JTAG接口总结

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JTAG接口总结

并口与连接1．并行口基地址：0x0378 新系统通用，通常是LPT1，也可以是LPT2，通常使用中断IRQ70x0278 通常是LPT2，也可以是LPT1，LPT3（只能用此基地址），通常使用中断IRQ5 2．寄存器定义3．状态寄存器（379）和控制寄存器（37A）的定义：5．连接方式a)hybus255与并口的连接是通过74CH541与并口连接LPT D0 Pin 2 and TCK J10 Pin 4LPT D1 Pin 3 and TDI J10 Pin 11LPT D2 Pin 4 and TMS J10 Pin 9LPT Busy Pin 11 and TDO J10 Pin 13b)2410以及44b0连接图TCK---------------->DATA0TDI---------------->DATA1TMS---------------->DATA2TDO---------------->STATUS76．寄存器的读写a)先对控制寄存器（Control）初始化如果禁止中断用out（37A，0x80）,如果使用中断用out（37A，0x90）b)写一个寄存器的两条基本指令：out（37B,addr）；// 将addr写入用户设备地址寄存器写：out（37C,data）；// 将数据data写入addr指向的用户设备空间单元读：in（37C）；// 从addr指向的用户设备空间单元中读取数据JTAG接口信息1．TCK：输入移位时钟TMS和TDI的数据在TCK的上升沿被采样数据在时钟的下降沿输出到TDO2．TMS：输入方式选择TMS用于控制TAP状态机3．TDI：输入。

输入到指令寄存器IR或数据寄存器DR的数据出现在TDI输入端在TCK的上升沿被采样4．TDO：TDO输出来自指令寄存器或数据寄存器的数据在时钟的下降沿被移出到TDOTAP状态机*状态机框图中位于箭头旁边的数字表示TCK变高时TMS的逻辑状态JTAG时序1．TAP复位时序在hybus255－Jflash中void test_logic_reset(void){putp(1,1,IGNORE_PORT); // keep TMS set to 1 force a test logic resetputp(1,1,IGNORE_PORT); // no matter where you are in the TAP controller putp(1,1,IGNORE_PORT);putp(1,1,IGNORE_PORT);putp(1,1,IGNORE_PORT);putp(1,1,IGNORE_PORT);}2．IR，DR扫描时序。

spi和I2C接口,jtag 接口

SPI--Serial Peripheral Interface，串行外围设备接口，是Motorola公司推出的一种同步串行通讯方式，是一种三线同步总线，因其硬件功能很强，与SPI有关的软件就相当简单，使CPU有更多的时间处理其他事务。

I2C--INTER-IC串行总线的缩写，是PHILIPS公司推出的芯片间串行传输总线。

它以1根串行数据线（SDA）和1根串行时钟线（SCL）实现了双工的同步数据传输。

具有接口线少，控制方式简化，器件封装形式小，通信速率较高等优点。

在主从通信中，可以有多个I2C总线器件同时接到I2C总线上，通过地址来识别通信对象。

SPI通常有SCK时钟，STB片选，DATA数据信号三个信号。

I2C通常有SDA 数据和SCL时钟两个信号。

SPI和IIC是2种不同的通信协议，现在已经广泛的应用在IC之间的通信中。

并且不少单片机已经整和了SPI和IIC的借口。

但像51这种不支持SPI和IIC 的单片机，也可以用模拟时钟的工作方式进行SPI和IIC的通信的。

IIC 接口的协议里面包括设备地址信息，可以同一总线上连接多个从设备，通过应答来互通数据及命令。

但是传输速率有限，不能实现全双工，不适合传输很多的数据。

SPI 有3线跟4线两种，4线的话，就是多了一条叫SDC的线，用来告知从设备现在传输的是数据还是指令。

这个接口较快，可以传输较连续的数据。

SPI要想连接多个从设备，就需要给每个从设备配备一根片选信号。

如果要可以实现全双工，也是需要多加一根数据线。

SPI总线比IIC总线的速度快！IIC总线比SPI总线通讯线少SPI是英文Serial Peripheral Interface的缩写，中文意思是串行外围设备接口，SPI是Motorola公司推出的一种同步串行通讯方式，是一种三线同步总线，因其硬件功能很强，与SPI有关的软件就相当简单，使CPU有更多的时间处理其他事务到底什么是JTAG呢？JTAG(Joint Test Action Group)联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。

