材料分析方法期末考试总结
材料分析方法重点总结
材料分析⽅法重点总结1.（1）试说明电⼦束⼊射固体样品表⾯激发的主要信号、主要特点和⽤途。
（2）扫描电镜的分辨率受哪些因素影响? 给出典型信号成像的分辨率（轻元素滴状作⽤体积），并说明原因。
（3）⼆次电⼦（SE）信号主要⽤于分析样品表⾯形貌，说明其衬度形成原理。
（4）⽤⼆次电⼦像和背散射电⼦像在显⽰表⾯形貌衬度时有何相同与不同之处?答：（1）背散射电⼦:能量⾼；来⾃样品表⾯⼏百nm深度范围；其产额随原⼦序数增⼤⽽增多.⽤作形貌分析、成分分析以及结构分析。
⼆次电⼦:能量较低；来⾃表层5－10nm深度范围；对样品表⾯形貌⼗分敏感.不能进⾏成分分析.主要⽤于分析样品表⾯形貌。
吸收电⼦:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电⼦的衬度互补.吸收电⼦能产⽣原⼦序数衬度，即可⽤来进⾏定性的微区成分分析.透射电⼦：透射电⼦信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进⾏微区成分分析.特征X射线: ⽤特征值进⾏成分分析，来⾃样品较深的区域俄歇电⼦: 各元素的俄歇电⼦能量值低；来⾃样品表⾯1－2nm范围。
适合做表⾯分析.（2）影响因素:电⼦束束斑⼤⼩,检测信号类型,检测部位原⼦序数.信号⼆次电⼦背散射电⼦吸收电⼦特征X射线俄歇电⼦分辨率 5～10 50～200 100～1000 100～1000 5～10对轻元素，电⼦束与样品作⽤产⽣⼀个滴状作⽤体积(P222图)。
⼊射电⼦在被样品吸收或散射出样品表⾯之前将在这个体积中活动。
AE和SE因其本⾝能量较低，平均⾃由程很短，因此，俄歇电⼦的激发表层深度：0.5～2 nm，激发⼆次电⼦的层深：5～10 nm，在这个浅层范围，⼊射电⼦不发⽣横向扩展，因此，AE和SE只能在与束斑直径相当的园柱体内被激发出来，因为束斑直径就是⼀个成象检测单元的⼤⼩，所以它们的分辨率就相当于束斑直径。
BE在较深的扩展体积内弹射出，其分辨率⼤为降低。
X射线在更深、更为扩展后的体积内激发，那么其分辨率⽐BE更低。
《材料现代分析方法》总结
《材料现代分析方法》总结《材料现代分析方法》是一门综合性的学科，研究材料的组成、结构、性能和相互作用等方面的分析方法。
它涉及到物理、化学、材料科学等多个学科领域，对于提高材料的质量、性能和稳定性具有重要的意义。
本课程的学习，对于培养学生的综合素质和动手能力有着重要的作用。
通过本课程的学习，我对材料的分析方法有了更深入的了解，对于材料科学研究有着更为全面的认识。
材料现代分析方法涵盖了各种物理、化学、电子显微镜、X射线衍射、质谱、光谱等各种详细的分析方法，这些方法可以全面了解材料的成分、结构和性能等特征。
例如，通过使用电子显微镜可以观察材料的微观形貌和晶体结构，通过X射线衍射可以确定材料的晶体结构，通过光谱分析可以确定材料的化学成分等。
在课程学习中，我对于材料分析方法的基本原理有了更深刻的理解。
例如，质谱分析是利用质谱仪将物质分离、检测、鉴定和分析的技术方法，原理是将原子或分子加速至高速，然后经由离子源加入其中，使样品中的原子或分子电离形成离子，接着通过外界的电场、磁场和电场等仪器来对离子进行分析和测量。
通过质谱分析，可以准确了解材料的成分和结构。
另外，在课程学习中，我还学习了许多实际应用的例子，例如用于铁路轨道的材料分析方法。
铁路轨道是国民经济中重要的基础设施之一，材料分析方法在轨道的材料研究和质量检测中起着关键作用。
通过电子显微镜和X射线衍射等技术，可以对轨道材料的晶体结构、硬度和耐磨性等性能进行分析，从而保证轨道的质量和安全。
此外，材料现代分析方法在材料科学研究领域的应用也具有广泛的前景。
通过使用各种分析方法，可以对材料的特性、性能和结构等进行全面的了解。
例如，在材料研究领域，可以利用X射线衍射技术来确定材料的晶体结构，通过质谱分析技术来分析材料的成分，通过光谱分析技术来研究材料的电学性质等。
这些分析方法的应用，将进一步推动材料科学的发展和进步。
总之，《材料现代分析方法》是一门非常重要的学科，它涵盖了各种分析方法和技术，使我们能够全面了解和研究材料的组成、结构和性能等特征。
材料分析方法总结
