电子元件系列检验文件
SMT电子元件进料检验标准
△
27
金手指边缘翘起或缺损
△
28
金手指表面氧化、水迹、黑点、胶渍等
△
29
金手指间距有残铜或其它异物
△
30
金手指氧化
△
31
PCB拼板(板边)分割压痕、间距不符合图纸要求
△
32
未按同一方式包装
△
5.2 电阻进料检验规范
5.2.1 外观检验：
5.2.1.1 用游标卡尺测量引脚长度、外形尺寸应与承认之样品相符。
5.2.1.2 检验其表面丝印清晰、标识正确。
5.2.2 阻值检验：将电桥两测试笔同时接触电阻两端，该数值为实测数值，再按标识之误差（率），算出其是否在规定范围内。
5.2.3 试验：必要时（引脚表面不光洁时）进行焊锡试验，至少取5PCS将其引脚浸入锡炉（温度245℃±5℃）3秒钟，取出后引脚表面至少应有三分之二上锡。
5.1.3检验标准
NO
缺 陷 内 容
不良等级
CR
MA
MI
1
PCB外观尺寸： 长*宽 <50*50mm、>330*250mm，厚度<0.4mm、>3mm, 重量>0.65Kg
△
2
定位孔的孔径公差>±0.08mm
△
3
PCB无光学定位基本标志
△
4
对IC 脚距≤0.5mm(或BGA)无光学定位标志
△
5
光学定位基本标志表面有阻焊膜沾污,平面度>0.015mm，不光亮、氧化
4.相关文件
4.1《产品防护程序》
4.2《不合格品控制程序》.
4.3《标识和可追溯性控制程序》
电子元器件检验标准及推力测试标准
1.0目的本标准建立目的在于控制表面贴装的印刷电路板及提供器件脚成型、点焊的电路板的外观，以确保产品品质达到规定要求。
2.0参考文件1.GB2828-2003抽样程序3.0AQL标准MA: 2.5MI: 4.0主缺：可能会引起产品预定用途的失效或降低其本质上的可用性(功能、性能不良)次缺：与已建立的标准有背离却又对产品单元的有效作用或操作几乎无影响(外观不良)4.0适用范围适用于各类SMT焊接及插件类器件焊接后的半成品及进料检验的质量控制。
5.0使用工具5.1游标卡尺5.2放大镜5.3塞规6.0注意事项1.检查时必须正确佩带静电手环。
2.必须佩带手套或指套。
3.PCBA必须放置于有良好照明的工作台上,从距离30cm处以45度目视7.0检查项目(见下页)不应该有1k1011k101102合格图示<03mm合格图示应焊锡而未焊到的。
未吃锡合格图示零件吃锡面与锡未完全融合。
合格图示QFP应导通而未导通的。
断路合格图示0.5mm以器件脚的宽度为准，偏移不可>1/2吃锡面。
0.1mm0.3mm以器件脚的宽度为准，偏移不可>1/2吃锡面。
wPAD<1/2WPolarityPADWW焊点四周及PCB板面上不得有锡球或其他焊锡残渣等。
PCB板面不得有划伤。
单面不允许>0.5mm，2点以上。
合格图示++合格图示缺陷定义描述及图示参考图示应有器件而没有器件的。
缺件L8L8合格图示正确多余合格图示(a) 1.3mm合格图示表面造成气球状(将器件脚整个包住)。
合格图示合格图示超过锡面0.5mm不允许。
合格图示5mm 2.5mm合格图示序号物料名称图片测试方法推力标准10402器件 1.消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥0.5520603器件 1.消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥1.0030805器件 1.消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥2.1041206器件 1.消除阻碍1206元器件边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥2.505SIM卡连接器1.消除阻碍SIM 卡连接器边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥4.006SOT231.消除阻碍SOT23元器件边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥1.507SOP5IC1.消除阻碍SOP5IC 元器件边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥2.008SPO6IC1.消除阻碍SOP6IC 元器件边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥2.009晶体1.消除阻碍晶体元器件边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥2.0010RF连接器1.消除阻碍RF 连接器边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥3.0011开关1.