数字平板探测器培训

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数字化X射线平板探测器成像系统产品技术要求tcl

数字化X射线平板探测器成像系统产品技术要求tcl

数字化X射线平板探测器成像系统适用范围:用于医疗机构X射线数字化成像及图像后处理,与医用诊断X射线摄影设备配套使用。

1.1 产品型号Eagle-FP1001.2 划分说明1.3 结构组成Eagle- FP100型数字化X射线平板探测器成像系统由平板探测器、采集工作站、运动连接件组成。

1.4基本参数1.4.1平板探测器平板探测器基本参数见表1。

表1 平板探测器基本参数1.4.2 采集工作站采集工作站基本参数见表2。

表2 采集工作站基本参数2.1 正常工作条件2.1.1 环境条件数字化X射线平板探测器成像系统工作环境条件:a)环境温度:10℃~40℃;b) 相对湿度:30%~75%;c) 大气压力:700hPa~1060hPa。

2.1.2 电源条件数字化X射线平板探测器成像系统工作电源条件:a)电源电压:交流220V;b)电源频率:50Hz±1Hz;2.2 空间分辨率数字化X射线平板探测器成像系统的空间分辨率为:a)无衰减体模时的空间分辨率:应不小于3.71p/mm;b)在厚度为20mm 铝(铝纯度>99.5% ) 衰减体模时的空间分辨率:应不小于2.21p/mm。

2.3 低对比度分辨率数字化X射线平板探测器成像系统的低对比度分辨率:不大于0.021(空气比释动能不大于500μGy)。

2.4 影像均匀性数字化X射线平板探测器成像系统的影像均匀性不大于2.2%。

2.5 有效成像区域探测器有效成像区域应大于标称成像区域(430mmX 430mm)的95%。

2.6 残影数字化X射线平板探测器成像系统无可见残影存在。

2.7 伪影数字化X射线平板探测器成像系统无可见伪影存在。

2.8 软件功能2.8.1 病例管理应具有下列病例管理功能:a) 应具有病人信息、检查信息和图像管理功能;b) 应具有DICOM3.0标准的Worklist查询服务功能,具有可自HIS/PACS查询并下载病例资料功能;c) 应具有报告功能2.8.2 图像采集应具有下列图像采集功能:a) 应具有数字摄影功能;b) 应具有实时自动窗宽窗位调节功能;c) 应具有实时自动ROI裁剪功能;d) 应具有实时边缘增强功能;e) 应具有根据不同体位选择镜像和旋转功能;f) 应具有显示病人信息、检查信息、设备信息和图像信息功能。

数字射线平板探测器安全操作及保养规程

数字射线平板探测器安全操作及保养规程

数字射线平板探测器安全操作及保养规程引言数字射线平板探测器是一种常用于工业和科学领域的射线检测设备,用于测量和分析射线辐射。

为了确保安全使用和有效维护数字射线平板探测器,本文档提供了一份操作规程和保养指南,以便用户遵循。

1. 安全操作规程1.1. 熟悉设备在开始操作数字射线平板探测器前,务必熟悉设备的使用说明和技术参数。

了解不同部件的功能和操作方法以及相关的安全注意事项。

1.2. 个人保护装备在操作数字射线平板探测器时,必须佩戴适当的个人保护装备,包括防护眼镜、工作手套和防护服。

这些装备有助于减轻射线辐射对人体的潜在危害。

1.3. 操作流程严格按照操作流程进行操作,遵循设备制造商提供的操作指南。

不得随意更改或省略任何步骤,以确保操作的准确性和安全性。

1.4. 射线辐射防护数字射线平板探测器工作时会产生射线辐射,必须采取适当的防护措施来降低辐射对人体的危害。

确保在操作时随时与射线源保持安全距离,并使用防护屏蔽物来减少辐射泄漏。

1.5. 避免长时间直接接触长时间直接接触数字射线平板探测器可能对设备和人体健康造成损害。

因此,应尽量减少长时间直接接触,并在操作完成后彻底清洁双手。

1.6. 设备关闭和存储操作完成后,务必关闭数字射线平板探测器并妥善存放。

确保设备存放在干燥、通风、防尘的环境中,远离任何潜在的损坏或意外情况。

2. 保养规程2.1. 定期清洁定期清洁数字射线平板探测器是保持其正常运行的重要步骤。

使用柔软的干净布和适当的清洁剂轻轻擦拭设备表面,以去除灰尘和污垢。

避免使用含酸性或碱性成分的清洁剂,以免损坏设备。

2.2. 维护电源保持数字射线平板探测器的电源稳定是设备正常运行的关键。

定期检查电源线是否磨损或受损,并确保电源连接稳固。

避免过载电路和频繁的电源开关操作。

2.3. 检查连接线路定期检查数字射线平板探测器的连接线路,确保插头和插座之间的连接良好,避免松动或断裂。

任何发现的故障都应及时修复或更换。

数字X线摄影用平板X线探测器简介

数字X线摄影用平板X线探测器简介

32 空 间分辨 力 图像 空 间分辨 力 . 常以调 制传递 函数 表 . 常
示. 根据探测器物理 特性 , 可充 分地 改变。硒板 ( 直接转 换 ) 和
结构性碘化铯( 间接转 换 ) 固有空 间分 辨力 比非结 构性发 光 的 体高 , 而硒 的固有分辨力 要高 的多 。数字 图像可 以进行 处理 , 以改变外观上的图像 锐度 ; 然而 , 过度 的处理会导致噪声 增加 。 34 像元尺寸和矩 阵尺寸 图像上的空 间分 辨力是 由像 元 尺 , 寸和间隔( 节距 ) 定的 。而且 , 决 应强掘 的是 , 更多 的像元 并不
床。这项 新技术 的优 点在 于: I可将任何 一 台固定 的 x线设 () .
构成 的类 型, 一 X线元件 , 光敏感元 件 , 两者都 有 , 于这个 电 或 放
子三的连接 电缆 。 数字平板探测 器系统 由像元 电荷 收集 和读出电路构成 , 每
C ne M I M e 耐 朋 sJ
v 0H 2O 1 0 2 20
板. I 探坝器时 , 在硒板 内释放 电子 和空穴 对 , 电场 的作 用 下 , 在 直接将 电荷引导到下层 的收集撅。每个像元 , 借助于硒板 内的 场形态被有效的分离 . X线 电荷 聚集在整 个硒 表 面, ⅡT电 由
2 1 直接 转换 X线探测 器 直接 转换 X线探测器有一个 x线 . 光导体 ( 板) X线光子转换成 电荷 ( 图 3 硒 , 如 所示 )使用镀硒 ,
作者单位
北京 105 船放军总医院医学工程 中 083
维普资讯
中国医学影像学杂志 2O 年第 】 卷第 2 02 0 期
能量成正 比的可见光 。然后 由硅光 电二极管 把可见 光 子转换 成 电荷 , 在下层的电子读 出线路把每个硅 光电二极管 收集 的电

