光谱仪的操作使用和技术判定标准
仪器校验规范及判定标准
○○股份有限公司
文件编号
文件名称
仪器校验规范及判定标准
页 次 1/1 页 版 别 A.0
1.目的:
确保本公司校验之设备,经校验完成后是否尚可使用。
2.范围:
凡校验之设备判定均属之。
3.权责:
校验工作之执行与判定,由品管执行之。
4.名词定义:
无。
5.作业流程:
标”15。~25
±0.2
6.2.3 判2定5~不3合5 格之仪±器0,.6仪校人员应于仪器明显处张贴“暂停使用卷
标”35并~通45知厂商送±修1。.0
7.相关资料: 45 以上
±2.0
无。
8.使用窗体:
无。
(本文件不得擅自涂改或影印>FM0402A
1/2
个人收集整理资料, 仅供交流学习, 勿作商业用途
2/2
无。
6.பைடு நூலகம்业内容:
6.1 允收基准:
6.1.1 原子吸收光谱仪(AA>
单位 mg/l(ppm>
6.2 处理方式: 6.2.1 品使管用仪范器围校正允人收员标应准将校验报告之误差值与本标准之允收标准核 对,5以以判下定是否合±格0.。06
6.2.2 判5定~合15格之仪器±,0.仪1 校人员应于仪器明显处张贴“校验合格卷
仪器校验规范及判定标准
1. 目的: 确保本公司校验之设备,经校验完成后是否尚可使用。
2. 范围: 凡校验之设备判定均属之。
3. 权责: 校验工作之执行与判定,由品管执行之。
4. 名词定义: 无。
5. 作业流程: 无。
6. 作业内容:
6.1允收基准:
6.1.1原子吸收光谱仪(AA ) 单位 mg/l (ppm ) 6.2处理方式 6.2.1 式: 人允应将校验报告之误差值与本标准之允收标准核 否合格0m 品管仪器校正 对,5以定是 判定合格之仪器,仪校人员应于仪器明显处张贴“校验合格卷标 6.2.2 6.2.3判定不不合格之 并通5〜厂商送
7. 相关资料: 无。
8. 使用窗体! 无。
35 〜45 45以上 仪器±0仪校人 修。
士 0.6 士 1.0 ± 2.0
(本文件不得擅自涂改或影印) O 员应于仪器明显处张贴“暂停使用卷标” FM0402A。
X射线荧光光谱仪主要技术指标对比-科邦实验室
3.检测记录系统
X 射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和 芯线正极组成,筒内充氩(90%)和甲烷(10%)的混合气体,X 射线射入管内,使 Ar 原子电离,生成的 Ar+在向阴极运动时,又引起其 它 Ar 原子电离,雪崩式电离的结果,产生一脉冲信号,脉冲幅度与 X 射线能量成正比。所以这种计数器叫正比计数器,为了保证计 数器内所充气体浓度不变,气体一直是保持流动状态的。流气正比计数器适用于轻元素的检测。
ICAP 7200电感耦合等离子发射光谱仪的操作规程(iICP-AES)
1、目的:建立ICAP-7200电感耦合等离子体原子发射光谱仪的操作规程,使检验人员能够正确的使用ICAP-7200电感耦合等离子体原子发射光谱仪。
2、适用范围:金属元素的含量分析3、责任人:检测员4、正文:4.1 开机(若仪器一直处于开机状态,应保持计算机同时处于开机状态)。
4.1.1 确认有足够的氩气用于连续工作(储量等同瓶装≥1瓶)。
4.1.2 确认废液收集桶有足够的空间用于收集废液。
4.1.3 确认已打开氩气分压在0.6—0.7Mpa之间。
4.1.4 打开计算机。
4.1.5 若仪器处于停机状态,打开主机电源。
仪器开始预热(两小时以上)。
4.1.6 启动iTEV A软件,检查联机通讯情况。
4.2 编辑分析方法4.2.1 新建方法,选择所需元素及其谱线。
4.2.2 添加和删除标准,选择标准中所含的元素及其所需谱线,设置和修改元素含量。
4.3 点火4.3.1 再次确认氩气储量和压力,并确保连续驱气时间大于30 min,以防止CID 检测器结霜,造成CID检测器损坏。
4.3.2 启动计算机和iTEV A软件,仪器初始化后,点击等离子状态图标,检查联机通讯情况。
4.3.3 光室温度稳定在38±0.2℃,CID温度小于-40℃。
4.3.4 检查并确认进样系统(矩管、雾化室、雾化器、泵管等)是否安装正确。
4.3.5 开启循环水和排风。
4.3.6 打开iTEV A软件的等离子状态对话框,点击等离子开启点火。
4.4 稳定4.4.1 光室温度稳定在38±0.2℃,CID温度小于-40℃。
4.4.2 等离子稳定15 min,状态稳定后方可进行分析操作。
4.5 分析4.5.1 打开或新建分析方法,选择所需元素及其谱线,有必要时,执行自动寻峰。
4.5.2 添加和删除标准,设置和修改元素含量。
4.5.3 打开标准化对话框,进行校正。
4.5.4 分析溶液过0.45 μm微孔滤头后,方可分析试样。
4.5.6 分析完毕后,将进样管放入2 %的稀硝酸中冲洗2 min,再放入纯水中冲洗进样系统10 min。