消除阻碍开关边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥3.5012POGPIN连接器1.消除阻碍连接器边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥5.0013电池连接器1.消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥3.5014耳机（按插拔方向推力） 1.消除阻碍耳机边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥5.5015USB插座（按插拔方向推力）1.消除阻碍USB插座边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥3.5016TF卡座1.消除阻碍TF卡座边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥4.5017纽扣电池1.消除阻碍电池边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥2.5018多脚芯片（8脚及以上）1.消除阻碍芯片边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥2.0019BGA芯片1.消除阻碍芯片边缘的其它元器件2.选用推力计，将仪器归零，≤30度角进行推力试验；3.当推力计达到推力标准时，检查元器件是否脱焊≥2.50注：除指定的推力方向外，其余均以器件较长的一面进行推力。
电子元件来料检验标准
数字三用表（DT-9201）
游标卡尺
文件编号：Q/LSD3401.15-2010
xxx
规范 来料检验 版本号： A 页 码:15
00
验 项 目 检 验 方 法 检 验 内 容 判定等级
型号规格 目检 检查型号规格是否符合规定要求 A
包装ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ数量 目检 检查外包装是否破损 B
．型号规格 目检 检查型号规格是否符合规定要求 A
包装、数量 目检 检查包装是否符合要求 A
A
外形尺寸、
封装、标志 目检 测量外形尺寸，检查表面有无破损 十分微小的破裂，但不会破坏密封 B 破裂处暴露出零件
A
A
电容量、损耗 仪器测量 用LCR数字电桥测量 A
数字电桥 (TH2817)
xxx
规范 来料检验 版本号： A 页 码:14
00
验 项 目 检 验 方 法 检 验 内 容 判定等
型号规格 目检 检查型号规格是否符合规定要求 A
包装、数量 目检 检查外包装是否破损 B
A
外形尺寸 目检 测量外形尺寸是否符合要求，检查表面有
A
．可焊性 实际焊接试验 可焊性良好 A
A
外形尺寸 目检 测量外形尺寸是否符合要求 A
表面丝印质量 目检 检查表面丝印内容是否正确,有无漏印、
B
线路板质
目检
线路板有无弯曲、变形现象 线路板有轻微的弯曲和变形，但不影响安装质量 B 线路板有严重的弯曲和变形，影响安装质量 A 检查各线路之间是否有桥接现象，焊盘孔、安装孔是否有被堵现象 A 导体线路是
规范 来料检验 版本号： A 页 码:7
电子元器件材料检验规范标准书
观
空泡&分层
MA
a.空泡和分层完全不允许。
目检 目检
备注
外 观
外 观
丝 印
焊锡性 金 手 指 金 手 指
板角撞伤
章记
尺寸
板弯&板翘 板面污染 基板变色 文字清晰度 重影或漏印
印错 文字脱落 文字覆盖 锡
垫 Model No.
焊锡性 G/F 刮伤 G/F 变色
G/F 镀层剥离 G/F 污染 G/F 凹陷 G/F 露铜
MA
MA
MA
MA MA MA Minor MA MA MA
a. 因制作不良或外力撞击而造成板边（角）损坏时，则 依成型线往内推不得大于 0.5mm 或板角以 45 度最大
值 1.3mm 为允收上限。
目检及带刻 度放大镜
a. 焊锡面上应有制造厂之 UL 号码、生产日期、Vendor Mark；生产日期 YY（年）、WW（周）采用蚀刻方 式标示。
c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
MA
10 倍以上的放 须佩带静电
d. 元 件 封 装 材 料 表 面 因 封 装 过 程 中 留 下 的 沙 孔 ， 其 面 积 不 超 过
大镜
带。
0.5mm2,且未露出基质, 可接受；否则不可接受；
e.Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
电性检验
MA
密贴长度约 25mm,经过 30 秒,以 90 度方向垂直拉起,
不可有脱落或翘起之现象。
目检
MA
a. 金手指不可沾锡、沾漆、沾胶或为其他污染物。
目检
a. 金手指凹陷、凹洞见底材或铜面刮伤，不得在金手
MA
