MHz-16OOMHz之间。

DDR3内存芯片还有另外一个长处:更低的能耗,它的运行电压是1.5伏,低于DDR2内存芯片的1.8伏和DDR1内存芯片的2.5伏。

在使用电池的设备中能够延长电池续航时间,因为能耗低,产生的热量也就少,从而对冷却的要求也就低一些。

DDR 2&3几个新增特性的含义是:ODT( On Die Termination),DDR1 匹配放在主板上,DDR2&3把匹配直接设计到DRAM芯片内部,用来改善信号品质。

OCD(Off Chip Driver)是加强上下拉驱动的控制功能,通过减小DQS与/DQS(DQS是数据Strobe,源同步时钟,数据的1和0由DQS作为时钟来判断) Skew(时滞)来增加信号的时序容限(Timing Margin)。

Posted CAS是提高总线利用率的一种方法。

AL(Additive Latency)技术是相对于外部CAS,内部CAS执行一定的延时。

图1:DDR总线的体系结构图1是DDR总线的体系结构。

抖动法筛选特征点仿真

抖动法筛选特征点仿真
抖动法三维复原系统示意图如图 1。系统有 2 个相 机,通过移动平台控制使两相机位置发生变动[18]。
z轴
运动方向
目标物体 y轴
相机 L
运动方向 相机 R x 轴
图 1 抖动法三维复原系统
收稿日期: 2019—03—22
第5 期
李日亮,等: 抖动法筛选特征点仿真
31
如图 2( a) ,L、R 相机的主节点为分别为 L1 ,R1 。两相 机光轴交于一点 O,且 L1 ,R1 ,O 所在平面称基准极平面。
30
传感器与微系统( Transducer and Microsystem Technologies)
2019 年 第 38 卷 第 5 期
DOI: 10. 13873 / J. 1000—9787( 2019) 05—0030—04
抖动法筛选特征点仿真
李日亮,徐 晓
( 华南理工大学 物理与光电学院,广东 广州 510640)
LI Riliang,XU Xiao
( School of Physics and Optoelectronics,South China University of Technology,Guangzhou 510640,China)
Abstract: Aiming at the problem that there are a lot of mismatched points in binocular 3D reconstruction with feature matching,a jittering method is proposed for screening matching points by the jittering of cameras. Images are taken by binocular camera at first,and the left and right cameras are continuously moved,and the images are taken in this process,then the images after moving are used for screening the matching feature points of the previous images. Simulations on a jittering algorithm are done under typical utility conditions according to design requirements of the jittering method. Simulation results show that as long as the movement clearly changes the base plane orientation of the binocular images under the polar geometry condition,the ratio of the correct matching points can be significantly improved by the algorithm. This simulation experiments provide a reference criterion for the design of camera moving path in the jittering method. Keywords: mismatched points; jittering method; polar geometry; binocular 3D reconstruction
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高级抖动溯源分析方法
安捷伦科技(中国)有限公司孙灯亮
抖动的定义及和相位噪声和频率噪声的关系
抖动是数字系统的信号完整性测试的核心内容之一,是时钟和串行信号的最重要测量参数(注:并行总线的最重要测量参数是建立时间和保持时间)。

一般这样定义抖动:“信号的某特定时刻相对于其理想时间位置上的短期偏离为抖动”(参考:Bell Communications Research,Inc(Bellcore),"Synchrous Optical Network(SONET) Transport Systems:Common Generic Criteria, TR-253-CORE",Issue 2, Rev No.1, December 1997".如图1所示。

其中快过10HZ的偏离定义为抖动(Jitter),漫过10Hz的偏离定义为漂
移(Wander)。

图1. 时钟和数据抖动的定义
抖动和相位噪声和频率噪声有什么关系呢?
图2.抖动和相位噪声和频率噪声的关系
抖动成分的分解及各个抖动成分的特征及产生原因
随着信号速率的不断提高和对精度的越来越高要求,需要进行抖动成分的分离以更深入表征抖动特征和查找问题根源。

