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XRF操作员资格认定试题

XRF操作员资格认定试题

第一部分:笔试部分简答题(每题5分)1.RoHS与“无铅产品”在概念上的区别是什么?答:无铅只是针对有铅的限制,而RoHS则是包括多种有害物质。

2.RoHS指令规定了限制物质的最大容许含量各是多少(ppm)?答:铅(Pb):1000ppm,汞(Hg):1000ppm,六价铬(Cr6+):1000ppm,聚溴联苯(PBBs):1000ppm,聚溴二苯醚(PBDEs):1000ppm,镉(Cd):100ppm。

3.均匀材料是指什么?答:由一种或多种物质组成的各部分均匀一致的材料。

4.请分别写出使用EDX-720检测RoHS限制物质时,各物质所对应选用的滤光片。

答:铅(Pb):Ag;镉(Cd):MoNi;汞(Hg):Ag;铬(Cr):在聚合物中为Al,在合金中为Ti;溴(Br):Ag。

选择题(多选题)(每题4分)1.关于RoHS含盖的有害物质有哪些,以下哪些是正确的:(ABCDE)A.铅(Pb);B.汞(Hg);C.镉(Cd);D.六价铬(Cr6+);E.聚溴联苯(PBBs)和聚溴二苯醚(PBDEs)2.岛津的能量散射荧光分析仪EDX-720的元素可分析范围是:(B)A.16S~92U;B.11Na~92U;C.6C~92U;D.13Al~92U3.下面哪些是EDX仪器的缺点?(ABCD)A.样品与标样基体很难达到完全一致,导致样品测试结果存在一定的误差;B.标准样品由于品种单一,没有标准样品的样品只能采用基本参数法(FP法);C.EDX只能测试总溴,不能测试PBBs和PBDEs;D.EDX只能作为一种初步定量筛检仪器。

4.Kβ特征谱线是哪层电子跃迁到K层後所释放出来的谱线?(C)A.K层;B.L层;C.M层;D.N层5.岛津的能量散射荧光分析仪EDX-720中,如果检测镉(Cd),应该选择哪种滤光片?(A)A.MoNi;B.Ag;C.Al;D.Ti6.下面哪些元素的特征谱线在其含量比较高的情况下,会对铅(Pb)的Lβ1谱线的测量造成干扰?(AC)A.FeKαSUM(12.80KeV);B.CdKα(23.11KeV);C.BiLβ1(13.02KeV);D.AgKα(22.11KeV)7.假设某台EDX对聚合物材料的镉(Cd)的分析能力已知,为P≤70< Χ <130≤F。

工业X射线探伤检测培训考试题精编

工业X射线探伤检测培训考试题精编

X射线探伤检测上岗考试题姓名: 成绩:一、选择题。

(共6题,每题4分)1、无损检测是指在(C)的前提下,对试件进行检查和测试的方法。

A、进行超声波扫描B、工件处于生产过程中C、不破坏试件D、试件处于毛坯阶段2、实时射线检测法(Real Time RT)与传统RT的最大区别在于(a)A、实时射线检测通常不采用底片B、实时射线检测通常采用电脑判C、实时射线检测通常采用微焦点X光机D、实时射线检测通常使用在高能量RT3、X射线实时成像系统主要由(d)组成。

A、X射线源B、X射线接收转换装置C、图像处理和分析系统D、A+B+C4、实时射线检测法电脑评判图像的优点是(d)A、立即显现物件瑕疵B、较客观正确C、影像可用打印机打印、硬盘保存或光碟刻录保存D、以上都对5、衡量图像增强器的对比灵敏度可以用(a)A、金属丝像质计;B、分辨力测试卡测试;C、两者都可以;D、两者都不对6、分辩率测试卡的功用是(d)A、可用来测试系统的分辩率和系统固有不清晰度;B、可用来测试图像分辩率和不清晰度;C、可用来调试检测工艺中的最佳放大倍数;D、以上都是7、使用分辨率测试卡时是将分辨率测试卡紧贴(a)上A、图像增强器输入屏表面中心区域;B、图像增强器输入屏的边缘;C、被测工件的射源侧;D、被测工件的图像增强器侧。

二、填空(每题2分)1 、X射线(X-ray)是1895年由德国物理学家伦琴发现的,故又称为伦琴射线,也是19世界末20世纪初物理学的三大发明之一,而后不久开始了X射线在工业上的应用。

X射线的产生方法中最简单、最常用的是用加速后的电子撞击金属靶。

产生X射线的主要部件是X射线管、变压器和操作台。

2、X 射线检测实时成像技术是20 世纪80 年代中期以来国际上新兴的一项无损检测技术, 其工作原理是使用X射线机作为射线源,X射线透过被测物体后衰减,由射线接收/转换装置变成模拟信号或数字信号,利用半导体传感技术、计算机图像处理技术和信息处理技术,再将检测图像直接显示在屏幕上,可用计算机程序进行评定, 将图像数据保存到储存介质上, 从而实现了X 射线探伤方法的电脑化和自动化。