指中间 3/5 的关键位置，唯测试探针之针点可允收，
常见电子元器件检验标准
QA 规范来料检验版本号： A页码:1本页修改序号：00 1．目的对本公司的进货原材料按规定进行检验和试验，确保产品的最终质量。
2．范围适用于本公司对原材料的入库检验。
3．职责检验员按检验手册对原材料进行检验与判定，并对检验结果的正确性负责。
4．检验4.1 检验方式：抽样检验。
4.2 抽样方案：元器件类:按照G B 2828-87 正常检查一次抽样方案一般检查水平Ⅱ进行。
非元器件类:按照G B 2828-87 正常检查一次抽样方案特殊检查水平Ⅲ进行。
盘带包装物料按每盘取3只进行测试。
替代法检验的物料其替代数量依据本公司产品用量的2～３倍进行替代测试。
4.3 合格质量水平：A 类不合格 AQL=0.4 B 类不合格 AQL=1.5 替代法测试的物料必须全部满足指标要求。
4.4 定义：A 类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目。
B 类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目。
5．检验仪器、仪表、量具的要求所有的检验仪器、仪表、量具必须在校正计量期内。
6. 检验结果记录在“IQC 来料检验报告”中。
QA 规范来料检验版本号： A页码:2本页修改序号：00目录材料名称材料类型页数电阻器元器件类4电容器（无极性）元器件类5电容器（有极性）元器件类6电感器元器件类7集成电路元器件类8线路板元器件类9、10二极管元器件类11、12三极管元器件类13、14塑料件非元器件类15按键、开关非元器件类16天线座、插针、插座非元器件类17线材非元器件类18电池正、负极、天线弹簧非元器件类19螺钉、铜螺柱、8 字扣、万向转非元器件类20三端稳压器（78L05）元器件类21包装材料非元器件类22液晶屏元器件类23扎带非元器件类24说明书、圆贴等印刷品非元器件类25海绵胶条、贴片、镜面非元器件类26热缩套管非元器件类27跳线非元器件类28蜂鸣片元器件类29蜂鸣器元器件类30晶体、陶振、滤波器元器件类31继电器元器件类32警号元器件类33自恢复保险丝元器件类34马达元器件类35天线非元器件类辅料非元器件类36QA 规范来料检验版本号： A页码:3本页修改序号：00名称：电阻器检验项目检验方法检验内容判定等级1. 型号规格目检检查型号规格是否符合规定要求A2. 包装、数量目检检查包装是否符合要求A清点数量是否符合B3. 外形尺寸、色环、封装、标志目检测量外形尺寸，检查表面有无破损十分微小的破裂，但不会破坏密封B破裂处暴露出零件内部A 检查色环、标志是否正确,引脚无氧化痕迹A4. 电阻值、偏差仪器测量用L CR 数字电桥测量电阻值A 测试用仪器、仪表、工具：1. LCR 数字电桥(TH2817)2. 游标卡尺QA 规范来料检验版本号： A页码:4本页修改序号：00名称：电容器 (无极性)检验项目检验方法检验内容判定等级1．型号规格目检检查型号规格是否符合规定要求A 2.包装、数量目检检查包装是否符合要求A清点数量是否符合A3.外形尺寸、封装、标志目检测量外形尺寸，检查表面有无破损十分微小的破裂，但不会破坏密封B破裂处暴露出零件内部A 检查标志是否正确，引脚无氧化痕迹A4.电容量、损耗仪器测量用L CR 数字电桥测量A 测试用仪器、仪表、工具：1. LCR 数字电桥(TH2817)2. 游标卡尺QA 规范来料检验版本号： A页码:5本页修改序号：00名称：电容器 (有极性)检验项目检验方法检验内容判定等级1．型号规格目检检查型号规格是否符合规定要求A2．包装、数量目检检查包装是否符合要求A清点数量是否符合A3．外形尺寸、封装、标志目检测量外形尺寸，检查表面有无破损十分微小的破裂，但不会破坏密封B破裂处暴露出零件内部A 检查标志是否正确，引脚无氧化痕迹A4．电容量仪器测量用L CR 数字电桥测量A 5．漏电流仪器测量用仪表测量漏电流值A 测试用仪器、仪表、工具：1. LCR 数字电桥(TH2817)2. 万用表3. 稳压电源QA 规范来料检验版本号： A页码:6本页修改序号：00名称：电感器检验项目检验方法检验内容判定等级1．型号规格目检型号规格是否符合规定要求A2．包装、数量目检检查包装是否符合要求A清点数量是否符合A3．外形尺寸、封装、标志目检测量外形尺寸，检查表面有无破损十分微小的破裂，但不会破坏密封B破裂处暴露出零件内部A 检查标志是否正确，引脚无氧化痕迹A4．电感量、偏差仪器测量替代测试电感量用L CR 数字电桥测量用替代法测试叠层电感（31#N、33#N、34#N、35#N、36#N、38#N）用测试好的车台R F 板与遥控器R F 板上相同型号的电感元件进行替换测试，接收和发射指标保持相同或超出原指标则判定为合格A测试用仪器、仪表、工具：1. LCR 数字电桥(TH2817)2. 