第一章 X 射线物理学基础一、X 射线产生的主要装置和条件 主要装置：阳极靶材、阴极灯丝条件：a. 大量自由电子；b. 定向高速运动；c. 运动路径上遇到障碍（靶材）二、短波限一个电子在与阳极靶撞击时，把全部能量给予一个光子，这就是一个光量子所能获得的最大能量，即：h c/λ=eU ，此时光量子的波长即为短波限λSWL 。
三、连续X 射线（强度公式）大量电子在与靶材碰撞的过程中，能量不断减小，光子所获得的能量也不断减小，形成了一系列由短波限λSWL 向长波方向发展的连续波谱。
连续谱强度21iZU K I四、特征X 射线（莫塞莱定律）当X 射线管两端的电压增高到某一特定值U k 时，在连续谱的特定的波长位置上，会出现一系列强度很高，波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶材有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，所以称为特征谱或标识谱。
莫塞莱定律：Z K 21) U - U ( i K I m n 3 （Un 为临界激发电压，原子序数Z 越大，Un 越大）五、X 射线吸收（透射）公式——（质量吸收系数：单质、化合物（固溶体、混合物）） 单质 m tm m e I eI I 00化合物ni i mim w 1六、光电效应、荧光辐射、俄歇效应光电效应：当入射X 射线光量子能量等于或略大于吸收体原子某壳层电子的结合能时，电子易获得能量从内层逸出，成为自由电子，称为光电子，这种光子击出电子的现象称为光电效应。
荧光辐射：因光电效应处于相应的激发态的原子，将随之发生如前所述的外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出特征X 射线，称X 射线激发产生的特征辐射为二次特征辐射，称这种光致发光的现象为荧光效应。
俄歇效应：原子K 层电子被击出后， L 层一个电子跃入 K 层填补空位，而另一个L 层电子获得能量逸出原子成为俄歇电子，称这种一个K 层空位被两个 L 层空位代替的过程为俄歇效应。
光电效应——光电子荧光辐射——荧光X 射线（二次X 射线） 俄歇效应——俄歇电子七、吸收限及其两个应用：滤波片的选择、靶材的选择吸收限：欲激发原子产生K、L、M等线系的荧光辐射，入射X 射线光量子的能量必须大于或至少等于从原子中击出一个K、L、M层电子所需的能量W K、W L、W M，如，W K= h K = hc / K，式中， K、 K是产生K系荧光辐射时，入射X射线须具有的频率和波长的临界值。
材料分析方法总结
材料分析方法总结材料分析方法是一种用于研究材料性质和品质的科学手段。
随着科技的不断进步，各种材料分析方法也不断涌现，为我们认识材料的微观结构和性能提供了强有力的工具。
本文将就几种常见的材料分析方法进行简要介绍和分析。
一、X射线衍射（XRD）X射线衍射是一种通过材料中晶体的结构信息而研究物质性质的方法。
当X射线照射到晶体上时，由于晶体的晶格结构，X射线会发生衍射现象，形成特定的衍射图样。
通过分析和解读衍射图样，我们可以获得晶体的晶胞参数、晶体结构和晶体取向等信息。
该方法非常适合用于分析晶体材料、无定形材料和薄膜等样品的结构特性。
二、扫描电子显微镜（SEM）扫描电子显微镜是一种利用电子束与物质相互作用产生的信号来观察和分析材料微观形貌和结构的仪器。
相比传统光学显微镜，SEM具有更高的分辨率和放大倍数，可以观察到更小尺寸的样品结构和表面形貌。
通过SEM的图像分析，可以得到材料表面形貌、粒径分布、表面缺陷和微观结构等信息，对于材料的微观性能研究和质量控制具有重要意义。
三、傅里叶变换红外光谱（FTIR）傅里叶变换红外光谱是一种通过检测材料在红外波段的吸收和散射谱线，来研究材料组成和化学结构的方法。
物质的分子具有特定的振动模式，当红外辐射通过样品时，根据样品对不同波长的红外辐射的吸收情况，我们可以获得样品分子的化学键、官能团和其他结构信息。
因此，FTIR可用于鉴定和分析有机物、聚合物和无机物等材料。
四、热重分析（TGA）热重分析是利用材料在升温或降温过程中质量的变化来研究材料热特性和失重行为的方法。
在TGA实验中，材料样品被加热，同时装有高精度天平的仪器记录样品质量的变化。
通过分析反应前后质量变化曲线，我们可以推断样品中的各类组分和反应过程。
TGA在材料的热稳定性、相变行为、降解特性和组分分析等方面起着重要作用。