检测员考试试题和答案

检测员考试试题和答案

检测员考试试题和答案一、单项选择题(每题2分,共20分)1. 检测员在进行检测工作时,必须遵守的首要原则是()。

A. 准确性B. 客观性C. 公正性D. 保密性答案:C2. 检测员在检测过程中,如果发现设备存在故障,应该()。

A. 继续进行检测B. 立即停止检测C. 通知设备维护人员D. 忽略故障继续工作答案:B3. 检测员在进行样品检测时,应确保样品的()。

A. 完整性B. 代表性C. 可追溯性D. 所有选项答案:D4. 检测员在记录检测数据时,应遵循的原则是()。

A. 随意记录B. 真实性C. 可修改性D. 保密性答案:B5. 检测员在检测过程中,如果遇到不确定的情况,应该()。

A. 猜测结果B. 忽略问题继续检测C. 咨询专家或上级D. 随意处理答案:C6. 检测员在检测过程中,应保持()。

A. 独立性B. 客观性C. 公正性D. 所有选项答案:D7. 检测员在检测报告中,应包含以下哪些信息?()A. 检测方法B. 检测结果C. 检测日期D. 所有选项答案:D8. 检测员在检测过程中,应避免()。

A. 样品污染B. 环境干扰C. 设备误差D. 所有选项答案:D9. 检测员在检测过程中,应确保()。

A. 检测设备的校准B. 检测方法的适用性C. 检测环境的稳定性D. 所有选项答案:D10. 检测员在检测过程中,应()。

A. 遵守相关法律法规B. 遵守检测标准和程序C. 遵守职业道德D. 所有选项答案:D二、多项选择题(每题3分,共15分)11. 检测员在进行检测工作时,需要考虑的因素包括()。

A. 检测目的B. 检测方法C. 检测设备D. 检测环境答案:ABCD12. 检测员在检测过程中,应遵循的职业道德包括()。

A. 诚实守信B. 公正无私C. 保密原则D. 持续学习答案:ABCD13. 检测员在检测报告中,应避免出现的情况包括()。

A. 数据造假B. 结果篡改C. 信息遗漏D. 格式错误答案:ABCD14. 检测员在检测过程中,应采取的措施包括()。

辐射防护试题含参考答案

辐射防护试题含参考答案

辐射防护试题含参考答案一、单选题(共76题,每题1分,共76分)1.关于X射线衍射仪,下列说法中错误的是()。

A、X射线衍射仪运行中,若设备屏蔽防护厚度不足,易导致X射线泄漏B、控制面板设有紧急停止按钮,在设备异常时按下,设备停止出束C、设有“防护罩-高压”联锁装置,防护罩不关闭不能出束,防护罩强制开启时设备停止出束D、设备控制台上设置有明显的开、关状态和出束时工作状态指示灯,故无需设置警示语句正确答案:D2.X射线机房周围的区域应划定为()。

A、监视区B、危害区C、监督区D、控制区正确答案:C3.r远距治疗设备,有用射束在模体校准深部处吸收剂量的相对偏差有何要求A、不大于3%B、不大于5%C、不大于1%D、不大于7%正确答案:A4.用于外照射个人剂量监测最常用仪器是()。

A、α、β表面污染仪B、个人剂量报警仪C、热释光个人剂量计D、X.γ辐射剂量率仪正确答案:C5.申请领取许可证的辐射工作单位使用II类、III类放射源的应当编制或者填报()A、环境影响登记表B、环境影响报告书与环境影响登记表C、环境影响报告表D、环境影响报告书正确答案:C6.牙科全景机、局部骨密度仪、口腔CT坐位扫描/站位扫描机房最小有效使用面积不小于()m2,最小单边长度不小于()m。

A、5,2.5B、10,2C、5,2D、10,2.5正确答案:C7.许可证有效期届满,需要延续的,应当向原发证机关提出延续申请,并提供材料,其不包括()。

A、许可证延续申请表B、检测报告C、许可证有效期内的安全防护工作总结D、环境影响评价文件正确答案:D8.通常对中子的屏蔽分为慢化和吸收两步,以下材料中,最适合用来慢化中子的是()A、铅板B、铁板C、水D、玻璃正确答案:C9.辐射事故主要指放射源丢失、被盗、失控或者放射性同位素和射线装置失控造成人员受到意外的异常照射或()的事件。

A、非密封放射性物质丢失B、环境放射性污染C、射线装置损毁D、密封源破损正确答案:B10.国家根据建设项目对环境的影响程度,对建设项目的环境影响评价实行()管理。

电离辐射试题及答案

电离辐射试题及答案

辐射检测上岗证考核试题一、填空题1、环境地表γ辐射剂量率测定可分为源相关和人相关的γ剂量率测定。

2、环境地表γ辐射剂量率测量方式有两种:即时测量和连续测量3、建筑物内测量环境地表γ辐射剂量率时,要考虑建筑物的类型与层次,在室内中央距地面1m高度处进行。

4、环境地表γ辐射剂量率的测定应采用高气压电离室型、闪烁探测点型和具有能量补偿的计数管型γ辐射剂量率仪。

5、环境地表γ辐射剂量率测量点位的布设取决于测量目的,需根据源和照射途径以及人群分布和人为活动情况仔细选择。

二、判断题1.《表面污染测定第一部分β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体》(GB/T14056-1993)适用于皮肤和工作服的污染测定。

( ) 答案:错误正确答案为:不适用于皮肤和工作服的污染测定。

2.α、β表面污染可以通过直接测量方法来测定,但不宜通过间接方法测定。

( )答案:错误正确答案为:直接和间接方法测定都可以。

3.《表面污染测定第一部分β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体》(GB/T 14056-1993)适用于以单位面积放射性活度表示设备、设施、放射性物质的容器以及密封源的表面污染测定。

( ) 答案:正确4.α、β表面污染直接测量法测定可去除的与固定的表面污染之和。

( )答案:正确5.对于给定的单位面积放射性活度,单位时间从表面射出的粒子数取决于源的自吸收以及源和源衬底的反散射。

( )答案:正确二、选择题1.β表面污染测量时,探测器与被测表面之间的距离为cm。

( ) A.0.5 B. 1.0 C. 1.5 D.2.0答案:B2.《表面污染测定第一部分β发射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体》(GB/T14056-1993)中,对β(Eβmax≥0.4MeV)源效率的推荐值为。