AVR单片机JTAG接口的使用方法

AVR单片机JTAG接口的使用方法AVR单片机JTAG（Joint Test Action Group）接口是一种用于单片机的调试和编程工具。

它提供了一种高效的方式来进行硬件调试、固件编程和软件调试。

在本文中，我将详细介绍AVR单片机JTAG接口的使用方法。

1.JTAG接口简介JTAG接口由四条线组成，分别是TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）。

它是一种串行接口，用于与其他外设进行通信。

JTAG接口能够通过硬件调试、固件编程和软件调试来提高系统调试的效率。

2.JTAG接口的初始化在使用JTAG接口之前，需要对其进行初始化。

首先，需要确定使用的JTAG接口类型，然后根据类型选择与之匹配的调试工具和软件。

接下来，需要连接JTAG接口的四个引脚到单片机的相应引脚上。

通常，这些引脚在单片机的数据手册中有详细的说明。

3.JTAG接口的连接连接JTAG接口的四个引脚到单片机的相应引脚上，确保连接正确无误。

通常，TCK（时钟线）和TMS（状态线）引脚是共享的，它们分别连接到单片机的相应引脚上。

TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）引脚则是分别连接到单片机的相应引脚上。

请务必根据单片机的数据手册正确连接JTAG接口引脚。

4.JTAG接口的编程在使用JTAG接口进行编程之前，需要确保已经安装了合适的调试工具和软件。

这些工具和软件可以帮助我们完成对单片机的编程操作。

通常，这些工具和软件提供了一些简单的命令和接口，用于与单片机进行通信。

通过这些命令和接口，我们可以读取和写入单片机的内部寄存器，从而实现对单片机的编程操作。

5.JTAG接口的调试使用JTAG接口进行调试可以帮助我们找到系统中的错误和问题。

通过读取和写入单片机的内部寄存器，我们可以查看程序的执行状态、输入和输出数据、栈的使用情况等信息。

通过这些信息，我们可以判断程序中的错误和问题，并进行调试操作。

6.JTAG接口的注意事项在使用JTAG接口之前-确保JTAG接口的引脚连接正确无误，避免引脚连接错误导致的通信问题。

jtag接口是什么

jtag 接口是什么
JTAG（JointTestAcTIonGroup，联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG 技术是一种
嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP （TestAccessPort，测试访问口），通过专用的JTAG 测试工具对内部节点进行测试。

如今大多数比较复杂的器件都支持JTAG 协议，如ARM、DSP、FPGA 器件等。

标准的JTAG 接口是4 线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。

如今JTAG 接口的连接有两种标准，即14 针接口和20 针接口，其定义分别如下所示。

14 针JTAG 接口
1、13VCC 接电源。

jtag各接口对地电阻

jtag各接口对地电阻
JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成
电路的标准接口。

在JTAG接口中，各接口对地的电阻值可以是不同的。

一般来说，JTAG接口包括四个信号线：TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data In）和TDO（Test Data Out）。

这些信号线通常都会与地（GND）相连接，以确
保信号的正确传输。

对于TCK、TMS和TDI信号线，它们通常都会有一个接口对
地的电阻，一般取值在几十到几百欧姆之间。

这样的电阻值可以确保信号传输时的阻抗匹配，减少信号的反射和干扰。

对于TDO信号线，它通常是输出信号，不需要接口对地电阻。

在部分设计中，为了提高信号的驱动能力和减少反射，TDO
信号线可能会使用一个电阻和其他信号线并联，这种电阻一般取值在几十到几百欧姆之间。

需要注意的是，JTAG接口对地电阻的取值可以根据具体的设
计需求有所变化。

不同的应用场景和设计要求可能会有不同的电阻取值。

因此，在具体的设计中，应根据实际需要来确定接口对地电阻的取值。

jtag工作原理详解

jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。

它可以通过一系列的信号线与目标芯片进行通信，实现对芯片内部的测试、调试和编程操作。

本文将详细介绍JTAG的工作原理。

一、JTAG接口结构JTAG接口由四个主要的信号线组成，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data In）和TDO（Test Data Out）。

