钢轨探伤工2[1].中级工知识分享

钢轨探伤工2[1].中

级工

第二部分中级工

一、选择题

1.当频率和材料一定时，通常横波对小缺陷的检测灵敏度高于纵波，这是因为

(A)。

(A)横波比纵波的波长短(B)横波对材料不易发散

(C)横波的质点振动方向对缺陷较敏感(D)横波比纵波的波长长

2.探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是(D)。

(A)聚焦探头(B)直探头(C)斜探头(D)串列双斜探头

3.用单探头法探测两个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量(C)。

(A)面积大的，当量也一定大(B)面积大的，当量不一定比面积小的大

(C)面积大的，当量反而比面积小的小(D)相等

4.用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率(C)。

(A)愈高愈好(B)愈低愈好(C)不太高(D)较寻常时取高值

5.如果探测面毛糙，应该采用(A)。

(A)不太高频率的探头(B)较高频率的探头(C)硬保护膜探头(D)大晶片探头

6.直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为

0.004dB/mm，前者底面回波为满幅度的80％时，则后者底面回波应为其(C)。

(A)5％(B)10％(C)20％(D)40％

7.探头的近场长度由下式决定(式中λ 波长，f频率，D晶片直径)(C)。

(A)N＝1.22λ /D(B)N＝D/4λ(C)N＝D2/4λ(D)N＝2/D

8.超声波垂直于界面入射时，其声压反射率为(A)。

(A)r＝(Z2－Z1)/(Z2＋Z1)(B)r＝2Z1/(Z1＋Z2)(C)r＝4Z1/(Z1＋Z2)(D)r＝2(Z1＋Z2)

9.一般认为，超声波探伤用活塞波探头，其声场的不扩散区域长度等于(B)。

(A)一倍近场N(B)1.6N(C)3N(D)2.4N

10.TB/T 2340-2000标准规定，0°探头探测WGT-3试块110mm底面，当波高达到80％时，灵敏度余量不小于(D)。

(A)32dB(B)38dB(C)42dB(D)36dB

11.TB/T 2340-2000标准规定，0°探头探测深度20mm到距离幅度特性曲线最高点范围内，∆W≤(D)。

(A)6dB(B)8dB(C)10dB(D)12dB

12.TB/T 2340-2000标准规定，37°和70°探头探测WGT-3试块上φ 3×65横通孔，当波高达到80％时的灵敏度余量不小于(D)。

(A)46dB(B)42dB(C)36dB(D)40dB

13.为了保证三极管工作在放大区、在组成放大电路时，外加电源的极性应使三极管的发射结处于(A)。

(A)正向偏置状态(B)反向偏置状态(C)正向或反向偏置状态(D)饱和状态

14.为了保证三极管工作在放大区、在组成放大电路时，外加电源的极性应使三极管的集电结处于(B)。

(A)正向偏置状态(B)反向偏置状态(C)正向或反向偏置状态(D)饱和状态

15.当计算放大电路的静态工作点时，必须按(A)来考虑。

(A)直流通路(B)交流通路(C)直流或交流通路(D)无电流

16.放大电路不外加输入信号，也可以有输出电压，这种状态称为(A)。

(A)自激振荡(B)它激振荡(C)自激振荡或它激振荡(D)共振

17.无论放大电路输出端采用电压反馈还是电流反馈，只要输入端采用并联负反馈的方式，其输入电阻都要(A)。

(A)减小(B)不变(C)放大(D)增加(1＋AF)倍

18.无论放大电路输入端采用串联反馈还是并联反馈，只要输出端采用电压负反馈的方式，其输出电阻都要(A)。

(A)减小(B)不变(C)放大(D)增加(1＋AF)倍

19.声速主要取决于(C)。

(A)密度(B)弹性(C)密度和弹性(D)声阻抗

20.用以确切地表示探伤仪中某电路系统的结构、原理，并由线条、箭头、数字、波形表示的图形称为(A)。

(A)方块图(B)设计图(C)电路图(D)流程图

21.超声波探伤激励晶片振动的电脉冲产生于(C)。

(A)接收电路(B)同步电路(C)发射电路(D)扫描电路

22.在同一介质中，超声波的声强与声压的平方(A)。

(A)成正比(B)成反比(C)不成比例(D)关系不确定

23.用K2探头探测T＝15mm的对接焊缝，仪器按水平1：1调节扫描速度，探伤中示波屏上水平刻度5格发现一缺陷波，此缺陷的深度(B)。

(A)2.5mm(B)5mm(C)7.5mm(D)10mm

24.用K2探头探测T＝40mm的对接焊缝，仪器按深度1：1调节扫描速度，探伤中在示波屏水平刻度3格处发现一缺陷波，这个缺陷的水平距离为(D)。

(A)15mm(B)30mm(C)45mm(D)60mm

25.用K2探头探测T＝40mm的对接焊缝，仪器按深度1：1调节扫描速度，探伤中在示波屏水平刻度6格处发现一缺陷波，这个缺陷的水平距离为(C)。

(A)60mm(B)90mm(C)120mm(D)150mm

26.焊缝探伤中发现位于(C)的缺陷要测定缺陷波的幅度和指示长度。

(A)定量线(B)定量线以上(C)定量线以下10％(D)定量线以下

27.一般探头发射的声场只有一个主声束，远场区轴线上声压(B)。

(A)最小(B)最大(C)比轴线两侧声压低(D)比轴线两侧声压高

28.电路中原来不该相连接的地方出现了连接导通，这种情况通常称为(B)。

(A)开路(B)短路(C)通路(D)分路

29.硅二极管正向导通电压为(D)。

(A)0.1～0.3V(B)0.2～0.3V(C)0.5～0.7V(D)0.6～0.8V

30.晶体三极管的基极、集电极和发射极分别用(A)表示。

(A)b、c、e(B)b、e、c(C)b、s、e(D)e、c、b

31.CSK-1A试块R50、R100阶梯圆弧面同时获得两个反射回波用于校正(A)。

(A)横波扫描速度(B)纵波扫描速度(C)分辨率(D)入射点

32.CSK-1A试块φ 40、φ 44、φ 50、台阶孔，主要用来测试斜探头的(C)。

(A)入射点(B)折射角(C)分辨率(D)K值

33.CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的(D)。

(A)水平线性(B)垂直线性(C)契内回波幅度(D)水平线性和垂直线性

34.CSK-1A试块R100圆弧面可测定(D)。

(A)斜探头入射点(B)横波探测范围(C)横波声速(D)上述都可以

35.CSK-1A试块91底面的(B)纵波回波时间相当于R100弧面的一次横波回波的时间。

(A)一次(B)二次(C)三次(D)四次

36.CSK-1A试块φ 1.5横孔用来测量斜探头K(C)的探头。

(A)＞1.5(B)＞2(C)＞2.5(D)＞3

37.CSK-1A试块有机玻璃可测定(C)。

(A)直探头盲区(B)直探头穿透能力(C)直探头盲区和穿透能力(D)上述都不能测

38.SH-1型半圆试块(D)。

(A)可调整探测范围(B)可测定直探头距离幅度特性

(C)可测定斜探头的入射角和折射角(D)A与C都对

39.阶梯试块主要用于测定(B)的距离幅度特性和阻塞范围。

(A)斜探头(B)直探头(C)聚焦探头(D)可变角探头

40.WGT-3试块可用于测定(D)。

(A)斜探头距离幅度特性(B)楔内回波幅度(C)分辨率(D)A与B都对

41.70°探头采用横波在钢轨轨头内进行(A)式探伤。

(A)反射(B)穿透(C)串列(D)并列