( )A.0.25 B.0.5 C.0.75 D. 1.0答案:B3.《表面污染测定第一部分溅射体(最大β能量大于0.15MeV)和α发射体》(GB/T14056-1993)中,对β(0.15<Eβmax<0.4MeV)粒子,源效率的推荐值为。

医用X射线诊断与介入专业部分试题

医用X射线诊断与介入专业部分试题

正确答案在最后一页1 照顾护理或者慰问患者的人员所接受的照射属于 ( )。

A.公众照射B.医疗照射C.职业照射D.天然照射2 照顾护理或者慰问患者的人员所接受的照射属于 ( )。

A.公众照射B.医疗照射C.职业照射D.天然照射3 双管头或多管头 X 射线机机房最小有效使用面积不小于 ( )m2 ,最小单边长度不小于()m。

A.30 ,3.5B.20,4C.30,4.5D.20 ,3.54 ( )是直接或在转换之后摄取,记录和选择处理影响接收面上的 X 射线影响中包含的信息的技术。

A.放射治疗B.X 射线摄影C.X 射线透视D.X 射线计算机断层摄影5 ( ) 是受检者位于×射线管和探测器之间,对其进行多方向的×射线扫描,并将检出的信号通过计算机处理实现重建断层影像。

A.放射治疗B.X 射线摄影C.X 射线透视D.X 射线计算机断层摄影6 典型成年人 CT 腰椎剂量( ) mGy 。

A.25B.35C.45D.507 CT 机房的有用线束方向铅当量 mm 和非有用线束方向铅当量 mm 分别是 ( )。

A.3,2B.2.5,2.5C.2, 1D.2 ,28标称 125kV 及以下的摄影机房、口腔 CT、牙科全景机房(有头颅摄影)机房的有用线束方向铅当量 mm 和非有用线束方向铅当量 mm 分别是( )。

A.3,2B.3,1C.2, 1D.2 ,29 ×射线管组件上应标明固有滤过,除乳腺×射线摄影设备外,应用工具才能拆卸的滤片和固有滤过(不可拆卸的)的总滤过,应不小于( )mmAl。

A.0.5B.1.5C.2D.2.510 典型成年女性受检者乳腺 X 射线摄影的剂量指导水平,有滤线栅,每次头尾投照的腺平均剂量为( ) mGy 。

A.2B.3C.4D.511 下列不属于 X 射线装置质量控制检测项目的是 ( ) 。

A.温湿度B.管电压指示的偏离C.3C.高对比度分辨力D.光野与照射野一致性12 典型成年人受检者×射线摄影的剂量指导水平头颅侧位投照 (LAT)每次摄影入射体表剂量为( ) mGy 。

XRF考题

XRF考题

X射线荧光光谱思考题一、填空题1.波长(单位为nm)为λ的X射线,其能量(以eV为单位)是____________。

2.在X射线强度测量中,如果在时间t秒内测得的X射线光子总计数为N,则总计数的相对标准偏差为____________。

3.假定测量的X射线光子计数遵循高斯分布,测量计数率为10kcps的谱线时,如果测量时间为4秒钟,则强度测量的相对标准偏差为____________。

4.按分光方式的不同,X射线荧光光谱可分为____________和____________。

5.在波长色散X射线荧光光谱分析中,如果某谱线用LiF200(2d=0.4028nm)晶体分光时,在2θ坐标上的光谱峰出现在60º处,那么改用LiF220(2d=0.2848nm)晶体分光后,光谱峰出现在2θ坐标上的位置是____________。

6.在XRF分析中,如果某样品的密度为5g/cm3,样品对测量谱线的质量吸收系数为200cm2/g,在出射角为30度的仪器中测量时,样品的“无限厚”是____________微米。

7.试举出X射线荧光光谱分析中的2种制样方法____________和____________。

8.试举出X射线荧光光谱分析中的2种基体校正方法____________和____________。

9.试举出2种影响X射线在样品中的质量吸收系数大小的因素_________和_________。

10.X射线与物质相互作用,能产生X射线荧光的作用是____________吸收。

二、选择题1.以下几种波长的射线,属于X射线的是:()(A) 0.001nm (B) 1nm (C) 100nm (D) 1000nm2. 以下几种射线中,能激发锌(Zn)的K系谱线的是:()(A) Fe Kα谱线(B) Cu Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Br Kα谱线3. 以下几种射线中,激发铁(Fe)的K系谱线最有效的是:()(A) Cr Kα谱线(B) Ni Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Rh Kα谱线4. 波长为λ的X射线照射到以下哪种物质时,产生最强康普顿(Compton)散射的是:()(A) 碳(B) 氧化铁(C) 硫酸铜(D) 银5. 在X射线荧光光谱中,对于波长为λ的X射线荧光,样品达到“无限厚”时,厚度最大的物质是:()(A) 硼酸(B) 二氧化硅(C) 硫酸铜(D) 铅6. 以下几种元素中,K系谱线的荧光产额最高的是:()(A) 铁(B) 镍(C) 铜(D) 银7. 以下几种元素中,Kβ/Kα强度比最高的是:()(A) 钾(B) 镍(C) 溴(D) 银8. 在X射线荧光光谱分析的熔融法制样中,以下几种物质中可以做脱模剂的是:()(A) 碘化钾(B) 硝酸铵(C) 过氧化钡(D) 硫酸钡9. 在X射线荧光光谱分析中,薄样法的优点是:()(A) 强度高(B) 背景低(C) 重复性好(D) 谱线干扰少10. 以下几种探测器中,一般不用于波长色散X射线荧光光谱仪中的是:()(A) 流气正比计数器(B) 闪烁计数器(C) 半导体计数器(D) 封闭式正比计数器三、简答题1.简述X射线荧光光谱的基本原理、特点和作用。