x射线光谱仪 操作说明书
JSX-3202EV元素分析仪使用说明书第一章仪器简介(一)仪器简介JSX-3202EV能量分散形荧光X射线元素分析仪是日本电子株式会社产品。
该产品是针对ROHS指令关于有害元素的法规研制出来的。
它主要是测量塑胶、金属样品中的5大有害元素(Cd、Pb、Cr、Br、Hg)的含量,再对应ROHS指令中关于有害元素的规定,从而判定出该样品是否合格。
该仪器操作简单,且对人体无害。
(二)仪器构成JSX-3202EV主要由四个部件构成:1)分析仪本体:用于进行样品测试。
2)电脑:用于操作仪器进行测试。
3)冷光照明装置(又称摄像头):用于观察和调整样品放置的位置。
(见图1)4)真空泵:用于抽真空,一般不会用到。
(见图2)(图1)(图2)第二章仪器的开/关机步骤(一)开机1)确认分析仪里的液氮情况,如果没有液氮就先不开机,等添加液氮后一个小时再开机。
(见图3)2)开供电总电源;(见图4)(见图3)(见图4)3)开可持续电源UPS;4)等5分钟后,开变压器并确认电压指针指向100V;(见图5)5)等5分钟后,开排插电源;(见图6)(见图5)(见图6)6)再等5分钟后,开元素分析仪电源,(开启时OPEN/CLOSE灯,READY灯和AIR/V AC灯都会闪烁一会儿。
OPEN/CLOSE灯和AIR/V AC灯闪烁约1~2分钟,READY灯会闪烁5~10分钟。
如果READY灯一直在闪烁就说明内部温度达不到标准,需要添加液氮)。
(见图7、图8)(图7)(图8)7)等5分钟后,开冷光照明装置;(见图9)8)等5分钟后,开电脑、显示器及打印机;(见图10)(图9)(图10)9)等READY灯由闪烁变常亮后再等5分钟,开X-RAY灯(即开X射线)开启后也会闪烁1~2分钟后变常亮。
(图11)在电脑屏幕上双击塑胶分析程序,屏幕会弹出一对话框,观察READY灯是否常亮,若常亮按“YES”,不常亮则按“NO”。
这时偏电压会开启,右上角的SSM窗口的数值会变化(小—大—小—大—小)。
光谱仪操作规程
光谱仪操作规程一、光谱仪如何做描迹在光谱仪的日常工作中,如有温度的急剧变化,较大的振动,就需要定期做描迹,正常每半年描迹一次。
SPECTRO光谱仪通过调整测定仪器的最大光强位置来进行描迹的,描迹的调节手轮位于光谱仪的右侧,对于每个光室都有一个单独的描迹调节手轮。
选择OO-A1程序,调至Rawintensity(绝对光强)窗口,把标样RA10、RAI8、RA19各激发一次,打印数据后保留RA18的光强值。
记录描迹开始前各光室手轮的读数(刻度)o对于紫外光室(第一光室),在现有读数的基础上+/・200为描迹读数的范围,空气光室(第二、三、四光室)+/-100o具体做法是将紫外光室的手轮转回200个读数,将空气光室的手轮转回100个读数,记录好每个手轮读数,然后激发一次标样RA18,则得到这时的光强值,保留数据,然后将紫外光室的手轮每次转动50个读数,空气光室的手轮每次转动25个读数,每改变一次手轮读数就激发一次标样RAI8记录下手轮读数和激发后得到的光强值。
从逐次的激发值记录中可以看出,光强逐渐增大,而后又逐渐降低。
描迹的过程就是要找出最大光强的位置,然后将其固定下来。
注意手轮回转后再反转(由于传动机构的要求)以达到需要的位置。
二、如何增加牌号,如何进行质量牌号判定1 .增力口牌号:在测量窗口中选择Extras菜单中A11oyGrade1ibrary (合金牌号库)项,点NEW,在随后的画面中填写相应的内容。
1.1 Name ---- 牌号名称1.2 E1ement——需要控制的元素1.3 Unit——含量单位1.4 Externa1Min --- 外部要求的最小值,外部指的是国际或国家标准。
1.5 Interna1Min——内部要求的最小值,内部通常指部级或行业标准。
1.6 Externa1Max -- 外部要求的最大值。
1.7 Interna1Max --- 内部要求的最大值。
1.8 上述的要求输入完成后,点OK,那么存储的牌号就永久的存在计算机中。
LAB-X5000 台式XRF光谱仪产品说明书
水泥和矿物分析LAB-X5000 台式XRF光谱仪可测量水泥和矿物中的主要氧化物,包括:Al 2O 3、SiO 2、CaO 、Na 2O 、MgO 和Fe 2O 3。
符合ASTM C114对水硬性水泥化学分析的精度要求,并预先加载水泥和矿物成分分析所需的参数。
此款分析仪可确保内部质量控制的可靠性、稳定性和准确性,为您的生产提供全天候支持。
LAB-X具有坚固耐用的设计和紧凑的体积,完全适用于矿物精选设施或水泥工程。
测量时间短,可确保快速获得产品质量反馈和内部过程的可靠性。
LAB-X5000 可为您提供每批产品成分及每一步过程的确定性。
为每次测量提供可靠性、稳定性和准确性控制使用LAB-X5000进行快速分析意味着它可以在任何生产阶段获得对生产过程的快速反馈,确保关键程序受到控制。