平板探测器的原理及应用

平板探测器的原理及应用

2012-02
CCD型和CMOS型 • CCD • CMOS
– 没有电荷转移功能, 需要经过X-Y选址电 路。 – PD:产生蓄积电荷 – MOS-Fet:控制读出
2012-02
平板探测器类型的选择
• 观察和区分不同组织的密度,因此对密度 分辨率的要求比较高。宜使用非晶硅平板 探测器的DR,这样DQE比较高,容易获得 较高对比度的图像 • 需要对细节要有较高的显像,对空间分辨 率的要求很高,因此宜采用非晶硒平板探 测器的DR,以获得高空间分辨率的图像。
2012-02
调制传递函数(MTF)
• 一种便于理解的MTF的图解方法
2012-02
噪声
• 平板探测器的噪声主要来源于两个方面: a:探测器电子学噪声 (小) b:X射线图像量子噪声
– RQA5测试标准下一个大小为150μm的像素 通常可以吸收1400个X光子,此时量子噪 声约为37个X光子,而读出噪声则仅相当于 3—5个X光子
线阵扫描探测器
• 相对于线阵探测器
– 提高图像的读出速度 – 减少X线曝光时间
2012-02
平板探测器
平板探测器的应用
2012-02
平板探测器的典型结构
2012-02
典型的平板型DR组成 • X线高压发生器
– 产生高压(高压,灯丝,高压整流,交换闸)
• X线球管
– 产生X射线
• 准直器
– 减少散射线控制照射野
2012-02
碘化铯/非晶硅型
• 优点: 1、转换效率高; 2、动态范围广; 3、空间分辨率高; 4、在低分辨率区X线吸收率高(原子序数 高); 5、环境适应性强。 • 缺点: 1、高剂量时DQE不如非晶硒型; 2、因有荧光转换层故存在轻微散射效应; 3、锐利度相对略低于非晶硒型。

瓦里安平板:Varian 4343R平板探测器安装、调试、校准工艺

瓦里安平板:Varian 4343R平板探测器安装、调试、校准工艺

Varian 4343R 平板调试工艺一、平板的安装1. 千兆以太网卡的安装1.1、将千兆网卡的挡片按照适当的长度将其折弯;1.2、将其插入计算机主板上的PCI 插槽,使其金手指部分完全插入PCI插槽内;1.3、安装完毕后将挡板用螺丝固定上以防止其松动、二、软件的安装1. 网卡驱动的安装及设置1)将Viva 软件光盘放入光驱后等光盘自动运行安装程序或是双击打开光盘文件点击SETUP.EXE 文件进行安装。

点击“Next”进入下一步安装;选择全部安装和默认期安装路径,点击“Next”进入下一步安装;点击“Install”进入下一步安装;在这里软件会附加安装一个VC++的补丁程序,点击“Yes”进行安装;全部安装完毕后点击“Finish”结束安装;2)安装网卡驱动○1 、点击“开始”菜单从中选择“程序”菜单;○2 、在“程序”菜单中选择“Varian”菜单;○3 、在“Varian”菜单中选“P axscanL04”菜单;○4 、在“P axscanL04”菜单中点击运行“”点击“确定”开始运行设置软件1、选中网卡后点击鼠标右键,从弹出菜单中选择“”将网卡设置成高速网卡;点击“是”开始驱动千兆以太网卡2.设置“”;点击进入选项菜单;点击:按钮开始设置;点击:是(Y)按钮开始设置并自动重启计算机3. 设置“”将Startup 选项选择“Automatic”点击Start 按钮即可;4. 检查“”设置检查上图中红框区域的状态显示如上图所示代表千兆网卡设置完毕;三、CPI 高压发生器设置数字接口1、安装CPI 高压发生器2.0.9 版本以上版的高压发生器软件;在运行CPI 软件后,在软件窗口的左上角会显示软件的版本;2、软件设置点击“”按钮进入控制设置;将:Interface Options(接口选项)设置为:40 即可;四、 安装 Varian 平板出厂校准文件将 Varian 平板校正文件光盘放入计算机光驱中;平板校正文件光盘上标注这 这台平板的序列号,在现场安装时必须强调医院方面认真保存;将光盘放入计算机后光盘会自动运行安装程序(如果没有运行的话请打开 光盘后运行“Setup.exe ”程序)点击“Next ”按钮开始安装使用默认安装目录,点击“Instal ”开始安装点击“Finish ”完成安装安装完毕后在“我的电脑”中的“C 盘”里会增加一个“IMAGERs”目录,在这个目录中会有一个已平板序列号命名的文件夹,将该文件夹重新命名为“zkml”。

数字平板探测器培训..

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非晶硅平板探测器 DQE 曲线
非晶硒平板探测器 DQE 曲线
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概述
由于DQE影响图像的对比度,空间分辨率影响图像对细节的分辨能力,在临床 应用中用应根据不同的检查部位来选择不同类型的平板探测器,对于像胸部这 样的检查,重点在于观察和区分不同组织的密度,因此对密度分辨率的要求 比较高,在这种情况下,宜使用非晶硅平板探测器的DR,这样DQE比较高,容 易获得较高对比度的图像,更有利于诊断;对于乳腺检查,需要对细节要有较 高的显像,对空间分辨率的要求很高因此宜采用非晶硒平板探测器,以获取高 空间分辨率的图像,目前绝大多数厂家的数字乳腺机都采用了非晶硒平板探测 器。
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概述
影响非晶硅平板探测器的图像质量的因素
-影响非晶硅平板探测器DQE的因素主要有两个方面:闪烁体的涂层和晶体管。 首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,因此对DQE 会产生影响,目前常见的闪烁体涂层材料有两种:碘化铯和硫氧化钆。碘化铯 对X线的转换效率要高于硫氧化钆,但是碘化铯的成本比较高,将碘化铯加工成 柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,并减少散射光。使用硫氧化钆做 涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯。 -其次将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响,薄膜 晶体管FTF的设计及工艺也会影响探测器的DQE。 -影响非晶硅平板探测器空间分辨率的因素:由于可见光的产生,存在散射现象 ,空间分辨率不仅仅取决于对散射光的控制技术。总的来说,间接转换平板探 测器的空间分辨率不如直接转换型平板探测器高。
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概述
非晶硅平板探测器主要由碘化铯等闪烁涂层与薄膜晶体管(TFT) 构成。它的工作过程一般分为两步,首先闪烁晶体涂层将X射线能量 转换成可见光,其次TFT将可见光转换成电信号,由于在这个过程中 可见光会发生散射,对空间分辨率产生一定的影响,虽然新工艺中将 闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射,但散射光对空间 分辨率的影响不能完全消除。

