AEC Q200-005 被动元件板弯测试方法

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AEC-Q200被动(无源)组件应力测试认证规范

AEC-Q200被动(无源)组件应力测试认证规范

说明:近年来,随著车载应用设备多功能化的进展,而且在混合动力车以及电动汽车的普及进程中,以电源监视功能为首的新用途也在不断地扩大,车用零件小型化以及高温环境条件下(-40~+125℃、-55℃~+175℃)的高可靠性要求日益高涨,一台汽车是由许许多多的零件组成,这些零件虽然有大小,但是全部都与汽车驾驶的生命安全息息相关,所以每一个零件都要被要求能达到最高品质与可靠度,甚至要求做到零缺陷的理想境界,所以在汽车产业中,汽车零件的品质控管的重要性往往凌驾于零件的功能性之上,这个与一般民生用消费电子产品的需求是不一样的,也就是说对于汽车零件而言,产品的最大通动力往往不是[最新技术],而是[品质安全]。

为了达到对品质要求的提升,就得靠严格管控程序来把关,目前汽车产业中针对于零件资格及品质系统标准的就是AEC(汽车电子委员会),针对于主动零件所设计出的标准为 [AEC-Q100],针对于被动元件设计为[AEC-Q200],其规范了被动零件所必须达成的产品品质与可靠度。

AEC-Q100车用IC产品验证流程图:应用于汽车的被动元件分类:汽车等级电子元器件(符合AEC-Q200)、商用电子元器件、动力传动组件、安全控制组件、舒这组件、通讯组件、音响组件符合AEC-Q200标准的零件摘要整理:石英振盪器:应用范围[胎压监测系统(TPMS)、导航、防琐死刹车系统(ABS)、安全气囊和接近感测器车载多媒体,车用娱乐系统、备份摄影镜头]车用厚膜晶片电阻:应用范围[汽车冷暖系统、空气调节、资讯娱乐系统、自动导航、照明、车门及车窗遥控装置]车用夹层金属氧化物压敏电阻:应用范围[电机组件的浪勇保护、组件的浪勇吸收、半导体过压保护]耐低高温表面贴装固态模压片式钽电容器:应用范围[燃油质量传感器、变速器、节流阀、传动控制系统]电阻:SMD电阻、薄膜电阻、热敏电阻、压敏电阻、车用抗硫化电阻、车用精密薄膜晶片电阻阵列、可变电阻电容:SMD电容、陶瓷电容、铝电解电容、薄膜电容、可变电容电感:加固电感、电感器其他:LED薄膜氧化铝陶瓷散热基板、超音波元件、过电流保护SMD、过温保护SMD、陶瓷共鸣器、车用PolyDiode半导体陶瓷电子保护元件、网路晶片、变压器、网路组件、EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器、自恢复保险丝無源器件應力測試等級與最低溫度範圍及典型應用案例:备注:在更高等级环境应用的认证:温度等级必须设有产品寿命最差情况和应用设计,即每个试验中至少要有一个批次进行针对更高工作温度等级环境应用进行验证。

AEC_Q200-005

AEC_Q200-005

Attachment 5PASSIVE COMPONENTSURFACE MOUNTED DEVICES Board Flex / Terminal Bond Strength TestMETHOD - 005PASSIVE COMPONENTBoard Flex / Terminal Bond Strength Test1.0 SCOPE1.1 DESCRIPTION:This specification establishes the procedure and criteria for evaluating the Terminal Strength of a Surface Mount Component when mounted on a PCB during a Board Flex.1.2 Reference Documents:Not Applicable2.0 EQUIPMENT:2.1 Test Apparatus:The apparatus required for testing shall be equivalent to the fixture shown in Figure 1.3.0 TEST PROCEDURE:3.1 Sample Size:The total number of components and lots to be tested are listed in Table 1 of AEC-Q200specification.3.2 Test Environment :1. Part mounted on an FR4 board provided by the Supplier for the part being tested with thefollowing requirements:2. Land pattern is supplier's standard for part being tested.3. Part mounted on a 100mm X 40mm FR4 PCB board, which is 1.6mm ± 0.2 mm thick and has aLayer-thickness 35 µm ± 10 µm. Part should be mounted using the following Soldering Reflowprofile:Preheat temperature (125°C ± 25°C) max 120 sec.Time above 183°C 60 sec. – 150 sec.Max. ramp up (183°C to peak) ≤ 3°C / sec.Peak temperature 235°C + 5°CTime in peak temperature 10 sec. – 20 sec.Ramp down rate ≤ 6°C / sec.4. Place the 100mm X 40mm board into a fixture similar to the one shown in Figure 1 with thecomponent facing down. The apparatus shall consist of mechanical means to apply a forcewhich will bend the board (D) x = 2 mm minimum (or as defined in the customer specification or Q200). The duration of the applied forces shall be 60 (+ 5) Sec. The force is to be applied onlyonce to the board.Figure 1 Test Fixture3.3 Measurement:Prior to beam load testing, complete the external Visual test in Q200. A test monitor shall be used to detect when a part cracks or a termination failure occurs. (example: Megohmeterattached with leads during the time the force is being applied to a Ceramic Capacitor. A crack would cause a deflection of the needle towards zero.)3.4 Failure:A failure is when a part cracks or causes a change in the parametric being monitored.Revision HistoryRev # Date of change Brief summary listing affected paragraphs February 10, 2005 Initial Release.。