仅需极少样品制备步骤:简单地将材料研磨成粉末,在样品杯中进行测量。
为获得最佳的准确性,需将粉末压制成样品片,然后放入分析仪中。
可将分析仪设置为自动判定关键元素的合格性,以及后置计算分析,如石灰饱和系数(LSF )。
通过智能检查特性,您可以为所有元素和后置计算结果设置合格和不合格标准,从而轻松查看其是否存在差错。
LAB-X5000 专为检测多种元素而设计,包括高性能硅漂移探测器,具有优越的成分分析性能且极低检测限。
集成样品自旋器在测量过程中旋转样品,确保结果具有可重复性,即使对于粉末等不均匀样品亦如此。
最大程度降低用户操作失误:分析仪易于使用,具有简单的一键式启动、直观的用户界面和易于查看的大显示屏。
LAB-X5000具有多个数据管理选项,包括自动导出至ExTOPE Connect 云服务、通过USB 导出、内置打印机,并可存储多达100,000个结果。
无需招募专业人员或接受大量培训即可使用仪器。
LAB-X5000可供任何接受少量培训的人员使用——我们将提供相关培训。
由于大多数测量可在空气中进行,因此氦气的使用以及成本可维持在最低水平。
红外光谱仪操作指导—6700型
傅立叶变换红外光谱仪操作指导—nicolet6700型一、 仪器简介1、型号名称:Nicolet 6700 高级傅里叶变换红外光谱仪 美国2、适用范围:本方法适用于液体、固体、气体、金属材料表面镀膜等样品。
它可以检测样品的分子结构特征,还可对混合物中各组份进行定量分析,本仪器的测量范围为4000~400 cm -1。
3、方法原理:红外光谱是根据物质吸收辐射能量后引起分子振动的能级跃迁,记录跃迁过程而获得该分子的红外吸收光谱。
二、 基本操作(一)试样制备方法1、固体样品(1)压片法:取1~2mg 的样品在玛瑙研钵中研磨成细粉末与干燥的溴化钾(A. R.级)粉末(约100mg ,粒度200目)混合均匀,装入模具内,在压片机上压制成片测试。
玛瑙研钵 压片模具(2)糊状法:在玛瑙研钵中,将干燥的样品研磨成细粉末。
然后滴入1~2滴液体石蜡混研成糊状,涂于KBr 或BaF 2晶片上测试。
(3)溶液法:把样品溶解在适当的溶液中,注入液体池内测试。
所选择的溶剂应不腐蚀池窗,在分析波数范围内没有吸收,并对溶质不产生溶剂效应。
一般使用0.1mm 的液体池,溶液浓度在10%左右为宜。
a :镜片;b :液体池部件(不含镜片); c: 装配图; d :使用方法abcd2、液体样品(1)液膜法:油状或粘稠液体,直接涂于KBr晶片上测试。
流动性大,沸点低(≤100℃)的液体,可夹在两块KBr晶片之间或直接注入厚度适当的液体池内测试(液体池的安装见说明书)。
对极性样品的清洗剂一般用CHCl3,非极性样品清洗剂一般用CCl4。
样品池BaF2镜片KBr镜片(杜绝含水样品)(2)水溶液样品:可用有机溶剂萃取水中的有机物,然后将溶剂挥发干,所留下的液体涂于KBr晶片上测试。
应特别注意含水的样品坚决不能直接接触KBr或NaCl窗片液体池内测试。
3、塑料、高聚物样品(1)溶液涂膜:把样品溶于适当的溶剂中,然后把溶液一滴一滴的滴加在KBr晶片上,待溶剂挥发后把留在晶片上的液膜进行测试。
EDX-LE 能量色散X荧光光谱仪操作规范
修 订 记 录 修订日期 变更编号 变 更 内 容
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审核
制定
泓淋科技集团 HONG LIN
能量色散 X-ray荧光光谱仪 操作规范
文件编号: HLCL3-T00001 版本/次: 页 次: 日 期: A/0 3 OF 7 0
7.9EDX导轨加润滑油时间:理论半年/1次.(具体加油时间以操作员听到有噪音为 基准). 7.10《ED-XRF判定标准》为参照《各客户环境管理物质管控标准》制作,并以此 作为ED-XRF筛选测试的判定标准. 7.11针对EDX测试验证项目内容的修订,在变更前需进行评估,待评估通过并修订 文件后方可进行更改,现场需依文件执行操作。
七、注意事项及故障排除: 7.1每天早上8点,须用A750标样对仪器进行校正,并将检查结果记录于《ED-XRF作业前检查记录表》. 7.2开机/每周/维修/异常确认时,需用7元素标样对仪器校正,并将 记录登记在《ED-XRF标样点检表》. 7.3每周一需对有卤/无卤拆解工具进行点检,并将记录登记在《拆解工具检测记录表》. 7.4当放置样品测试时,确认样品位置是否放置正确: ①微小物品需要放置在专用容器中 ②物品放置方法尽可能与十字线的竖线平行 ③物品居中.必要时用桌面“CCD”帮助观察. 7.5测量液体前先放置10分钟,确认液体对有机薄膜不破坏且薄膜没有老化再放入仪器内. 7.6校正机器拿取标样时,拇指与食指触摸标样的侧面,如标样有脏或有异物附着需用酒精 清洗后再使用.