这些信号线通过一个JTAG端口与目标芯片相连。

1. TCK（Test Clock）信号线：用于提供时钟信号，控制JTAG通信的速度。

2. TMS（Test Mode Select）信号线：用于控制JTAG状态机的状态转换。

3. TDI（Test Data In）信号线：用于向目标芯片发送测试数据。

4. TDO（Test Data Out）信号线：用于从目标芯片接收测试数据。

二、JTAG状态机JTAG状态机是JTAG的核心部分，它定义了JTAG通信的各个状态和状态之间的转换关系。

JTAG状态机包括以下几个状态：1. Test-Logic-Reset（TLR）状态：在该状态下，目标芯片的逻辑电路被复位，JTAG接口初始化。

2. Run-Test/Idle（RTI）状态：在该状态下，目标芯片处于正常工作状态，等待进行测试和调试操作。

3. Select-DR-Scan（SDRS）状态：在该状态下，目标芯片的数据寄存器（Data Register）可被访问。

4. Capture-DR（CDR）状态：在该状态下，目标芯片的数据寄存器被捕获，准备进行数据传输。

5. Shift-DR（SDR）状态：在该状态下，数据从TDO线进入目标芯片的数据寄存器，或从目标芯片的数据寄存器输出到TDO线。

6. Exit1-DR（EDR1）状态：在该状态下，完成数据传输后，目标芯片的数据寄存器将退出Shift-DR状态。

JTAG接口介绍

JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。

目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。

标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。

JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。

JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。

通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。

目前JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。

14针JTAG接口定义：14针JTAG接口定义引脚名称描述1、13VCC接电源2、4、6、8、10、14GND接地3nTRST测试系统复位信号5TDI测试数据串行输入7TMS测试模式选择9TCK测试时钟11TDO测试数据串行输出12NC未连接20针JTAG接口定义引脚名称描述1VTref目标板参考电压，接电源2VCC接电源3nTRST测试系统复位信号4、6、8、10、12、14、16、18、20GND接地5TDI测试数据串行输入7TMS测试模式选择9TCK测试时钟11RTCK测试时钟返回信号13TDO测试数据串行输出15nRESET目标系统复位信号17、19NC未连接下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口：在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG接口的TMS、TCK、TDI、TDO信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B的nEWAIT引脚（Pin71）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B不能正常工作或无法与JTAG接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。

jtag工作原理详解

jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。

它提供了一种方便的方法来访问芯片内部的信号和寄存器，以便进行测试、调试和编程。

本文将详细解释JTAG的工作原理，包括其基本原理、信号传输方式、操作流程和应用场景。

一、JTAG的基本原理JTAG是一种串行接口，由四个信号线组成，分别是TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data In）和TDO（Test Data Out）。

这些信号线通过一个JTAG接口连接到目标芯片上。

其中，TCK是时钟信号，TMS用于控制JTAG状态机的状态转换，TDI用于输入测试数据，TDO用于输出测试数据。

JTAG的基本原理是通过控制TMS信号来改变JTAG状态机的状态，进而控制芯片内部的操作。

JTAG状态机有五个状态，分别是Test-Logic-Reset（TLR）、Run-Test/Idle（RTI）、Select-DR-Scan（SDRS）、Capture-DR（CDR）和 Shift-DR （SDR）。