万睿视平板探测器安全操作及保养规程

万睿视平板探测器安全操作及保养规程

万睿视平板探测器安全操作及保养规程前言万睿视平板探测器是用于X射线检测的设备,能够对被检测物体进行无损检测。

为了确保设备的正常运行,保护使用者的安全,本文将介绍万睿视平板探测器的安全操作和保养规程。

安全操作1. 供电与电源1.1 推荐使用正常工作电压内的电源。

1.2 在进行操作前,请确认所选用的电源符合电源标准及设备的电气需求。

1.3 不得使用电源线的芯线作其他用途。

1.4 使用扁平型插头和插座保持良好接触,避免插头露出,如插孔中出现异物不得使用。

2. 控制面板2.1 控制台上的按钮和控制开关是设备的关键部件之一,操作前请查清楚对应的使用方法,正确输入参数和设定按钮,非需操作人员禁止随意触摸。

2.2 控制台上如发现有液体、伸入异物、异响、烟雾、火花等不正常情况,应立马关机,并及时通知维修人员。

3. 系统软件3.1 在使用设备前,必须了解设备所需的控制程序和监视模块的功能,确保系统安装正确且处于正常工作状态。

3.2 软件更新前,必须备份本地数据,以确保正常运行的最终数据,不受影响,且恢复程序恢复数据也是正确的。

4. 操作者4.1 设备操作人员必须经过全面的培训,并接受设备的安全操作规程培训。

4.2 操作人员必须严格遵循操作规程,注意设备及其周边安全问题。

4.3 操作人员必须佩戴符合要求及功能的个人防护装备,并遵守工作制服规定。

5. 设备环境5.1 设备所在的操作环境必须符合限制条件,如防雷击和防渗雨。

5.2 设备运行时,应保持环境的适宜温度与湿度,且环境氧气浓度保持合理比例。

保养规程1. 外观清洁1.1 定期用干净柔软的布以及专业除尘设备对设备表面进行彻底的清洁。

1.2 禁止使用丙酮、酸、碱、有机化合物等腐蚀性较强的清洁剂,以及强力的清洗水。

2. 元件维护2.1 设备的硬件部件(如滤网)必须能够完成需要清洁和更换的任务。

2.2 必须确保设备外部的元件连接处完好无缺,易于检查清洁和维护。

2.3 定期检查设备的螺钉、螺栓及其他关键部件的紧固情况,如有松动现象应及时进行拧紧。

浅谈数字化X线影像特点及平板探测器

浅谈数字化X线影像特点及平板探测器

浅谈数字化X线影像特点及平板探测器00一、数字化X线影像(DR)的特点及优点1、数字影像(DR)具有图像清晰细腻、高分辨率、广灰阶度、信息量大、动态范围大。

2、密度分辨率高、获取更多影像细节是数字化X线影像(DR)优于普通放射影像最重要的特点。

3、DR投照速度快,运动伪影的影响很小。

尤其对于哭闹易动的儿童和不耐屏气的老年患者。

4、DR成像具有辐射小。

由于数字化X线影像(DR)的平板探测器的灵敏度远高于普通X线片,所以它只需要比较小的能量就可获得满意的图像。

拍摄数字化X线影像(DR)要比普通影像辐射量减少30%-70%。

5、数字化影像对骨结构、关节软骨及软组织的显示优于传统的X线影像,数字化影像易于显示纵膈结构如血管和气管,对结节性病变的检出率高于传统的X线影像。

二、平板探测器的原理及性能分析平板探测器是DR的核心部件,平板探测器从能量转换方式可以分为两种:间接转换平板探测器(indirectFPD)和直接转换平板探测器(directFPD)。

1、间接转换平板探测器间接FPD的结构主要是由闪烁体或荧光体层加具有光电二极管作用的非晶硅层(amorphousSilicon,a-Si)再加TFT阵列构成。

其原理为闪烁体或荧光体层经X射线曝光后,将X射线光子转换为可见光,而后由具有光电二极管作用的非晶硅层变为图像电信号,最后获得数字图像。

在间接FPD的图像采集中,由于有转换为可见光的过程,因此会有光的散射问题,从而导致图像的空间分辨率及对比度解析能力的降低。

闪烁体目前主要有碘化铯(CsI,也用于影像增强器),荧光体则有硫氧化钆(GdSO,也用于增感屏)。

间接转换平板探测器通常有以下几种结构:①碘化铯(CsI)+a-Si(非晶硅)+TFT:当有X射线入射到CsI闪烁发光晶体层时,X射线光子能量转化为可见光光子发射,可见光激发光电二极管产生电流,这电流就在光电二极管自身的电容上积分形成储存电荷.每个象素的储存电荷量和与之对应范围内的入射X射线光子能量与数量成正比。

数字X射线平板探测器可靠UDP通信研究

数字X射线平板探测器可靠UDP通信研究

数字X射线平板探测器可靠UDP通信研究发布时间:2021-09-06T10:49:41.410Z 来源:《科学与技术》2021年第4月第11期(中)作者:李全强[导读] 为提高数字X射线平板探测器图像数据吞吐量,同时保证数据稳定可靠,提出优化改进型的可李全强上海品臻影像科技有限公司 200331摘要:为提高数字X射线平板探测器图像数据吞吐量,同时保证数据稳定可靠,提出优化改进型的可靠UDP协议。

连接管理方式为探测器进行UDP广播通知计算机建立连接并周期性进行消息发送以进行保活。

针对图像数据传输提出确认机制、重传机制和流量控制方案,稳定可靠地传输图像数据。

命令传输针对各种不同丢包逻辑设计重传方案确保可靠。

整体方案数据传输稳定可靠,图像数据流吞吐量稳定在700Mbps以上。

关键字:平板探测器,可靠UDP,高吞吐量,重传机制一.前言数字医疗是一种新型的现代化医疗方式,数字X射线机(DR)作为数字医疗设备中的重要一员,具有更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等优点,且客户对这些性能需求的逐步提高促进了数字x射线平板探测器的快速发展。

TCP/IP协议凭借优秀性能已经成为当前网络设备都共同遵循的网络传输协议。

TCP协议面向连接,逻辑具备优秀的可靠性和稳定性,但是在具有比特错误的无线信道中,其性能严重下降,网络拥塞时,恢复太慢,导致吞吐量不高[1]。

UDP协议数据传输效率高,然而数据传输具有不可靠性。

单幅图像传输使用TCP具有绝对优势,也是目前探测器市场主流通信协议方案,但是随着平板探测器分辨率提升和动态平板高效持续数据传输的需求显现,需要一种稳定可靠兼具高效传输的协议,RUDP(Reliable UDP)协议就可以满足,它是以UDP为基础,增加了多种保证数据可靠传输的手段,以兼具高效和稳定可靠的特性。

但是目前RUDP协议还没有非常成熟可以适应任何场景的方案,对RUDP协议的使用多是根据不同使用场景进行优化改进,如在嵌入式系统中定制化使用[2-4],本文正是分析数字X射线平板探测器(以下简称平板探测器)的使用场景,提出具体的RUDP方案以满足稳定可靠的网络传输目的。