五、原子力显微镜（AFM）原子力显微镜是利用探测器的探针扫描物体表面的力的变化来观察样品的表面形貌和研究材料的物理性质。
材料分析测试方法考点总结
材料分析测试方法XRD1、x-ray 的物理基础X 射线的产生条件：⑴ 以某种方式产生一定量自由电子⑵ 在高真空中，在高压电场作用下迫使这些电子做定向运动⑶ 在电子运动方向上设置障碍物以急剧改变电子运动速度→x 射线管产生。
X 射线谱——X 射线强度随波长变化的曲线：（1）连续X 射线谱：由波长连续变化的X 射线构成，也称白色X 射线或多色X 射线。
每条曲线都有一强度极大值（对应波长λm ）和一个波长极限值（短波限λ0）。
特点：最大能量光子即具有最短波长——短波限λ0。
最大能量光子即具有最短波长——短波限λ0。
影响连续谱因素：管电压U 、管电流 I 和靶材Z 。
I 、Z 不变，增大U→强度提高，λm 、λ0移向短波。
U 、Z 不变，增大I ；U 、I 不变，增大Z→强度一致提高，λm 、λ0不变。
（2）特征X 射线谱：由一定波长的若干X 射线叠加在连续谱上构成，也称单色X 射线和标识X 射线。
特点：当管电压超过某临界值时才能激发出特征谱。
特征X 射线波长或频率仅与靶原子结构有关，莫塞莱定律特定物质的两个特定能级之间的能量差一定，辐射出的特征X 射线的波长是特定。
特征x 射线产生机理：当管电压达到或超过某一临界值时，阴极发出的电子在电场加速下将靶材物质原子的内层电子击出原子外，原子处于高能激发态，有自发回到低能态的倾向，外层电子向内层空位跃迁，多余能量以X 射线的形式释放出来—特征X 射线。
X 射线与物质相互作用：散射，吸收（主要）（1）相干散射：当X 射线通过物质时，物质原子的内层电子在电磁场作用下将产生受迫振动，并向四周辐射同频率的电磁波。
由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称相干散射→ X 射线衍射学基础 ()σλ-=Z K 1（2）非相干散射：X 射线光子与束缚力不大的外层电子或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X 射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加，也称为康普顿散射。
材料分析方法总结
材料分析方法总结材料分析方法是指通过一系列科学技术手段对材料进行分析和测试，以获取材料的组成、结构、性能等信息的过程。
材料分析方法在材料科学领域具有重要意义，它为材料研究和工程应用提供了可靠的数据支持。
下面将对常见的材料分析方法进行总结和介绍。
一、光学显微镜。
光学显微镜是一种常用的材料分析仪器，它能够通过光学放大原理对材料进行观察和分析。
通过光学显微镜可以观察材料的表面形貌、结构特征和晶体形貌，对金相组织、晶体缺陷等进行分析。
光学显微镜操作简单，成本低，适用于金属、陶瓷、塑料等材料的分析。
二、扫描电子显微镜（SEM）。
扫描电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，它通过电子束与样品相互作用，利用信号的不同来获取样品表面形貌、成分分布、晶体结构等信息。
SEM具有高放大倍数、高分辨率、能够对非导电材料进行分析等特点，适用于金属、陶瓷、复合材料等材料的表面形貌和微观结构分析。
三、X射线衍射（XRD）。
X射线衍射是一种利用X射线与材料相互作用来获取材料结构信息的方法。
通过X射线衍射可以确定材料的晶体结构、晶粒尺寸、晶格常数等信息，对于无机材料、金属材料、无机非金属材料的结构分析具有重要意义。
四、质谱分析。
质谱分析是一种通过对材料中各种元素进行分析和检测，以获取材料成分和含量信息的方法。
质谱分析具有高灵敏度、高分辨率、能够对微量元素进行分析的特点，适用于材料成分分析、材料表面成分分析等领域。
五、热分析。
热分析是一种通过对材料在控制温度条件下的物理、化学性质变化进行分析的方法。
常见的热分析方法包括热重分析（TG）、差热分析（DSC）、热膨胀分析（TMA）等，它们可以用于材料的热稳定性、热动力学参数、相变温度等方面的分析。
六、原子力显微镜（AFM）。
原子力显微镜是一种近场显微镜，它能够对材料表面进行原子尺度的表征和分析。
AFM具有高分辨率、三维表征、原子尺度的表面形貌分析等特点，适用于纳米材料、生物材料、薄膜材料等的表面形貌和性能分析。
材料分析方法总结