XRF考题

XRF考题

XRF考题X射线荧光光谱思考题一、填空题1.波长(单位为nm)为λ的X射线,其能量(以eV为单位)是____________。

2.在X射线强度测量中,如果在时间t秒内测得的X射线光子总计数为N,则总计数的相对标准偏差为____________。

3.假定测量的X射线光子计数遵循高斯分布,测量计数率为10kcps的谱线时,如果测量时间为4秒钟,则强度测量的相对标准偏差为____________。

4.按分光方式的不同,X射线荧光光谱可分为____________和____________。

5.在波长色散X射线荧光光谱分析中,如果某谱线用LiF200(2d=0.4028nm)晶体分光时,在2θ坐标上的光谱峰出现在60o处,那么改用LiF220(2d=0.2848nm)晶体分光后,光谱峰出现在2θ坐标上的位置是____________。

6.在XRF分析中,如果某样品的密度为5g/cm3,样品对测量谱线的质量吸收系数为200cm2/g,在出射角为30度的仪器中测量时,样品的“无限厚”是____________微米。

7.试举出X射线荧光光谱分析中的2种制样方法____________和____________。

8.试举出X射线荧光光谱分析中的2种基体校正方法____________和____________。

9.试举出2种影响X射线在样品中的质量吸收系数大小的因素_________和_________。

10.X射线与物质相互作用,能产生X射线荧光的作用是____________吸收。

二、选择题1.以下几种波长的射线,属于X射线的是:()(A) 0.001nm (B) 1nm (C) 100nm (D) 1000nm2. 以下几种射线中,能激发锌(Zn)的K系谱线的是:()(A) Fe Kα谱线(B) Cu Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Br Kα谱线3. 以下几种射线中,激发铁(Fe)的K系谱线最有效的是:()(A) Cr Kα谱线(B) Ni Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Rh Kα谱线4. 波长为λ的X射线照射到以下哪种物质时,产生最强康普顿(Compton)散射的是:()(A) 碳(B) 氧化铁(C) 硫酸铜(D) 银5. 在X射线荧光光谱中,对于波长为λ的X射线荧光,样品达到“无限厚”时,厚度最大的物质是:()(A) 硼酸(B) 二氧化硅(C) 硫酸铜(D) 铅6. 以下几种元素中,K系谱线的荧光产额最高的是:()(A) 铁(B) 镍(C) 铜(D) 银7. 以下几种元素中,Kβ/Kα强度比最高的是:()(A) 钾(B) 镍(C) 溴(D) 银8. 在X射线荧光光谱分析的熔融法制样中,以下几种物质中可以做脱模剂的是:()(A) 碘化钾(B) 硝酸铵(C) 过氧化钡(D) 硫酸钡9. 在X射线荧光光谱分析中,薄样法的优点是:()(A) 强度高(B) 背景低(C) 重复性好(D) 谱线干扰少10. 以下几种探测器中,一般不用于波长色散X射线荧光光谱仪中的是:()(A) 流气正比计数器(B) 闪烁计数器(C) 半导体计数器(D) 封闭式正比计数器三、简答题1.简述X射线荧光光谱的基本原理、特点和作用。

x射线探伤考试题及答案

x射线探伤考试题及答案

x射线探伤考试题及答案一、单选题(每题2分,共10题)1. X射线探伤中,X射线的产生是由于:A. 电子与原子核的相互作用B. 电子与电子的相互作用C. 原子核与原子核的相互作用D. 原子核内部的转变答案:A2. 下列哪项不是X射线探伤的优点?A. 穿透力强B. 灵敏度高C. 分辨率低D. 检测速度快答案:C3. X射线探伤中,工件的厚度对探伤结果的影响是:A. 厚度越大,探伤结果越准确B. 厚度越大,探伤结果越不准确C. 厚度对探伤结果没有影响D. 厚度越大,探伤结果越稳定答案:B4. X射线探伤中,使用不同能量的X射线对检测结果的影响是:A. 能量越高,穿透力越强B. 能量越高,穿透力越弱C. 能量对穿透力没有影响D. 能量越高,分辨率越高答案:A5. 在X射线探伤中,为了提高检测灵敏度,通常采取的措施是:A. 增加X射线的曝光时间B. 减少X射线的曝光时间C. 增加X射线的管电压D. 减少X射线的管电压答案:C6. X射线探伤中,工件表面的清洁度对探伤结果的影响是:A. 清洁度越高,探伤结果越准确B. 清洁度越高,探伤结果越不准确C. 清洁度对探伤结果没有影响D. 清洁度越高,探伤结果越不稳定答案:A7. X射线探伤中,使用胶片作为检测介质时,胶片的类型对探伤结果的影响是:A. 胶片类型对探伤结果没有影响B. 胶片类型不同,探伤结果的灵敏度不同C. 胶片类型不同,探伤结果的分辨率不同D. 胶片类型不同,探伤结果的穿透力不同答案:B8. 在X射线探伤中,为了减少散射,通常采取的措施是:A. 增加X射线的曝光时间B. 减少X射线的曝光时间C. 增加X射线的管电压D. 使用散射防护材料答案:D9. X射线探伤中,工件的几何形状对探伤结果的影响是:A. 几何形状对探伤结果没有影响B. 几何形状复杂,探伤结果越准确C. 几何形状复杂,探伤结果越不准确D. 几何形状简单,探伤结果越不稳定答案:C10. X射线探伤中,为了提高检测的分辨率,通常采取的措施是:A. 增加X射线的曝光时间B. 减少X射线的曝光时间C. 增加X射线的管电压D. 使用高分辨率的胶片答案:D二、多选题(每题3分,共5题)1. X射线探伤中,可能影响探伤结果的因素包括:A. 工件材料B. 工件厚度C. X射线的能量D. 操作人员的技术水平答案:A、B、C、D2. 在X射线探伤中,为了提高检测的准确性,可以采取以下哪些措施:A. 使用高质量的X射线源B. 增加X射线的曝光时间C. 使用高分辨率的胶片D. 定期校准X射线设备答案:A、C、D3. X射线探伤中,以下哪些因素会影响X射线的穿透力:A. 工件材料B. 工件厚度C. X射线的能量D. 环境温度答案:A、B、C4. 在X射线探伤中,为了减少X射线对人体的辐射伤害,可以采取以下哪些措施:A. 使用防护服B. 增加操作人员与X射线源的距离C. 减少X射线的曝光时间D. 使用辐射屏蔽材料答案:A、B、C、D5. X射线探伤中,以下哪些因素会影响胶片的灵敏度:A. 胶片的类型B. 胶片的曝光时间C. 胶片的存储条件D. 环境湿度答案:A、B、C结束语:通过以上试题及答案的学习和练习,相信大家对X射线探伤的相关知识有了更深入的了解。