X射线平板探测器数字成像及其图像校准

X射线平板探测器数字成像及其图像校准

收稿日期:2003204218 基金项目:国家自然科学基金资助项目(50275008) 作者简介:周正干(1967-),男,湖南湘潭人,教授,zzhenggan @.X 射线平板探测器数字成像及其图像校准周正干 滕升华 江 巍 安振刚(北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京100083) 摘 要:为了提高X 射线数字成像系统的图像质量,以基于平板探测器的X 射线数字照相系统为研究对象,介绍了平板探测器自身影响图像质量的4大因素:随机噪声,偏置误差,像元响应不一致性和瑕疵像元等,分析了这些因素的成因及其对图像质量的影响,提出了相应的减小和消除这些影响的图像校准方法.实验结果表明:运用这些图像校准方法,可以有效地去除上述因素对图像质量的影响,显著提高平板探测器输出图像的质量,为后续图像判读奠定了良好的基础.关 键 词:无损检验;图像处理;图像校准;平板探测器中图分类号:TH 87811文献标识码:A 文章编号:100125965(2004)0820698204X 2ray flat 2panel 2detector 2ba sed digital radiography and its image calibrationZhou Zhenggan T eng Shenghua Jiang Wei An Zhengang(School of M echanical Engineering and Automation ,Beijing University of Aeronautics and Astronautics ,Beijing 100083,China )Abstract :T o im prove imaging quality of X 2ray digital radiography system ,an X 2ray flat 2panel 2detector 2based digital radiography system was investigated.F our factors of flat panel detector which degrade image quality ,such as random noise ,offset ,response nonuniformity and defective pixels ,were introduced.H ow they occur and in fluence imaging quality was analyzed.C orresponding methods for image calibration were put forward to minish and eliminate the in fluences on image quality.Experimental results indicate that ,with the image calibration methods ,the in flu 2ences of above mentioned factors can be rem oved effectively and the quality of image from flat panel detector can be im proved greatly ,which has founded a g ood foundation for succedent image identifying.K ey words :non 2destructive tests ;image processing ;image calibration ;flat panel detector 射线检测是常规无损检测的重要方法之一,广泛应用于航空、航天、核电、国防以及其它工业部门,在工业生产和国民经济中发挥了重要作用[1].目前,在生产实际中,射线检测普遍使用胶片照相法.X 射线胶片照相的成像质量较高,能正确提供被测试件缺陷真实情况的可靠信息,但是,它具有操作过程复杂、运行成本高、结果不易保存且查询携带不便以及评片人员眼睛易受强光损伤等缺点.为了解决上述问题,20世纪90年代末出现了X 射线数字照相(Digital Radiography ,DR )检测技术.X 射线数字照相系统中使用了平板探测器(flat panel detector ),其像元尺寸可小于0.1mm ,因而其成像质量及分辨率几乎可与胶片照相媲美,同时还克服了胶片照相中表现出来的缺点,也为图像的计算机处理提供了方便[2].因此,基于平板探测器的X 射线数字成像系统在无损检测和评价(NDT ΠNDE )、集装箱扫描、电路板检查以及医疗应用等方面具有广阔的应用前景[3].1 平板探测器的组成及工作原理X 射线平板探测器由射线接收器、命令处理器和电源组成.射线接收器中包含有闪烁晶体屏(G d 2O 2S 或CsI )、大面积非晶硅传感器阵列以及2004年8月第30卷第8期北京航空航天大学学报Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics August 2004V ol.30 N o 18读出电路等,其结构示意图如图1所示.其中,闪烁晶体屏用来将X 射线光子转换成可见光,与其紧贴的大规模集成非晶硅传感器阵列将屏上的可见光转换成电子,然后由读出电路将其数字化,传送到计算机中形成可显示的数字图像.命令处理器是接收器和用户系统之间的接口.由该种平板探测器组成的X 射线数字成像系统结构如图2所示.图1 接收器内部结构示意图图2 平板探测器成像系统结构示意图2 平板探测器图像校准的必要性尽管平板探测器具备前述一些优良特性,但是,X 射线源的不同、接收器内电子线路的不一致性及其正常变化,都会引起平板探测器上不同像元在同样X 射线剂量辐射的情况下具有不同的输出信号.导致这一现象产生的原因可以归纳为以下几个方面.2.1 随机噪声(random noise)探测器中,从射线到可见光的转换以及后续的光电转换和模数转换等都伴有随机噪声.另外,由于探测器的像元数据是逐行读出的,对指定行的采样瞬间也不可避免地要受到相邻行的影响.2.2 偏置误差(offset)在没有X 射线照射的情况下,由于光电二极管(photodiode )和薄膜晶体管(Thin 2Film 2Transistor ,TFT )的漏电流以及数据采集电路中电荷放大器零点漂移的影响,探测器各像元仍有一定的输出值,这就是偏置误差.偏置误差是一种系统误差,在实际工作中,它叠加在实际射线响应输出之上,而且各像元的偏置误差各不相同.通常情况下,可以认为每个像元的偏置误差是固定不变的,因此能够将其消除.2.3 像元响应不一致性(response nonuniformity)像元响应不一致性是指探测器在均匀强度X 射线的照射下,各像元响应的不均匀程度,它与像元接收到的射线剂量到像元图像灰度值转换的整个过程有关.一方面,各像元对应的射线Π可见光转换、光Π电转换及电荷放大程度各不相同;其次,探测器中用到的电荷放大器因工艺所限不可能做得很宽,所以只能将多片集成的放大器拼接在一起(见图1),于是又产生了不同放大器模块之间放大程度的差异.由于各探测器像元对均匀射线的响应不一致性是随机的,因此,在图像上反映出灰度空间分布的随机性[2].然而,可以近似认为各像元的响应灵敏程度是固定不变的.2.4 瑕疵像元(defective pixels)瑕疵像元是指不能依据射线强度做出合理响应的像元,或者说是响应灵敏程度明显有别于正常点的像元.按对射线响应的灵敏程度来分,瑕疵像元可以分为对射线响应过于敏感的像元和过度迟钝的像元两种.在探测器生成的原始图像上,可以很明显地看到星星点点散布着的亮点和黑点,甚至整条的白线或黑线,这些就是典型的瑕疵像元.从本质上讲,瑕疵像元是像元响应不一致性的极端情况,但由于其极端性,又不宜采取与响应不一致性相同的校正方法,故将其单独列出.由于上述原因,从探测器采集的原始图像一般不能满足实际检测的要求.因此,全面分析平板探测器自身影响输出图像质量的各种因素,在此基础上研究针对性的图像校准方法对原始图像进行处理,是实际检测过程中一个必不可少的环节.3 平板探测器的图像校准方法3.1 随机噪声的消除对于随机噪声,最有效的消除方法就是采用多幅图像叠加取平均值的经典方法[4].对均匀射线辐射探测器所获得的图像(由12bit 的图像采集卡获得,下同)进行分析,如图3所示,图3c 表示了去掉的随机噪声.通过多幅叠加,灰度标准差由33.83减小至30.74.由此可见,通过采用多幅平均的方法去掉随机噪声后,图像质量得到了提高,但通过16幅叠加取平均的方法去噪耗时太长.实验结果表明,4996第8期 周正干等:X 射线平板探测器数字成像及其图像校准a 单幅图像某行的一段灰度曲线b 16幅图像叠加平均后与a图同位置的灰度曲线c a 图减去b 图的结果图3 随机噪声及其消除幅叠加处理后即可获得同16幅叠加处理大致相当的效果.3.2 偏置误差的修正在没有X 射线辐射探测器的情况下采集一幅图像,称之为暗场图像,它是探测器传感器阵列在无信号输入时的输出信号,包含了偏置误差的全部信息.偏置误差修正过程如图4所示.从图4a 可见,不同像元的偏置误差相差很大,且毫无规律可言.图4c 代表了偏置误差被修正后的结果.图4c 的图像质量较图4b 有了显著提高,灰度标准差由30.74降到18.88.3.3 像元响应不一致性校正由图4c 可见,经过偏置误差修正,该行的灰度曲线仍有较大的起伏,而且呈明显的分段特性,即该行可以分为灰度相差较大的几段,而整幅图像的灰度分布则呈现规则的柱状,如图5所示.这表明,还有严重影响图像质量的因素有待校正,这就是像元响应不一致性.为了对响应不一致性进行校正,首先需要掌握各点的响应特性,这就需要采集并分析校准图像.在实际工作中,分别在3种不同射线辐射状态a 暗场图像某行的一段灰度曲线b 均匀射线辐射下与a图同位置的图像灰度曲线c b 图减去a 图的结果图4 偏置误差及其消除图5 偏置误差校正后图像灰度拉伸效果下采集校准图像:①在没有X 射线辐射探测器的情况下获取一幅图像,前已提及,称为暗场图像;②在能使各像元和电子线路饱和的均匀X 射线照射探测器的情况下获取一幅图像,称为亮场图像;③在亮场图像所用剂量70%左右的X 射线均匀照射下采集一幅图像,称为中亮场图像.在采集校准图像时,为消除随机噪声的影响,一般应该采取多幅叠加取平均的方式.由前面对偏置误差的分析可知,这里的暗场图像实际上就代表了偏置误差.若用中亮场图像与暗场图像相减,得到的差值就是各像元在中亮场射线强度下的响应.同理,由于各种射线条件下得到的图像都包含了暗场图像所代表的偏置误差成分,所以任意两幅图像相减的结果,就是二者对应射线剂量的差值在各像元的实际响应.这样,利007北京航空航天大学学报 2004年用3幅校正图像,对于每一像元,都可得到一条灰度值随射线强度变化的响应曲线,也就可获得图像校正值随原始灰度值的变化曲线.图6为某点的灰度校正曲线,其中,横坐标表示原始灰度值P ,纵坐标对应校正输出Q .P d ,P m ,P l 分别代表该像元在暗场、中亮场和亮场图像中的对应灰度值.暗场图像像元灰度值的校正输出Q d 对应灰度0,亮场图像像元灰度值的校正输出则可以根据实际需要确定为某一恒定值,如像元灰度为12bit ,则Q l 取4095.中亮场的校正值Q m 可以根据暗场和亮场的对应值,结合射线强度差求得,或根据3幅图像的灰度均值用下式近似得到:Q m =P mm -P dmP lm -P dm ×Q l(1)式中 P dm ,P mm ,P lm 分别是暗场、中亮场和亮场图像的灰度平均值.图6 某像元的灰度校正曲线对于任意一幅需要校正的图像,校正值根据P 值与中、亮场灰度的对比关系,对应图6中分段线性校正曲线的上半段或下半段.实际利用下式计算:Q =P -P dP m -P d×Q m P <P mP -P mP l -Pm×(Q l -Q m )+Q m P >P m(2) 图7是图5对应原始图像经过不一致性校正后的结果,区域灰度标准差由39129降为27106,降低了3111%.图7 经像元相应不一致性校正后的图像314 瑕疵像元校正仔细观察图7,可以发现其中存在一些灰度值奇异点,这是受到前述瑕疵像元影响的结果.为对瑕疵像元进行具体界定,根据实验结果设定了一个灰度区间,若某像元P l 与P d 的差值落在该区间之外,则判定该像元为瑕疵像元.对瑕疵像元的校正采用邻域选择性平均法,即瑕疵像元的校正输出取其邻域中正常像元的灰度平均值;除非位于传感器阵列的边缘,每个像元有8个相邻像元.如果瑕疵像元的相邻像元中有3个以上是正常的,则相邻正常像元的灰度平均值可作为该瑕疵像元的灰度值;若相邻像元中正常的像元少于3个,则该瑕疵像元不能被校正,否则,图像有可能失真.综合运用上述各种校正方法,对某均匀射线照射图像进行校准,校准之后的图像灰度分布趋于平坦化,灰度标准差由39.29降到了19.24,降幅高达51.0%.4 结 论由于受到随机噪声、偏置误差、像元相应不一致性和瑕疵像元等各种图像降质因素的影响,从平板探测器采集的原始图像一般不能满足实际检测工作的要求.在全面分析各种图像降质因素的成因及特性的基础上,本文介绍了平板探测器数字图像校准的方法.利用本文介绍的图像校准方法,可显著改善平板探测器的图像质量,为后续的图像判读,以及其缺陷识别等工作奠定了良好的基础.参考文献(R eferences )[1]刘德镇.现代射线检测技术[M].北京:中国标准出版社,1999.240~251Liu Dezhen.M odern radiology techniques[M].Beijing :China S tan 2dard Press ,1999.240~251(in Chinese )[2]曹厚德.数字化X 射线影像技术的发展[J ].感光材料,1999,(1):31~34Cao H oude.Development of digital radiography[J ].Sensitive M ate 2rial ,1999,(1):31~34(in Chinese )[3]Reiff KJ.Flat panel detectors 2closing the (digital )gap in chest andskeletal radiology[J ].European Journal of Radiology ,1999,31:125~131[4]陈树越,路宏年.X 射线数字成像噪声特性及噪声消除方法研究[J ].无损检测,2001,23(1):9~14Chen Shuyue ,Lu H ongnian.Research on noise characteristics and noise depression in X 2ray digital radiographic system [J ].N onde 2structive T esting ,2001,23(1):9~14(in Chinese )107第8期 周正干等:X 射线平板探测器数字成像及其图像校准。