车台R F 板/遥控器R F 板注：功率电感必须测量电阻值(小于0.48Ω)QA 规范来料检验版本号： A页码:7本页修改序号：00名称：集成电路检验项目检验方法检验内容判定等级1.型号规格目检检查型号规格是否符合规定要求A2.包装、数量目检检查包装是否为防静电密封包装A清点数量是否符合A 3．封装、标志目检检查封装是否符合要求,表面有无破损、A引脚是否平整且无氧化现象检查标志是否正确、清晰AA 3. 功能测试替代法测试将需测试的I C 与车台板（振动传感器）上相同型号的I C 替换,再进行功能测试,功能正常的则判合格测试用仪器、仪表、工具：1. 1. 放大镜(5 倍)2. 模拟板3. 车台控制板工装、振动传感器注意事项:1.检验时需戴手套,不能直接用手接触集成电路.2.要有防静电措施.注：车台C PU 与遥控器C PU 不作第3项功能测试QA 规范来料检验版本号： A页码:8本页修改序号：00名称：线路板检验项目检验方法检验内容判定等级1. 型号规格目检检查型号规格是否符合规定要求A2. 材质目检检查材质是否为符合规定要求A3. 包装、数量目检检查包装是否为密封包装B清点数量是否符合A4. 外形尺寸目检测量外形尺寸是否符合要求A5. 表面丝印质量目检检查表面丝印内容是否正确,有无漏印、印斜、字迹模糊不清等现象B6. 线路板质目检线路板有无弯曲、变形现象线路板有轻微的弯曲和变形，但不影响安装质量B线路板有严重的弯曲和变形，影响安装质量A检查各线路之间是否有桥接现象，焊盘孔、安装孔是否有被堵现象A导体线路是否有损坏表面损坏未露出基层金属，对焊接没有影响，断裂未超过横切面的20%B表面损坏露出基层金属，断裂超过横切面的20%A表面是否有起泡、上升或浮起现象有局部起泡、上升或浮起,在非焊盘或导体区域B在焊盘或导体处有起泡、上升或浮起现象,影响焊接质量AQA 规范来料检验版本号： A页码:9本页修改序号：00名称：线路板检验项目检验方法检验内容判定等级6.线路板质量目检焊盘和贯穿孔的对准度贯穿孔与焊盘的对准度明显已脱离中心，但与焊盘边的距离在0.05mm 以上B贯穿孔与焊盘的对准度很明显地已脱离中心A是否有因斑点、小水泡或膨胀而造成叠板内部纤维分离A是否有脏、油和外来物影响安装质量A有轻微的脏污B测试用仪器、仪表、工具：1.游标卡尺2.放大镜QA 规范来料检验版本号： A页码:10本页修改序号：00名称：二极管检验项目检验方法检验内容判定等级1．型号规格目检型号规格是否符合规定要求A2．包装、数量目检检查包装是否符合要求A清点数量是否符合A3．外形尺寸、封装、标志目检测量外形尺寸，检查表面有无破损B检查标志是否正确、清晰，引脚无氧化现象A4．极性仪表测量用数字三用表测量极性是否正确A5．电气参数仪表测量用三极管图示仪测试二极管的U F、I FM、U R值A测试用仪器、仪表、工具：1.晶体管图示仪(QT2）2.万用表QA 规范来料检验版本号： A页码:11本页修改序号：00名称：二极管（高频）检验项目检验方法检验内容判定等级1．型号规格目检型号规格是否符合规定要求A2．包装、数量目检检查包装是否符合要求A清点数量是否符合A3．外形尺寸、封装、标志目检测量外形尺寸，检查表面有无破损B检查标志是否正确、清晰，引脚无氧化现象A4．极性仪表测量用数字三用表测量极性是否正确A 5．性能测试替代法测试用经指标测试合格的车台射频板或遥控器射频板、遥控器控制板，将需测试的三极管替换原板上相同规格之元件，然后测试指标进行对比，若代换后之指标参数与原参数相同或超过原参数则判定为合格。
电子元器件材料检验规范标准书修订稿
处。
带刻度放大镜 目检
板边余量
MA
a. 线路距成型板边不得少于 0.5mm。
带刻度放大镜
刮伤
MA
a. 刮伤长度不超过 6mm，深度不超过铜铂厚度的 1/3。
放大镜
孔塞
MA
a. 零件孔不允许有孔塞现象。
目检
孔
孔黑
MA
a. 孔内不可有锡面氧化变黑之现象。
变形
a. 孔壁与锡垫必须附着性良好，不可翘起，变形或脱
a. 内层采用黑化处理，黑化不足或黑化不均，不可超过 单面总面积%（棕化亦同）。
a.空泡和分层完全不允许。
目检 目检 目检
a. 锡垫之缺口、凹洞、露铜等，不得大于单一锡垫之总 面积 1/4。
目检、放大镜
备注
外 观
外 观
丝 印
焊锡性 金 手 指 金 手 指
板角撞伤
章记
尺寸
板弯&板翘 板面污染 基板变色 文字清晰度 重影或漏印
5. 参考文件 无
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受；
目检
数量检验
MA b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
MA
a. BGA 区域要求 100%塞孔作业。
检验方式 目检 目检 目检 目检 目检 目检
目检
目检
目检 目检 目检
放大镜 放大镜
电子元器件来料检验规范精选全文
可编辑修改精选全文完整版电子元器件来料检验规范IQC来料检验指导书客户：产品名称：版本：制定日期：生效日期：制作人：审核人：批准人：受控印章：检验说明：一、目的：对本公司的进货原材料按规定进行检验和试验，确保产品的最终质量。