ARL3460直读光谱仪操作标准
ARL3460直读光谱仪操作标准1开机前的准备⼯作:1.1环境条件:温度:16-30℃。
允许的最⼤温度变化:±5?C/⼩时湿度:相对20%-80%1.2注意事项:1.2.1除本岗位⼈员外,其它⼈员⼀律不得乱动设备,在发⽣故障时,应⽴即关闭电源,同时汇报班长。
1.2.2分析样品时应保持样品的清洁、防⽌污染。
1.2.3严禁在微机上私⾃安装与⼯作程序⽆关的软件,正在⼯作时,不允许在微机上进⾏其它操作。
1.2.4设备周围不得堆放杂物及易燃易爆物品。
1.3设备检查:1.3.1⼯具是否齐全(包括标样、电极刷、定距轨、常⽤备件等),设备、⼯具异常及时维护修理,⾃⼰解决不了的问题逐级上报。
1.3.2检查光谱仪净化机⼯作塔温度处于210℃-250℃净化状态,压⼒位于0.2 ⾄0.3 MPa 之间;是否有备⽤氩⽓:⽩班检查,防⽌中、夜班没有氩⽓可⽤(及时通知五⾦库备⾜氩⽓);氩⽓瓶更换时,空瓶必须剩余1Mpa;检查⽓路,如有漏⽓现象,需重新安装线路。
1.3.3更换氩⽓出⽓⼝过滤器(⽩班2天⼀换):把容器从它的⽀架上慢慢地拧下来,静置24⼩时;将备⽤的过滤器换上,注意进⽓管、出⽓管别插反;在清理时,让过滤筒留在容器中⾄少5分钟,让它与空⽓接触(过滤筒盛着⾦属粉尘,与空⽓中的氧⽓接触会着⽕);⽤吸尘器清理滤筒和容器,滤筒很脏时更换;清理后所有部件都归原位。
1.3.4清理⽕花台(每班必做):拧开螺丝,取下⽕花架;玻璃绝缘体取下之后,先⽤吸尘器清理它,再⽤脱脂棉清扫;取下O形密封圈,电极拔下来清扫,⽤吸尘器清理⽕花室;再⽤仪器⾃带的量规调整好电极⾼度;将所有部件放回原位置上,并⽤样品放到⽕花架上盖住分析孔。
1.4填写相关记录(温、湿度记录表;设备使⽤记录表等相关记录)。
2开机步骤:2.1开机顺序。
使⽤⼈员在确认满⾜开机条件后,可以开机,具体操作如下:稳压电源→开关⾯板(主电源→⽔泵→真空泵→电⼦板→负⾼压)→电脑→分析软件(OE-OXSAS)→氩⽓瓶(压⼒0.2-0.3MPa)→氩⽓净化机2.2启动光谱仪分析程序:双击计算机桌⾯上的OXSAS分析程序图标,进⼊分析主程序画⾯和系统登录画⾯。
X荧光光谱仪操作规程
接受培训考核合格后才可上岗. 5.2 误差:
5.2.1 X 光谱测量是一种对比测量方法,实测时会有一定的误差。正常条件下,误差范围如下:
5。2。1.1 当聚合物中铅的浓度高于 100mg/kg 时,测定铅的平均相对不准确度低于±13%; 当铅的浓度为 10mg/kg,相对不准确度为±30%;
净。 5。2。2.2.4 固体被测面越光滑,测试时折射的 X 光线越凝聚,测试结果越准确。 5。2。2.2.5 粉末样品颗粒的粗细程度,颗粒越细测试结果越精确.