材料分析方法总结材料是现代工业中不可缺少的一环，而材料的质量也直接影响着产品的性能和品质。
为了保证材料的质量，科学家们在不断探索新的材料分析方法。
本文将对几种常用的材料分析方法进行总结。
1. X射线衍射法X射线衍射法是一种广泛应用于材料分析的非破坏性测试方法。
它通过将X射线投射到材料上，并记录反射和散射的X射线来分析材料的晶体结构和化学成分。
这种方法适用于分析晶体，陶瓷、金属、粉末、涂料等材料的结构。
2. 扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜(SEM)是一种通过扫描专用电子束来实现高分辨率成像的仪器。
它主要用于表面形貌和微观结构的分析。
这种方法适用于分析金属、陶瓷、高分子材料、纳米颗粒等材料。
3. 原子力显微镜(AFM)原子力显微镜(AFM)是一种利用扫描探针进行表面成像的技术。
探针末端的尖端可以感知为表面提供足够的分辨率和精度。
这种方法适用于对纳米颗粒、表面形貌、物性、焊点和电性进行研究。
AFM在纳米领域的研究中应用广泛。
4. 操作模态分析(OMA)操作模态分析(OMA)是一种实验模态分析技术，通过对振动信号的处理和分析来实现材料的动态特性分析。
这种方法适用于设计振动器件、安装大型机器及其分析结构和疲劳寿命。
在固体、液体、气体中的物理情况下可以应用到OMA分析中。
5. 热重分析(TGA)热重分析(TGA)是一种非常有用的方法，可以在微观和宏观水平上实现对材料特性的分析。
它利用热重量差法分析在升温和等温条件下，材料的重量以及重量变化和热学性质。
这种方法适用于材料的分解、氧化和变化温度的测定。
同时还可以提供实际应用中需要的材料密度、表面面积、孔隙度及扰动过程参数等信息。
在工程领域中，材料分析是非常重要的一环，实现高质量，健康和可持续的生产会更加有挑战和漫长。
因此，科学家们一直在不断寻找新的材料分析方法，并不断完善现有的方法。
综合以上几种方法的优缺点，选择合适的方法来分析材料，可以有效提高材料质量，减少生产成本，提升产品品质。
初中语文材料题答题分析方法技巧
初中语文材料题答题分析方法技巧考点检索：1．分析所提供的材料，按要求答题。
2．提取主要信息(包括主要内容，拟新闻标题，一句话新闻等)。
3．写出分析、探究后得出的结论。
4．从材料中提炼观点，根据材料给事物下定义。
5．针对材料发表看法，提出建议。
方法点拨：一、材料的分析与探究1．认真审题，明确要求，准确捕捉材料主要信息。
2．如果几则材料共同讲述一个主题，那在探究材料之间的共性的同时，更应探究它们的个性。
3．有些材料看似讲述不同的主题，其实只是形式不同而实质是相同的，对于这样的材料，我们可以进行分析比较，找出它们的共性，从而得出结论。
4．如果几则材料间存在逻辑关系，探究时可从因果关系等角度入手。
即如果材料是揭示结果的，就应找到得出这个结果的原因。
5．规范表达出探究结果。
二、信息的提取与概括(一)记叙性语段的信息提取记叙性语段：被陈述对象＋陈述事实(记人记事类，具体就是：人物＋事件)。
(1)拟写标题：消息的标题要求高度概括，以醒目的形式直接揭示消息的内容。
一般消息的标题为：人物＋事件(记叙的两个要素)。
(2)拟写导语(一句话新闻)。
形式上：一句话新闻一般情况下以单句为主。
内容上：严格而完全地反映新闻事实。
以尽可能少的语言表达尽可能丰富的新闻内容：①时间，②地点，③人物(对象)，④事件(过程结果)，⑤原因(目的)，⑥方法(措施，手段，途径)。
一般要求交代清楚"四个W--who，when，where，what"。
即"何人、何时、何地、何事"。
消息一般把重要的信息放开头部分来说，所以我们主要从语段开头部分了解所发生的事件。
(二)说明性语段的信息提取首先要明确所说明的对象是什么。
其次再看所说明对象的特点有哪些。
然后，用下定义的形式将其表述出来，一般形式是："××是××"或者"××叫做××"的形式，具体就是：被定义的事物"是"＋所具有的特点＋"的"所从属的类别。
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材料分析方法I.x射线是一种波长很短的电磁波，具有波粒二相性，粒子性往往表现突出，故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。