二、范围:1、适用于IQC对通用产品的来料检验。
2、适用对元件检验方法和范围的指导。
3、适用于IPQC、QA对产品在制程和终检时，对元件进行复核查证。
三、责任:1、IQC在检验过程中按照检验指导书所示检验项目，参照供应商器件确认书对来料进行检验。
2、检验标准参照我司制定的IQC《进料检验规范》执行。
3、本检验指导书由品管部QE负责编制和维护，品管部主管负责审核批准执行。
四、检验4.1检验方式：抽样检验4.2抽样方案：元器件类：按照GB 2828-87正常检查一次抽样方案，一般检查水平Ⅱ进行。
非元器件类：按照GN 2828-87 正常检查一次抽样方案，特殊检查水平Ⅲ进行。
盘带包装物料按每盘取3只进行测试替代法检验的物料其替代数量根据本公司产品用量的2～3倍进行替代测试4.3合格质量水平：AQL为acceptable quality level验收合格标准的缩写。
A类不合格AQL=0.4 B类不合格AQL=1.5 替代法测试的物料必须全部满足指标要求4.4定义：A类不合格：指对本公司产品性能、安全、利益有严重影响不合格项目B类不合格：指对本公司产品性能影响轻微可限度接受的不合格项目4.5检验仪器、仪表、量具的要求所有的检验仪器、仪表、量具必须在校正计量器内4.6检验结果记录在“IQC来料检验报告”中序号1 2 4 5 6 7 8 11 12 13 14 15 18 19 20 21 22 24 25 26 27 28 29 31 32 33 34 35 38 39 40 41 42 材料名称晶振三极管贴片三极管铝电解电容高压陶瓷电容片状电容（SMD）电阻（插件与贴片）贴片电感色环电感贴片二极管稳压二极管整流二极管三端稳压器开关二极管瞬态抑制二极管压敏电阻TVS管滤波器扼流圈三端稳压器整流桥堆保险管继电器变压器可控硅光电耦合器发光数码管LED灯红外发射管红外接收头蜂鸣器电源适配器IC芯片CMOS摄像头CCD摄像头RF433发射模块RF433接收模块WIFI模块电源模块触摸屏液晶屏MX27核心板窗帘马达材料类型备注页数1 元器件类部品2 元器件类部品元器件类部品3、4 元器件类安全部品5、67 元器件类部品8 元器件类部品、EMC部品9 元器件类部品10 元器件类部品、EMC部品元器件类部品、EMC部品元器件类部品13 元器件类安全部品14 元器件类安全部品15 元器件类安全部品14 元器件类安全部品16 元器件类安全部品元器件类部品元器件类部品元器件类部品、2021 元器件类部品22 元器件类安全部品23 元器件类安全部品24 元器件类安全部品元器件类关键部品26 元器件类关键部品27/28 元器件类关键部品29 元器件类关键部品30 元器件类常用部品31 元器件类常用部品32 元器件类常用部品元器件类常用部品34 元器件类常用部品35/36/37/38 模块类常用部品39 元器件类常用部品40 模块类关键部品41 模块类关键部品模块类关键部品模块类关键部品44 模块类关键部品45 模块类关键部品46 模块类关键部品47 模块类关键部品48 模块类关键部品模块类关键部品4446 47 48 49 50 53 54 55玻璃按键、拨码开关装饰条线座、插件、插座天线塑胶机壳常规物料包材类电子料类辅料类说明书通用检查项目非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类非元器件类关键部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品常用部品50 52 53 54 55 56 59 60 61-67来料检验报告.doc来料检验报告单.doc。
电子元器件检验标准-范本模板
一、适用范围及检验方案
1、适用范围
本检验标准中所指电子元器件仅为PCBA上的贴片件或接插件，具体下表清单所示：
2、检验方案
2.1每批来料的抽检量（n）为5只，接收质量限（AQL）为：CR与MA=0，MI=(1，2），当来料少于5只时则
全检,且接收质量限CR、 MA与 MI=0。
2。
2来料检验项目=通用检验项目+差异检验项目,差异检验项目清单中未列出部件，按通用检验项目执行。
标示准确、清楚、无误
根据产品规格，用万用表分别测试BCE极，数据正常，且极性正确。
序号
物料类别
物料图示标准要求
检验方法
判定
水准24 光耦类
标识
产品应明确标示规格型号，且与BOM
表中内容一致；极性方向标示正确。
目视MI
性能
根据产品规格，用万用表R×1K档测
量发射管的正﹑反向电阻，接收管两
端的电阻值，以及接收管的集电极与
发射结正.反向电阻，均应符合技术规
格要求。
万用表CR 25 MOS管类
标识
产品应明确标示规格型号，且与BOM
表中内容一致。
目视MI
性能
根据产品规格，用万用表分别测试
GDS极，数据正常，且极性正确.