5.2。2。2.6 液体样品中的沉淀、结晶、气泡等都会影响测试结果。 5.2.2。3 设备本身的稳定性、保养与维护越好,测试结果越准确. 5.3 制样:
3。3 所有检测结果必须得到品管课长或以上人员的审核。 4.0 定义
4。1 工作原理:是通过激发源激发 X 射线打击样品的分子结构,使之发生原子变迁,通过探测器
收集原子变迁所产生的能量波,以分析判断原子(元素)的类型。 4。2 灰色区域:当以 EDX1800B 检测有害物质含量时,本公司标准值正负 30%以内的范围不便于
金凌印刷有限公司
Canning Printing Co., Ltd
X 荧光光谱仪操作规程
文件编号:JW-QA34
初次发行日期:2010。11。2
本次发行日期:2011.3.28
现行版本:A3
页码:6 页
修订履历
NO。
修订简要
1 增加 XRF 测试 NG 处理流程图
2 增加 XRF 测试人员上岗前管理事项
<70%,湿度过高会造成内部高压单元产生拉弧和放电. 5。1。3 配置一千瓦的稳压电源,杜绝突然断电现象和市电波动对测试结果的影响. 5.1.4 保持工作间和设备的整洁,防止灰尘的腐蚀.
傅立叶变换红外光谱仪操作指导―nicolet6700型(精)
傅立叶变换红外光谱仪操作指导—nicolet6700型一、仪器简介1、型号名称:Nicolet 6700 高级傅里叶变换红外光谱仪美国2、适用范围:本方法适用于液体、固体、气体、金属材料表面镀膜等样品。
它可以检测样品的分子结构特征,还可对混合物中各组份进行定量分析,本仪器的测量范围为4000~400 cm -1。
3、方法原理:红外光谱是根据物质吸收辐射能量后引起分子振动的能级跃迁,记录跃迁过程而获得该分子的红外吸收光谱。
二、基本操作(一试样制备方法1、固体样品(1压片法:取1~2mg 的样品在玛瑙研钵中研磨成细粉末与干燥的溴化钾(A. R.级粉末(约100mg ,粒度200目混合均匀,装入模具内,在压片机上压制成片测试。
玛瑙研钵压片模具(2糊状法:在玛瑙研钵中,将干燥的样品研磨成细粉末。
然后滴入1~2滴液体石蜡混研成糊状,涂于KBr 或BaF 2晶片上测试。
(3溶液法:把样品溶解在适当的溶液中,注入液体池内测试。
所选择的溶剂应不腐蚀池窗,在分析波数范围内没有吸收,并对溶质不产生溶剂效应。
一般使用0.1mm 的液体池,溶液浓度在10%左右为宜。
a :镜片;b :液体池部件(不含镜片; c: 装配图; d :使用方法abcd2、液体样品(1液膜法:油状或粘稠液体,直接涂于KBr晶片上测试。
流动性大,沸点低(≤100℃的液体,可夹在两块KBr晶片之间或直接注入厚度适当的液体池内测试(液体池的安装见说明书。
对极性样品的清洗剂一般用CHCl3,非极性样品清洗剂一般用CCl4。
样品池BaF2镜片KBr镜片(杜绝含水样品(2水溶液样品:可用有机溶剂萃取水中的有机物,然后将溶剂挥发干,所留下的液体涂于KBr晶片上测试。
应特别注意含水的样品坚决不能直接接触KBr或NaCl窗片液体池内测试。
3、塑料、高聚物样品(1溶液涂膜:把样品溶于适当的溶剂中,然后把溶液一滴一滴的滴加在KBr晶片上,待溶剂挥发后把留在晶片上的液膜进行测试。
中国药典红外光谱在通则
中国药典红外光谱在通则全文共四篇示例,供读者参考第一篇示例:中国药典红外光谱在通则红外光谱技术是一种非常重要的分析方法,它在药学研究中扮演着非常重要的角色。
中国药典作为我国重要的法定药典,对于红外光谱的使用和规范有着明确的要求。
本文将重点介绍中国药典中关于红外光谱在通则方面的内容。
一、红外光谱的基本原理红外光谱是一种通过测量物质在红外区域的吸收光谱来分析其分子结构的技术。
在药学研究中,红外光谱通常用于分析化学成分、判定材料的真伪与质量等。
通过红外光谱分析,可以快速、准确地获取物质的指纹光谱,进而识别和鉴定物质。
1. 红外光谱技术的应用范围《中国药典》规定了红外光谱在药品分析中的适用范围和应用对象。
红外光谱适用于药品的成分分析、结构鉴定、真伪鉴别等方面。
对于不同类型的药品,红外光谱的应用要求也有所不同。
2. 红外光谱仪器的选择和使用《中国药典》还规定了红外光谱仪器的选择、校准和操作要求。
仪器应该符合国家标准,并经过合格的校准和验证。
在使用过程中,还需要确保操作人员熟练掌握仪器的操作技能,保证测试结果的准确性和可靠性。
3. 红外光谱分析的方法和标准在进行红外光谱分析时,需要遵循一定的方法和标准。
《中国药典》规定了红外光谱测试的样品准备、测试条件、数据处理等方面的要求。
测试结果应该符合相关的红外光谱图谱标准,以确保分析结果的准确性和可靠性。
《中国药典》还对红外光谱分析结果的解读和评价进行了规定。
分析结果应该结合药品的实际情况和相关标准进行评价,对于合格和不合格的判断应该明确明确。
还应该注明测试的具体条件、方法和操作人员等信息,以便追溯和验证。
三、红外光谱在药学研究中的应用和意义第二篇示例:中国药典红外光谱在通则中国药典是我国药物质量控制的权威参考书,对于规范药品安全使用起着至关重要的作用。