RF使用者水平测试题

RF使用者水平测试题

XRF使用者水平测试请把所有答案写到答题卡上.一.选择题(共8道题14个空,每个空2分,答案为一个或多个)1.SEA1000A可以对以下样品进行测量( ).A .固体 B.液体 C.气体 D.粉末2.EDXRF仪器是利用( ) 激发样品中含有元素的( ) 来进行定性定量分析的仪器.A.荧光X射线B.γ射线C.红外线D.X射线3. 用EDXRF仪器可以测出样品中含有的( )的总量.A.PbB.六价铬C.HgD.PBB,PBDE4. SEA1000A的最大管电压是( ),管电流是( ).A. 15KVB.50KVC.100KVD.500MAE.1000uAF.1A5. 用SEA1000A测量非金属样品时应选用( )进行测量, 测量金属样品时应选用( )进行测量,测量Al,Mg合金时应选用( )进行测量.A.块体检量线法B.薄膜检量线法C.块体FP法D.薄膜FP法6. 假设我们测量的样品由一种纯元素构成,那么在下列能谱图中正确的是?( )7. 假设我们测量的样品由一种纯元素构成,那么在下列能谱图中正确的是?( )8. 某样品由70%的Fe和30%的Cu构成,Fe Ka线的能量为6.4KeV,Cu Ka线的能量为8K eV,那么Fe Ka线的ECS波峰会出现在( )位置, Cu Ka线的SUM波峰会出现在( )位置.另外还会在( )位置出现Fe Ka线和Cu Ka线的叠加波峰.A. 6.4KeVB. 12.8KeVC. 4.6KeVD. 8KeVE. 6.2KeVF. 16KeVG. 14.4KeVH. 24KeV二.填空题(共28个空,每个空1.5分)1.SEA1000A有3种校正, 各为( )( )( ),其校正周期为( )一次, 此外每一年需要做一次( ).2.( )是指荧光X射线电子进入检测器开始转换为电信号输出时为止所需的时间,此时间与测量时间一般为此( %)时仪器处于最佳的测量状态, 仪器为了达到最佳的测量状态自动设定( ).3.EDXRF分析方法可分为两大类,一种是利用已知浓度的荧光X射线强度之间关系计算出未知样品浓度的( )和根据无限厚纯元素能谱和共存元素之间相互影响关系理论的方法推算出浓度比的( ).4.( )是样品中含有大量的某种元素的时候因进入检测器的荧光X射线电子的量太多,检测器把两个电子当成一个电子而识别并输出信号而产生波峰,此波峰出现在能谱图中位于应出现波峰能量的( )的位置.5.( )是当荧光X射线电子进入检测器之后,被构成检测探头的Si元素吸收( )能量之后所产生的波峰.6.对Cd的测量值所产生干扰的波峰有( ),( )叠加波峰和( )逃逸波峰.7.上图中方框内的数值表示的是( ), 想把此数据减少为原来的一般,测量时间应延长( )倍.8.对Pb的测量值所产生干扰的波峰有( )Ka线和( )La线.9.对Cd的测量值所产生干扰的波峰有( )( )的SUM波峰和( )的ESC波峰.10.As和Pb共存时Pb的Pb 的测量值是不一定准确的,这时我们可以把Pb的( )线变更为( )线进行定量.11.样品进行测量时必须把它分为( )后,再进行测量.12.黄铜上镀Au的样品是均质材料.( ) <填写对或错>三.简答题(请把答案简述在答题卡相对应的空白处)1.请说明Ka线及Lb线的产生原理.(10分)2.请简述更新检量线的方法.(5分)3.当仪器发生故障时应该给售后工程师发送那些文件及截取画面?并怎样获取这些文件?(10分)4.测量镀金的样品时应该怎样测量?(5分)答题卡1. 公司名:韩国企业( ), 中国企业( ), 日本企业( ), 台湾企业( )其他国家( )请在符合的项里打对号,如是其他国家请填写国家名.2. 部门:3. 职位:4. 姓名:5. 联系电话:一.选择题二.填空题1. ( )( )( )( )( )2. ( )( )( )3. ( )( )4. ( )( )5. ( )( )6. ( )( )( )7. ( )( )8. ( )( )9. ( )( )( )10.( )( )11.( )12.( )三.简答题1.请说明Ka线及Lb线的产生原理.2.请简述更新检量线的方法.3.当仪器发生故障时应该给售后工程师发送那些文件及截取画面?并怎样获取这些文件?4.测量镀金的样品时应该怎样测量?。