万用表CR 26 防雷管性能
万用表选“Ω”档测防雷管两端的电
阻值应为开路（数字不变化）
万用表CR 27 IGBT
结构用PCB、散热片试装，应满足装配检测工装CR
性能
根据产品规格，用万用
表分别测试GDS极，数
据正常,且极性正确。
万用表CR。
电子元器件的来料检验标准指导书[新版]
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电子元器件来料检验标准指导书目的：对IQC品检人员的作业方法及流程进行规范,提高IQC检验作业水平，控制来料不良，提高品质。
1、实用范围：来料进料检验2、质检步骤（1）来料暂收（2）来料检查（3）物料入库3、质检要点及规范（1）来料暂收：仓管收到供应商的送货单后根据送货单核对来料：数量，种类及标签内容等无误后送交IQC 检验，予以暂收，并签回货单给来料厂商。
（2）来料检查：IQC品检人员收到进料验收单后，依验收单和采购单核对来料与标签内容是否相符，来料规格，种类；是否相符，如不符拒检验，并通知仓管、采购及生管，如符合，则进行下一步检验。
一般先抽查来料的一定比例（以仓库来料质检标准），查看品质情况，再决定入库全检，还是退料。
（3）检查内容：（1）外观：自然光或日光灯下，距离样品30CM目视；（2）尺寸规格：用卡尺/钢尺测量，厚度用卡尺/外径千分尺测量；（3）粘性分别按：GB/T4852-2002、GB/T4851-1998、GB/T2792-1998中方法执行，结果记录于《可靠度测试报告》中；（4）包装完好、标识正确、完整、清晰，环保材料查看是否贴有相应的环保标签，第一批进料时要附SGS报告及物质安全表及客户要求的其它有害物质检测报告；（5）检验合格后贴上合格标签，填写《物料检验表》并通知仓库入库，仓库要按材料类型（环保与实用型）及种类分开放置标示清楚，成品料由IQC人员包装放于待出货区。
以仓库物料质检标准。
（6）物料入库：检查完毕，要提交《原材料进库验货》交上级处理，并对合格暂收物料进行入库登记。
异常物料特《原材料进库验货》批示后，按批示处理。
4、注意事项（2）贵重物品及特殊要求物料要逐一检查。
（3）新的物料需给技术开发部确认。
5、异常处理办法物料在检验过程中发现异常，即时向采购及品管主管反映，录求解决方法，尽快处理。
6、不合格品的处理：（1）IQC判定为不合格时，在产品包装外贴上退货/拒收标签，把产品转移到不合格/退货区域，并报品质主管确认签字后，送采购/生管签名后发到供应商，供应商未在2个工作日内回复的报仓库直接作退货处理；如为急料，经品质主管与采购，生管，业务协商后，呈经理审批，按评审意见办理；（2）跟据供应商提供的改善方案，IQC品管员对下批来料改善效果进行确认，并记录结果。
电子元器件检验规范标准书
MA
正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受； MA
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检 点数
a.Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；
b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
划
4. 允 收 水 准 （AQL）
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 文 无
件
检验项目 缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR 测试仪 数字万用表
检验时，必 须佩带静电
带。
二极管类型
检 测方法
LED 其它二极管
备注
选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED 需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极 管不合格。 注：有标记的一端为负极。
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于 1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。 注：有颜色标记的一端为负极。
受。
检验方式 目检
目检 点数
备注
外观检验 电性检验
MA 无
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受； b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受； c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受； d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超
QC-024 电子元件来料检验报告
电子元件来料检验报告
物
料 型
分
号
来
数
抽
料
检
标
项查
准
抽样数
允收 数
项
要
次点Βιβλιοθήκη 求包装完好，无损伤，其中IC需 抽样数
1 包装及标识 要有防潮、防静电包装，标示 外包装
与实物相符合
n=
主体表面光滑，无裂纹及机械 主体部分 损伤、裂缺
2
外 观
引针或焊脚应粗细均匀、光亮 引针部分 、无黑斑、锈斑、无裂纹
丝印清晰、齐全、极性标志应
标志检查 符合研发认= 可要求
m=
m=
3
尺 寸
m= m=
m=
m=
m
II PCS
n=10
实 测 记 录
Ac=0
AQL=0.65 AC=
Ac=0
电
4
气 性
能
II Ac=0
PCS
5 焊锡性试验 上锡率≥95%
6 环保确认
备
注 结合
论 检格 验
符合我司的环保要求
n=10
Ac=0
n=
Ac=0
品保主管 审批：
采 购生 产
品名检 验日
不单 良项
判 数定
接
加
收
工
原材料NG,判断不能接收时,提交采购,采购会签相关单位给出处理意见。
制
采
造
购：
部
报
告
品
保
研发部
部
退
选
回
用
（副）总经理
QC-024/A
电子元器件材料检验规范标准书
5.允收水准 （AQL）
严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5.
6.参考文件
1.IPC–A-600E,AcceptabilityofPrintedCircuitsBoards. 2.IPC–R-700C,ReworkMethods&QualityConformance.
抽样计划说明：对于 CHIP 二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每 盘中取 3~5pcs 元件进行检测；AQL 不变。检验方法见＂LCR 数字电桥测试仪操作指引＂和＂ 数字万用表操作指引＂。
（四）插件用电解电容.
1.目的 2.适用范围 3.抽样计划 4.允收水准 （AQL）
检验项目
包装检验
数量检验
作为 IQC 人员检验 IC 类物料之依据。 适用于本公司所有 IC（包括 BGA）之检验。
严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5.
无
缺陷属性
缺陷描述
MA
MA
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。 b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。 a.实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可接受； b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接 受。
目检
a.镀层不可有翘起或脱落现象且焊锡性应良好。用供
MA
应商提供的试锡板分别过回流炉和波峰焊，上锡不良
的点不可大于单面锡垫点数的 0.3%。
目检
MA
a.金手指不可有见内层之刮伤。
放大镜
MA
a.金手指表面层不得有氧化变色现象。
电子元器件检验规范标准书
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可 接受；
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合
不可接
受。
目检 点数
外观检验
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受； b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): ; 次要缺点(MI): .