其中的红外光谱是一种常用的分析技术,在药物质量控制中有着广泛的应用。
本文将主要讨论中国药典红外光谱在通则中的应用,介绍其在药物质量控制中的重要性和作用。
使用傅里叶红外光谱仪的注意事项
使用傅里叶红外光谱仪的注意事项傅里叶红外光谱仪是化学分析中常用的一种分析仪器,它可以通过分析样品中物质的振动和旋转等状态,得出分子结构和化学键的信息。
在使用傅里叶红外光谱仪时,有一些注意事项需要遵守,以保证实验的准确性和安全性。
下面将针对傅里叶红外光谱仪的使用注意事项进行详细介绍。
一、傅里叶红外光谱仪的基本原理和结构傅里叶红外光谱仪是一种红外光谱仪器。
其基本原理是将一定频率的红外光通过样品,然后检测出射光与入射光之间的差异。
这种差异来自于样品中的化学键振动、转动、倾斜或键角变化等的吸收,从而得到样品的分子结构和成分信息。
傅里叶红外光谱仪通常由一个光源、样品室、分光器、光谱仪、检测器、计算机等组成。
光源发出红外光,样品室中夹持着样品,分光器将红外光分为不同波长段,送入检测器通过与样品反射或吸收光的差异,来判定样品的光谱信息,最终结果通过计算机显示和输出。
1. 样品的制备在使用傅里叶红外光谱仪之前,样品需要进行制备。
一般来说,样品应该充分地粉碎,以保证样品内部的均质性;并且在量取样品的过程中,应尽可能减少外界因素的影响,如手指的接触等。
使用傅里叶红外光谱仪时,样品需要夹持在样品室中,以保证其在红外光源的照射下,能够产生不受干扰的信号波形。
样品的放置也需要注意,为了避免样品放置不当造成的结果扭曲或光程差等误差,应该仔细阅读仪器使用手册,正确放置样品,同时要确保样品能够充分地接触检测器采集的光线。
3. 傅里叶双变换(FFT)参数设定傅里叶双变换是一种将信号从时域转换到频率域的重要技术,在傅里叶红外光谱仪中,这个过程对实验结果的准确性具有重要意义。
在进行傅里叶双变换之前,需要仔细地设置相应的参数,包括傅里叶窗函数、数据点采集率、扫描时间等,以提高实验结果的准确性和可重复性。
4. 红外光谱光谱扫描速度在测定红外光谱的过程中,扫描速度也是一个十分重要的参数。
虽然高速扫描能够大大缩短测量时间,但是同时也会增加测量误差。
高光谱数据处理基本操作规范
高光谱分辨率遥感用很窄(10-2l)而连续的光谱通道对地物持续遥感成像的技术。
在可见光到短波红外波段其光谱分辨率高达纳米(nm)数量级,通常具有波段多的特点,光谱通道数多达数十甚至数百个以上,而且各光谱通道间往往是连续的,每个像元均可提取一条连续的光谱曲线,因此高光谱遥感又通常被称为成像光谱(ImagingSpectrometry)遥感。
行输出。
三、波谱库1、标准波谱库软件自带多种标准波谱库,单击波谱名称可以显示波谱信息。
2、自定义波谱库ENVI提供自定义波谱库功能,允许基于不同的波谱来源创建波谱库,波谱来源包括收集任意点波谱、ASCII文件、由ASD波谱仪获取的波谱文件、感兴趣区均值、波谱破面和曲线等等。
3、波谱库交互浏览波谱库浏览器提供很多的交互功能,包括设置波谱曲线的显示样式、添加注记、优化显示曲线等四、端元波谱提取端元的物理意义是指图像中具有相对固定光谱的特征地物类型,它实际上代(1)MNF变换了主成分分析在高光谱数据处理中的不足。
(2)计算纯净像元指数PPIPPI生成的结果是一副灰度的影像,DN值越大表明像元越纯。
作用及原理:纯净像元指数法对图像中的像素点进行反复迭代,可以在多光谱或者高光谱影像中寻找最“纯”的像元。
(通常基于MNF变换结果来进行)纯净像元指数可以将N维散点图映射为一个随机单位向量来计算,每次映射的极值像元被记录下来,并且被标为极值的总数也被记录下来。
按照多次映射每个像元被记录为极值像元的次数来决定该像元是否为纯净像元。
(3)端元波谱收集n维可视化工具-选取样本像元-生成地物平均波谱五、波谱识别和图像分类4、高光谱和多光谱实质上的差别就是,高光谱的波段较多,谱带较窄(比如hyperion有242个波段,带宽10nm);5、多光谱相对波段较少;6、高光谱遥感就是比多光谱遥感的光谱分辨率更高,但是光谱分辨率高的同时空间分辨率会降低。
光谱仪使用步骤
一 机器启动光谱仪启动时注意事项:(1)光谱仪两次开机之间至少应相隔20min ,以防频繁启动烧毁内部元器件 (2)光谱仪背面有5个开关,开机时按照编号1~5依次按下,两开关按下之间应相隔20s 左右。
关机时,按照编号5~1依次按下。
图 光谱仪开关(3)打开氩气阀,使气压保持在0.2~0.4MPa 之间(4)维持瓶内气压在2~3MPa 以上,若气压低于该值,则应更换新的氩气二 登陆1、开机开机用户名:arlservice 密码:3698521472、进入OXSAS 系统账号:(1)!SERVICE! 密码:ENGINEER(2)!MANAGER ! 密码:无 (3)!USER ! 密码:无通常使用“MANAGER ”权限即可3、检查仪器状态快捷键F7进入仪器状态检查界面:Electronic HUPSMainsVacuumWater权限:由高到低VACUUM:真空度SPTEMP:真空室温度MAINS:电源电压NEG-LKV:-1000V电源POS.5V:+5V电源POS.12V:+12V电源NEG.12V:-12V电源POS.24V:+24V电源NEG.100V:-100V电压三数据备份及数据恢复数据备份及恢复分为软件内部操作、软件外部操作。