aec 标准清单

aec 标准清单

aec 标准清单
AEC标准是指建筑、工程和建筑材料领域的标准化规范,其目的是为了确保建筑和工程项目的质量、安全和可持续性。

AEC标准包括建筑设计、施工、维护和拆除等各个环节,涉及到建筑材料、结构、机电设备、安全、环保等多个方面。

AEC标准的制定和实施对于建筑和工程行业的发展至关重要。

首先,AEC标准可以提高建筑和工程项目的质量和安全性。

通过规范化的设计、施工和维护流程,可以减少建筑和工程项目中的错误和事故,提高项目的可靠性和稳定性。

其次,AEC标准可以促进建筑和工程行业的可持续发展。

通过规范化的环保要求和节能要求,可以减少建筑和工程项目对环境的影响,降低能源消耗和碳排放,实现可持续发展的目标。

最后,AEC标准可以促进建筑和工程行业的国际化发展。

由于AEC标准是国际通用的标准,因此可以促进不同国家和地区之间的建筑和工程项目的交流和合作,推动建筑和工程行业的国际化发展。

AEC-Q系列是一套汽车电子元件的可靠性验证规范,它包括六个大家族,分别是AEC-Q100(IC集成电路,MCU等)、AEC-Q101(分离元件,MOS、IGBT、二极管、三极管、稳压管、TVS、可控硅等)、AEC-Q102(离散光电元件,LED 等)、AEC-Q103(微机电系统MEMS,MEMS传感器等)、AEC-Q104(MCM多晶片模组,SOC、SOM,SiP等)以及AEC-Q200(被动元件,电阻、电容、电感、变压器、频率元件等)。

这些标准主要涉及汽车电子元件的可靠性验证,包括环境应力测试、寿命仿真测试等多个方面。

总之,AEC标准是建筑、工程和建筑材料领域的重要规范,旨在确保项目的质量和安全性,同时推动行业的可持续发展和国际化发展。

Resistor.Today-AECR系列车规贴片电阻规格书

Resistor.Today-AECR系列车规贴片电阻规格书

AECR车规厚膜电阻符合AEC -Q200认证,高可靠性,高稳定性,耐硫化电性能稳定,适应回流焊和波峰焊,符合ROHS 指令要求驾驶和生命安全息息相关,被动元件汽车级品质认证(AEC -Q200)要求每个零件都要达到最高的质量和可靠性,甚至接近于零的失效率。

以美军标为参考蓝本,AEC -Q200规定了电阻认证需要进行的一些可靠性试验,其中包括寿命试验,温度循环,偏高湿度,高温存储,高温工作,湿度抵抗等等。

车规级别的厚膜电阻除了可以用于各类车辆外,也可以用于所有高可靠性要求的场合,例如医疗产品,电力设备,铁路通讯,仪器仪表等。

选择一款符合AEC -Q200认证的厚膜贴片电阻A, 跨接线电阻阻值代码0000,精度代码为F(阻值小于10mΩ),例如:AECR2512F0000K9 (2512 0Ω 2A);B, 0402,0603尺寸的跨接电阻额定电流为1A,0805尺寸以上额定电流为2A ,最大过载电流为额定电流的1倍;C, 储存条件为5-30°C °C ,相对湿度30%-70%。

温度系数额定功率%环境温度°C1007550250-55°C+70°C-75-50-250+25+50+75+100+125+150+175标准包装0402060310000/盘标准尺寸包装数量08055000/盘5000/盘120612105000/盘20104000/盘5000/盘25124000/盘1R-10R >10R-1M ±250ppm(T)阻值范围温度系数>1M-10M±250ppm(T)±100ppm(K)AECR车规厚膜电阻推荐回流焊曲线推荐波峰焊曲线。

可靠性试验(AEC-Q200-REV C )

可靠性试验(AEC-Q200-REV C )

1.范围除另外说明外,本标准应用于AT切型晶体内部,仅限汽车客户的所有类型。

2.可靠性规格表1:可靠性测试的样品每部分进行测试的要求的规定2.1必要测试(AEC-Q200-REV C测试和HKA 测试)进行表2中的AEC-Q200-REV C 测试加上表3中的HKA测试,并且进行表2中(测试NO.14)和表3中(测试NO.110)的振动测试。

2.1.1AEC-Q200-REV C 测试表22.1.2HKA 表33.附录1表2中的测试21 板弯曲实验的附录如下:3.1范围3.1.1描述这个规格为评估挡板弯曲过程中贴装在PCB上时表面贴装组件的终端强度确立了过程和标准3.1.2参考文件无可适用3.2设备装置3.3测试仪器测试所用的设备应与图1所示相当。

3.3.1 样品数目元器件的数目和实验的lot,AEC-Q200-REV C的表2中已被列出。

3.3.2测试环境1.测试的组件贴装在一个由供应商提供的FR4板上,应符合以下要求2.平面模式是供应商为组件测试提供的标准3.组件放置在一个100mm×40mm FR4 PCB板上,板的厚度1.6mm×0.2mm,每层厚35μm±2μm,组件应在如下的回流曲线下贴装:预热温度:125℃±25℃,最长120秒。