《LCR 数字电桥操作指引》、 《数字电容表操作指引》。
缺陷 属性
缺陷描述
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实
MA
物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不 可接受；
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不可
接受；
MA
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
a. Marking 错或模糊不能辩认；
b. 塑料与针脚不能紧固连接；
c. 塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；
MA
d. 过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;
e. 针脚拧结，弯曲，偏位, 缺损，断针或缺少；
检验方式 目检
备注
数量检验 外观检验 电性检验
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不 可接受；
MA
b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻
合不可接
受。
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受；
电子元器件进货检验
元器件进料检验规范一、目的：本文件规定了公司进货电子元器件入库前检验的依据及存储过程规范。
二、适用范围：适用于本公司电子元器件入库前产品的检验和存储过程。
三、检验规范：1.电阻类：1.1外观包装：a 按送检的卷、袋、根的按比例随机抽取检查，不足一卷、袋、根的按一卷、袋、根进行检查，若发现抽样检查数中的不合格，则判该批不合格。
表面字迹清晰，产品的名称、型号、规格、数量及生产厂家等标注明确并与要求相符，无破损，无划痕；每一批都应有清楚的质量标识。
b 色环电阻的色环颜色应清晰易于辨认，色环颜色与标称阻值相符，引脚无氧化、发黑。
c 贴片电阻的数字标注应正确，与标称阻值相符，引脚无氧化、发黑。
注：色环电阻识别方法见附表1.2功率值：功率值应与包装标称值及ERP要求相符。
1.3电阻值：按5件/批抽取，用万用表所测得的电阻值及公差应与包装标称值及采购要求相符。
1.4封装尺寸：按5件/批抽取，所测得的单体封装尺寸应与样品或采购要求相符，如0603封装、0805封装、脚间距、长度、高度等。
(具体封装尺寸见附表)2.电容类：1.1外观包装：a 按送检的卷、袋、根的按比例随机抽取检查，不足一卷、袋、根的按一卷、袋、根进行检查，若发现抽样检查数中的不合格，则判该批不合格。
表面字迹清晰，产品的名称、型号、规格、数量及生产厂家等标注明确并与要求相符，无破损，无划痕；每一批都应有清楚的质量标识。
b 电容表面印字清晰，容量标识与标称值，引脚无氧化、发黑，电解电容短引脚端的PVC 封膜上应有"-"标记，为电容负极，长引脚为正极。
1.2 材质：材质标识明确，并与ERP要求相符。
1.3 电容值：按5件/批抽取，用LCR所测得的电容值及公差应与包装标称值及采购要求相符。
1.4 耐电压值:按5件/批抽取，用可调电源所测得的耐电压值应与包装标称值及采购要求相符。
1.5 封装尺寸：按5件/批抽取，所测得的单体封装尺寸应与样品或采购要求相符，如0603封装、0805封装、脚间距、外径、高度等。
电子元器件检验标准
3、抽样方案:GB2828-2003
外观IL=II
AQL:CR(0) MA(0.65) MI(2.5)
尺寸、性能、可悍性、包装检验IL=S-2
编号 检验项目
检验标准与要求
抽样频率
CRLeabharlann MAMI1.1外观平整,主体无残缺、伤痕，管脚不得发黑 、锈蚀；
√
1 外观检验 1.2产品标志应清晰、完整且具有耐久性； 产品
标志包括：产品型号、制造厂商标、检验批或生 产日期的识别代码。
√
2
尺寸检验
2.1封装、尺寸应根据送样或采购合同要求及 BOM单要求。
3
性能检验
3.2放大倍数\存储时间\耐压\饱和压降\漏电流其 范围应在BOM单要求以内或技术协议要求。
每批进料
√ √
4
可焊性
4.1锡糟温250±5℃,浸渍5±0.5秒,沾锡需90%以 上,无集中疵点。
√
5.1应根据合同的β范围，进行分档分开包装，
5
包装
且应标明放大倍数β范围及TS范围，及附上合格 证书，且应注明规格型号；对于MOS管，应采用
√
防静电包装。
文件名称
三极管进料检验标准
原材料检验 文件编号
LDX-WQ0101
批准
日期
标准
制定日期 2006.11.10 版本
1.0
审核
日期
修订日期 2007.3.1 版本
1.1
拟订
日期
电子元件质量检验标准
电子元件质量检验标准标准号：GBJ-02一、所有元件引脚要光亮、无氧化、完好、品牌正确。