X射线有可见光无可比拟的穿透能力，可使荧光物质发光，可使气体或其它物质电离等。
2•相干散射：亦称经典散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。
这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。
新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。
3 •不相干散射：亦称量子散射，X射线光子与束缚力不大的外层电子，或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。
4.吸收限：物质原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降，但随着波长的的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。
5.荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X 射线，二次X射线）。
6.俄歇效应：由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式，及俄歇效应。
原子中一个K层电子被入射光量子击出后，L层一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量子放出，而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。
7•光电子：当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时，此光量子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子。
原子则处于激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。
8.滤波片的作用：滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的，用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。
9.布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。
10.晶面（hkl ）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL ）表示，称为反射面或干涉面。
II.掠射角是入射角（或反射角）与晶面的夹角，可表征衍射的方向。
12.衍射极限条件：在晶体中，干涉面的划取是无极限的，但并非所有的干涉面均能参与衍射，因存在关系dsin B = X /2,或d>=入/2,说明只有间距大于或等于X 射线半波长的那些干涉面才能参与反射。
13.劳埃法：采用连续X射线照射不动的单晶体，因为X射线的波长连续可变，故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。
14.周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。
15.粉末法：采用单色X射线照射多晶体，试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。
16.吸收因数：由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，为了修正这一影响，则在强度公式中乘以吸收因数。
17.温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而使衍射强度减弱。
为修正实验温度给衍射强度带来的影响，需要在积分强度公式中乘以温度因数。
18•物相定性分析的原理：X射线衍射分析是以晶体结构为基础的。
每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞大小、单胞中原子（离子或分子）的数目及其位置等，而这些参数在X射线衍射花样中均有所反映。
尽管物质的种类有千千万万，但却没有两种衍射花样完全相同的物质。