不同的状态对应着不同的操作，通过在这些状态之间切换，可以实现对芯片内部寄存器的访问和操作。

二、JTAG的信号传输方式JTAG使用的是一种称为“链式扫描”（Chain Scan）的信号传输方式。

它通过将多个芯片连接在一个JTAG链上，实现对这些芯片的统一控制和访问。

每一个芯片都有一个JTAG接口，其中包含了一个移位寄存器（Shift Register）。

通过在JTAG链上传输数据，可以将数据从一个芯片的移位寄存器挪移到下一个芯片的移位寄存器，从而实现对多个芯片的同时操作。

三、JTAG的操作流程JTAG的操作流程包括初始化、进入测试模式、设置和读取寄存器值等步骤。

1. 初始化：首先，将TMS和TCK信号置为高电平，然后将TMS信号切换到Test-Logic-Reset（TLR）状态，这样就将JTAG状态机重置为初始状态。

JTAG各类接口针脚定义及含义

JTAG各类接口针脚定义及含义JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。

一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。

Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS信号在TCK的上升沿有效。

TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TMS信号用来控制TAP状态机的转换。

通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。

Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TDI是数据输入的接口。

所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。

Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TDO是数据输出的接口。

所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。

Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。

TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。

因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。

所以有四线JTAG与五线JTAG之分。

(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。

这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?）Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK信号的产生,不使用时直接接地。

JTAG接口指令集

JTAG接口指令集JTAG接⼝指令集JTAG接⼝指令集JTAG接⼝指令集包含以下常⼝指令：EXTEST指令外部测试指令，必须全为0，TAP强制定义。

该指令初始化外部电路测试，主要⼝于板级互连以及⼝外电路测试。

EXTEST指令在Shift-DR状态时将扫描寄存器BSR寄存器连接到TDI与TDO之间。

在Capture-DR状态时，EXTEST指令将输⼝管脚的状态在TCK的上升沿装⼝BSR中。

EXTEST指令从不使⼝移⼝BSR 中的输⼝锁存器中的数据，⼝是直接从管脚上捕获数据。

在Update-DR状态时，EXTEST指令将锁存在并⼝输出寄存器单元中的数据在TCK的下降沿驱动到对应的输出管脚上去。

SAMPLE/PRELOAD指令采样/预装载指令，TAP强制定义。

在Capture-DR状态下，SAMPLE/PRELOAD指令提供⼝个从管脚到⼝上系统逻辑的数据流快照，快照在TCK的上升沿提取。

在Update-DR状态时，SAMPLE/PRELOAD指令将BSR寄存器单元中的数据锁存到并⼝输出寄存器单元中，然后由EXTEST指令将锁存在并⼝输出寄存器单元中的数据在TCK的下降沿驱动到对应的输出管脚上去。

BYPASS指令旁路指令，必须全为1，TAP强制定义。

BYPASS指令通过在TDI 和TDO之间放置⼝个1位的旁通寄存器，这样移位操作时只经过1位的旁通寄存器⼝不是很多位（与管脚数量相当）的边界扫描寄存器BSR，从⼝使得对连接在同⼝JTAG链上主CPU之外的其他芯⼝进⼝测试时提⼝效率。

IDCODE指令读取CPU ID号指令，TAP强制定义。

该指令将处理器的ID号寄存器连接到TDI和TDO之间。

jtag接口

JTAG接口1. 简介JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组）接口是一种用于测试和调试电子设备的标准接口。

它可以提供对设备内部的信号和状态进行非侵入性访问，方便测试和调试工作的进行。

2. JTAG接口的原理JTAG接口基于IEEE 1149.1标准而设计，通常由以下几个主要部分组成：2.1 TAP控制器TAP（Test Access Port，测试访问端口）控制器是JTAG接口的核心部分，它负责控制JTAG链上的各个设备进行测试和调试操作。

TAP控制器包含四个主要状态：Test-Logic-Reset （测试逻辑复位）、Run-Test/Idle（运行测试/空闲）、Select-DR-Scan（选择数据寄存器扫描）和 Select-IR-Scan（选择指令寄存器扫描）。

2.2 数据寄存器和指令寄存器JTAG接口通过数据寄存器和指令寄存器实现对设备内部信息的读取和写入。

数据寄存器用于存储设备内部的数据，指令寄存器用于存储控制设备的指令。

2.3 JTAG链JTAG链是由多个设备连接在一起形成的链路，每个设备都有一个JTAG接口用于进行测试和调试操作。

通过JTAG链，可以对所有设备进行统一的控制和访问。

3. JTAG接口的应用JTAG接口广泛应用于电子设备的测试和调试领域。

它可以用于以下几个主要方面：3.1 片上自检（BIST）JTAG接口可以用于进行片上自检（Built-In Self-Test，BIST）操作，通过读取和分析测试模式下设备内部的信号和状态，检测设备是否正常工作。