183℃以上的时间:60秒-150秒文件编号: QWG-123版本号: O 修订人:邓志敏批核人:第7 页共10 页生效日期: 29/05/2008 复核人:到达最高点的速率(183℃到最高点)≤3℃/秒最高点温度:235℃+5℃到达最高点时间:10秒-20秒坡道下降速率≤6℃/秒4.安装100mm×40mm的板到一个类似于图2所示,器件面临下跌的夹具上,设备应该能用机械手段,即可应用一个强力来弯曲板(D)×=2mm 最小(或者定义在客户规格或者Q200)。

应用强力的持续时间应该是60(+)5秒。

AEC-Q200培训内容公开课获奖课件

AEC-Q200培训内容公开课获奖课件

8
DG
77 Note B
1
0
External Visual 外观
9
NG 全部提交认证旳产品
0
Physical Dimensions 尺寸
10
NG
30
1
0
Resistance to Solvent 溶剂抵抗
12
DG
5
1
0
N:非破坏性测试,器件可用于组装到板子上进行其他测试或者可用于生产;D:破坏性
2 MLCC认证要求及目旳
Change<=+/-x% 初始限制
个温度旳停留时间不
超出30分钟,转换时 间不超出1分钟。
IR 指定限制范围内 >=初始限制 >=初始限制
相应国 标
电性能
高温试验
温度循 环 高下温 冲击?
2 MLCC认证要求及目旳
表2-钽和陶瓷电容器参照措施
应力方式
No. 测试措施
附加要求
CP
Q
IR
Mechanical Shock 机械冲击
Vibration 振动
Resistance to SolderingHeat 抗焊接热 ESD静电放电 Solderability 可焊性
XYZ三个方向冲击
,半正弦脉冲,连
续时间0.5ms,峰 13 MIL-STD-202 Method 213
初始限制
值加速度1500g,
测试频率从10-2023
14 MIL-STD-202Method204
2.6经过认证测试旳原则: 经过了表1和表2里全部指定相应认证测试,或经过进行指定产品测试(使用要求旳少抽样数量时,接受零失效)或者证明可接受 旳产品系列旳通用数据(使用表1中指定旳系列和总需求旳批次和抽样数量),根据规范认证产品。 根据本规范,经过表1全部测试旳接受原则和表2中旳条件来认证。当表1中给定旳测试旳任何失效数量超出此程序使用旳验收 标按时,器件将不具有认证资格,直到在8D或者其他顾客可接受格式中拟定了失败根源,实施了纠正措施并确认有效。可能需 要新样品或者数据来验证纠正措施。 本规范中没有要求顾客需求旳个别可靠性测试或条件,它应在供给商与顾客需求旳测试间取得一致意见,且不阻碍器件经过本 规范中要求旳应力认证测试。

可靠性试验(AEC-Q200-REV C )

可靠性试验(AEC-Q200-REV C )

1.范围除另外说明外,本标准应用于AT切型晶体内部,仅限汽车客户的所有类型。

2.可靠性规格表1:可靠性测试的样品每部分进行测试的要求的规定2.1必要测试(AEC-Q200-REV C测试和HKA 测试)进行表2中的AEC-Q200-REV C 测试加上表3中的HKA测试,并且进行表2中(测试NO.14)和表3中(测试NO.110)的振动测试。

2.1.1AEC-Q200-REV C 测试表22.1.2HKA 表33.附录1表2中的测试21 板弯曲实验的附录如下:3.1范围3.1.1描述这个规格为评估挡板弯曲过程中贴装在PCB上时表面贴装组件的终端强度确立了过程和标准3.1.2参考文件无可适用3.2设备装置3.3测试仪器测试所用的设备应与图1所示相当。

3.3.1 样品数目元器件的数目和实验的lot,AEC-Q200-REV C的表2中已被列出。

3.3.2测试环境1.测试的组件贴装在一个由供应商提供的FR4板上,应符合以下要求2.平面模式是供应商为组件测试提供的标准3.组件放置在一个100mm×40mm FR4 PCB板上,板的厚度1.6mm×0.2mm,每层厚35μm±2μm,组件应在如下的回流曲线下贴装:预热温度:125℃±25℃,最长120秒。

183℃以上的时间:60秒-150秒到达最高点的速率(183℃到最高点)≤3℃/秒最高点温度:235℃+5℃到达最高点时间:10秒-20秒坡道下降速率≤6℃/秒4.安装100mm×40mm的板到一个类似于图2所示,器件面临下跌的夹具上,设备应该能用机械手段,即可应用一个强力来弯曲板(D)×=2mm 最小(或者定义在客户规格或者Q200)。

应用强力的持续时间应该是60(+)5秒。

强力应用板上仅可一次。

图1support 支撑点solder 焊料chip 芯片radius 半径printed circuit board before testing测试前的印刷电路板probe to exert bending force探测施加弯曲的力量printed circuit board under test测试中的印刷电路板3.3.3测量优先装载横梁测试,完成在Q200的外部视觉测试。

