元件降额测试工作指引
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元件降额测试工作指引
版次Revision
更改详情
Change description
生效日期
Effective Date
1 初次发放本 / First Release25-Jul-2000
2 重新编写﹐加入英语解释 / Revised, add English translation17-Sep-2001
3 增加瞬态条件﹐以及使用率一览表 / Add transient condition, and
derating table.
17-Jan-2002
4 修正错误﹐增加场效应管﹐二极管﹐及稳压管测试方法。/Correct
mistake, add test method to FET, rectifier and zener.
11-Jun-2002
5 修正错误﹐增加集成电路及光偶使用率范围﹐增加静态过载观察项
目。/ Correct mistake, add IC and opto-coupler derating limit, add
observation item in static overload test.
16-Aug-2002
6 改变二极管的电压使用率﹐对塑料电容及磁性元件使用率加备注。/
Change voltage derating for rectifier. Add remark for derating of P-cap
and magnetics.
07-Mar-2003
7 增加正激式变压器﹐镇流器﹐铁粉芯镇流器之使用率测试。 / Add derating for forward transformer, choke, iron power choke.
DE PD ST DV PMC TE Prepared on 24 November 2020
如果受控印章不是蓝色,表示此文件不受控,请参考受控文件。
If the control stamp is not in blue, it means this document is not under control, please refer to controlled document.
H:\Dv_dat\Wi&qsp\Wi\
1. 目的/Objective
元件使用率的测试是检查元件在不同的测试条件下﹐实际使用电压﹑电流和功率跟其额定值的比值﹐这是确保产品没有由于元件超出使用范围而引起损坏。
Component derating test is to check the ratio of actual voltage, current and power applied to a component against their rated value under various test conditions. This is to ensure that no
component is overstressed which may cause failure of the product.
2. 范围/Scope
适用于柏怡电子厂开发的所有产品。
Applicable to all products developed by PI Electronics.
3. 使用仪器/Main equipment
●在工程样板1(EVT)和工程样板2(DVT)阶段﹐所有元件均必须测试。
●数字存储示波器/Storage oscilloscope
●数字万用表 /DVM
●电子负载/Electronic load
●有效值数字表/RMS meter
●电流探头/Current probe
4. 步骤/Procedure
使用率测试覆盖范围/Test coverage
●在工程样板1(EVT)和工程样板2(DVT)阶段﹐所有元件均必须测试。
All components shall be tested once in EVT stage, once in DVT stage.
●在工程样板2(DVT)阶段后﹐如有任何元件改变﹐则只重检由于改变而影响的元件。
If there is any component change after DVT, recheck components affected by the change.
测试条件/Test condition
除非有特别规定﹐否则使用下列定义﹕
Unless otherwise specifed, following definition were used.
●最大输入电压﹕264Vac(对于仅用110V供电的产品则用135Vac)
Max Vin : 264Vac (or 135Vac for 110Vac only system)
●最小输入电压﹕90Vac (对于仅用220V供电的产品则用180Vac)
Min Vin : 90Vac (or 180Vac for 220Vac only system)
●最大输出负载﹕最大的连续负载
Max load : maximum continuous load.
●最小输出负载﹕最小的连续负载
Min load : minimum continuous load.
除非有特别规定﹐正常工作条件的使用率测试必须在室温下对所有元件并按下列三种条件进行测试﹕
Unless otherwise specified, nominal condition derating test shall be done for all components at room temperature under following 3 conditions.
●最大输入电压﹐最大输出负载/Max Vin, max load.
●最大输入电压﹐最小输出负载/Max Vin, min load.
●最小输入电压﹐最大输出负载/Min Vin, max load.
除非有特别规定﹐浪涌/瞬态使用率必须对关键性元件﹐例如﹕开关管﹐输出整流管。在高温及低温下按下列条件进行测试﹕
Unless otherwise specified, surge/transient derating shall be done for critical components, .
switching FET, output rectifiers at both low and high temperature under following conditions:
●最大输入电压﹐最大输出负载﹐起机 /. Max Vin, max load, start up
●最小输入电压﹐最大输出负载﹐关机 /. Min Vin, max load, shutdown
●最大输入电压﹐最小输出负载﹐起机 /. Max Vin, min load, start up
●最小输入电压﹐最小输出负载﹐关机 /. Min Vin, min load, shutdown
●最大输入电压﹐最小输出负载﹐输出短路 /. Max Vin, min load, output short circuit
●最大输入电压﹐输出短路然后起机 /. Max Vin, output short circuit, then start up
使用率的要求/Derating requirement
●对于NJRC的产品﹐参阅NJRC的使用率表。
For NJRC product, refer to NJRC derating table.
●对于其它的产品﹐参阅柏怡电子厂内部使用率表或客户提供的使用率表。
For other products, refer to PI internal derating table or the derating table provided by
customer.
测试方法 /Test method
由于在输入大电容上100赫兹的纹波电压﹐用示波器测量时峰值电压或电流会有跳动﹐因此示波器的触发模式应设定为“正常”﹐然后调节触发电平去找出最大的峰值电压或电流。
Due to 100Hz ripple voltage in bulk capacitor, the peak voltage or current measurement with oscilloscope will also vary at 100Hz. So the trigger mode of oscilloscope shall be set to 'Normal', then adjust the trigger level to find the maximum peak voltage or current.
A. 静态条件 /Static condition
必须记录关键性元件的电压和电流波形﹕例如开关管﹐输出整流管。