某种物质的多晶体衍射线条的数目、位置及强度，是该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志。
19 •如果不仅要求鉴别物相的种类，而且要求测量各物相的相对含量，就必须进行定量分析。
物相定量分析的依据：各相的衍射线的强度随该项含量的增加而提高。
由于各物相对X射线的吸收不同，使得“强度”并不正比于“含量”，而需加以修正。
20.非晶态物质最主要的特征是短程有序，长程无序。
非晶态与晶态结构的主要区别为长程无序。
结构均匀，各向同性也可视为非晶态材料的特征。
非晶态结构属于亚稳结构，因其自由能总较晶态为高，故有自发向晶态转化的趋势。
非晶物质的衍射图有少数漫散射峰组成，可利用此特征来鉴别物质属于晶态还是非晶^态O21.物体内应力引起衍射峰如何变化：（1）第一类内应力，宏观应力的衍射效应是使衍射线位移。
（2）第二类内应力，其衍射效应主要是引起线形的变化。
（3）第三类内应力，此类应力的存在使衍射强度降低。
22.X射线法通过测量弹性应变求得应力值。
23.电子波的有优势：电子波的波长要比可见光小5个数量级，可以明显提高显微镜的分辨率。
24.透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置是电磁透镜。
25.像差：分两类，即几何像差和色差。
几何像差是因为透镜磁场几何形状上的缺陷而造成的。
几何像差主要指球差和像散。
色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。
（1）球差，即球面相差，是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的。
可以矫正。
（2）像散是由透镜磁场的非旋转对称而引起的。
可以用消像散器来校正。
（3）色差是由于入射电子波长（或能量）的非单一性所造成的。
26.衍射效应对分辨率的影响。
若只考虑衍射效应，在照明光源和介质一定的条件下，孔径角a越大，透镜的分辨率越高。
27 .像差对分辨率的影响。
因为电磁透镜总是会聚透镜，所以球差便成为限制电磁透镜分辨率的主要因素。
提高电磁透镜分辨率的主要途径是提高加电压（减小电子束波长入）和减小球差系数Ca o28.景深：把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，用Df表示；把透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦长，用DI表示。
29.透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器，分三部分，即照明系统、成像系统和观察记录系统。
30.电子衍射的原理和X射线衍射的异同：（1）相同点：都是以满足（或基本满足）布拉格方程作为产生衍射的必要条件。
两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上也大致相似。
多晶体的电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环，单晶衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点组成，非晶态物质的衍射花样只是有一个漫散射的中心斑点。
（2）相异点：1）电子波的波长比X射线短得多，在同样满足布拉格条件时，它的衍射角B很小，约为0.01rad<1。
，而X射线产生衍射时，其衍射角最大可接近n /2。
这是两者之间区别的主要原因。
2 ）在进行电子衍射操作时采用薄晶样品，薄晶样品的倒易阵点会沿着样品厚度方向延伸成杆状，因此，增加了倒易阵点和埃瓦尔德球相交截的机会，结果使略为偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
3 ）因为电子波的波长短，采用埃瓦尔德球图解时，反射球的半径很大，在衍射角B较小的范围内反射的球面可以近似地看成是一个平面，从而也可以人为电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面内。
4）原子对电子的散射能力远高于它对X射线的散射能力（约高出四个数量级），故电子衍射束的强度较大，适合于微区分析，且摄取衍射花样时曝光时间仅需要数秒钟。