AEC--Q200

AEC--Q200

AEC-Q200被動(無源)組件應力測試認證規範
說明:
近年來,隨著車載應用設備多功能化的進展,而且在混合動力車以及電動汽車的普及進程中,以電源監視功能為首的新用途也在不斷地擴大,車+125℃、-55℃~+175℃)的高可靠性要求日益高漲,一台汽車是由許許多多的零件組成,這些零件雖然有大小,但是全部都與汽車駕駛的生命安全能達到最高品質與可靠度,甚至要求做到零缺陷的理想境界,所以在汽車產業中,汽車零件的品質控管的重要性往往凌駕於零件的功能性之上,這不一樣的,也就是說對於汽車零件而言,產品的最大通動力往往不是[最新技術],而是[品質安全]。

為了達到對品質要求的提升,就得靠嚴格管控程資格及品質系統標準的就是AEC(汽車電子委員會),針對於主動零件所設計出的標準為[AEC-Q100],針對於被動元件設計為[AEC-Q200],其規範了度。

AEC-Q100車用IC產品驗證流程圖:。

汽车电子元器件可靠性标准研究

汽车电子元器件可靠性标准研究

汽车电子元器件可靠性标准研究摘要:近年来,智能网联汽车已经成为汽车行业关注的焦点,发展智能网联汽车是我国汽车产业发展的方向和战略制高点,也是全球汽车产业大国的共识,因此智能网联汽车成为我国汽车产业转型升级的重要突破点。

相较于传统汽车,智能网联汽车的电子电气部件(系统)的数量及复杂程度会大幅增加,因此对于汽车电子元器件的可靠性提出更高的要求。

关键词:汽车;电子元器件;可靠性1 汽车电子元器件可靠性影响因素1.1 气候条件和地理条件汽车几乎在全世界所有陆路区域都有使用和运行,因此汽车电子元器件的可靠性需要综合考虑温度、湿度、降水、大气条件、空气质量以及海拔高度等多种复杂多样的因素。

1.2 车辆类型不同的车辆类型,其动力系统、车辆尺寸、电压范围以及电气架构等都不相同,对汽车电子元器件的可靠性设计均有影响。

1.3 车辆的使用条件和工作模式车辆的使用条件如道路条件、地形条件、交通复杂程度以及驾驶习惯等;车辆的工作模式如怠速、起步和加减速等。

1.4 车辆的使用寿命车辆的使用寿命一般在十年以上,为保证在车辆整个生命周期内的运行可靠性,汽车电子元器件的设计寿命一般在二十年左右,相较于用于其他民用消费品的电子元器件,使用寿命要求较高。

1.5 车辆内的安装位置汽车电子系统(组件)安装在车辆的不同位置,其环境耐受性要求不同。

比如,安装在发动机舱、乘客舱和行李舱的电子系统/组件的温度范围各不相同。

2 汽车电子协会(AEC)介绍美国汽车电子协会(AEC)最初是由克莱斯勒、福特和通用汽车等联合成立的组织,目的是建立通用的汽车元器件可靠性和质量体系标准。

从成立之初,AEC由质量体系委员会和组件技术委员会两个委员会组成。

其中,质量体系委员会已经解散。

组件技术委员会的目标是制定可靠的、高质量的电子组件标准,满足这些标准的电子组件在复杂恶劣的汽车环境中使用,也能保持一定的可靠性水平。

组件技术委员会的工作重点是研究和制定集成电路、分立半导体和无源电子元件等汽车电子元器件可靠性标准。

AECQ相关

AECQ相关

标签:AECQAECQ信息汇总最近在整理元器件方面的资料,涉及ROSH与AECQ的信息,下面整理了AE CQ的信息。

克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC),AEC 是“Automotive Electronics Council:汽车电子协会”之略,是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体,AEC建立了质量控制的标准。

同时,由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用,促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿,并推动了汽车零件通用性的实施,为汽车零部件市场的快速成长打下基础。

主要的汽车电子成员有:Autoliv, Co ntinental, Delphi, Johnson Controls 和Visteon。

AEC-Q100:主要用于预防产品可能发生各种状况或潜在的故障状态,引导零部件供货商在开发的过程中就能采用符合该规范的芯片。

AEC-Q100对每一个芯片个案进行严格的质量与可靠度确认,确认制造商所提出的产品数据表、使用目的、功能说明等是否符合最初需求的功能,以及在连续使用后个功能与性能是否能始终如一。