培训DR基础知识

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4、成熟的针状CsI技术,有效的解决了可见光漫散的问题,从而保证 了成像的最终质量,同时成像剂量相对较低。
5、a-Si性能稳定,环境温度适应范围大。
6、17×17的探测器尺寸使得拍摄不受任何限制。
完整的工作站系统软件
1、 独特的系统登陆界面设计,既满足高效工作流程的要求,又兼顾完 整的DICOM信息录入需要。
动态FPD技术及心血管产品研发
先进探测器的全面应用
1、采用VARIAN和TRIXELL公司CsI- aSi平板探测器(FPD),业界 最高技术水平的优秀FPD部件。
2、3k×3k采集矩阵、多达900万像素数量、143um的像素尺寸,保证 了极高的图像空间分辨率(3.6Lp/mm)
3、直接成像速度快,5s即可完成完整成像,
X射线机——摄影专用机

30~50kW X线发生装置

配有专用摄影床和专用X线管支架

用于骨与关节系统、呼吸系统检查
X射线机——摄影专用机
X射线机——摄影专用机
X线成像过程
高压发生器 球管
射线透过人体 潜影片盒片盒平板检测器显示器
透视
CR 硬盘
CR 技术
CR 技术 IP
No 保护层 磷光体层 支持体
造成不可逆损坏的问题。 4、采集时间短,使得在采集的同时进行图像前处理成为可能,大
大简化图像处理流程。在采集的同时即可获得优质的图像。 5、17×17的探测器尺寸使得拍摄不受任何限制。 6、成像剂量相对较低。
针状CsI技术
1、X-ray粒子在单个针状CsI中传导近似光波导传导,极少漫射。 2、针状CsI直径约为6um,每像素单元排列超过300个,即便有少量漫
间接数字化
空间分辨率 3.6lp/mm

数字X射线摄影系统平板探测器工作原

数字X射线摄影系统平板探测器工作原

维修工程208 ZHONGGUO YIXUEZHUANGBEI中国医学装备2022年12月第19卷第12期 China Medical Equipment 2022 December V ol.19 No.12①广州医科大学附属第五医院设备科 广东 广州 510700作者简介:申路,女,(1988- ),硕士,工程师,从事医疗器械维修和管理工作。

