硅缺陷发光的研究概况
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硅缺陷发光的研究概况
杨 宇
SiGe/Si量子阱中弱温时与量子阱有
究还有导带与价
LED的有效发光。他们采用标准的程将在Si片内部产
在30keV能量下,
步研究表明发光来)填隙的点缺陷,但这些缺陷区域位置分布与硅离子注入位置(同能量和剂
通过同多孔硅类似
用》、《材料光电性能》、
士生和1名博士生(同上海交通大学联合培养)。先后主持完成云南省各类基础研究
项目及国家自然科学基金项
技术制备出GeSi/Si量子阱发光材料,首次在非晶材料上制备出Ge晶体,在国内较早
研制出高热电系数的Si红外
年来,在国内外学术刊物上发表论文120余篇,SCI、EI收录40余篇。获得国家发明专
利4项,研制出森林火源红外报警仪。1997年获上海市材料科学与工程博士后论文报
告优秀奖;1998年获首届云
2002年获云南省自然科学进
术带头人。