A EC-Q100标准的目标是提高产品的良品率,这对芯片供货商来说,不论是在产品的尺寸、合格率及成本控制上都面临很大的挑战。

AEC-Q100又分为不同的产品等级,其中第1级标准的工作温度范围在-40℃-1 25℃之间,最严格的第0级标准工作温度范围可达到-40℃-150℃。

0 等级:环境工作温度范围-40℃-150℃1 等级:环境工作温度范围-40℃-125℃2 等级:环境工作温度范围-40℃-105℃3 等级:环境工作温度范围-40℃-85℃4 等级:环境工作温度范围0℃-70℃AEC - Q100 Rev - G base: 集成电路的应力测试标准(不包含测试方法)AEC-Q100-001 邦线切应力测试AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR)AEC-Q100-009 电分配的评估AEC-Q100-010 锡球剪切测试AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述AEC - Q101 Rev - C: 分立半导体元件的应力测试标准(包含测试方法)* AEC - Q101-001 - Rev-A: 人体模式静电放电测试* AEC - Q101-002 - Rev-A: 机械模式静电放电测试* AEC - Q101-003 - Rev-A: 邦线切应力测试* AEC - Q101-004 - Rev-: 同步性测试方法* AEC - Q101-005 - Rev-A: 带电器件模式的静电放电测试* AEC - Q101-006 - Rev-: 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述AEC - Q200 Rev - C: 半导体被动元件的应力测试标准(包含测试方法)* AEC - Q200-001 - Rev-A: 阻燃性能测试* AEC - Q200-002 - Rev-A: 人体模式静电放电测试* AEC - Q200-003 - Rev-A: 断裂强度测试* AEC - Q200-004 - Rev-: 自恢复保险丝测量程序* AEC - Q200-005 - Rev-: PCB板弯曲/端子邦线应力测试* AEC - Q200-006 - Rev-: 端子应力(贴片元件)/切应力测试* AEC - Q200-007 - Rev-: 电压浪涌测试AEC-Q001 零件平均测试指导原则提出了所谓的参数零件平均测试(PPAT)方法。

AEC Q200试验条件

AEC Q200试验条件

AEC Q200試驗條件說明:AEC-Q200的環境試驗條件,主要是依據MIL-STD-202與JEDEC22A-104規範來制定的,不同零件的試驗溫度除了不一樣之外,其施加電源(電壓、電流、負載)要求也會有所不同,高溫儲存屬於不施加偏壓與負載,但是在高溫工作壽命就需要,溫度迴圈與溫度衝擊,其試驗目的與手法不一樣,在溫度迴圈中高低溫變化需控制溫變率,溫衝擊則不用,偏高濕度就是俗稱的高溫高濕試驗,而濕度抵抗就是濕冷凍試驗試驗條件注意事項:1000h試驗過程需在250h、500h進行間隔量測高溫儲存(MIL-STD-202-108):[適用設備:THS]薄膜電容、網路低通濾波器、網路電阻、熱敏電阻、可變電容、可變電阻、陶瓷共鳴器、EMI干擾抑制器、EMI干擾篩檢程式:85℃/1000h電感、變壓器、電阻:125℃/1000h變阻器:150℃/1000h鉭電容、陶瓷電容、鋁電解電容:最大額定溫度/1000h高溫工作壽命(MIL-STD-202-108):[適用設備:THS]網路低通濾波器、網路電阻:85℃/1000hEMI干擾抑制器、EMI干擾篩檢程式:85℃/1000h/施加額定IL鉭電容、陶瓷電容:最大額定溫度/1000h/ (2/3)負載/額定電壓鋁電解電容、電感、變壓器:105℃/1000h薄膜電容:1000h/(85℃/125%額定電壓、105℃&125℃/100%額定電壓)自恢復保險絲:125℃/1000h電阻、熱敏電阻、可變電容:125℃/1000h/額定電壓可變電阻:125℃/1000h/額定功率變阻器:125℃/1000h/額定電壓85%+ma電流陶瓷共鳴器:85℃/1000h/額定VDD+1MΩ,並聯逆變器,在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容石英震盪器:125℃/1000h/額定VDD+1MΩ,並聯逆變器,在每個晶體腳和地之間有2X的晶體CL電容溫度迴圈(JEDEC22A-104):[適用設備:TSR、ESS]薄膜電容、可變電容、可變電阻、陶瓷共鳴器、EMI干擾抑制器、EMI干擾篩檢程式:-55℃(30min)←→85℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles 鉭電容、陶瓷電容、電阻、熱敏電阻: -55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles鋁電解電容:-40℃(30min)←→105℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles電感、變壓器、變阻器、石英震盪器、自恢復保險絲:-40℃(30min)←→125℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles網路低通濾波器、網路電阻:-55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles以下列出环境条件与产品失效之关联性:⊙汽车相关气候性试验:。

AEC Q200-005 被动元件板弯测试方法

AEC Q200-005 被动元件板弯测试方法

方法-005被动元件、表面贴装陶瓷电容板弯测试1.0 范围1.1 描述:本规范建立程序和标准以确定表面贴装元件的焊端和封装在印制电路上进行处理和装配时耐受弯折、挠曲和推力的能力。

1.2 参考文献:无2.0 设备:2.1 测试夹具:待测的全部元件和批次列出在AEC-Q200规范的表1。

3.0 测试程序:3.1 样品尺寸:待测的全部元件和批次列出在AEC-Q200规范的表1。

3.2 测试环境:1. 安装在一块由供应商提供的FR4 板上的待测元件需满足下列条件:2. 待测元件的焊盘类型满足供应商的标准3. 元件安装在一块100mm ×40mm FR4 PCB 板,板厚为1.6mm±0.2mm 厚和层厚35μm±10μm。