31 •超点阵斑点：当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同种原子产生有序排列时，将引起其电子衍射结果的变化，即可以使本来消光的斑点出现，这种额外的斑点称为超点阵斑点。
32.材料在凝固、相变和形变的过程中，晶体内的一部分相对于基体按一定的对称关系生长，即形成了孪晶。
33.晶体中基体和孪晶的对称关系：若以孪晶面为镜面，则基体和孪晶的阵点以孪晶面作镜面反映。
若以孪晶面得法线为轴，把图中下方的基体旋转180度也能得到孪晶的点阵。
34.消光距离：强烈的力学相互作用，使得I。
和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡，振荡的深度周期叫做消光距离。
35.衍衬运动学的两个假设：1）双光束近似：假定电子束透过薄晶体试样成像时，除了透射束外只存在一束缴枪得衍射束，而其他衍射束却大大偏离布拉格条件，它们的强度均可视为零。
2）柱体近似：把薄晶体下表面上每点的衬度和晶柱结构对应起来处理的方法称为柱体近似。
36.等倾干涉：同一条纹相对应的样品位置的衍射晶面的取向是相同的（s相同），即相对于入射束的倾角是相同的，所以这种条纹称为等倾干涉。
37.等厚干涉：38.衍衬运动学和动力学的区别在于，动力学理论考虑了透射束与衍射束之间的交互作用。
运动学理论适用于衍射晶面相对于布拉格反射位置有较大的偏离量。
39.电子探针的功能主要是进行微区分析。
40.应用波谱仪（WDS）进行元素分析时，应注意下面几个问题：1）分析点的位置。
在分析时必须使目的物和电子束重合，其位置正好位于光学显微镜目镜标尺的中心交叉点上。
2）分光晶体固定后，衍射晶面的面间距不变。
41.能谱仪（EDS）成分分析的特点：（1）优点，和波谱仪相比，能谱仪有以下优点：1）能谱仪Si （Li）晶体对X射线的检测效率比波谱仪高一个数量级。
2）能谱仪可在同一时间内对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素的特征波长。
3）能谱仪的结构比波谱仪简单，没有机械传动部分，因此稳定性和重复性都很好。
4）能谱仪不必聚焦，因此对样品表面没有特殊要求，适于粗糙表面的分析工作。
（2）缺点：1）分辨率比波谱仪低。
2）因为Si （Li）检测器的钛窗口限制了超轻元素X射线的测量。
3）Si （Li）探头必须保持在低温状态，因此必须时时用液氮冷却。
42.样品在电子束的轰击下会产生各种信号：1）背散射电子：是被固体样品中的原子反弹回来的已部分入射电子，其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
背散射电子样品表层几百纳米的深度范围，它不仅能用作形貌分析，还可以用来显示原子序数衬度，定性地用作成分分析。
2）二次电子：在入射电子束作用下被轰击并离开样品表面的样品原子的核外电子。
二次电子的能量较低，一般都是在表层5-10mm深度范围内发射出来的。
能非常有效地显示样品的表面形貌，不能用它来进行成分分析。
3）吸收电子：入射电子进入样品之后，经多次非弹性散射能量损失殆尽，最后被吸收。
吸收电子能产生原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。
4）如果被分析的样品很薄，那么就会有一部分入射电子穿过薄样品而成为透射电子。
其是由直径很小的高能电子束照射薄样品而产生的，可以利用特征能量损失电子配合电子能量分析器来进行微区成分分析。
5）特征X射线：当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时，原子就会处于能量较高的激发态，此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而使具有特征能量的X射线释放出来。
如果我们用X射线探测器测到了样品微区中存在某一种特征波长，就可以判定这个微区中存在着相应的元素。
6）俄歇电子：在入射电子激发样品的特征X射线过程中，如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以X射线的形式发射出去，而是用这部分能量把空位层内的另一个发射出去或使空位的外层电子发射出去，这个被电离出来的电子就被称为俄歇电子。