3.2 调试模式JTAG接口可以进入设备的调试模式，可以对设备进行单步调试、断点调试等操作，方便开发人员进行程序调试和故障排查。

3.3 仿真和验证JTAG接口还可以用于仿真和验证工作。

通过JTAG接口，可以将外部测试模式下的信号加载到设备内部进行仿真和验证工作。

4. JTAG接口的优势与其他调试和测试接口相比，JTAG接口具有以下几个显著的优势：4.1 非侵入性访问JTAG接口可以在不破坏原有电路功能的情况下，对设备内部信号进行读取和分析。

jtag工作原理详解

jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路（IC）的标准接口。

它提供了一种简单而有效的方法，用于访问和控制电路板上的各个测试点，以便进行测试、调试和编程操作。

本文将详细解释JTAG工作原理及其应用。

JTAG工作原理：JTAG接口通常由四个主要信号线组成，分别是TCK（测试时钟）、TMS（测试模式选择）、TDI（测试数据输入）和TDO（测试数据输出）。

这些信号线通过一组寄存器链（Shift Register Chain）连接到目标IC上的测试点，形成了一个虚拟的扫描链（Scan Chain）。

1. 测试模式选择（TMS）：通过改变TMS信号的状态，可以选择不同的测试模式，例如测试、编程或者配置模式。

TMS信号的状态变化控制了JTAG状态机的状态转移，从而实现不同的操作。

2. 测试时钟（TCK）：TCK信号提供了一个时钟脉冲，用于同步数据的传输和状态机的状态转移。

测试数据的输入和输出操作都在TCK信号的上升沿或下降沿触发。

3. 测试数据输入（TDI）：TDI信号用于将测试数据输入到目标IC的寄存器链中。

在测试模式下，通过TCK信号的时钟脉冲，测试数据从TDI信号输入到目标IC的寄存器链中。

4. 测试数据输出（TDO）：TDO信号用于将目标IC寄存器链中的测试数据输出。

在测试模式下，通过TCK信号的时钟脉冲，测试数据从目标IC的寄存器链经过TDO信号输出。

JTAG应用：1. 测试：JTAG接口最常用的应用是进行集成电路的功能测试。

通过在寄存器链中加载测试模式和测试数据，可以对电路进行逻辑和电气特性的测试。

测试结果可以通过TDO信号输出，进一步分析和判断电路的正确性。

2. 调试：JTAG接口还可以用于调试集成电路。

通过在寄存器链中加载调试模式和调试数据，可以对电路进行断点调试、单步执行等操作。

调试结果可以通过TDO信号输出，帮助开发人员定位和修复电路中的错误。

jtag各接口对地电阻

jtag各接口对地电阻（原创实用版）目录1.JTAG 简介2.JTAG 各接口对地电阻的作用3.JTAG 接口对地电阻的测量方法4.JTAG 接口对地电阻的标准值5.JTAG 接口对地电阻的注意事项正文JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准测试协议，主要用于集成电路的测试、调试和编程。