元件应该使用下面的回流曲线焊接。

预热温度(125℃±25℃)最大120秒。

温度超过183℃的时间:60秒~150秒最大的上升速率(183℃至峰值)≤3℃/秒。

峰值温度保温时间:10秒~20秒降温速率≤6℃/秒4. 将这块100mm ×40mm 板放置进一个类似于图1的夹具并保持元件面朝下。

这个夹具应该包括机械办法施加一个力,这个力使板弯曲至少x=2mm(或者由客户规格书或Q200中定义)。

施加力的持续时间60(+5)秒。

力仅施加一次。

图 13.3 测量:在梁负载测试之前,在完成Q200外部目视检测之后进行。

需要使用测试监视器用来检查元件裂缝或者焊端失效。

(例如:兆欧表连接到引脚在力施加到陶瓷电容器期间,裂缝会引起指针偏向零。

)4.0 失效标准失效是指元件出现裂缝或者引起监测的参数出现变化。

电路板材料表面弯曲强度测试实验

电路板材料表面弯曲强度测试实验

结论总结:总结实验结果,提出改进建
04
议,为电路板材料的选择和优化提供参
考。
实验结果的解释和讨论
01
实验数据:展示了不同材料在弯曲强度
测试中的具体数值。
02
结果对比:对比了不同材料之间的弯曲
强度差异,揭示了材料性能的差异。
结果分析:通过数据分析和图表展示,
03 深入探讨了材料表面弯曲强度与实际应
用的关系。
能力
匹配程度:材 料性能与预期 用途的符合程

实验结果:弯 曲强度测试结 果与预期用途
的匹配程度
结论:材料性 能与预期用途 的匹配程度对 电路板设计的
影响
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对电路板设计和生产的建议
选用合适的材 料和工艺,提 高电路板的弯
曲强度
优化电路板设 计,避免过度 弯曲和应力集

03
定期检查设备: 定期对实验设 备进行检查和 维护,确保设 备正常运行, 避免设备故障 导致安全事故。
04
应急处理措施: 了解实验过程 中可能出现的 危险情况,并 熟悉应急处理 措施,以便在 紧急情况下迅 速应对。
05
实验设备的维护和保养
02
保持设备清洁,避免灰
尘、油污等影响设备性
01

定期检查设备各部件是
研究材料在受到 材料在受到弯曲 通过材料力学公 因素:材料的弹 包括弹性弯曲、 意义:通过测试
弯曲力作用下的 力时抵抗破坏的 式,可以计算材 性模量、截面形 塑性弯曲和断裂 材料的弯曲强度,
应力、应变和破 能力,通常以单 料在受到弯曲力 状和尺寸、弯曲 弯曲等,不同形 可以评估材料的
坏规律的力学分 位面积上的最大 作用下的应力分 半径等都会影响 式的破坏对应着 力学性能和可靠

AEC-Q200试验项目以及要求中文

AEC-Q200试验项目以及要求中文

77pcs
1 0
湿度存储
7
77pcs
1 0
工作寿命
8
MIL-PRF-27
77pcs
1 0
外观
9
MIL-STD-883 2009
所有提交认 证的产品
0
尺寸
10
JESD22 Method JB-100 按器件详细规格验证物理尺寸。 不要求电气测试。 MIL-STD-202 211 MIL-STD-202 215 MIL-STD-202 213 Method 条件:A(910g), C(1.13kg),E(1.45kg-mm)
Method 5g , 20min , 频率 10~20000Hz , DG XYZ三方向每方向12个循环。 器 件 焊 接 在 203mm*127mm*0.8mm 的 PCB 上,一侧长边安置 7 个固定点,另 外 2 个固定点位于对角位置,器件 距离固定点50mm以内; Method 条件 B,样品不进行预热。注意: DG 单一波峰焊-表贴元件按照程序2; 插针产品按照程序 1 进行焊接,浸 入器件本体1.5mm的深度。 或 D
0 1 0
高温存储
3
MIL-STD-202 Method108
77pcs
温度循环
4
JESD22 Method JA-104 1000个循环(-40~125℃) DG 每个温度的驻留时间 30min ,转换 时间不超过1min。 试验结束后 24+-4 小时内进行电气 测试 MIL-STD-202 Method103 在温度85℃,湿度85%的条件下放 DG 置1000小时,不通电。试验结束后 24+-4小时进行电气测试。 DG 125℃,1000小时; 器件需通电工作; 125 ℃包括器件 本体因通电产生的温度; 试验结束后 24+-4 小时进行电气测 试。 Method 检查器件结构,标识和工艺质量; NG 不要求电气测试;

AECQ200标准阻燃试验方法解析

AECQ200标准阻燃试验方法解析

0引言AEC 是"Automotive Electronics Council"的简称[1],一般翻译为:美国汽车电子委员会或者美国汽车电子协会。

最早是由美国克莱斯勒、美国福特和美国通用三家汽车公司为建立一套通用的汽车零部件产品资质及质量系统标准而设立的委员会或者协会组织(AEC)。

该委员会是美国主要汽车制造商与美国的主要零部件制造商汇聚一起成立的,以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规范化为目的的团体。

