LS 13 320激光粒度仪ppt课件

• 2、超声分散样品，至少15min； （TS系列样品需超声20min以上）
• 3、打开计算机中的LS 13 320软件，进入粒度检测程序； • 4、仪器进行自动校正，包括Measuring Offsets(测量补偿
)、Auto Align(自动匹配)、 Measuring Background(测量 背景) • 5、将分散好的待测样品进行磁力搅拌，用吸管取适量样 品加入到ALM样品池中，进行检测。 • 6、记录数据 • 7、将样品池中的水放掉，并冲洗样品单元三遍，然后进 行下一次样品测试前的仪器校正。
三、LS 13 320 的样品模块
• 样品模块是通过自动对接系 统附在光工作台上，按下按 钮或通过软件命令可以激活 该系统。
• 样品处理模块的主要功能 是将样品中的颗粒（不分大 小）送至敏感区，避免任何 不合要求的影响如气泡和/ 或热湍流。
• 样品模块通常是由样品单元 和传送系统组成。传送系统 可能包括某些属性如含有循 环泵、超声探针或搅拌棒， 以帮助颗粒更好地分散和循 环。
• 目前由Beckman Coulter 独家使用。这种结构是在普通的激光粒度仪光 学结构（双镜头结构或透镜后傅立叶结构）之外，增加一种称为PIDS 技术的测量系统。所谓PIDS是“散射的偏振强度差”的英文缩写。
• 它是利用亚微米颗粒对水平偏振光和垂直偏振光有不同的散射光场分布 ，与此相对，大颗粒在两个偏振态上则没有什么差异。为了提高对小粒 径的分辨率，PIDS中用了3种不同的波长（450nm、600nm和900nm） 。
一、LS 13 320的光工作台：
• LS 13 320光学系统是由照明源、样品室（在这里，样品与 照明光束相互作用）、用于聚焦散射光的傅里叶透镜系统和 记录散射光强度模式的光电探测器装置。
激光辐射穿过空间滤波器和投 影透镜形成光束。光束穿过样 品单元，在这里，悬浮在液体 或气体中的颗粒即按其大小将 入射光散射在特征图上。傅里 叶光学采集衍射光并将其聚焦 在三组检测器上，第一组是小 角散射，第二组是中等角度散 射，第三组是大角散射。
含义。因为粒度测试所测得的粒径为等效粒径，对同一个 颗粒，不同的等效方法可能会得到不同的等效粒径。如图 11所示：
图11 不同等效径差异
• 可见，由于测量方法不同，同一个颗粒得到了多个不同的 结果。也就是说，一个非圆球形的颗粒，如果用一个数值 来表示它的大小时，这个数值不是唯一的。
• 而每一种测试方法都是针对颗粒的某一个特定方面进行的 ，所得到的数值是所有能表示颗粒大小的一系列数值中的 一个，所以相同样品用不同的粒度测试方法得到的结果有 所不同的是客观原因造成的。颗粒的形状越复杂，不同测 试方法的结果相差越大。
这种结构在传统的透镜后傅立叶结构的主照明光束之外，又增加 一束斜入射、短波长（蓝光）的照明光束。增加的照明光束是为了扩 大仪器的测量下限。
在相同的散射角下，照明光波长越短，对应的粒径越小。因此用 短波长的照明光斜入射到测量窗口上，能有效地扩大测量下限。
现阶段Malvern MS2000和日本Horiba的LA-950均采用这种结构。
图5 透镜后（或会聚光、或逆向）傅立叶变换结构
• 后向散射光就是大于90º的散射光，因此也是对散射角接收 范围的扩展，以扩展粒度测试下限。
这种结构现已成为 Malvern、Horiba和 欧美克激光粒度仪 等品牌产品的基本 结构。
图6 带后向散射光接受机构的透镜后傅立叶变换结构
• 同样是为了增大散射光的接收角
二、LS 13 320的光源
• LS 13 320是使用750nm（或780nm）的5mW二级管激光 器作为主光源。二极管激光器的光为单色光；要求描述颗 粒散射作用的理论模型。
• 但是激光器二极管的光不聚焦，必须经过“处理” 生成 “干净”光束。最经常用于调整照明源的仪器通常是空间 滤波器。
• 对于PIDS系统还存在钨-卤素次级照明源。从钨-卤素灯发 出的光穿过一组滤波器时被投射，该滤波器通过每个波长 （3个波长：450nm、600nm和900nm）上的两个正交方 向的偏光器将三个波长发射出去。
贝克曼库尔特LS 13 320粒度仪
• 贝克曼库尔特LS 13 320系列微纳米激光粒度分析仪应用 颗粒光散射原理，据光学理论推算颗粒粒度分布，主要适 用于粉体或各种材料颗粒粒度分析。
• 最大特点是粒度分析动态范围宽，分辨能力为同行业中最 高；操作简便快捷，自动化程度高，可广泛应用于质量控 制实验室、质量控制部门以及其他粒度分析领域。
• 但这并不意味着粒度测试结果可以漫无边际，而恰恰应具 有一定的真实性，就是应比较真实地反映样品的实际粒度 分布。
• 真实性目前还没有严格的标准，是一个定性的概念。但有 些现象可以作为测试结果真实性好坏的依据。
• 仪器对标准样的测量结果应在标称值允许的误差范围内； • 经粉碎后的样品应比粉碎前更细； • 经分级后的样品的粒度分布将发生变化（比如大颗粒含量