JTAG 接口是实现这些功能的物理接口，通常包括多个引脚，其中一些引脚连接到地。

在 JTAG 接口中，对地电阻扮演着重要角色，它们可以影响测试和编程的效果。

JTAG 各接口对地电阻的作用主要体现在以下几个方面：1.保护作用：对地电阻可以限制电流，防止短路和其他损坏电路的情况发生。

2.信号完整性：适当的对地电阻可以提高信号的质量，降低信号的失真度。

3.电磁干扰：对地电阻可以减少电磁干扰，提高系统的稳定性。

测量 JTAG 接口对地电阻的方法有多种，其中最常用的是万用表。

在使用万用表测量时，需要将万用表设置为电阻档，然后将测试笔分别接触到 JTAG 接口的对地电阻上。

测量结果应该与标准值相符，否则可能需要更换接口或进行其他维修措施。

JTAG 接口对地电阻的标准值因不同的 JTAG 标准而异。

一般来说，JTAG 接口对地电阻的值应该在 100 欧姆到 1000 欧姆之间。

然而，具体的值应该参考相应的设计手册或标准规范。

在连接 JTAG 接口时，需要注意以下几点：1.确保引脚的正确连接，避免短路和其他损坏电路的情况发生。

2.对地电阻的值应该在标准范围内，过低或过高的电阻值都可能影响测试和编程的效果。

3.在进行测试和编程之前，需要确保电源电压稳定，并且接口和电路的其他部分都已经接地。

总之，JTAG 接口对地电阻在保证电路正常工作和提高系统性能方面发挥着重要作用。

jtag接口标准

jtag接口标准一、JTAG简介JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部和板级测试。

它定义了一种用于访问芯片内部节点进行边界扫描和在系统编程的标准。

JTAG最初是用来对芯片进行测试的，但现在已经扩展到了包括编程和调试等应用。

二、JTAG接口标准JTAG接口标准通常由以下四个信号线组成：1.TCK（Test Clock）：测试时钟信号，用于驱动测试逻辑。

2.TMS（Test Mode Select）：测试模式选择信号，用于选择测试模式。

3.TDI（Test Data Input）：测试数据输入信号，用于输入测试数据。

4.TDO（Test Data Output）：测试数据输出信号，用于输出测试数据。

此外，还有可选的 TRST（Test Reset）信号，用于测试复位。

三、JTAG接口的信号线1.TCK：这是必需的信号，用于驱动测试逻辑。

2.TMS：这是必需的信号，用于选择测试模式。

3.TDI：这是必需的信号，用于输入测试数据。

4.TDO：这是必需的信号，用于输出测试数据。

5.TRST：这是可选的信号，用于测试复位。

四、JTAG接口的设备类型JTAG接口设备分为两种类型：内建JTAG（Build-In JTAG）和外挂JTAG（Plug-In JTAG）。

内建JTAG将JTAG接口集成在芯片内部，主要用于芯片内部测试和编程。

外挂JTAG将JTAG接口集成在外部设备中，主要用于板级测试和调试。

五、JTAG接口的测试方式JTAG接口支持以下几种测试方式：1.边界扫描测试：通过扫描芯片管脚的状态来检测和定位故障。

2.在系统编程：通过JTAG接口对芯片进行编程和配置。

3.调试：通过JTAG接口进行硬件调试和软件调试。

4.仿真：通过JTAG接口进行仿真和模拟。

5.烧录：通过JTAG接口将程序烧录到芯片中。

JTAG接口的定义及常见问题

JTAG接口的定义及常见问题ARM系统的JTAG接口的设计不当往往使硬件系统无法调试，所以在设计ARM 系统前要先熟悉ARM系统的JTAG接口的定义和常见问题。

1．ARM系统的JTAG接口是如何定义的？每个PIN又是如何连接的？下图是JTAG接口的信号排列示意：接口是一个20脚的IDC插座。

下表给出了具体的信号说明：表 1 JTAG引脚说明序号信号名方向说明1 Vref Input 接口电平参考电压，通常可直接接电源2 Vsupply Input 电源3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。

在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。

4 GND -- 接地5 TDI Output Test Data In from Dragon-ICE to target.6 GND -- 接地7 TMS Output Test Mode Select8 GND -- 接地9 TCK Output Test Clock output from Dragon-ICE to the target10 GND -- 接地11 RTCK Input (可选项) Return Test Clock。

由目标端反馈给Dragon-ICE的时钟信号，用来同步TCK信号的产生。

不使用时可以直接接地。

12 GND -- 接地13 TDO Input Test Data Out from target to Dragon-ICE.14 GND -- 接地15 nSRST Input/Output (可选项) System Reset，与目标板上的系统复位信号相连。