汽车产品与一般的消费类产品相比具有更高的安全性和可靠性要求,而这个安全性和可靠性是与整个汽车产品所使用的零部件质量水平密切关联的。

作为整车厂商而言,对于汽车产品所使用的每个零部件都要求能达到最高的质量水平与极高的可靠性要求,甚至要求能实现零缺陷(Zero Defect)的理想状态。

汽车零部件产品发展的最大推动力更多的是来自于对汽车产品的质量水平和可靠性的不断追求。

自1994年成立至今,AEC 针对汽车用零部件产品建立了详细而严格的质量控制的标准,而AEC-Q200系列标准是针对无源器件应力测试的标准,具体涉及的零部件产品有:(1)各类电容器产品,如钽电解电容器、铝电解电容器、陶瓷电容器、薄膜电容器等;(2)各类磁性元件产品,如固定电感器、变压器;(3)各类电阻器产品,如碳膜电阻器、金属膜电阻器、线绕电阻器等;(4)热敏电阻器产品;(5)石英晶体产品;(6)可变电阻器/电容器产品;(7)陶瓷蜂鸣片产品;(8)铁氧体EMI 抑制器和滤波器产品;(9)保险丝产品。

针对每一款车用电子零部件产品,AEC-Q200都有着极其明确的试验标准、试验方法、样品数量和判定要作者简介院刘莹(1973-),女,高级工程师,大学,从事检验业务管理工作。

宋继军(1963-),男,教授级高级工程师,大学,从事检验方法、标准研究及业务管理工作。

AEC-Q200标准阻燃试验方法解析AEC-Q200Standard Flame Retardant Test Method Analysis刘莹,宋继军(江苏省电子信息产品质量监督检验研究院,江苏无锡214073)Liu Ying,Song Ji-jun (Jiangsu Electronic Information Products Quality Supervision and Inspection Institute,Jiangsu Wuxi 214073)摘要:该文主要根据美国汽车电子委员会(Automotive Electronics Council)的标准AEC-Q200和阻燃试验的要求,结合自身工作中的一些经验,对AEC-Q200附录1的相关试验方法做一解读,以期使得从事汽车电子元器件的企业和从事汽车电子产品检测的工作人员能对阻燃试验标准和方法有比较清晰的了解。

AECQ相关

AECQ相关

标签:AECQAECQ 信息汇总最近在整理元器件方面的资料,涉及 ROSH 与AECQ 的信息,下面整理了 AE CQ 的信息。

克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了 汽车电子委员会(AEC ),AEC 是“Automotive Electronics Council :汽车电子协 会”之略,是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载 电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体, AEC 建立了质量控制 的标准。

同时,由于符合 AEC 规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用,促 进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿,并推动了汽车零件通用性的实 施,为汽车零部件市场的快速成长打下基础。

主要的汽车电子成员有:Autoliv, Continental, Delphi, Johnson Controls 和 Visteon 。

-G base:集成电路的应力测试标准(不包含测试方法) 邦线切应力测试 人体模式静电放电测试 机械模式静电放电测试 集成电路闩锁效应测试 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 故障仿真和测试等级 早期寿命失效率(ELFR ) 电分配的评估 锡球剪切测试 带电器件模式的静电放电测试 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC - Q101 Rev - C:分立半导体元件的应力测试标准(包含测AEC-Q100 :主要用于预防产品可能发生各种状况或潜在的故障状态,引导零部件供货商在开 发的过程中就能采用符合该规范的芯片。

AEC-Q100对每一个芯片个案进行严格 的质量与可靠度确认,确认制造商所提出的产品数据表、 使用目的、功能说明等 是否符合最初需求的功能,以及在连续使用后个功能与性能是否能始终如一。

A EC-Q100标准的目标是提咼产品的良品率,这对芯片供货商来说,不论是在产 品的尺寸、合格率及成本控制上都面临很大的挑战。

AEC-Q200培训教材

AEC-Q200培训教材

测试频率从10-2000赫兹,5g/s的力20分钟, 初始限制 三个方向每个方向12个循环。 260±5℃,时间10±1s,浸入深度1.27mm / C 水蒸*h, (助焊剂:松香+异丙醇) 255±5 º ,深度为0.10mm,停留时间5s+0.5s/-0
15 17 18
MIL-STD-202Method210 AEC-Q200-002 Or ISO/DIS10605 J-STD-002
二、条款简要内容
1.1 描述 AECQ 定义了无源电子器件的低应力测试认证要求和参考测试条件。使用本标准并不是要解除供应商自己内部认证项目的责 任性。在本文中,其中的用户被定义为所有按照规格书使用其认证器件的用户,用户有责任去证实确认所有的认证数据与本 文件相一致。 1.1.1 应力认证测试的定义:应力认证测试定义为成功地完成本标准中定义的测试。每一种无源电子器件要求的低温度范围 (大能力)以及各等级的典型运用案例(指定应用)列于下表: 如果成功完成备注中的器件类型达到的低温度等级的资格认证,那么将允许供应商声称他们的零件通过了该等级或更低等级 的“AEC认证”。对于低于上述低温度的资格鉴定,将仅允许供应商声称他们的零件通过了较低等级的“AEC认证”。
Change<=+/-x% 初始限制 初始限制 初始限制
初始限制 初始限制
耐焊接热 ESD 可焊性
根据AEC-Q200–不需要电气测试
Electrical Characterization 电气特性
19
UserSpec.用户规格
按批次和样品数量要求进行参数试验,总结 列出室温下及低,高工作温度下器件的小值, 初始限制 初始限制 大值,平均值和标准偏差。至少要测量低温 Change<=+/-x% 无要求 度/室温/高温度下的参数CP,DF,IR。见参数 表格中的建议。 只适用于MLCC,至少60秒的支撑时间