[文章编号] 1672-8270(2022)12-0208-03 [中图分类号] R812 [文献标识码] BMaintenance and troubleshooting of flat panel detector in digital X-ray radiography system/SHEN Lu, YU Biao//China Medical Equipment,2022,19(12):208-210.[Abstract] T o analyze the structure classification and working principle of flat panel detector (FPD) and to explore the maintenance methods of common faults in digital radiography (DR) system. The working principles of amorphous selenium FPD and amorphous silicon FPD were analyzed respectively. The fault cases were analyzed and investigated from three aspects of X-ray photography, information receiving and conversion, and image processing and display, and the maintenance strategy of FPD faults was formulated. FPD collector matrix layer is the important unit of X-ray information conversion, and the control device and auxiliary device are also the key factors affecting the operation of FPD. The equipment failures were inspected and handled by performing visual inspection, component testing, and signal detection, and the equipment was restored to normal operation. FPD is a kind of equipment component with high integration and high precision. Routine maintenance is an important measure to ensure the operation quality of DR equipment. Medical engineers should strengthen the study of working principles of equipment and FPD, improve the ability of analysis and troubleshooting in equipment maintenance, construct a management system of cooperation between medical technicians, and improve the clinical service ability of equipment.[Key words] Flat panel detector (FPD); Digital radiography (DR); Image quality; Brake device; Electromagnetic relay; Fault analysis[First-author’s address] Department of Medical Equipment, The Fifth Affiliated Hospital of Guangzhou Medical University, Guangzhou 510700, China.[摘要] 对平板探测器(FPD)的结构分类和工作原理,以及非晶硒FPD和非晶硅FPD的工作原理进行分析,探讨X射线数字摄影系统(DR)常见故障的维修方法,从X射线摄影、信息接收转换和图像处理显示3方面对其故障案例进行分析和排查,制定FPD故障的维修策略。

TOFD培训流程

TOFD培训流程

TOFD培训流程扫查结果均以数据⽂件格式存储,可⽀持计算机软件进⾏分析处理。

3.PCS的计算(包括辅助功能中PCS计算功能的使⽤)探头中⼼间距(PCS)发射和接收探头⼊射点之间的直线距离,间距调整应该是使两探头的主声线交汇于板厚的三分之⼆处,计算公式如下:4.TOFD探头及楔块TOFD检测通常采⽤⼩晶⽚,⼤扩散⾓,宽频带的纵波探头。

晶⽚⼀般采⽤复合压电晶⽚,有效提⾼发射和接收灵敏度,且直径⼀般不超25mm。

不同⼯件厚度需要不同的探头⾓度,因此探头与楔块采⽤分离⽅法,可根据不同的需要,更换不同的楔块。

优点:1.横向振动很弱,串扰声压⼩2.机械品质因⼦Q值低3.带宽⼤(80~100%)4.机电耦合系数值⼤5.灵敏度⾼,信噪⽐优于普通PZT探头6.在较⼤温度范围内特性稳定7.可加⼯形状复杂的探头8.易与声阻抗不同的材料匹配9.可通过陶瓷体积率的变化,调节超声波灵敏度5.基本波形种类及相位关系的介绍直通波(lateral wave)直通波是从发射探头发出沿⼯件以最短路径到达接收探头的波束。

底波(back wall echo)经底⾯反射到接收探头的超声波。

转换型波纵波⼊射在底⾯或缺陷构成的反射⾯上形成的波形转换。

当超声波束由⼀个⾼阻抗的介质传播到⼀个低阻抗介质中时,在界⾯经过反射后波束相位发⽣改变,如果波束在遇到界⾯前是负向周期则在界⾯反射后转变为正向周期。

波束经过上端点和底⾯时,在异质界⾯反射和相位发⽣转变,因此波形相位相似。

⽽波束经过下端点时相当于波束在底缺陷底部环绕,相位不发⽣转变与直通波相位相同。

根据理论和实验证明,如果两个衍射信号的相位相反,则在两个信号间⼀定存在⼀个连续不间断的缺陷。

因此识别相位变化对于评定缺陷尺⼨⾮常重要。

利⽤上、下端点的时间差来计算缺陷深度和⾃⾝⾼度是TOFD探伤最重要的部分*注在⼀些特殊情况下,例如⽓孔,⼩夹渣之类的缺陷由于⼏何尺⼨太⼩不会产⽣两个分离的端点信号TOFD的成像并⾮是缺陷的实际图像显⽰,⽽是通过扫查时探头所接收到的A扫图形转换为⿊⽩两⾊的灰度图,为了能有更清晰的图像因些要求⾄少256级的灰度分辨率如此⼀来,就把⼆维的A扫图像⽤⼀条⼀维的⾊带表⽰出来,从左⾄右依然代表传播时间,⽽相位则⽤颜⾊表⽰,波幅⽤颜⾊深度表⽰出来,如下图:6.扫查类型的初步讲解及组装⽅式的介绍1)扫查类型:⾮平⾏对称扫查、⾮平⾏左偏置扫查、⾮平⾏右偏置扫查、平⾏扫查。

电子平板仪的操作与维护培训方案设计

电子平板仪的操作与维护培训方案设计

电子平板仪的操作与维护培训方案设计一、引言电子平板仪是一种用于测量平面度和平行度的精密测量工具。

其精准度和稳定性对于保证工件的质量至关重要。

为了正确操作和有效维护电子平板仪,本文将设计一份培训方案,旨在帮助用户掌握其操作技巧和维护要点。

二、培训目标1. 理解电子平板仪的工作原理和基本结构;2. 掌握电子平板仪的正确操作方法;3. 学会对电子平板仪进行日常维护和保养;4. 掌握常见故障排除方法。

三、培训内容1. 电子平板仪的工作原理和结构- 介绍电子平板仪的基本工作原理:激光干涉测量技术;- 解释电子平板仪的主要组成部分:激光头、检测器、显示器、计算机等。

2. 电子平板仪的正确操作方法- 详细说明电子平板仪的启动和关闭流程;- 演示如何放置待测工件和对其进行测量;- 指导参与者如何进行数据录入和保存;- 解释如何根据测量结果进行数据分析和判断。

3. 电子平板仪的日常维护和保养- 强调保持工作环境的清洁和干燥;- 指导参与者正确清洁平板仪的表面和配件,使用适当的清洁剂;- 解释如何对电子平板仪的光学元件进行定期清洁和校准;- 提醒参与者定期检查电子平板仪的电源线和传输线,确保其安全可靠。

