Hall8800霍尔效应测试仪(300K and 77K)

产品应用
应用范围： 研究半导体器件和半导体材料电学特性、精密测量半导体材料的载 流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数；
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
规格
2-1 sample size: 5mmx5mm----20mmx20mm 样品尺寸: 5mmx5mm---20mmx20mm(可定制其它各类尺寸) Sample thickness：~3mm 厚度：~3mm 2-2 Measurement Temperature: room temperature 300K 、77K 测试温度: 室温~300K及77K低温组件) 2-3 Measurement Material: Semiconductors material such as Si, SiGe, SiC,GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO (N Type & P Type) 测试材质:半导体类材质、如： Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄 膜(P型和N型) 2-4 Magnet Flux Density: 0.48 Tesla～0.68Tesla 磁场强度: 0.48 Tesla～0.68Tesla(视磁铁间距不同而有所差异)
2-11 Resistivity (Ohm.cm): 10-5 to 107 电阻率 (Ω.㎝): 10-5 to 107 2-12 Mobility (cm2/Volt.sec): 1 ~ 107 迁移率(cm2/Volt.sec): 1 ~ 107 2-13 Carrier Density (cm-3): 107 ~ 1021 载流子浓度(1/cm-3): 107 ~ 1021 2-14 Dimensions(L/W/H): 390mm*360mm*120mm 尺寸：390mm*360mm*120mm 2-15 Weight:6.2kg 重量：6.2kg
2-5 Magbnet Stability: ±2% over 1 years 稳定性: ±2% （超过一年） 2-6 Uniformity: ± 1% over 30mm diameter from center 均匀度：± 1%(从中心点至20mm直径圆范围内) 2-7 Pole Gap:20 mm 磁极间隙：20毫米 2-8 Output current:: 1nA~100mA 输出电流：1nA~100mA 2-9 Input voltage range: 1μV to 300V 输入电压范围：1μV ~300V 2-10 Hall voltage range: 10uV to 2000mV 霍尔电压范围: 10uV to 2000mV
Hall8800霍尔效应测试仪 （300K and 77K） Hall Effect Measurement System HALL8800 (300K and 77K)
Precision Systems Industrial Limited. 普西工业有限公司
概述
HALL8800（300K and 77K）型霍尔效应测量系统主要为结合霍
尔效应及van der pauw方法四点测量分析薄膜材料的电阻率，载 子浓度（N Type & P TYPE）及迁移率等相关参数信息，温度范围 在室温(300K)及77K环境下测试；另外HALL8686型及HALL8888 型可提供变温环境测试，温度范围分别为：77K-423K/77K-623K。 薄膜材料包括Si，Ge，sige,sic,gaas,ingaas,inp,gan,zno,graphene 等各类半导体材料，HALL系列霍尔效应测试仪可应用于科学研 究，教育以及产品测试等研发应用。