1、数据备份(1)软件内部备份:操作页面中选择“脱机模式”,待页面变灰后点击“备份数据”按钮,输入相应的文件名(例如:20101019OXSAS_DB.BAK)以防止将先前数据覆盖,然后点击备份即可。
(2)软件外部备份:退出OXSAS操作系统,进入其相应的数据备份及恢复程序“OXSAS Full Backup Restore”,然后选择“备份数据库”按钮下的“备份”选项即可(系统自动选择路径并生成相应文件名)。
2、数据恢复(1)软件内部恢复:操作页面中选择“脱机模式”,待页面变灰后点击“恢复数据库”按钮,选择之前备份的数据库,恢复即可。
(2)软件外部恢复:退出OXSAS操作系统,进入其相应的数据备份及恢复程序“OXSAS Full Backup Restore”,然后点击“恢复数据库”按钮,选择相应数据库,点击“RESTORE”即可。
傅立叶红外光谱判定标准
类别■新制定□修订□废止版次A0 页次2/4
- 2 -
6.3 从IR光谱中可以获得以下信息:
6.3.1 吸收锋的位置吸收锋的强度吸收峰的形状(宽锋,尖锋,肩锋)
7.0 红外光谱常用术语(如图)
类别■新制定□修订□废止版次A0 页次3/4
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8.0红外光谱分析示列
9.0 红外光谱判定标准
9.1 初筛条件相似度>95% 。
9.2 观察图谱是否存在缺锋,锋位置明显偏移多锋的情况(缺锋问题重点关注)。
9.3 锋强存在差异比较正常但锋强存在非常明显差异也需视为异常。
类别■新制定□修订□废止版次A0 页次4/4
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9.4 红外光谱重点关注指纹区(1500-1600CM-1)
如图:不同胶带匹配度可高于95%,应该要关注是否缺锋多锋异常防止误判。
10.0 检验流程注意事项
10.1 取样过程需确保样品不受污染。
10.2 制样过程需带胶手套,拿取样品需用镊子拿取,严禁手触碰样本。
10.3 检测过程如发现光谱匹配异常,可重新多点取多个样品测试比对。
10.4 检测过程多次取样发现光谱仍不匹配,需上报主管确认,如必要需联系原材供应商品质
最高责任人协同分析确认。
备注:详细使用见 Great 操作手册。
修订记录版本修订日期核准审查制订年月日
年月日
年月日。
仪器校验规范及判定标准
文件编号
文件名称
仪器校验规范ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ判定标准
页次
1/1
页版别
A.0
使用范围
5以下
5~15
15~25
25~35
35~45
45以上
允收标准
±0.06
±0.1
±0.2
±0.6
±1.0
±2.0
1.目的:
确保本公司校验之设备,经校验完成后是否尚可使用。
2.范围:
凡校验之设备判定均属之。
3.权责:
校验工作之执行与判定,由品管执行之。
7.相关资料:
无。
8.使用窗体:
无。
(本文件不得擅自涂改或影印)FM0402A
4.名词定义:
无。
5.作业流程:
无。
6.作业内容:
6.1允收基准:
6.1.1原子吸收光谱仪(AA)
单位mg/l(ppm)
6.2处理方式:
6.2.1品管仪器校正人员应将校验报告之误差值与本标准之允收标准核对,以判定是否合格。
6.2.2判定合格之仪器,仪校人员应于仪器明显处张贴“校验合格卷标”。
6.2.3判定不合格之仪器,仪校人员应于仪器明显处张贴“暂停使用卷标”并通知厂商送修。
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其对应的选择按 键
DFB系列产品光谱测试
根据产品选择相应的功能与选择按键
DFB 系 列 产 品 选 择此项测试功能
DFB系列产品光谱测试
按按Auto Meas进入全面扫描。
Auto Meas
DFB系列产品光谱测试
记录画面中相应的数据,合格与否的判断标准,根据SPEC要求,参考下页。
DFB系列产品光谱测试
LED 产品光谱测试
结合数字键,将Span 设置为2.(实际是中心波长与起始、结束波长相差1)
LED 产品光谱测试
记住图中金线所对应的刻度,将在后面输入.(如下图:对应的刻度约为49)
LED 产品光谱测试
打开Amplitude按键,选择scale/div相对应的按键设置为0.1dB,按enter键确认。
使用FP功能来测试
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别
以上是一只FP器件。 从上图可以看出,不管选择哪项来测试,它的波长和波 形都是不变的。 变化的是输出的参数指标项目。
思考
判断器件波长是否必须用光谱来测?