4. 常见故障排除方法- 介绍常见的电子平板仪故障类型和原因;- 演示如何通过自检功能和故障代码进行故障诊断;- 提供常见故障的解决方法,并实际演示操作。

四、培训方法1. 理论讲解:通过讲解、图文展示等方式,向参与者介绍操作与维护的各项内容。

2. 操作演示:由培训师现场演示正确的电子平板仪操作方法,使参与者能够直观了解操作步骤。

3. 实际操作:参与者按照演示的步骤进行自主操作,培训师提供指导和解答疑问。

4. 互动讨论:鼓励参与者之间的互动和经验分享,加深对于操作和维护的理解。

五、培训考核1. 理论考核:培训结束后进行笔试,包括选择题和简答题,考察参与者对于电子平板仪的理论知识掌握情况。

2. 操作考核:要求参与者独立进行电子平板仪的操作演示,通过观察其操作流程和技巧来评估其操作能力。

医用X射线诊断设备质量控制培训教材

医用X射线诊断设备质量控制培训教材
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14bit 12bit <3s <20s 温度10-40℃
由于其经历了X射线-可见光-电荷图像-数字图像的成像过 程,通常也被称作间接转换型平板探测器。
非晶硅平板探测器具有成像速度快,良好的空间及密度分辨率, 高信噪比,直接数字输出等优点。
碘化铯 针柱直径 6μm
主要非晶硅平板探测器参数说明
探测器
法国Trixell Pixium 4600
美国GE Revolution
《医用常规X射线诊断设备质量控制检测规范》 ——替代WS76-2011
WS76-2017的适用范围
本标准适用于医用常规X射线诊断设备的质量控制检 测,包括传统屏片X射线摄影设备、X射线透视设备。 数字X射线摄影(DR)通用性能指标部分、介入放射 学设备、移动式X射线摄影设备和便携式X射线设备可 参照使用。
质量控制:通过对x射线诊断设备的性能检测和维护,对X射 线影像形成过程的监测和校正行动,保证影像质量的技术。
质量管理:为使质量保证计划得以贯彻实施,使各种检测能 正常进行,其结果得到评价,相关的校正行动得以实施而采 取的管理措施。
医疗机构质量控制程序示例
为加强放射科影像质量管理和质量控制,保证放射 科诊断质量和医疗安全,落实“医疗质量持续改进 计划",参照浙江省医院放射科影像质量保证方案, 制定本市放射科影像质量保证方案。

ZQQC10.02-2013(O) RTR 检测人员培训大纲(2013-8-1)

ZQQC10.02-2013(O) RTR 检测人员培训大纲(2013-8-1)

查特中汽深冷特种车(常州)有限公司Chart Cryogenic Engineering Systems (Changzhou) Co., Ltd.数字探测器阵列检测人员培训大纲文件编号No.:ZQ/QC10.02-2013(O)编制Prepared by:日期Date:审核Reviewed by:日期Date:批准Approved by:日期Date:一.数字成像RT技术的基础知识1. 数字化射线检测技术的发展所谓射线实时成像检测技术,是指在曝光的同时就可观察到所产生的图像的检测技术。

这就要求图像能随着成像物体的变化迅速改变,一般要求图像的采集速度至少达到25帧/秒(PAL制)。

上世纪70年代以后,实时成像检测技术和质量都得到了很大改进,这主要包括:1.采用图像增强器代替简单的荧光屏,实现图像亮度和对比度增强;2.采用微焦点或小焦点射线源,以投影放大方式进行射线照相;3.引入数字图像处理技术,改进图像质量。

2. 非晶硅型数字探测器的原理A.非晶硅数字平板结构:由玻璃衬底的非结晶硅阵列板,表面涂有闪烁体——碘化铯,其下方是按阵列方式排列的薄膜晶体管电路(TFT)组成。

TFT像素单元的大小直接影响图像的空间分辨率,每一个单元具有电荷接收电极信号储存电容与信号传输器。

通过数据网线与扫描电路连接。

B.非晶硅平板成像原理:X射线首先撞击其板上的闪烁层,该闪烁层以与所撞击的射线能量成正比的关系发出电子,这些光电子被下面的硅光电二极管阵列采集到,并且将它们转化成电荷,X射线转换为光线需要中间媒体——闪烁层。

硅元件按吸收射线能量的多少产生正比例的正负电荷对,储存于薄膜晶体管内的电容器中,所存的电荷与其后产生的影像黑度成正比。

扫描控制器读取电路将光电信号转换为数字信号,数据经处理后获得的数字化图像在影像监视器(显示器)上显示。

图像采集和处理包括图像的选择、图像的校正、噪声处理、动态范围、灰阶重建,输出匹配等过程,在计算机控制下完全自动化。

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未进行校正处理的图像
经过校正处理的图像
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概述 非晶硅平板探测器介绍 非晶硅平板探测器厂家及类型
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非晶硅平板探测器
非晶硅平板探测器的主要厂家:TRIXELL、VARIAN、Canon、TOSHIBA SAMSUNG、IRAY等
非晶硅平板探测器的种类:动态平板探测器、固定式平板探测器(静态) 、 便携式平板探测器(静态),分无线和有线两种。
和影像质量成正比、患者剂量呈反比
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非晶硅平板探测器
动态范围:即宽容度,是能够显示为信号强度不同的从最小到最大幅度范围。 如:14bit=2的14次方 常见平板探测器的动态范围是14bit
模拟X光机的动态范围窄曝光宽容度小
DR的动态范围宽曝光宽容度大
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非晶硅平板探测器
空间分辨率:指在高对比度的情况下鉴别细节的能力,即显示最小体积病灶 或结构的能力,一般空间分辨率由X线束的几何尺寸所决定,与X线剂量大小 无关,空间分辨率有一定的极限,空间分辨率受到探测器像素的大小、采样间 隔以及X线的焦点大小等的限制。 理论极限空间分辨率的计算方法: 1/有效像素尺寸X0.5,如平板探测器的像素尺寸为143um,理论极限空间分辨 率为 1/143x0.5=3.5lp/mm
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概述
由于早期非晶硒平板探测器制作工艺存在缺陷,大面阵探测器的稳定性较差 在市场占有率逐年减少,DR市场上主要以非晶硅平板探测器为主。 目前非晶硒平板探测器主要用于乳腺DR上。 以下主要介绍非晶硅平板探测器。
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概述 非晶硅平板探测器介绍 非晶硅平板探测器厂家及类型
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非晶硅平板探测器
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概述
影响非晶硒平板探测器的图像质量的因素 -X线转换成电信号完全依赖于非晶硒层产生的电子空穴对,DQE的高低取决于 非晶硒产生的电荷能力。 -由于没有可见光的产生,不发生散射,空间分辨率取决于单位面积内薄膜晶体 管矩阵大小,矩阵越大薄膜晶体管的个数越多,空间分辨率越高,随着工艺的 提高可以做到很高的空间分辨率。
非晶硅平板探测器 DQE 曲线
非晶硒平板探测器 DQE 曲线
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概述
由于DQE影响图像的对比度,空间分辨率影响图像对细节的分辨能力,在临床 应用中用应根据不同的检查部位来选择不同类型的平板探测器,对于像胸部这 样的检查,重点在于观察和区分不同组织的密度,因此对密度分辨率的要求 比较高,在这种情况下,宜使用非晶硅平板探测器的DR,这样DQE比较高,容 易获得较高对比度的图像,更有利于诊断;对于乳腺检查,需要对细节要有较 高的显像,对空间分辨率的要求很高因此宜采用非晶硒平板探测器,以获取高 空间分辨率的图像,目前绝大多数厂家的数字乳腺机都采用了非晶硒平板探测 器。
选择DR必然考虑到平板探测器的选择,平版探测器的性能指标会对图像 产生很大的影响。
目前市场上存在的平板探测器主要有两种: 非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器,从能量转换的方式来看,前者 属于直接转换平板探测器,后者属于间接转换平板探测器。
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概述
非晶硒平板探测器主要由非晶硒TFT构成。入射的X射线 使硒层产生电子空穴对,在外加偏压电场作用下,电子和 空穴对向相反的方向移动形成电流,电流在薄膜晶体管中 形成储存电荷量对应于入射X射线的剂量,通过读出电路 可以知道每一点的电荷量,进而知道每点的X射线剂量。 由于非晶硒不产生可见光,没有散射线的影响,因此可以 获得比较高的空间分辨率。
谢 谢