检测员专业理论知识试题(附参考答案)

检测员专业理论知识试题(附参考答案)

检测员专业理论知识试题(附参考答案)一、选择题(每题2分,共40分)1. 以下哪项不是检测员应具备的基本素质?A. 严谨的工作态度B. 良好的沟通能力C. 丰富的实践经验D. 较高的学历要求答案:D2. 检测误差分为系统误差和随机误差,以下哪项属于系统误差?A. 测量仪器的精度误差B. 测量方法误差C. 测量环境误差D. 测量人员误差答案:A3. 以下哪个单位是国际单位制中的基本单位?A. 千克B. 米C. 秒D. 安培答案:B4. 在进行检测工作时,以下哪项操作是错误的?A. 检测前对设备进行校准B. 检测过程中保持良好的沟通C. 检测数据记录不完整D. 检测后对数据进行统计分析答案:C5. 以下哪个方法可以减少随机误差?A. 增加测量次数B. 提高测量精度C. 改进测量方法D. 选用更高精度的仪器答案:A6. 以下哪个参数是衡量检测能力的重要指标?A. 检测范围B. 检测精度C. 检测速度D. 检测成本答案:B7. 以下哪个方法可以提高检测结果的可靠性?A. 采用国家标准方法B. 增加检测次数C. 对检测数据进行统计分析D. 所有以上选项答案:D8. 以下哪个不是实验室认可的要求?A. 人员培训B. 设备校准C. 质量控制D. 质量保证答案:D9. 在进行化学分析时,以下哪个步骤是必不可少的?A. 样品处理B. 标准溶液配制C. 仪器校准D. 结果计算答案:D10. 以下哪个不是实验室安全管理的范畴?A. 设备安全B. 环境安全C. 人员安全D. 质量安全答案:D二、填空题(每题2分,共20分)11. 检测误差可以分为________和________。

答案:系统误差、随机误差12. 检测实验室应具备的基本条件有________、________和________。

答案:人员、设备、环境13. 检测数据的处理方法包括________、________和________。

答案:修约、舍弃、平均14. 实验室认可的主要目的是________、________和________。

质监局X射线DR二级取证考试复习题及答案

质监局X射线DR二级取证考试复习题及答案

工业DR检测复习试题及答案选择题(10)1. 射线照相法和荧光屏观察法的图像之间的基本区别是什么?(d)a. 荧光屏显像更灵敏b.荧光屏显像较暗c.两者之间无差别d.荧光屏显像是正的透明图像,而射线照相是负的透明图像2. 实时射线检测法(Real Time RT)与传统RT的最大区别在于(a)a. 实时射线检测通常不采用底片b.实时射线检测通常采用电脑判c.实时射线检测通常采用微焦点X光机d.实时射线检测通常使用在高能量RT3. 实时射线检测法电脑评判图像的优点是(d)a. 立即显现物件瑕疵b.较客观正确c.影像可用打印机打印、硬盘保存或光碟刻录保存d.以上都对4. 与传统的RT比较,实时射线检测法(Real Time RT)的优点是(a)a.可以即时评定b.灵敏度佳c.设备简单d.影像可永久保留5. 提高荧光屏观察法灵敏度的主要困难是什么?(b)a. 结果无法再现和周期性地置换荧光屏难以实现b.受到亮度和荧光屏材料晶粒尺寸的限制c.成本高和速度慢d.以上都不是6. 影像放大率与几何不清晰度(d)a. 实际上是一回事b.没有直接关系c.可以共同构成总的不清晰度d.前者指影像放大系数,后者指影像的半影7. 分辩率测试卡的功用是(d)a. 可用来测试系统的分辩率和系统固有不清晰度;b. 可用来测试图像分辩率和不清晰度;c.可用来调试检测工艺中的最佳放大倍数;d.以上都是8. 衡量图像增强器的对比灵敏度可以用(a)a.金属丝像质计;b.分辨力测试卡测试;c.两者都可以;d.两者都不对9. 使用分辨率测试卡时是将分辨率测试卡紧贴(a)上a. 图像增强器输入屏表面中心区域;b.图像增强器输入屏的边缘;c.被测工件的射源侧;d.被测工件的图像增强器侧10.在进行X射线实时成像检测时,使用象质计是将像质计紧贴在(b)上,与工件同时检测a.被检工件靠近图像增强器一侧的表面;b.被检工件靠近射线源一侧的表面;c.被检工件的任意位置;d.以上都不对填空题(3)1.铝合金铸件内部毂缺陷多表现为(气孔)、(缩孔)、(收缩)、(外来物)、(夹杂物)、(熔析)、(疏松)、(针孔)等2.衡量图像增强器的两个主要技术特性指标是(对比灵敏度),可以用金属丝像质计来评定;(空间分辨力),可采用分辨力测试卡测试3.分辨率测试卡的线对表示单位是(LP/mm 或LP/cm)判断题(15)1.提高荧光屏观察法(即时射线成像)灵敏度的主要困难是受到亮度和荧光屏材料晶粒尺寸的限制(o)2.衡量图像增强器的空间分辨力可采用金属丝像质计来评定(x)3.在X射线实时成像检测中,所谓的影像放大率与X射线照相法检测中的几何不清晰度实际上是一回事(x)4.分辩率测试卡可用来测试系统的分辩率和系统固有不清晰度(o)5.分辩率测试卡可用来测试图像分辩率和不清晰度(o)6.分辩率测试卡可用来调试检测工艺中的最佳放大倍数(o)7.衡量图像增强器的对比灵敏度可以用金属丝像质计(o)8.衡量图像增强器的对比灵敏度可以用分辨力测试卡测试(x)9.使用分辨率测试卡时是将分辨率测试卡紧贴在图像增强器输入屏表面中心区域上(o)10. 使用分辨率测试卡时是将分辨率测试卡紧贴在图像增强器输入屏的边缘上(x)11. 在进行X射线实时成像检测时,使用象质计是将像质计紧贴在被检工件靠近图像增强器一侧的表面上,与工件同时检测(x)12. 在进行X射线实时成像检测时,使用象质计是将像质计紧贴在被检工件靠近射线源一侧的表面上,与工件同时检测(o)13. 在进行X射线实时成像检测时,使用象质计是将像质计紧贴在图像增强器的表面上,与工件同时检测(x)14. 使用分辨率测试卡时是将分辨率测试卡紧贴在被检工件靠近射线源一侧的表面上,与工件同时检测(x)15. 使用分辨率测试卡时是将分辨率测试卡紧贴在被检工件靠近图像增强器一侧的表面上,与工件同时检测(x)问答题(2)1. 分辩率测试卡的功用有哪些?答:可用来测试系统的分辩率和系统固有不清晰度;可用来测试图像分辩率和不清晰度;可用来调试检测工艺中的最佳放大倍数。

