LS164串进并出实验及165并串转换实验

2、165并串转换实验。 (1)74LS165芯片引脚图 管脚说明：

D0 through D7 --Parallel in puts SI -- Serial in put Q7，/Q7 -- Data outputs CLK -- Clock CKIN -- Clock in hibit

S/L --(高有效)Shift/Parallel-load

实验二 74LS164串进并出实验及165并串转换实验

一、 实验目的

1 、了解74LS164芯片的工作原理，以及与单片机的接口方法。 2、掌握单片机串行口的工作原理以及编程方法。 3 、了解74LS165芯片的工作原理。

4、掌握74LS165芯片在单片机系统中的应用及编程。

二、 实验内容

1、 用74LS164芯片扩展并行输出口，本实验中我们用 74LS164扩展两个8位输出口的

接口显示电路，两位数码管循环显示

00~99之间的数字。

2、 利用实验系统上的 74LS165芯片，编程实现8位数据并行输入，串行口串行接收， 并将接收的数据存放在 CPU 内部存储区50H~59H 中，共10个数据。（并行输入数据由P1 口 来送入）

三、 编程指南

1、74LS164串进并出实验。

（1） 本实验中MCS-51单片机串行口工作在方式 0 （移位寄存器方式，用于并行 I/O 口 扩展）的发送状态时，串行数据由

P3.0（RXD ）送出，移位时钟由 P3.1（ TXD 送出。在移位

时钟的作用下，串行口发送缓冲器的数据一位一位地移入 74LS164中。需要指出的是，由于 741S164无并行输出控制端，因而在串行输入过程中，其输出端的状态会不断变化，故在某 些应用

场合，在74LS164的输出端应加接输出三态门控制， 以便保证串行输入结束后再输出

数据。

（2） 74LS164引脚功能图

管脚说明：

SIA 、SIB --- Serial in puts Q0 through Q7 ---- Data

outputs CLK ---- CLOCK CLR ——Clear in put

功能表:

VCC Q7 08 Q5 射 CLK CLK | K I ] nJ 17

10 * | T

7ns 16^1 □J 2 jj LsJ LzJ

SIA 5IB QQ QI Q? Q3 ENJ

S/L CP D4 D5 D6 DT /Q7 GND

control （低有效）

（2 ）编程说明

74LS165是8位并行置入移位寄存器。当移位/置入端（S/L ）由高到低跳变时，并行输入端的数据被置入寄存器；当S/L=1，且时钟禁止端（第15脚）为低电平时，允许时钟输

入，这时在时钟脉冲的作用下，数据由DO到D7方向移位。如下的电路原理图中，TXD（P3.1）

作为移位脉冲输出端与所有74LS165的移位脉冲输入端CP相连；RXD（P3.0）作为串行输入

端与74LS165的串行输出端Q7相连；P3.2用来控制74LS165的移位与置入而同S/L相连；

74LS165的时钟禁止端（15脚）接地，表示允许时钟输入。当扩展多个8位并行输入口时，两芯片的首尾（Q7与Sin）相连。

四、实验接线图

1、74LS164串进并出实验

2、165并串转换实验

五、实验步骤

1、在74LS164串进并出实验中，用双头线连接，P3.0接插孔A/B，P3.1接插孔CP, P1.0接插孔/CLR，调入程序运行，两位数码管上循环显示数字00~99。下面是74LS164串进并出程序运行仿真的情况：

2、在165 并串转换实验中，P1.0~P1.7 接D7~D0 , P3 .0 接Q7, P3.1 接CP, P3.2 接S/L。调入程序165.ASM，编译、装载、运行。检查CPU内部存储器50H~59H中的数据是否为

01H~0AH （注意刷新存储器）。下面是165并串转换程序仿真运行的情况:

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六、程序清单