非晶硅平板探测器组成:闪烁体、a-si FTF阵列、采集控制电路 非晶硅平板探测器获取一幅图像主要分为以下三步: -X 射线经过闪烁体转化为可见光。 -可见光经过A-SI FTF光电转换为电信号进行存储。 -电信号经过读出电路读出并经AD转换形成数字信号,传至计算机形成 数字图像。
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非晶硅平板探测器
平板探测器的主要指标
有效像素尺寸,如143um
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非晶硅平板探测器
有效成像面积:指探测器能够用于获取信息的范围,目前最大为17”X17”
像素矩阵:有效摄影尺寸/有效像素尺寸 如:43cm/143um=3000
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非晶硅平板探测器
量子检测效率(DQE): 表示探测器的性能,即所给剂量实际给予图像的百分比。如60%
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概述
非晶硅平板探测器主要由碘化铯等闪烁涂层与薄膜晶体管(TFT) 构成。它的工作过程一般分为两步,首先闪烁晶体涂层将X射线能量 转换成可见光,其次TFT将可见光转换成电信号,由于在这个过程中 可见光会发生散射,对空间分辨率产生一定的影响,虽然新工艺中将 闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射,但散射光对空间 分辨率的影响不能完全消除。
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非晶硅平板探测器
探测器为外围电路
探测器为外围电路由:时序控制器,行驱动电路,读出电路,A/D转换电路 ,通讯及控制电路组成。在时序控制器的统一指挥下行驱动将像素的电荷逐行 检出,经A/D转化电路转化成数字信号,由网络通讯接口发送至PC。
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非晶硅平板探测器
平板探测器的内部
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非晶硅平板探测器
数字平板探测器

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概述 非晶硅平板探测器介绍 非晶硅平板探测器厂家及类型
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概述
在平板DR数字化摄影中,X线能量转换成电信号是通过平板探测器 (Flat panel Detector)来实现的,所以平板探测器的特性会对DR图像质 量产生比较大的影响。
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非晶硅平板探测器
噪声: 平板探测器的噪声主要来源于两个方面: 1、探测器电子学噪声(小) 2、X射线图像量子噪声 -例:RQA5测试标准下一个大小为150um的像素通常可以吸收1400个X光子 此时量子噪声约为37个X光子,而电子噪声则仅相当于3-5个X光子。
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非晶硅平板探测器
灵敏度: 非晶硅平板探测器的灵敏度由几个方面的因素决定:X射线吸收率, X射线-可见光转化系数,填充系数和光电二极光可见光-电子转换系数。 通常用X射线灵敏度S表示 如科标注探测器X射线灵敏度S为:S 1000e- /nGy/pel DN-5 Beam 表示该探测器在标准DN-5 X射线下每nGy在单个像素产生的电荷为1000, 由于X射线灵敏度S与X射线的质有关通常要求射线的质标准如 :DN-5 Beam
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非晶硅平板探测器
用途 动态平板探测器主要用于DSA、数字平板小C、动态平板胃肠机等
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非晶硅平板探测器
用途 固定式平板探测器主要由于固定式安装的DR。
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非晶硅平板探测器
便携式平板探测器主要用于移动DR等
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非晶硅平板探测器
平板探测器与X射线的同步几步目前主要有两种: 1、硬件接口同步(外同步),需要通过硬件信号连接完成高压与采集同步。 2、射线接收同步(内同步),无需硬件连接,由探测器接受射线触发采集同步。
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概述
-非晶硅平板探测器的极限DQE比较高,但是随着空间分辨率的提高,其DQE 下降得较多,而非晶硒平板探测器的极限DQE不如非晶硅平板探测器高,但是 随着空间分辨率的提高,其DQE反而超过了非晶硅平板探测器。 -这种特性说明非晶硅平板探测器在区分组织密度差异的能力较强,而非晶硒 平板探测器在区分细像质量的因素
-影响非晶硅平板探测器DQE的因素主要有两个方面:闪烁体的涂层和晶体管。 首先闪烁体涂层的材料和工艺影响了X线转换成可见光的能力,因此对DQE 会产生影响,目前常见的闪烁体涂层材料有两种:碘化铯和硫氧化钆。碘化铯 对X线的转换效率要高于硫氧化钆,但是碘化铯的成本比较高,将碘化铯加工成 柱状结构,可以进一步提高捕获X线的能力,并减少散射光。使用硫氧化钆做 涂层的探测器成像速度快,性能稳定,成本较低,但是转换效率不如碘化铯。 -其次将闪烁体产生的可见光转换成电信号的方式也会对DQE产生影响,薄膜 晶体管FTF的设计及工艺也会影响探测器的DQE。 -影响非晶硅平板探测器空间分辨率的因素:由于可见光的产生,存在散射现象 ,空间分辨率不仅仅取决于对散射光的控制技术。总的来说,间接转换平板探 测器的空间分辨率不如直接转换型平板探测器高。
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非晶硅平板探测器
成像周期:Cycle time 如:6S
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非晶硅平板探测器
探测器的温度稳定性 额定条件下探测器的输出随着温度的变化,被称为探测器的温度系数,通常 用此参数来衡量探测器的温度特性,对于探测器图像系统通常会设计温度漂移 校正的功能(offsetting correction). 采用在图像处理中扣除漂移因子的方法 来保持图像输出的稳定性。
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非晶硅平板探测器
探测器校正包含:Offset calibration、Gain calibration、Defect Calibration Offset calibration主要用于消除随机噪声和偏置误差需要在无射线下进行 (暗场)、Gain calibration用于修正像素单元的响应一致性、Defect Calibration用于坏像素修补。
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非晶硅平板探测器
平板探测器图像校准的必要性: 由于X射线源不同、探测器内部电子线路的不一致性及其正常变化,都会引起 平板探测器上不同像素在同样X射线剂量辐射的情况下具有不同的输出信号, 导致这一现象产生的原因可以归纳为以下几个方面: 随机噪声、偏置误差、像素响应不一致、坏像素。
平探测器校正可以消除随机噪声、对偏置误差进行修正、修正像素响应一致性 对坏像素进行修补。
闪烁体材料主要有:碘化铯(CSI:TI)、硫氧化钆( Gd2O2S:Tb)
柱状碘化铯(CSI:TI) 碘化铯和硫氧化钆发射光谱与 a-si光电二极管量子效率谱均在 波长550nm处出现峰值具有很好 的匹配性 使用CsI做涂层的探测器转换效率 比硫氧化钆涂层高。
硫氧化钆
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非晶硅平板探测器
A-si TFT 由具有光敏性的非晶硅光电二极管及不能感光 的三级管、行驱动线和列读出线构成
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