谢谢!
光谱仪的操作使用和技术判定标准
2012-05-17
86140B光谱分析仪
分析仪简介 使用前注意事项 各区域功能介绍: SLED产品光谱测试及技术指标 DFB系列产品光谱测试及技术指标 FP系列产品光谱测试及技术指标 未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别 思考题:
scale/div 相 对 应的按键
LED 产品光谱测试
LED 产品光谱测试
打开Reference相对应的按键,输入刚才记录的刻度数据(49)
Reference 相对应 的按键
LED 产品光谱测试
LED 产品光谱测试
确认后,画面中就是我们所要记录的Ripper值 备注:之前设置scale/div为0.1,表示纵坐标一格长度为0.1,取最长一根计算约0.11。 根据SPEC要求,一般不超0.2,详细指标参考下一页)
使用前要点
为准确测量仪器必须开机预热30分钟,然后 Auto Align自动对准. 移动设备或长期未使用(5日)请自校
各区域功能介绍:
数字区
功能区 光源输入
扫 描 指 示
功能按键
选择按键
电源开关
自校: Auto Align
Appl’s
LED 产品光谱测试
打开电源开关,等待光谱进入待机状态
LED 产品光谱测试
86140B光谱分析仪简介
波长:600nm-1700nm OPT:025 Agilent 86140B系列光谱分析仪采用双通过式单色 仪专利技术设计,波长精度达10pm,是当今光谱仪中最 高的,同时测试灵敏度高,动态范围大,测试速度快;所 有这些特点是DWDM(Dense WaveLength Division Multiplexing高密度波分多路复用技术)多通道系统和器 件测试的关键。特别是对生产制造领域,精确,快速对提 高生产率是非常重要的。 内置无源器件测试软件和WDM扫描软件,使测试自 动化;测试结果自动生成表格,内置软驱和打印机可以随 时记录数据。图形化界面,内置鼠标球,可外接鼠标,外 接键盘,外接打印机。
LED 产品光谱测试
技术判定标准: 具体技术指标参考每款的SPEC文件要求. 如:之前所进行的光谱测试器件 波长为1300产品, 产品代码:EXS210028-01 找到相应的SPEC文件,判定合格与否的标准见下:
DFB系列产品光谱测试
选择功能按键“Source Test DFB FP LED”对应的选择按键
以上是一只DFB器件。 从上图可以看出,不管选择哪项来测试, 它的波长和波形都是不变的。
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别
再换种产品测试看看 使用DFB功能来测试
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别
使用LED功能来测试
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别
技术判定标准: 具体技术指标参考每款的SPEC文件要求. 如:之前所进行的光谱测试器件 波长为1310的DFB产品, ML720LA11S-01 找到相应的SPEC文件,判定合格与否的标准见下:
FP系列产品光谱测试
选择功能按键“Source Test DFB FP LED”对应的选择按键
其对应的选择按 键
其对应的选择按键
LED 产品光谱测试
根据产品属性选择相应的测试项
LED 系列产品选 择此项测试功能
LED 产品光谱测试
按Auto Meas进入全面扫描,待波形变成金色后,记录上图中心波长与3dB谱宽。
打开wavelength按键。
中心波长与3dB谱宽.
wavelength按键 Amplitude按键
FP系列产品光谱测试
根据产品选择相应的功能与选择按键
FP 系 列 产 品 选 择 此项功能测试
FP系列产品光谱测试
按Auto Meas进入全面扫描。 记录画面中相应的数据,合格与否的判断标准,根据SPEC要求,参考下页。
FP系列产品光谱测试 技术判定标准: 具体技术指标参考每款的SPEC文件要求. 如:之前所进行的光谱测试器件 波长为1310的FP产品, Luxnet fl2D-7000 找到相应的SPEC文件,判定合格与否的标准见下:
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱 测试加以识别
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别
使用LED功能来测试
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别
使用FP功能来测试
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别
使用DFB功能来测试
未知波长、类型的器件,怎样利用光谱测试加以识别
按Appl’s键,进入选择状态
图形对应的功能按 键,对应的选择按键
波形图
LED 产品光谱测试
SLED、DFB、FP产品光谱测试选择Source Tests测试功能
Source Tests对应的选 择按键
LED 产品光谱测试
选择功能按键“Source Test DFB FP LED”对应的选择按键