X-RAY上岗证试卷

X-RAY上岗证试卷

X-RAY上岗证试卷您的姓名: [填空题] *_________________________________1、关于个人剂量监测结果异常的报告,下列说法正确的是()。

[单选题] *A、报告个人剂量计使用人即可B、报告本单位辐射防护安全负责人即可C、报告本单位辐射防护安全负责人和法定代表人即可D、报告辐射安全许可证发证机关(正确答案)2、为了避免发生辐射的确定性效应,并把随机性效应发生率降至可接受的水平,必须对个人剂量计加以限制。

职业人员所受到的照射剂量限值中,由审管部门决定的连续 5 年的年平均有效剂量是()。

[单选题] *A、15mSv/aB、50mSv/aC、20mSv/a(正确答案)D、500mSv/a3、辐射安全许可证内容中不包括()信息。

[单选题] *A、单位名称B、法定代表人C、注册资本(正确答案)D、所从事活动的种类和范围4、下列关于辐射防护的目的的说法错误的是()。

[单选题] *A、保护人类B、保护环境C、限制一切有关辐射照射的实践活动(正确答案)D、避免确定性效应的发生,并将随机性效应的发生概率降低到合理可达尽可能低的水平5、关于辐射工作场所的分区,下列说法错误的是()。

[单选题] *A、为了便于辐射防护管理B、现行的基本安全标准 GB 18871-2002 中将辐射工作场所进行分区C、放射性工作场所分为监督区和操作区(正确答案)D、为了便于职业照射控制6、核子仪使用期间的辐射环境监测应每年进行()次。

[单选题] *A、1(正确答案)B、2C、3D、47、人体安全检查用 X 射线装置透射型产品在工作时,主束穿过人体到达探测器,好处是能够呈现体表和体内嫌疑物,缺点是()。

[单选题] *A、采用开放式结构B、单次检查吸收剂量比较低C、采用封闭式结构D、单次检查吸收剂量比较高(正确答案)8、()是指Ⅲ类放射源丢失、被盗、失控,或者放射性同位素和射线装置失控导致 9 人以下(含 9 人)急性重度放射病、局部器官残疾。