二、各元件其它检验要求：序号元件名称元件型号/规格元件检验要求备注色环/插装1、色环清晰、正确，误差小于10%1 电阻表面贴装1、标称数字清晰、正确，误差小于10%2 无极电容 104瓷片103瓷片102瓷片101瓷片1、电容值误差小于20%，耐温大于80℃。
2、放电电阻大于100MΩ。
3、10V漏电流≤35nA。
470μF/16V1、电容值误差小于10%，耐温大于80℃。
2、8秒后，10V漏电流≤100μA。
100μF/16V1、电容值误差小于10%，耐温大于80℃。
2、8秒后，10V漏电流≤4.5uA3 电解电容22μF/25V 10μF/50V 4.7μF/25V 1、电容值误差小于10%，耐温大于80℃。
2、8秒后，10V漏电流≤3μA。
1N4148/插装 LL4148/贴片1、表面印字清晰，负极标记清晰正确。
2、万用表测量正向电阻小于20欧，反向大于100兆欧。
3、正向导通压降小于0.8V。
1N400X/插装 M7/贴片1、表面印字清晰，负极标记清晰正确。
2、万用表测量正向电阻小于20欧，向大于100兆欧。
3、正向导通压降小于0.8V。
4 二极管1N581X/插装 1、表面印字清晰，负极标记清晰正确。
2、万用表测量正向电阻小于20欧。
3、正向导通压降小于0.5V。
6.8V/插装 1、表面印字清晰，负极标记清晰正确。
2、稳压值误差小于±5%（6.46V—7.14V）。
3、用6.5V测试漏电流小于3 μA。
5 稳压二极管3.6V/插装 1、表面印字清晰，负极标记清晰正确。
2、稳压值误差小于±5%（3.42V—3.78V）。
3、用3.6V测试漏电流在2 mA --10mA之间。
6 发光二极管 LK304BC/003C 1、起步电压3.2—3.4V2、工作电流460—465uA3、反向电阻大于1M7 检波管 HSMS2852/SO-23 1、元件表面印字清晰2、用数字万用表的二极管档，测试检波管得AC极，A接负，C接正。
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一次抽样水平：IL=
ⅡAQL=2.5
式万用表、示波器、功率
电阻、送检报告单、电源
3输出负载调整
率测试
1.定义：反映负载电流的变化对输出电压的影响。
2.测试方法
1)交流输入电压220V，输出电流为50﹪Io，测出稳定的直流
输出电压Vo
2)调整负载电流为100﹪Io与（10﹪-15﹪）Io，测出稳定的
直流输出电压Vo1 、Vo2
3)计算100﹪Io与（10﹪-15﹪）Io条件下电压调整率
α1=( Vo1 -Vo)/ Vo×100﹪
α2=( Vo2 -Vo)/ Vo×100﹪
4)对于多路输出，其它各路输出应同时加100﹪或（10﹪-15
﹪）负载
4效率测试1.交流输入电压90V、220V、265V输出电流为100﹪I o、30﹪I o、空载时测出对应稳定的直流电压V o与对应的交流输入功率η
2.计算效率η=（Vo× Io）/Pin×100﹪
3.对于多路输出，其输出功率为各路输出功率之和。
序号检验项目技术要求和检验方法检验手段、设备及工具抽样方法
5输出纹波电压1.测试条件：交流输入电压220V，输出满载。
（对于多路输出，各路均满载）可根据需要设定交流输入电压90V、220V、265V，满载输出条件下测试。
2.测试方法：测试时示波器Time/DIV挡置10μs/div带宽置
20MHz，读取示波器显示的输出电压峰-峰值即为输出纹波电压（包含毛刺在内的峰-峰值为纹波+噪音）
6输出过压保护
功能测试
1.测试条件：交流输入电压220V输出满载条件下测试（可根据需
要加交流输入电压90V—100V，满载输出条件下过压保护功能）
2.测试判断方法
1)调整输出电位器使输出电压缓慢升高，直到电源输出突
然关断（输出电压突变为零，电源处于保护状态）此时输出电压
值既为输出过压保护点。
2)若无输出调整电位器，可在电源满载工作时，于输出端
外加直流电压慢慢调高，直到电源保护无输出。
7上电时序V o1先
于V o5（mS）
1.测试条件：直流输入电压300V输出各路均为80﹪负载（可根据
需要加直流输入电压145V，输出80﹪负载）
2.将示波器通道1和通道2调到适当位置，两个碳头分别测试Vo1和
Vo5，在通电瞬间捕捉两个上升电压，既这两个电压先后顺序的时
间差，就是上电时序。
8下电时序V o1先
于V o5（mS）
1.测试条件：直流输入电压300V输出各路均为80﹪负载（可根据
需要加直流输入电压145V，输出80﹪负载）
2.将示波器通道1和通道2调到适当位置，两个碳头分别测试Vo1和
Vo5，在断电瞬间捕捉两个下降电压，既这两个电压先后顺序的时
间差，就是下电时序。
GB2828.1-2003正常
一次抽样水平：IL=
ⅡAQL=2.5
GB2828.1-2003正常
一次抽样水平：IL=
ⅡAQL=2.5
交（直）流源、MY-6数字
式万用表、示波器、功率
电阻、送检报告单、电源
模块测试夹具、调压器
交（直）流源、MY-6数字
式万用表、示波器、功率
电阻、送检报告单、电源
模块测试夹具、调压器。