一般按图3进行抖动成分的分离。

图3.抖动成分分离图
各个英文的中文翻译如下。

Total Jitter(TJ):总体抖动;
Random Jitter(RJ):随机抖动;
Deterministic Jitter(DJ):确定性抖动;
Data Dependent Jitter(DDJ):数据相关抖动;
Periodic Jitter(PJ):周期性抖动;
Inter-symbol Interference(ISI):码间干扰
Duty Cycle Distortion(DCD):占空比失真;
Sub Rate Jitter(SRJ):子速率抖动。

下面分别讨论每种抖动成分的特征和产生原因。

1、随机抖动RJ
随机抖动是不能预测的定时噪声,因为它没有可以识别的模式。

典型的随机噪声实例是在无线电接收机调谐到没有活动的载频时听到的声音。

尽管在理论上随机过程具有任意概率分布,但我们假设随机抖动呈现高斯分布,以建立抖动模型。

这种假设的原因之一是,在许多电路中,随机噪声的主要来源是热噪声(也称为Johnson 噪声或散粒噪声),而热噪声呈现高斯分布。

另一个比较基础的原因是,根据中心极限定理,不管各个噪声源采用什么分布,许多不相关的噪声源的合成效应该接近高斯分布。

高斯分布也称为正态分布,但它的一个最重要的特点是:对高斯变量,它可以达到的峰值是无穷大。

尽管这种随机变量的大多数样本将会聚集在中间值的周围,但在理论上,任何单一的样本,它可以偏离中间值任意大的量。

所以,高斯分布都没有峰到峰边界值,从这种分布中的样本数越多,所测得的峰到峰值将越大。

所以,我们用stdev或RMS(均方差)值来衡量随机抖动RJ。

2、确定性抖动DJ
确定抖动是可以重复的、可以预测的定时抖动。

正因如此,这个抖动的峰到峰值具有上下限,在数量相对较少的观察基础上,通常可以以高置信度观察或预测其边界。

DDJ和PJ 根据抖动特点和根本成因进一步细分了这类抖动。

确定性抖动和随机抖动在统计图上可以用图4形象化表示。

图4.RJ和DJ在统计图上的形象化表示
3、周期性抖动PJ和子速率抖动SRJ
以周期方式重复的抖动称为周期性抖动。

由于任何周期波形都可以分解成傅立叶顺序的谐波相关的正弦曲线,这类抖动有时称为正弦曲线抖动。

一般来说,周期性抖动与数据流中任何定期重复的码型无关。

周期性抖动一般是由耦合到系统中的外部确定性的噪声源而引起的,如开关电源噪声或强的局部RF载波。

时钟恢复PLL不稳定也可能会导致周期性抖动。

图5是计算机中常用的SSC(扩频时钟)测试结果,SSC是典型的周期性抖动。

子速率抖动SRJ是PJ的不同频率成分,可以帮助判断干扰源的频率。

图5.SSC(扩频时钟)是典型的周期性抖动PJ
4、数据相关抖动DDJ
与数据流中的位序列相关的任何抖动都称为数据相关抖动DDJ。

DDJ通常是由连接器,电缆,PCB传输线,背板等的不足的频响(阻抗不连续和损耗的综合结果)引起的。

不足带宽对数据序列强烈地执行低通滤波,由于滤波,波形没到达完全的高状态或低状态,除非
有同极性的多个位连续出现(注:轮流的1,0,1,0,1,0 属于高频,因为每单位区间内,信号都发生电压跳转。