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XRF检测人员试题
工号:姓名:成绩:
一、選擇題(2分/題,共60分)
1.XRF測試儀的全稱是 ( )
A.XRF
B.熒光X射線有害物質測試儀
C.X射線測試儀
D.免檢X射線測試儀
2. SEA1000A型 XRF測試儀的分析面積,以下對的是 ( )
A.直徑 5mm
B.直徑10mm
C.直徑4mm
D.直徑3mm
3. SEA1000A型 XRF測試儀以下說法正確的是 ( )
A.該儀器是需要液氮致冷的、開機后可以直接測試的儀器
B.該儀器是電子致冷的、開機后可以直接測試的儀器
C.該儀器是電子致冷的、開機后不可以直接測試的儀器
D.該儀器是需要液氮致冷的、開機后不可以直接測試的儀器
4. SEA1000A型與SEA2210A型 XRF測試儀的主要區別是 ( )
A.SEA1000A型 XRF測試儀是需要液氮致冷的,而SEA2210A型不用
B.SEA2210A型 XRF測試儀是需要液氮致冷的,而SEA1000A型不用
C.SEA2210A型 XRF測試儀是可測塑膠,而SEA1000A型不可以
D.SEA2210A型 XRF測試儀是可測五金,而SEA1001A型不可以
5.均勻材料的描述,正確的是( )
A. 只含有一種元素的材料
B. 由一種或多種物質組成的各部分均勻一致的材料
C. 均勻材料是可以再拆分的
D. 塑膠中含有金屬可以稱為均勻材料
6.以下關於EPSON XRF測試結果判定,說法不正確的有( )
A.測量結果大於AC09-07-002《XRF受入檢查運用基準》一次分析的上限規格判定為NG
B.塑膠&電子材料中Pb測量結果大於500判定為NG
C.塑膠&電子材料中Pb測量結果大於500ppm才判定為NG
D.錫中Pb測量結果大於700ppm才判定為NG
7. XRF測試儀測量範圍以下說法正確的是 ( )
A.該儀器可測試材料中Cd、Pb、Hg、六價鉻、PBDE、PBB含量的儀器
B.該儀器可測試材料中Cd、Pb、Hg、鉻、PBDE、PBB含量的儀器
C.該儀器可測試材料中Cd、Pb、Hg、六價鉻、溴含量的儀器
D.該儀器可測試材料中Cd、Pb、Hg、鉻、溴含量的儀器
8.在測試結果出來后發現有問題,以下在總表中用來注明處理方式的符號不對的是( )
A. OP
B.RSM
C. MSM
D.SA
9. 以下關於測量誤判描述不正確的有( )
A.RMO: 重新測量OK
B.MT: 機器失誤
C.TS: 試驗樣品
D.VD: 測試檢量線錯誤
10.關於總表"Part Code" 一欄的輸入,描述不正確的是( )
A.此只欄可輸入"9位"數字,也可輸入"11位"數字
B.非量產試驗部品測試,輸入代號"111111111"(9位數))
C.由本地銷售公司委托檢查(沒有code no): 輸入"777777777" (9位數字)
D.量產部沒有Code No.的,輸入"000000000"(9位數字)
11.關於總表"Vendor Code" 一欄的輸入,描述正確的是( )
A.此只欄可輸入"6位"數字,也可輸入"11位"數字
B.非量產試驗部品測試的供應商,輸入代號"999999"(6位數))
C.量產部沒有Vendor Code的,輸入"999999999"(9位數字)
D.量產部沒有Vendor Code的,輸入"111111"(6位數字)
12.關於總表"Remark 1,2,3" 三欄的輸入,描述正確的是( )
A."Remark 1" 可以輸入Lot No.和4M No.
B."Remark 2" 可以輸入Lot No.和4M No.
C."Remark 3" 可以輸入Lot No.和4M No.
D."Remark 1" 可以輸入測量用的"XRF Recipe List" 版本號
13.關於總表"Remark 1,2,3" 三欄的輸入,描述正確的是( )
A."Remark 1" 可以輸入測量用的"XRF Recipe List" 版本號
B."Remark 2" 可以輸入測量用的"XRF Recipe List" 版本號
C."Remark 3" 可以輸入測量用的"XRF Recipe List" 版本號,且最新輸入方式為:Rev.14
D."Remark 3" 可以輸入測量用的"XRF Recipe List" 版本號,且最新輸入方式為:14
14.檢量線確認週期為( )
A.1周
B.10天
C.15天
D.1個月
15.檢量線確認判定方法( )
A.確認結果 Cd/Pb偏離標準值30%
B.確認結果 Hg/Br/Cr偏離標準值15%
C.確認結果 Cd/Pb偏離標準值15%
D.確認結果Cd/Pb/Hg/Br/Cr偏離標準值15%
16.檢量線更新週期為( )
A.1周
B.3個月
C.15天
D.1個月
17.定期校正週期為( )
A.1周
B.3個月
C.15天
D.1個月
18.以下關於定期校正的說法正確的是( )
A.只要進行強度校正・能量校正
B.只要進行分解能(FWHM)校正・照射径校正
C.只要進行強度校正・能量校正・分解能(FWHM)校正・照射径校正
D.只要進行檢量線校正・強度校正・能量校正・分解能(FWHM)校正・照射径校正
19.液体氮補給(SII/ SEA2000系类)时间( )
A.1个月
B.半年
C.一年
D.10天左右
20.RoHS、WEEE開始實施日期( )
A.2005年7月1日
B.2007年9月1日
C.2006年7月1日
D.2006年9月1日
21.中國電子信息產品污染控制管理辦法實施日期( )
A.2008年7月1日
B.2007年3月1日
C.2006年10月1日
D.2008年3月1日
22.RoHS管理哪六項( )
A.Cd /Pb /Hg /Cr /PBB /PBDE C.Ca /Pb /Hg /Cr6+ /PBB /PBDE
B.Cd /Pb /Hg /Cr6+ /PBB /PBDEs D.Cd /Pt/Hg /Cr /PBB /PBDE
23.以下不是精確分析儀器是哪一項( )
A.ICP
B.AAS
C.GC-MS
D.XRF
24.以下描述下確的是( )
A.每一個元素Ka層電子被激發,都會產生與別的元素不一樣的能量
B.每一個元素Ka層電子被激發,都會產生與別的元素一樣的能量
C.每一個元素La層電子被激發,都會產生與別的元素一樣的能量
D.Pb元素Ka層電子被激發,會產生與Pb元素La層產生一樣的能量
25.在能譜圖中,下面表達正確的( )
A.橫軸表示X射線強度
B.豎軸表示X射線強度
C.豎軸表示各元素能量分佈
D.圖中波浪形表示儀器有問題
26.以下不是XRF儀器濾波器的是( )
A. Pb用濾波器
B. Cd用濾波器
C. Hg用濾波器
D.Cr用濾波器
27.XRF測試儀器可以對能量相同的兩元素,這個說法對否( )
A.對
B.不對
C.有可能
D.不知道
28.由於能譜出現相同能量的干擾,以下做法正確的是( )
A.多次測量
B.換個測量部位
C.重新製作Lb檢量線,用Lb檢量線進行測量
D.加點酒精進行測量
29.當XRF一次分析結果NG時,以下處理方法不正確的是( )
A.將測量情報進行OPEN會
B.將測量結果通過郵件通知相關部門
C.進行二次分析(ICP)
D.將NG樣品丟棄
30.以下测量点是马达需测量的( )
A.电容外壳
B.快削铜齿轮
C.导线中的金属导体
D.金属外壳
二、簡答題(各8分/題,40分)
1.簡單解釋拆分方法種類,簡述一下主基板.
2.簡要寫出各檢量線所包含測試對象.
3.簡要寫出測試結果NG時,要準備哪些資料.
4.簡要寫出各部品測量XRF的依據.
5.當儀器出現故障時,該如何處理?。

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