高低温试验箱汽车电子AEC-Q200无源器件应力测试标准

高低温试验箱汽车电子AEC-Q200无源器件应力测试标准

高低温试验箱汽车电子AEC-Q200无源器件应力测试标准AEC-Q200的环境试验条件,主要是依据MIL-STD-202与JEDEC22A-104规范来制定的,不同零件的试验温度除了不一样之外,其施加电源(电压、电流、负载)要求也会有所不同,高温储存属于不施加偏压与负载,但是在高温工作寿命就需要,温度循环与温度冲击,其试验目的与手法不一样,在温度循环中高低温变化需控制温变率,温冲击则不用,偏高湿度就是俗称的高温高湿试验,而湿度抵抗就是湿冷冻试验。

高温储存(MIL-STD-202-108):推荐BYH系列高低温试验箱薄膜电容、网络低通滤波器、网络电阻、热敏电阻、可变电容、可变电阻、陶瓷共鸣器、EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器:85℃/1000h电感、变压器、电阻:125℃/1000h变阻器:150℃/1000h钽电容、陶瓷电容、铝电解电容:最大额定温度/1000h温度循环(JEDEC22A-104):推荐BYS系列快速温变试验箱()薄膜电容、可变电容、可变电阻、陶瓷共鸣器、EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器:-55℃(30min)←→85℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles钽电容、陶瓷电容、电阻、热敏电阻:-55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles铝电解电容:-40℃(30min)←→105℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles 电感、变压器、变阻器、石英震荡器、自恢复保险丝:-40℃(30min)←→125℃(30min)/RAMP (15℃/min)/1000cycles网络低通滤波器、网络电阻:-55℃(30min)←→125℃(30min) /RAMP(15℃/min)/1000cycles偏高湿度(MIL-STD-202-103):推荐BYH系列高低温试验箱钽电容、陶瓷电容:85℃/85%R.H./1000h/电压1.3~1.5V电感&变压器:85℃/85%R.H./1000h/不通电铝电解电容:85℃/85%R.H./1000h/额定电压EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器:85℃/85%R.H./1000h/额定电压&电流电阻、热敏电阻:85℃/85%R.H./1000h/工作电源10%自恢复保险丝:85℃/85%R.H./1000h/额定电流10%可变电容、可变电阻:85℃/85%R.H./1000h/额定功率10%网络低通滤波器&网络电阻:85℃/85%R.H./1000h/电压[网络电容(额定电压)、网络电阻(10%额定功率)]变阻器:85℃/85%R.H./1000h/额定电压85%+ma电流石英震荡器、陶瓷共鸣器:85℃/85%R.H./1000h/额定VDD+1MΩ,并联逆变器,在每个晶体脚和地之间有2X的晶体CL电容薄膜电容:40℃/93%R.H./1000h/额定电压。

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方法-005
被动元件、表面贴装陶瓷电容板弯测试
1.0 范围
1.1 描述:
本规范建立程序和标准以确定表面贴装元件的焊端和封装在印制电路上进行处理和装配时耐受弯折、挠曲和推力的能力。

1.2 参考文献:无
2.0 设备:
2.1 测试夹具:
待测的全部元件和批次列出在AEC-Q200规范的表1。

3.0 测试程序:
3.1 样品尺寸:
待测的全部元件和批次列出在AEC-Q200规范的表1。

3.2 测试环境:
1. 安装在一块由供应商提供的FR4 板上的待测元件需满足下列条件:
2. 待测元件的焊盘类型满足供应商的标准
3. 元件安装在一块100mm ×40mm FR4 PCB 板,板厚为1.6mm±0.2mm 厚和层厚35μm±10μm。

元件应该使用下面的回流曲线焊接。

预热温度(125℃±25℃)最大120秒。

温度超过183℃的时间:60秒~150秒
最大的上升速率(183℃至峰值)≤3℃/秒。

峰值温度保温时间:10秒~20秒
降温速率≤6℃/秒
4. 将这块100mm ×40mm 板放置进一个类似于图1的夹具并保持元件面朝下。

这个夹具应该包括机械办法施加一个力,这个力使板弯曲至少x=2mm(或者由客户规格书或Q200中定义)。

施加力的持续时间60(+5)秒。

力仅施加一次。

图 1
3.3 测量:
在梁负载测试之前,在完成Q200外部目视检测之后进行。

需要使用测试监视器用来检查元件裂缝或者焊端失效。

(例如:兆欧表连接到引脚在力施加到陶瓷电容器期间,裂缝会引起指针偏向零。


4.0 失效标准
失效是指元件出现裂缝或者引起监测的参数出现变化。

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