• ISO标准声明，尽管近似法仍然可以用来测试粒径大于50 微米的颗粒，但建议使用米氏理论测试粒径小于50微米的 颗粒。米氏理论在所有的测试范围内都适用。因此设计用 来测试粒径小于50微米的微粒的仪器一律应支持米氏理论 。
激光粒度仪的光学结构
• 为了有效地测量不同角度上的散射光的强度，需要运用光学手段对散 射光进行处理。在图3所示的光束中的适当的位置上放置一个傅氏透 镜，在傅氏透镜的后焦平面上放置一组多元光电探测器，这样不同角 度的散射光通过傅氏透镜就会照射到多元光电探测器上，将这些包含 粒度分布信息的光信号转换成电信号并传输到电脑中，通过专用软件 用Mie散射理论对这些信号进行处理，就会准确地得到所测试样品的 粒度分布。
减少等）； • 结果与行业标准或公认的方法一致等。
• 2 粒度测试的重复性
• 粒度测试的重复性是指同一个样品多次测量结果之间的偏 差。重复性指标是衡量一台粒度测试仪或一种测试方法好 坏的最重要的指标。
图8 双波长、双光束的透镜后傅立叶变换结构
•二、三光束的双 镜头结构。
•双镜头结构的作用和 传统的双镜头一样。 三光束中光束1为主 入射光，作用如同传 统的照明光，光束2 用以扩大前向散射光 的出射角，光束3用 以扩大后向散射光的 出射角盲区。
图9 三光束双镜头结构
• 三、带有PIDS技术的光学结构
• Fraunhofer理论：当粒度d远大于光波长l，或当物质具有很高的吸 收能力时，颗粒的边缘效应对总体散射强度作用较大。此时干涉效 应是由颗粒边界（衍射）上的光弯曲引起的。在光散射测量中，由 于光源远离散射体，而且光学通常设计成使照射散射体的入射光束
为均匀的平行线，只有Fraunhofer衍射发生。只可应用于完全不 透明的颗粒和小角度的散射（大颗粒）。
• 在粒度较小时，粒度与光波长比值（d/l）减少，因而干涉效应也减少， 散射图变得较为光滑且对角度依赖性减少。在较小的粒度范围内，粒度 对散射强度模式的灵敏度也大大减少，这样要获取准确的粒度则越来越 困难。
• 如果使用较短波长的光，d/l比值将变大，所以较低的粒度极限将得到有 效的扩展。联合光散射的极化效应和大角度时的波长依赖性，我们能够 将较低的粒度极限扩展到40nm（几乎达到理论极限）。这便是已取得 专利的极化强度差示散射（PIDS）技术。
自动对接系统按钮
弹出模块
门打开按钮ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
• LS 13 320运转时含有针对悬浮在液体或干粉中的颗粒 进行设计的样品单元。
• 这些样品模块为：
旋风干粉系统
（Tornado DPS）
通用液体模块（ULM） 水溶液模块（ALM） 微量液体模块（MLM）
LS13 320激光粒度仪操作步骤
• 1、打开激光粒度仪开关，预热20min以上，打开计算机 系统；
图1 激光束在无阻碍状态下的传播示意图
• 米氏（ Mie ）散射理论表明，当光束遇到颗粒阻挡时， 一部分光将发生散射现象，散射光的传播方向将与主光束 的传播方向形成一个夹角θ，θ角的大小与颗粒的大小有关 ，小角度(θ)的散射光是由大颗粒引起的；大角度(θ1)的散 射光是由小颗粒引起的，如图2所示。
图3 激光粒度仪的经典光学结构
• 激光粒度仪光学结构的变迁
• 测量下限是激光粒度仪重要的技术指标。激光粒度仪光学结构的 改进基本上都是为了扩展其测量下限或是小颗粒段的分辨率。
• 基本思路是增大散射光的测量范围、测量精度或者减少照明光的 波长。
✓增加了辅助探头—— 这些探头用以弥补环形 探测器阵列最大外径的 不足，来扩大仪器对散 射光的接受角，从而扩 展仪器的测量下限。
✓在这种结构下扩大接 受角，将受到傅立叶透 镜口径的制约。
图4 有少许改进的经典结构
• Malvern的早期仪器在小颗粒量程段采用这种结构，该结构的优点 是最大接收角不受傅立叶镜头口径限制，但是它只在较小散射角（ <5º）上能实现精确聚焦。随着散射角增大，聚焦误差会越来越大 。聚焦有误差意味着探测器上的一个确定位置并不对应一个确定的 散射角，从而使仪器的分辨率降低。
• 进一步研究表明，散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。 这样，测量不同角度上的散射光的强度，就可以得到样品 的粒度分布了。
图2 不同粒径的颗粒产生不同角度的散射光
• Mie理论：描述了光与任意大小的颗粒之间的相互作用，这种相互 作用是角度的函数，假定光波长和极化已知，而且颗粒为光滑、球 形、均匀并已知折射率。Mie理论比Fraunhofer提出的理论要复杂 ，因为它要解决颗粒和光之间所有可能的相互作用。
• 采用这种结构的制造商有美国的Beckman Coulter 和 Microtrac公司。
图7 双镜头光学结构
• 上述各种光学结构大约在10年或更早以前就被提出，有的成了某些品 牌仪器的基本结构（但不是全部），有的已不再使用。下面介绍当前 流行仪器的各种光学结构。
• 一、双波长、双光束的透镜后傅立叶变换结构。