可以直接对目标系统复位，同时可以检测目标系统的复位情况。

为了防止误触发，应在目标端加上适当的上拉电阻。

16 GND -- 接地17 NC -- 保留18 GND -- 接地19 NC -- 保留20 GND -- 接地2．目标系统如何设计？目标板使用与Dragon-ICE一样的20脚针座，信号排列见表1。

JTAG接口定义相关知识汇总

JTAG接口定义相关知识汇总一、什么是jtag接口JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP （Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG 测试工具对内部节点进行测试。

目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG 协议，如ARM 、DSP 、FPGA 器件等。

标准的JTAG 接口是 4 线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。

JTAG 测试允许多个器件通过JTAG 接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。

JTAG 接口还常用于实现ISP（In-System Programmable 在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。

通过JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。

目前JTAG 接口的连接有两种标准，即14 针接口和20 针接口，其定义分别如下所示。

在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG 接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG 接口的TMS 、TCK 、TDI 、TDO 信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B 的nEWAIT 引脚（Pin71 ）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108 ）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B 不能正常工作或无法与JTAG 接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。

给系统上电后，可通过示波器查看S3C4510B 对应引脚的输出波形，判断是否已正常工作，若S3C4510B 已正常工作，在使能片内PLL 电路的情况下，SDCLK/MCLKO 引脚（Pin77 ）应输出频率为50MHz的波形，同时，MDC 引脚（Pin50 ）和其他一些引脚也应有波形输出。

jtag各类接口针脚定义含义以及swd接线方式

JTAG各类接口针脚定义、含义以及SWD接线方式JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。

一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。

Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS信号在TCK的上升沿有效。

TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TMS信号用来控制TAP状态机的转换。

通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。

Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TDI是数据输入的接口。

所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。

Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

TDO是数据输出的接口。

所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。

Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。

TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。

因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。

所以有四线JTAG与五线JTAG之分。

(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。

JTAG接口

JTAG接口1 JTAG(Joint Test Action Group;联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。

现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。

标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port;测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。

JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。

现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable在线编程），对FLASH等器件进行编程。

JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。

JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：TCK——测试时钟输入；TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。

可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。

含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。

JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。

TAP控制器的状态机通过TCK 和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。

图1为TAP控制器的状态机框图。

2 JTAG芯片的边界扫描寄存器JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。

寄存器的每一个单元分配给IC 芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。

JTAG接口介绍

JTAG接口介绍JTAG接口用途介绍JTAG就是一个通信/调试的接口，即便在操作系统损坏了或未安装的情况下，也可以直接访问flash芯片。

如果你的flash烧录了不当固件，或中断烧录过程等，导致该设备报销了，可以通过JTAG使你的设备起死回生！还可以通过JTAG来备份现存flash中的内容。

这对移植大有裨益。

所需要的仅仅是一条短短的接口电缆，一段软件，当然您设备的电路板上还要具有一个JTAG接头。

这个JTAG接头一般距离flash芯片很近。

多数情况下JTAG接头有12-14个插脚孔位，插脚之间的间距一定是2.54mm自制接口电缆相当的容易。

需要些备件，都可以在当地电子商店买到，还需要些锡焊技术和一个万用表。

备件：4个100欧姆电阻1个25针D型插头（PC并口插头）1个D型插头用的外壳12-14股的排线或单线。

1个合适的JTAG插座（将焊在电路板的）1个合适的JTAG插头（插在焊接在电路板上的插座）电路图：25针D型插头 JTAG插头Pin 2 -------[100欧姆]------- Pin 3(D0) ( TDI)Pin 3 -------[100欧姆]------- Pin 9(D1) ( TCK)Pin 4 -------[100欧姆]------- Pin 7(D2) ( TMS)Pin 13 -------[100欧姆]------- Pin 5(Select) (TD0)Pin 20 ---+------------------ Pin 6(GND) | ( GND)|Pin 25---+100欧姆的电阻在这里的主要作用应该是限流的，如果实在没有100欧姆的电阻，这种的情况可以省略：JTAG接口已经配置了4.7 K 欧姆电阻。

注意，JTAG的接口位置的丝印字样可能有所不同，甚至没有。

某些板上的JTAG标记是“ JP1 ”而COM端口的标记是“ JP2 ”。

从针脚上和COM端口区分有点困难，但是JTAG有12个接点，COM 端口有10个接点。