连续的1或0,因为信号电压一直维持固定,所以属于低频)。

图6显示了这一个波形垂直偏置后与自己相叠加后的波形。

可以看到,随着1,0,1,0,1,0,1 序列的下降跳转,比随着1,0,1,0,1,1,1 序列的下降跳转,跨过门限的时间较早。

由于这种定时偏移是可以预测的,它与跳转前的特定数据有关,因此它属于DDJ,也称为码间干扰ISI。

图6.码间干扰ISI的成因图示
5、占空比失真DCD
导致占空比失真DCD抖动的常见原因有两个:
1. 上升沿的转换速率与下降沿的转换速率不同。

一般判定门限位于50%幅度点,但波形的上升时间慢,导致上升沿跨过门限的时间比下降沿晚,结果,在眼图上交叉点不是50%的位置,出现占空比失真抖动DCD。

2. 波形的判定门限高于或低于应该值。

信号的眼图特征上,交叉点在50%,但是判定门限没有设在50%幅度点上也出现占空比失真抖动DCD,统计直方图看上去与原因1非常类似。

6、使用浴盆曲线和双狄拉克模型预估总体抖动TJ
高斯概率分布以及其峰到峰值在理论上没有界限,把这两项结合在一起考虑,会导致一个有趣的想法:对包含某些高斯抖动的任何信号,如果累计样本的时间足够长,眼图应该会完全合上。

那么我们测试眼图和抖动测试多长时间、多少样本数比较合适?一般数字通讯的误码率BER要求为1e-12时(这是串行通信链路常用的误码率容限规范),而示波器要捕获这么多数据需要的时间太长,如何保证短时间捕获却能得出较准确的测量结果?这就要用到浴盆曲线和双狄拉克模型,图7的公式即是双狄拉克模型。

图7.双狄拉克模型和公式
使用示波器捕获足够的数据(一般不用太多,比如200K样点),可以容易分离出RJ和DJ,然后通过RJ和DJ卷积的双狄拉克模型,可以推算出误码率和眼张开度的对应曲线,从而可以推算出不同数据量或误码率对应的抖动值,如图8所示。

浴盆曲线不是测试误码率的曲线,而是测试总体抖动的方法,这一点我们一定要正确认识和理解。

图8.通过浴盆曲线测试误码率为1e-12要求下的总体抖动TJ
高级抖动溯源分析方法
通过抖动的分离,一方面可以帮助我们判断被测件DUT是否满足设计或规范要求,另一方面可以帮助我们寻找问题根源,这就是抖动的溯源分析方法。

图9是抖动成因关系图。

图9.抖动成因关系图
从抖动成因关系图,结合我们实际的经验,我们作系统设计,可能增加抖动的地方在于:1)互连通道;
2)电源纹波和噪声;
3)参考时钟。

通过抖动分离,如果发现ISI比较大,那么主要来源是互连通道,可以进一步测试互连通道的阻抗连续性和损耗来确定问题根源。

如果发现PJ比较大,根据长时间积累的经验,90%的可能原因是电源纹波(针对非扩频系统),那么就需要进一步测试电源纹波确定问题
的根源。

如果发现RJ比较大,主要原因是散热和电源噪声。

图10是一个实际的例子:被测信号是一个2.5GHz的PCIe信号(图10的黄色波形),通过抖动成分分解发现PJ比较大,这时候打开抖动趋势图(抖动趋势图是把被测波形每个具体边沿抖动值连接在一起的波形,水平轴代表与被测波形水平轴一样的时间信息,垂直轴代表具体每个边沿的抖动值,也用时间表示,如图10中的蓝色波形),发现波形很有规律。

按照经验法则,90%的原因是来自电源纹波,所以用通道2探测怀疑的电源,电源纹波波形如图10中的绿色波形,绿色波形形状与抖动趋势图一致,而且是同步变化,这样即可定位PJ是来自于电源纹波。

解决办法是增加滤波电容或改变电源系统的设计以减小电源纹波,最终使得PCIe的抖动满足规范要求。

所以,通过抖动的分离,我们可以容易的寻找到问题的根源,从而大大降低了解决问题的难度。

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参考资料:
孙灯亮的博客:/dengliang100。

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